專利名稱：一種手機單板測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種手機測試裝置，特別是一種手機單板電性能的自動化 測試裝置試。
背景技術(shù)：
隨著人們生活水平的提高，手機已逐漸普及。市場上，為數(shù)眾多的手機廠 商都在竭盡所能擴大銷量，提高收益，競爭日益激烈。提高手機質(zhì)量是擺在眾多手機生產(chǎn)廠商面前的一個重要問題。通常，在手 機生產(chǎn)過程中，手機質(zhì)量是在后端裝成整機之后手工檢査的，因而經(jīng)常會出現(xiàn) 人為干擾比較大、測試不全面等問題。為了解決這些問題，在現(xiàn)有技術(shù)中也存 在在單板階段采用自動化手段進(jìn)行單板電性能測試的情形，但這些技術(shù)多數(shù)都 是使用可編程數(shù)字表和繼電器來進(jìn)行測試，其測試范圍非常有限，主要存在以 下問題(1) 僅適宜于檢測模擬直流信號，對音頻信號等變化的信號無法檢測。(2) 無法給手機主板發(fā)送測試信號，從而不能測試按鍵等信號。(3) 不能測試高速數(shù)字信號，如LCM總線信號。由于以上原因，市場上迫切的需要一種能夠具有較大測試范圍的手機測試 裝置。實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提出一種自動化的手機單板電性能測 試裝置，該裝置能夠具有較大的測試范圍，可以便捷的在手機生產(chǎn)中進(jìn)行主板 測試，進(jìn)而降低不良率。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種手機單板測試裝置，其特征在于，包括一數(shù)模輸入/輸出卡，用于多通道模擬/數(shù)字信號的采集、轉(zhuǎn)換與輸出； 一轉(zhuǎn)接板，包括一用于測試手機數(shù)字信號的高速可編程邏輯器件、 一第一 連接器、 一第二連接器以及手機元件測試控制電路；其中，該髙速可編程邏輯器件分別連接至該第一連接器、該第二連接器及 該手機元件測試控制電路，該手機元件測試控制電路連接至該第一連接器和該 第二連接器或者連接至該第一連接器，該第一連接器連接至該第二連接器，該 數(shù)模輸入/輸出卡與該第二連接器連接，該第一連接器連接待測手機主板。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機元件測試控制電路又 包括分別與該高速可編程邏輯器件和該第一連接器連接的耳機測試電路、手 機開機控制電路、SIM卡(Subscriber Identity Module,用戶身份識別模塊)通 斷控制電路和/或鍵盤背光驅(qū)動與測量電路，其中，該鍵盤背光驅(qū)動與測量電 路還連接至該第二連接器。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，在該第一連接器與該第二連 接器之間還連接有一 MIC電平變換電路。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該高速可編程邏輯器件包括-一處理器、分別與該處理器連接的一鍵盤驅(qū)動模塊、 一液晶顯示屏模塊總線測 試模塊以及一手機元件測試控制模塊。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機元件測試控制模塊又 包括耳機測試模塊、手機開機控制模塊、SIM卡通斷控制模塊和/或鍵盤背 光驅(qū)動與測量模塊，分別對應(yīng)連接至該耳機測試電路、手機開機控制電路、SIM 卡通斷控制電路和/或鍵盤背光驅(qū)動與測量電路。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，還包含一聯(lián)合測試行動組電 路，依據(jù)IEEE1149.1協(xié)議連接至該高速可編程邏輯器件及一下載器，其中， 該聯(lián)合測試行動組電路中的聯(lián)合測試行動組芯片與該高速可編程邏輯器件連 接。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，還包含一電源，連接至該轉(zhuǎn) 接板。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該耳機測試電路包括一第一 電阻，該耳機測試電路的耳機MIC的測試點經(jīng)過該第一電阻連接至該高速可 編程邏輯器件。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機開機控制電路包括一
與被測試手機的開機鍵連接的芯片；該SIM卡通斷控制電路包括與一被測試 手機的SIM卡連接的芯片；該鍵盤背光驅(qū)動電路包括通過電阻連接至被測手 機的鍵盤背光電源的芯片。上述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該鍵盤背光測量電路包括 一 NPN型三極管及多個電阻，該三極管的基極通過一電阻連接至該高速可編 程邏輯器件，該三極管的集電極連接至被測手機的手機鍵盤背光電源，該三極 管的發(fā)射極連接至該被測手機的背光測量點并通過另一電阻接地。采用上述方案的手機單板測試裝置，可以實現(xiàn)對手機主板的電氣性能進(jìn)行 測試，由于轉(zhuǎn)接板核心芯片為CPLD (Complex Programmable Logic Device, 復(fù)雜可編程邏輯器件)，是一種高速的可編程邏輯器件，程序下載之后就固化 在器件內(nèi)部，故不需要專門的存儲芯片來存放程序。其中，程序下載是通過 JTAG (Joint Test Action Group,聯(lián)合測試行動組)下載線完成的。芯片內(nèi)部 邏輯完成鍵盤驅(qū)動，LCM (Liquid Crystal Display Module,液晶顯示屏模塊) 總線測試和對外圍電路的控制。其中，該耳機檢測電路可以模擬人工插入耳機和模擬人工按下耳機鍵的情形。該開機控制電路可以模擬人工按鍵開機的情形，控制手機開機。該SIM 卡通斷控制電路可以模擬人工插拔SIM卡的情形，還可用于其它兼容手機卡 的測試，如也可用于CDMA (Code Division Multiple Access,碼分多址)制式 手機的UIM (User Identify Module,用戶識別模塊)卡，PHS (Personal Handy Phone System,個人手持機系統(tǒng)，即小靈通)制式手機卡以及3G (the 3" Generation,第3代)制式手機的UICC(Universal Subscriber Identity Module,通 用用戶身份識別模塊)卡等。該鍵盤背光驅(qū)動和測量電路可以測量手機鍵盤背 光的工作電流。本實用新型可以帶來以下有益效果-(1) 本實用新型使用數(shù)模10卡來完成數(shù)據(jù)分析和發(fā)送控制信號，可以自 動化的進(jìn)行手機主板電氣性能的測試。(2) 本實用新型使用高速可編程邏輯器件來控制主板測試，可以適應(yīng)目 前手機高速LCM總線的情形。(3) 本實用新型轉(zhuǎn)接板上集成了多種測試功能，可以對手機多個部件進(jìn) 行檢測，包括鍵盤、背光、音頻、LCM、 SIM卡等?；旧细采w了與手機用戶直接相關(guān)的手機電路功能的測試。
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對本實 用新型的限定。


圖1是本實用新型手機單板電性能測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實用新型的高速邏輯器件內(nèi)部功能以及與周圍電路的連接關(guān)系 示意圖。圖3是本實用新型的高速可編程邏輯器件及耳機測試電路圖。圖4是本實用新型的鍵盤背光驅(qū)動電路。圖5是本實用新型的鍵盤背光電流測量電路。圖6是本實用新型的開機控制電路。圖7是本實用新型的SIM卡通斷控制電路。圖8是本實用新型的MIC電平變換電路。圖9是本實用新型的JTAG電路。其中，附圖標(biāo)記l一數(shù)模IO卡2—轉(zhuǎn)接板21 —高速可編程邏輯器件 210—手機元件測試控制模塊 211 —開機測試模塊 212—SIM卡測試模塊 2B—鍵盤背光模塊214— 耳機測試模塊215— 鍵盤驅(qū)動模塊216— 總線測試模塊 217 —處理器22—手機元件測試控制電路221— 耳機測試電路222— 手機開機控制電路
223 —SIM卡通斷控制電路 224—鍵盤背光驅(qū)動和測量電路23— MIC電平變換電路24— 第一連接器 25 —第二連接器說明書第5/8頁具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的手機單板電性能測試裝置,包括數(shù)模IO卡1 和轉(zhuǎn)接板2。該數(shù)模IO卡l的型號為DAQ2206，支持多通道采集模擬信號， 支持通過數(shù)模轉(zhuǎn)換方式發(fā)出模擬信號，并包括多通道數(shù)字信號輸入和輸出。該 轉(zhuǎn)接板2包括高速可編程邏輯器件21、手機元件測試控制電路22、 MIC電平 變換電路23、用于連接手機主板和轉(zhuǎn)接板電路的第一連接器24以及用于連接 數(shù)字/模擬IO卡和轉(zhuǎn)接板電路的第二連接器25。其中，該手機元件測試控制電 路22又包括耳機測試電路221、手機開機控制電路222、 SIM卡通斷控制電路 223以及鍵盤背光驅(qū)動和測量電路224。該數(shù)模IO卡1 一般安裝在計算機上，并通過計算機上配套的軟件來完成 對該數(shù)模IO卡1的控制和數(shù)據(jù)分析。該高速可編程邏輯器件21為復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD)，型號為 EPM7128，其內(nèi)部功能以及與周圍電路的連接關(guān)系如圖2所示，其引腳圖如圖 3所示。從圖2可看出，該高速可編程邏輯器件21內(nèi)部按照邏輯功能分成了 多個部分，包括一手機元件測試控制模塊210、鍵盤驅(qū)動模塊215、液晶顯示 屏模塊(LCM)總線測試模塊216以及處理器217。其中，該手機元件測試控 制模塊210包括開機測試模塊211、 SIM卡測試模塊212、鍵盤背光模塊213 以及耳機測試模塊214。其中，耳機測試電路221、鍵盤背光驅(qū)動和測量電路 224、手機開機控制電路222和SIM卡通斷控制電路223分別連接到該高速可 編程邏輯器件21的相應(yīng)模塊，并由該高速可編程邏輯器件21進(jìn)行控制。耳機測試電路221如圖3所示，由一個電阻構(gòu)成。該復(fù)雜可編程邏輯器件 EPM7128的1036端(TP一KEYDETECT)連接到耳機MIC的測試點，該耳機 MIC的測試點經(jīng)過該電阻連接到該復(fù)雜可編程邏輯器件EPM7128的 TP EARPHONEDETECT端。當(dāng)該復(fù)雜可編程邏輯器件EPM7128向
TP—KEYDETECT輸出低電平時，耳機MIC測試點被接地，模擬了人工按下 耳機鍵的情形。當(dāng)該復(fù)雜可編程邏輯器件EPM7128向TP_EARPHONEDETECT輸出低電平時，低電平經(jīng)電阻連到耳機MIC測試點， 模擬了耳機插入的情形。鍵盤背光驅(qū)動和測量電路25分為鍵盤背光驅(qū)動電路以及鍵盤背光測量電 路，該鍵盤背光驅(qū)動電路如圖4所示，主要由芯片SI6562DQ及外圍電阻構(gòu)成。 該芯片SI6562DQ的Dl端通過一第一電阻連接至一電壓源并通過一第二電阻 連接至該芯片SI6562DQ的G2端，該芯片SI6562DQ的S1A端及S1B端接地， 該芯片SI6562DQ的Gl端通過一第三電阻連接至該高速可編程邏輯器件21 的KEYBKLIGHT—PWREN端并通過一第四電阻接地，該芯片SI6562DQ的 D2端通過一第五電阻連接至被測手機的鍵盤背光電源，該芯片SI6562DQ的 S2A端及S2B端連接至一電壓源。該芯片SI6562DQ內(nèi)部集成了一個PMOS 和一個NMOS晶體管。當(dāng)KEYBKLIGHT—PWREN電平由低變高時，PMOS 導(dǎo)通，+5v電平被送到TPJCEYBKLIGHT一PWR上，用作鍵盤背光的電源。該鍵盤背光測量電路，如圖5所示，包括一NPN型三極管及兩個電阻， 該三極管的基極通過一電阻連接至該高速可編程邏輯器件21的 KEYBKLIGHTON端，該三極管的集電極連接至被測手機的手機鍵盤背光電 源，該三極管的發(fā)射極連接至該被測手機的背光測量點并通過另一電阻連接至 地信號。手機鍵盤背光電流將從TP—KEYBKLIGHT流入此電路。當(dāng) KEYBKLIGHTON電平由高變低時，三極管導(dǎo)通，射極電阻上的電流與鍵盤 背光電流基本相等，從而AD—KEYBKLIGHT點出現(xiàn)與鍵盤背光電流大小成線 性關(guān)系的電壓，方便該數(shù)模IO卡l采集。從而，實現(xiàn)了對鍵盤背光電流的測 試。手機開機控制電路23，如圖6所示，主要由芯片ADG719BRT和周圍電 阻組成。該芯片ADG719BRT的IN端通過一電阻連接至該高速可編程邏輯器 件21的PWRON端并通過另一電阻接地，該芯片ADG719BRT的VOO端連 接至一電壓源，該芯片ADG719BRT的GND端以及D端接地，該芯片 ADG719BRT的Sl端連接至被測試手機的開機鍵。該芯片ADG71犯RT是一 個模擬開關(guān)。當(dāng)PWRON為高電平時，TP—PWRON懸空；當(dāng)PWRON為低電 平時，TP PWRON連接到地電平。TP一PWRON直接與手機開機鍵相連，當(dāng)TP—PWRON為低電平時，即可以使手機開機。SIM卡通斷控制電路24，如圖7所示，電路構(gòu)成原理與手機開機控制電 路類似，包括芯片ADG719BRT及兩個電阻，該芯片ADG719BRT的IN端通 過一電阻連接至該高速可編程邏輯器件的SIMON端并通過另一電阻接地，該 芯片ADG719BRT的VOO端連接至一電壓源，該芯片ADG719BRT的GND 以及D端接地，該芯片ADG719BRT的Sl端連接至被測試手機SIM卡的 TP—SIMON。當(dāng)SIMON為高電平時，TP—SIMON懸空，SIM卡電源被切斷， SIM卡不能工作。當(dāng)SIMON電平為低電平時，TP—SIMON連接到地電平，SIM 卡電源接通，從而使SIM能夠正常工作。MIC電平變換電路26，如圖8所示，主要由芯片MAX492ESA和電阻、 電容等外圍器件組成。該芯片MAX492ESA的OUT1端在經(jīng)過一第一電容后， 連接至手機主MC測試點并通過一第一電阻連接至一地信號，該芯片 MAX492ESA的IN1N端通過一第二電阻連接至來自第二連接器的 DA—MICMAIN信號并通過一第三電阻連接至該芯片MAX492ESA的OUT1 端，該芯片MAX492ESA的IN1P端通過一第四電阻連接至一電壓源并通過一 第五電阻連接至地信號，該芯片MAX492ESA的VEE端連接至地信號，該芯 片MAX492ESA的VCC端通過一第一電感連接至一電壓源并通過一并聯(lián)的第 二電容和第三電容連接至地信號，該芯片MAX492ESA的OUT2端在經(jīng)過一 第四電容后，連接至耳機MIC測試點并通過一第六電阻連接至地信號，該芯 片MAX492ESA的IN2N端通過一第七電阻連接至該芯片MAX492ESA的的 OUT2端并通過一第八電阻連接至來自第二連接器的的DA—MICEAR信號， 該芯片MAX492ESA的IN2P通過一第九電阻連接至一電壓源，并在經(jīng)過一第 十電阻后，連接至地信號并通過一第二電感接地。該芯片MAX492ESA內(nèi)部 集成了兩個運算放大器，與外圍電路一起，構(gòu)成了對手機主MC和耳機MIC 測試信號的電平進(jìn)行變換的兩套電路。每套電路都包含了50倍衰減功能，同 時還疊加一個直流分量。測試信號經(jīng)過這樣處理之后，連接到手機主MIC測 試點和耳機MIC測試點，就可以很好的模擬通話過程中向手機MIC發(fā)送語音 信號的過程。手機測試軟件打開音頻回路之后，測試信號即可從聽筒發(fā)出，通 過數(shù)模10卡1將聽筒信號采集回來，與發(fā)送的MC信號對比，這樣就可以檢 査出手機音頻質(zhì)量。 JTAG電路，如圖9所示，用于連接該高速可編程邏輯器件21和下載器， 以及下載高速可編程邏輯器件21的程序。該JTAG (聯(lián)合測試行動組)電路， 連接至該高速可編程邏輯器件及一下載器，其中，該聯(lián)合測試行動組電路中的 聯(lián)合測試行動組芯片的TCK、 TDO、 TMS和TDI端分別連接至該高速可編程 邏輯器件的TCK、 TDO、 TMS和TDI端，該聯(lián)合測試行動組芯片的GND1和 GND2端連接至該高速可編程邏輯器件的GND端，該聯(lián)合測試行動組芯片的 VCC端連接至一電壓源，該聯(lián)合測試行動組芯片與該高速可編程邏輯器件及 該下載器依據(jù)IEEE1149.1協(xié)議連接。該手機單板測試裝置的電源由外部提供，經(jīng)過降壓和穩(wěn)壓之后，向轉(zhuǎn)接板 內(nèi)部電路供電。當(dāng)然，本實用新型還可有其他多種實施例，在不背離本實用新型精神及其 實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本實用新型作出各種相應(yīng)的改 變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本實用新型所附的權(quán)利要求的保 護范圍。
權(quán)利要求1，一種手機單板測試裝置，其特征在于，包括一數(shù)模輸入/輸出卡，用于多通道模擬/數(shù)字信號的采集、轉(zhuǎn)換與輸出；一轉(zhuǎn)接板，包括一用于測試手機數(shù)字信號的高速可編程邏輯器件、一第一連接器、一第二連接器以及手機元件測試控制電路；其中，該高速可編程邏輯器件分別連接至該第一連接器、該第二連接器及該手機元件測試控制電路，該手機元件測試控制電路連接至該第一連接器和該第二連接器或者連接至該第一連接器，該第一連接器連接至該第二連接器，該數(shù)模輸入/輸出卡與該第二連接器連接，該第一連接器連接待測手機主板。
2，如權(quán)利要求1所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機元 件測試控制電路又包括分別與該高速可編程邏輯器件和該第一連接器連接的 耳機測試電路、手機開機控制電路、SIM卡通斷控制電路和/或鍵盤背光驅(qū)動 與測量電路，其中，該鍵盤背光驅(qū)動與測量電路還連接至該第二連接器。
3，如權(quán)利要求1或2所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，在該 第一連接器與該第二連接器之間還連接有一 MIC電平變換電路。
4，如權(quán)利要求1或2所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該高 速可編程邏輯器件包括 一處理器、分別與該處理器連接的一鍵盤驅(qū)動模塊、 一液晶顯示屏模塊總線測試模塊以及一手機元件測試控制模塊。
5，如權(quán)利要求4所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機元 件測試控制模塊又包括耳機測試模塊、手機開機控制模塊、SIM卡通斷控制模塊和/或鍵盤背光驅(qū)動與測量模塊，分別對應(yīng)連接至該耳機測試電路、手機開機控制電路、SIM卡通斷控制電路和/或鍵盤背光驅(qū)動與測量電路。
6，如權(quán)利要求1所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，還包含一聯(lián)合測試行動組電路，依據(jù)IEEE1149.1協(xié)議分別連接該高速可編程邏輯器件及一下載器，其中，該聯(lián)合測試行動組電路中的聯(lián)合測試行動組芯片與該高速可編程邏輯器件連接。
7，如權(quán)利要求1所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，還包含一電源，連接至該轉(zhuǎn)接板。
8，如權(quán)利要求2所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該耳機測 試電路包括一第一電阻，該耳機測試電路的耳機MIC的測試點經(jīng)過該第一電 阻連接至該高速可編程邏輯器件。
9，如權(quán)利要求2所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該手機開 機控制電路包括一與被測試手機的開機鍵連接的芯片；該SIM卡通斷控制電 路包括與一被測試手機的SIM卡連接的芯片；該鍵盤背光驅(qū)動電路包括通過 電阻連接至被測手機的鍵盤背光電源的芯片。
10，如權(quán)利要求2所述的一種手機單板測試裝置，其特征在于，該鍵盤背 光測量電路包括一NPN型三極管及多個電阻，該三極管的基極通過一電阻 連接至該高速可編程邏輯器件，該三極管的集電極連接至被測手機的手機鍵盤 背光電源，該三極管的發(fā)射極連接至該被測手機的背光測量點并通過另一電阻 接地。
專利摘要一種手機單板測試裝置，包括一數(shù)模輸入/輸出卡，用于多通道模擬/數(shù)字信號的采集、轉(zhuǎn)換與輸出；一轉(zhuǎn)接板，包括一用于測試手機數(shù)字信號的高速可編程邏輯器件、一第一連接器、一第二連接器以及手機元件測試控制電路；其中，該高速可編程邏輯器件分別連接至該第一連接器、該第二連接器及該手機元件測試控制電路，該手機元件測試控制電路連接至該第一連接器和該第二連接器或者連接至該第一連接器，該第一連接器連接至該第二連接器，該數(shù)模輸入/輸出卡與該第二連接器連接，該第一連接器連接待測手機主板。該裝置能夠具有較大的測試范圍，可以便捷的在手機生產(chǎn)中進(jìn)行主板測試，進(jìn)而降低不良率。
文檔編號H04B17/00GK201054735SQ200720149310
公開日2008年4月30日 申請日期2007年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月25日
發(fā)明者李小平 申請人:中興通訊股份有限公司