專利名稱：射頻標簽的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及射頻識別技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及ー種射頻標簽的測試裝置。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的電能計量設(shè)備大多采用非接觸式IC卡技術(shù)實現(xiàn)，但是隨著射頻識別(Radio Frequency Identification,簡稱為RFID)技術(shù)的發(fā)展,將射頻識別技術(shù)應(yīng)用于電能計量設(shè)備已成為電能計量設(shè)備發(fā)展的趨勢。而隨著射頻識別電能計量設(shè)備的廣泛應(yīng)用，RFID檢測技術(shù)是RFID應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù)之一。RFID測試技術(shù)分為針對設(shè)備性能的RFID系統(tǒng)測試、及針對應(yīng)用效果的RFID應(yīng)用測試。其中，RFID系統(tǒng)測試是為了確保RFID項目的成功實施，通過第三方測試機構(gòu)對RFID 標簽、讀寫器、天線、中間件等。RFID應(yīng)用測試則是在現(xiàn)場部署前利用現(xiàn)場環(huán)境對系統(tǒng)的構(gòu)架和設(shè)備性能進行的驗證性測試，以驗證系統(tǒng)設(shè)備受到環(huán)境因素影響的顯著性，井根據(jù)環(huán)境對RFID系統(tǒng)進行優(yōu)化，降低RFID部署的實施風(fēng)險，測試對象是環(huán)境因素影響下的RFID系統(tǒng)。對于電能計量設(shè)備用RFID標簽，主要需要進行RFID系統(tǒng)測試。盡管目前已有不少針對RFID設(shè)備的測試方法，但是大多在測試原理、測試方法、測試系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理等方面存在不足，造成這些測試方法的使用范圍具有很大的局限性，難以獲得廣泛的認可。也就是說，目前的RFID設(shè)備的測試技術(shù)存在有效性和穩(wěn)定性差的問題。

實用新型內(nèi)容本實用新型實施例的主要目的在于提供ー種射頻標簽的測試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的RFID設(shè)備的測試技術(shù)有效性和穩(wěn)定性差的問題。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型實施例提供ー種射頻標簽的測試裝置，所述裝置包括信號處理單元、天線、定向耦合器以及被測射頻標簽，信號處理單元與所述定向耦合器連接，所述定向耦合器與所述天線連接，所述天線與所述被測射頻標簽進行信號通信，所述定向耦合器用于隔離信號，所述天線用于接收和發(fā)送信號，其中，所述信號處理單元包括中頻信號處理模塊、上變頻模塊和下變頻模塊，所述中頻信號處理模塊根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號，并將所述數(shù)字基帶信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，所述上變頻模塊將所述中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為預(yù)定射頻信號，所述射頻標簽根據(jù)接收的所述預(yù)定射頻信號生成反饋射頻信號，所述下變頻模塊將接收的所述反饋射頻信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，所述中頻信號處理模塊將所述中頻模擬信號轉(zhuǎn)換中頻數(shù)字信號，并根據(jù)所述中頻數(shù)字信號檢測被測射頻標簽性能。具體地，所述的中頻信號處理模塊包括D/A變換器、A/D變換器以及數(shù)字信號處理子模塊，其中，所述數(shù)字信號處理子模塊用于根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號、以及根據(jù)所述中頻數(shù)字信號檢測所述被測射頻標簽性能。上述數(shù)字信號處理子単元包括參考時鐘、波形存儲電路、中心數(shù)字邏輯處理電路、鑒相器和輸入輸出接ロ，其中，所述的參考時鐘、波形存儲電路分別與所述的中心數(shù)字邏輯處理電路連接，所述的中心數(shù)字邏輯處理電路與所述的鑒相器連接，所述的鑒相器與所述的輸入輸出接ロ連接，所述輸入輸出接ロ接收所述中頻數(shù)字信號并發(fā)送至所述鑒相器進行信號相位識別，所述鑒相器對所述中頻數(shù)字信號進行數(shù)字碼元信息位識別并輸出第一信號到所述中心數(shù)字邏輯處理電路，所述中心數(shù)字邏輯處理電路判斷所述第一信號是否準確，并將判斷結(jié)果輸出到所述波形存儲電路，以根據(jù)所述判斷結(jié)果檢測所述被測射頻標簽的性能；所述中心數(shù)字邏輯處理電路從所述波形存儲電路中獲取預(yù)定發(fā)生波形的數(shù)字信息，生成第二信號并發(fā)送到所述鑒相器調(diào)整所述第二信號相位，并將調(diào)整后的輸出信號輸出到所述輸入輸出接ロ模塊形成所述數(shù)字基帶信號。上述的裝置還包括ー維直線導(dǎo)軌，所述天線與所述被測射頻標簽設(shè)置在所述ー維直線導(dǎo)軌上，所述ー維直線導(dǎo)軌上控制所述天線和被測射頻標簽之間的距離。該ー維直線導(dǎo)軌為可編程控制ー維直線導(dǎo)軌。 上述的裝置還包括滑塊，設(shè)置在所述ー維直線導(dǎo)軌上，所述被測射頻標簽設(shè)置在所述滑塊上。上述的天線和被測射頻標簽設(shè)置于全電波暗室中。上述的天線為全向喇叭ロ天線。借助上述技術(shù)方案至少之一，通過上變頻模塊將中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為多種頻段的射頻信號，能夠模擬出不同頻率、不同協(xié)議的RFID讀寫器信號用于測試射頻標簽，從而可以提高射頻標簽測試的有效性和穩(wěn)定性。

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I是根據(jù)本實用新型實施例的射頻標簽測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是根據(jù)本實用新型實施例的信號處理單元I的結(jié)構(gòu)框圖；圖3是根據(jù)本實用新型實施例的中頻信號處理模塊11的結(jié)構(gòu)框圖；圖4是根據(jù)本實用新型實施例的數(shù)字信號處理子単元的結(jié)構(gòu)框圖；圖5是根據(jù)本實用新型實施例的射頻標簽測試裝置的示意圖；圖6是根據(jù)本實用新型實施例的測試裝置的測試流程圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。由于現(xiàn)有技術(shù)中的RFID設(shè)備的測試技術(shù)在有效性和穩(wěn)定性上都較差，因此需要設(shè)計ー種專門針對電能計量設(shè)備用射頻識別標簽的測試方案，基于此，本實用新型實施例提供ー種射頻標簽的測試裝置，以解決上述問題。
以下結(jié)合附圖對本實用新型進行詳細說明。圖I是根據(jù)本實用新型實施例的射頻標簽測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖，如圖I所示，該裝置包括信號處理單元I、天線2、定向耦合器3以及被測射頻標簽4，信號處理單元與定向耦合器連接，定向耦合器與天線連接，天線與被測射頻標簽進行信號通信，定向耦合器用于隔離信號，天線用于接收和發(fā)送信號。如圖2所示，信號處理單元I包括中頻信號處理模塊11、上變頻模塊12和下變頻模塊13，中頻信號處理模塊根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號，并將數(shù)字基帶信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號發(fā)送給上變頻模塊，上變頻模塊將中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為預(yù)定射頻信號并發(fā)送給定向耦合器，定向耦合器將預(yù)定射頻信號發(fā)送給天線，并由天線將該預(yù)定射頻信號發(fā)送給射頻標簽，射頻標簽根據(jù)接收的預(yù)定射頻信號生成反饋射頻信號并發(fā)送給天線，經(jīng)由定向耦合器后，下變頻模塊接收反饋射頻信號，并將反饋射頻信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，然后該中頻模擬信號由中頻信號處理模塊轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號，中頻信號處理模塊再根據(jù)中頻 數(shù)字信號檢測被測射頻標簽性能。由于上變頻模塊可以將中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為多種頻段的射頻信號，因此，該測試裝置能夠模擬出不同頻率、不同協(xié)議的RFID讀寫器信號用于測試射頻標簽，從而可以提高射頻標簽測試的有效性和穩(wěn)定性。如圖3所示，中頻信號處理模塊11具體包括D/A變換器111、A/D變換器112以及數(shù)字信號處理子模塊113，其中，數(shù)字信號處理子模塊用于根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號、以及根據(jù)中頻數(shù)字信號檢測被測射頻標簽性能。如圖4所示，數(shù)字信號處理子単元113包括輸入輸出接ロ模塊1131、鑒相器模塊1132、中心數(shù)字邏輯處理電路1133、參考時鐘單元1134、波形存儲電路1135，其中，參考時鐘、波形存儲電路分別與中心數(shù)字邏輯處理電路連接，中心數(shù)字邏輯處理電路與鑒相器連接，鑒相器與輸入輸出接ロ連接。數(shù)字信號處理子単元的工作原理是輸入輸出接ロ接收中頻數(shù)字信號并發(fā)送至鑒相器進行信號相位識別，鑒相器對中頻數(shù)字信號進行數(shù)字碼元信息位識別并輸出第一信號到中心數(shù)字邏輯處理電路，中心數(shù)字邏輯處理電路判斷第一信號是否準確，并將判斷結(jié)果輸出到波形存儲電路，以根據(jù)判斷結(jié)果檢測被測射頻標簽的性能。同吋，中心數(shù)字邏輯處理電路從波形存儲電路中獲取預(yù)定發(fā)生波形的數(shù)字信息，生成第二信號并發(fā)送到鑒相器調(diào)整第二信號相位，并將調(diào)整后的輸出信號輸出到輸入輸出接ロ模塊形成數(shù)字基帶信號。在實際操作中，數(shù)字信號處理子單元采用大規(guī)模集成電路和嵌入式設(shè)計，上述參考時鐘單元提供波形發(fā)生和數(shù)字信號處理所需的基準時鐘脈沖；波形存儲電路采用FLASH-R0M非易失性存儲器設(shè)計，用于保存預(yù)定發(fā)生波形的數(shù)字信息；鑒相器模塊用于對輸入信號的相位特征進行判斷，識別輸入信號碼型，同時根據(jù)基準時鐘調(diào)整輸出信號相位；中心數(shù)字邏輯處理電路是數(shù)字信號處理子単元的核心，控制波形發(fā)生，并對輸入信號進行識別，判讀信號是否準確；輸入輸出接ロ模塊用于轉(zhuǎn)換數(shù)字波形信號的頻率和幅值，實現(xiàn)對外連接。在實際操作中，模擬信號先通過中頻信號處理模塊產(chǎn)生符合標準編碼和調(diào)制規(guī)則的數(shù)字基帶信號，再將該信號通過D/A變換器轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，最后通過上變頻模塊(上變頻器)將中頻信號變頻到指定的射頻信號。這種方法的優(yōu)勢在于可以通過優(yōu)化配置實現(xiàn)不同的信號格式、編碼方式、調(diào)制方式的信號，采用的上變頻器可將中頻信號變頻到幾百kHz到幾GHz的射頻信號，涵蓋了從高頻到超高頻的RFID常用頻段，上變頻器的具體頻率選取可以根據(jù)實際測試情況而定。從而，該測試裝置可以模擬出不同頻率、不同協(xié)議的RFID讀寫器信號用來測試射頻標簽。優(yōu)選地，上述的天線為全向喇叭ロ天線，采用全向喇叭ロ天線可以更有效地進行信號的發(fā)送和接收，有益于測試結(jié)果的準確性和 有效性。上述裝置還包括ー維直線導(dǎo)軌，天線與被測射頻標簽設(shè)置在ー維直線導(dǎo)軌上，一維直線導(dǎo)軌上控制天線和被測射頻標簽之間的距離。在具體實施時，ー維直線導(dǎo)軌可以為可編程控制一維直線導(dǎo)軌。在ー維直線導(dǎo)軌可以設(shè)置滑塊，被測射頻標簽設(shè)置在該滑塊上。在測試不同環(huán)境中的性能吋，測試場地可以選為全電波暗室或開闊場。例如，如圖5所示，將天線和被測射頻標簽設(shè)置于全電波暗室中。其中，信號處理單元包括上下變頻模塊、中頻收發(fā)器、AD轉(zhuǎn)換模塊、DA轉(zhuǎn)換模塊、調(diào)制解調(diào)模塊、數(shù)字信號處理子單元以及基準時鐘。圖6是測試裝置的測試流程圖，如圖6所示，該流程包括步驟601，設(shè)定信號處理單元轉(zhuǎn)換信號的發(fā)射頻率；步驟602，設(shè)定信號處理單元接收信號的中心頻率，與當(dāng)前發(fā)射頻率一致；步驟603，一維直線導(dǎo)軌上的滑塊運動到初始位置，S卩，射頻標簽位于初始位置；步驟604，輸出模擬的讀寫器Query信號，用于激勵RFID標簽產(chǎn)生響應(yīng)信號；步驟605，對接收的來自射頻標簽的反饋信號進行解調(diào)分析；步驟606,記錄標簽反向散射信號強度；步驟607，滑塊運動到下一位置；步驟608，判斷滑塊是否超出預(yù)設(shè)的運動范圍，如果否，則進行步驟604，否則，測
試結(jié)束。以下以IS0/IEC 18000-6C標準為例，給出具體的測試步驟(一 )標簽靈敏度測試I.識別磁場強度閾值測試的目的是確定識別標簽的磁場強度的閾值電平。標簽需要能量工作，能量由磁場提供。識別磁場強度閾值HTHR Identification是允許識別標簽的最小電場強度。測試步驟如下 ①上變頻模塊的發(fā)射頻率設(shè)置為要求的工作頻率(860MHz 960MHz，5MHz步進);②發(fā)射信號的能量應(yīng)設(shè)置為低于識別磁場強度閾值，如_40dB ；③標簽放置在測試環(huán)境中；④用信號處理單元持續(xù)地發(fā)送ー個Inventory命令,幅度應(yīng)在姆次發(fā)送后增加，直到標簽返回完整的ni (Unique Item ID) (UII響應(yīng)用測試天線測試)；⑤檢查數(shù)據(jù)傳輸(標簽響應(yīng)應(yīng)該符合IS0/IEC 18000-6C)；[0056]⑥標簽從測試環(huán)境中移去，并在標簽位置放入校準線圈；⑦用校準線圈電壓計算識別磁場強度閾值HTHR Identification ；對所有標簽進行測試，識別磁場強度閾值應(yīng)是所有標簽測試的磁場強度H的最大值。2.讀磁場強度閾值測試目的是確定允許標簽讀的磁場強度閾值水平。為了成功地讀到標簽數(shù)據(jù)，命令需要正確地傳輸，提供足夠的能量讀取標簽。讀磁場強度閾值HTHRRead是允許標簽讀的最小磁場強度。測試步驟如下在ー個固定的頻率上，產(chǎn)生的磁場強度從0變化直到讀取ー塊用戶存儲區(qū)成為可能。應(yīng)該在第一塊和最后一塊存儲區(qū)上用單塊命令進行讀取。在此之前，所有的用戶存儲 區(qū)應(yīng)該用同樣的數(shù)量的I和0統(tǒng)ー分布排列(即用4個字節(jié)0x5A、0x3C、0x0F、0xR)表示的ニ進制位填充所有存儲區(qū))。①上變頻模塊的發(fā)射頻率設(shè)置為要求的工作頻率(860MHz 960MHz，5MHz步進);②發(fā)射信號的能量設(shè)置為低于識別磁場強度閾值，如_40dB ；③標簽放置在測試環(huán)境中；④用信號處理單元持續(xù)地發(fā)送ー個讀命令，幅度應(yīng)在每次發(fā)送后増加，直到標簽返回完整的 UII (Unique Item ID)；⑤檢查數(shù)據(jù)傳輸(標簽響應(yīng)應(yīng)該符合IS0/IEC 18000-6C)；⑥標簽從測試環(huán)境中移去，并在標簽位置放入校準線圈；⑦用校準線圈電壓計算識別磁場強度閾值HTHR Read ；對所有標簽進行測試，讀磁場強度閾值應(yīng)是所有標簽測試的磁場強度H的最大值。3.寫磁場強度閾值測試目的是確定允許標簽寫的磁場強度閾值水平。為了成功地向標簽寫入數(shù)據(jù)，在訪問存儲區(qū)是需要提供足夠的能量。寫磁場強度閾值HTHR Write是允許標簽寫的最小磁場強度。測試步驟如下①上變頻模塊的發(fā)射頻率設(shè)置為要求的工作頻率(860MHz 960MHz，5MHz步進);②發(fā)射信號的能量應(yīng)設(shè)置為低于識別磁場強度閾值，如_40dB ；③標簽放置在測試環(huán)境中；④唯一確定ー個標簽，用信號處理單元持續(xù)地發(fā)送寫入UII存儲區(qū)的第一個可寫字的命令，幅度應(yīng)該在每次發(fā)送后増加，直到標簽返回響應(yīng)；⑤標簽從測試環(huán)境中移去，并在標簽位置放入校準線圈；⑥用校準線圈電壓計算識別磁場強度閾值HTHR Write ；對所有的標簽進行測試。寫磁場強度閾值應(yīng)是所有標簽測試的磁場強度H的最大值。( ニ )標簽在不同距離時標簽的射頻性能測試測試過程中，改變的參數(shù)只有測試標簽與發(fā)射天線之間的距離，即測試的輸入自變量為ー維直線導(dǎo)軌滑塊的相對運行距離distance。初始值為距離發(fā)射天線30cm的位置，輸出因變量是測試標簽的BSS(反向散射強度)測量值。測試流程可以參考圖5，測試步驟如下①上變頻模塊的發(fā)射頻率設(shè)置為要求的工作頻率(860MHz 960MHz)；②下變頻模塊的接收中心頻率與上變頻模塊相同；③通過設(shè)置ー維直線導(dǎo)軌滑塊的位置設(shè)置射頻標簽的位置；④發(fā)送Qurey信號,激活射頻標簽產(chǎn)生響應(yīng)；⑤檢查數(shù)據(jù)傳輸(標簽響應(yīng)應(yīng)該符合IS0/IEC 18000-6C)；⑥如反射信號符合標準，記錄標簽的反向散射信號強度。 ⑦移動ー維直線導(dǎo)軌滑塊的位置，重復(fù)步驟④到⑥，直到超出導(dǎo)軌的滑動范圍。通過上述測試裝置的測試，能夠?qū)ι漕l標簽的應(yīng)用層協(xié)議、編碼規(guī)則以及應(yīng)用場景等性能進行快速、有效、智能的測試。綜上所述，本實用新型實施例的測試裝置，能夠模擬和接收不同協(xié)議、不同頻率的射頻信號，通過搭建不同的測試環(huán)境，使其能夠?qū)崿F(xiàn)在不同介質(zhì)、不同材料、不同磁場、不同速度、不同距離、不同障礙等條件下的射頻標簽性能測試，井能夠?qū)崿F(xiàn)射頻標簽靈敏度、應(yīng)用層協(xié)議、編碼規(guī)則等性能測試，提高了測試結(jié)果的穩(wěn)定性和有效性。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分步驟可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，該程序可以存儲于ー計算機可讀取存儲介質(zhì)中，比如R0M/RAM、磁碟、光盤等。以上所述的具體實施例，對本實用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進ー步詳細說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實用新型的具體實施例而已，并不用于限定本實用新型的保護范圍，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.ー種射頻標簽的測試裝置，其特征在于，所述的裝置包括信號處理單元、天線、定向耦合器以及被測射頻標簽， 信號處理單元與所述定向耦合器連接，所述定向耦合器與所述天線連接，所述定向耦合器用于隔離信號，所述天線用于接收和發(fā)送信號，所述天線與所述被測射頻標簽進行信號通信，其中， 所述信號處理單元包括中頻信號處理模塊、上變頻模塊和下變頻模塊， 所述中頻信號處理模塊根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號，并將所述數(shù)字基帶信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，所述上變頻模塊將所述中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為預(yù)定射頻信號，所述射頻標簽根據(jù)接收的所述預(yù)定射頻信號生成反饋射頻信號，所述下變頻模塊將接收的所述反饋射頻信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，所述中頻信號處理模塊將所述中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號，并根據(jù)所述中頻數(shù)字信號檢測被測射頻標簽性能。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述的中頻信號處理模塊包括 D/A變換器、A/D變換器以及數(shù)字信號處理子模塊，其中，所述數(shù)字信號處理子模塊用于根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號、以及根據(jù)所述中頻數(shù)字信號檢測所述被測射頻標簽性倉^:。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在干，所述數(shù)字信號處理子単元包括參考時鐘、波形存儲電路、中心數(shù)字邏輯處理電路、鑒相器和輸入輸出接ロ，其中， 所述的參考時鐘、波形存儲電路分別與所述的中心數(shù)字邏輯處理電路連接，所述的中心數(shù)字邏輯處理電路與所述的鑒相器連接，所述的鑒相器與所述的輸入輸出接ロ連接， 所述輸入輸出接ロ接收所述中頻數(shù)字信號并發(fā)送至所述鑒相器進行信號相位識別，所述鑒相器對所述中頻數(shù)字信號進行數(shù)字碼元信息位識別并輸出第一信號到所述中心數(shù)字邏輯處理電路，所述中心數(shù)字邏輯處理電路判斷所述第一信號是否準確，并將判斷結(jié)果輸出到所述波形存儲電路，以根據(jù)所述判斷結(jié)果檢測所述被測射頻標簽的性能； 所述中心數(shù)字邏輯處理電路從所述波形存儲電路中獲取預(yù)定發(fā)生波形的數(shù)字信息，生成第二信號并發(fā)送到所述鑒相器調(diào)整所述第二信號相位，并將調(diào)整后的輸出信號輸出到所述輸入輸出接ロ模塊形成所述數(shù)字基帶信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述的裝置還包括 一維直線導(dǎo)軌，所述天線與所述被測射頻標簽設(shè)置在所述ー維直線導(dǎo)軌上，所述ー維直線導(dǎo)軌上控制所述天線和被測射頻標簽之間的距離。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在干，所述的ー維直線導(dǎo)軌為可編程控制ー維直線導(dǎo)軌。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述的裝置還包括滑塊，設(shè)置在所述ー維直線導(dǎo)軌上，所述被測射頻標簽設(shè)置在所述滑塊上。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的裝置，其特征在于，所述的天線和被測射頻標簽設(shè)置于全電波暗室中。
8.根據(jù)權(quán)利要求I至7中任一項所述的裝置，其特征在于，所述的天線為全向喇叭ロ天線。
專利摘要本實用新型提供一種射頻標簽的測試裝置，該裝置包括信號處理單元、天線、定向耦合器以及被測射頻標簽，定向耦合器用于隔離信號，天線用于接收和發(fā)送信號，其中，信號處理單元包括中頻信號處理模塊、上變頻模塊和下變頻模塊，中頻信號處理模塊根據(jù)預(yù)定規(guī)則生成數(shù)字基帶信號，并將數(shù)字基帶信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，上變頻模塊將中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為預(yù)定射頻信號，射頻標簽根據(jù)接收的預(yù)定射頻信號生成反饋射頻信號，下變頻模塊將接收的反饋射頻信號轉(zhuǎn)換為中頻模擬信號，中頻信號處理模塊將中頻模擬信號轉(zhuǎn)換為中頻數(shù)字信號，并根據(jù)中頻數(shù)字信號檢測被測射頻標簽性能。通過本實用新型，可以提高射頻標簽測試的有效性和穩(wěn)定性。
文檔編號H04B17/00GK202513936SQ20122000204
公開日2012年10月31日 申請日期2012年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月4日
發(fā)明者張威, 李順昕, 田海亭, 秦紅磊, 袁瑞銘, 鐘侃 申請人:華北電網(wǎng)有限公司計量中心