專利名稱：一種檢測(cè)信元總線故障的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及信元總線領(lǐng)域，具體涉及一種檢測(cè)信元總線故障的方法。
背景技術(shù)：
信元總線(CELLBUS)，是一種基于共享總線時(shí)分復(fù)用的信元交換型總線。在異步傳輸模式(ATM，Asynchronous Transfer Mode)技術(shù)中廣泛應(yīng)用。
目前的CELLBUS由32根數(shù)據(jù)線和讀寫時(shí)鐘、幀同步等控制信號(hào)構(gòu)成。一個(gè)CELLBUS上接有多個(gè)CELLBUS接口器件，這些CELLBUS接口器件之間通過CELLBUS進(jìn)行信元交換，每個(gè)CELLBUS接口器件具有不同的CELLBUS地址。CELLBUS接口器件發(fā)送信元時(shí)，將待發(fā)送的信元添加目的地址、校驗(yàn)信息等后以幀結(jié)構(gòu)的方式發(fā)送到CELLBUS上，CELLBUS上的所有接口器件對(duì)CELLBUS上的幀結(jié)構(gòu)進(jìn)行校驗(yàn)，若幀結(jié)構(gòu)校驗(yàn)正確，就繼續(xù)檢測(cè)幀結(jié)構(gòu)中的目的地址與自身的CELLBUS地址是否相同，若是，則接收該數(shù)據(jù)；否則，不接收該數(shù)據(jù)。
由于CELLBUS自身原因或者CELLBUS接口器件的故障，會(huì)導(dǎo)致CELLBUS產(chǎn)生以下故障1、數(shù)據(jù)線被固定拉成高電平。即該數(shù)據(jù)線只接收1，當(dāng)往該數(shù)據(jù)線上發(fā)送0時(shí)，整個(gè)數(shù)據(jù)都不會(huì)被接收。
2、數(shù)據(jù)線被固定拉成低電平。即該數(shù)據(jù)線只接收0，當(dāng)往該數(shù)據(jù)線上發(fā)送1時(shí)，整個(gè)數(shù)據(jù)都不會(huì)被接收。
3、數(shù)據(jù)線粘連?？梢园l(fā)生在任意兩根或多根相鄰或不相鄰的數(shù)據(jù)線上，粘連的數(shù)據(jù)線只接收相同的數(shù)據(jù)。例如假設(shè)第2、14、25根數(shù)據(jù)線發(fā)生了粘連，只有往這3根數(shù)據(jù)線上同時(shí)發(fā)送0、0、0或1，1，1，數(shù)據(jù)才能被接收。
如果CELLBUS產(chǎn)生故障后沒有被及時(shí)發(fā)現(xiàn)并修正，就會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)的丟失，數(shù)據(jù)丟失會(huì)使得接收方得不到完整的信息。例如若CELLBUS的第3根數(shù)據(jù)線被固定拉成低電平，往CELLBUS上發(fā)送一個(gè)數(shù)據(jù)，且該數(shù)據(jù)的第3位剛好為1，那么該數(shù)據(jù)將不會(huì)通過幀結(jié)構(gòu)校驗(yàn)，從而不被接收，導(dǎo)致該數(shù)據(jù)丟失。另外，CELLBUS產(chǎn)生故障后，有可能導(dǎo)致電平錯(cuò)誤，例如發(fā)送的是1，結(jié)果接收的是0，或者發(fā)送的是0，結(jié)果接收的是1。電平錯(cuò)誤后，幀結(jié)構(gòu)校驗(yàn)也不會(huì)通過，而導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。目前還沒有檢測(cè)CELLBUS故障的方法。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種檢測(cè)CELLBUS故障的方法，以及時(shí)發(fā)現(xiàn)CELLBUS故障，從而避免數(shù)據(jù)丟失。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種檢測(cè)信元總線CELLBUS故障的方法，該方法包括A、構(gòu)造并保存位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同的測(cè)試數(shù)據(jù)；B、將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，然后接收測(cè)試數(shù)據(jù)，若接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，判定CELLBUS無故障；否則，判定CELLBUS有故障。
步驟B所述將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，然后接收測(cè)試數(shù)據(jù)的具體步驟為將測(cè)試數(shù)據(jù)添加虛通道連接標(biāo)識(shí)后，以異步傳輸模式ATM信元或ATM適配層AAL0或AAL1或AAL5報(bào)文的形式發(fā)送到CELLBUS接口器件上，然后CELLLBUS接口器件以ATM信元的形式接收，并添加校驗(yàn)信息、目的地址后以幀結(jié)構(gòu)的形式發(fā)送到CELLBUS上，CELLBUS接口器件根據(jù)幀結(jié)構(gòu)校驗(yàn)信息進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)通過，且檢測(cè)到幀結(jié)構(gòu)中的目的地址為自身地址，接收測(cè)試數(shù)據(jù)，然后CELLBUS接口器件將測(cè)試數(shù)據(jù)以ATM信元的形式發(fā)送到虛通道連接上，查詢虛通道連接上是否有數(shù)據(jù)，若是，接收該數(shù)據(jù)；否則，判定CELLBUS有故障。
步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試數(shù)據(jù)的每個(gè)數(shù)據(jù)位都為1。
步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試數(shù)據(jù)的每個(gè)數(shù)據(jù)位都為0。
步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1，步驟A所述保存測(cè)試數(shù)據(jù)為依次保存所有的測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟B所述接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同為接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)相同。
所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1為所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)至少等于CELLBUS的數(shù)據(jù)線的根數(shù)，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中1位為0、其余位為1，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為0的數(shù)據(jù)位互不相同。
所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1為所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)至少等于CELLBUS的數(shù)據(jù)線的根數(shù)，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中1位為1、其余位為0，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所提供的方法，通過構(gòu)造并保存位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同的測(cè)試數(shù)據(jù)，然后將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，并接收測(cè)試數(shù)據(jù)，若接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，就可以判定CELLBUS沒有故障；否則，判定CELLBUS有故障。本發(fā)明可以檢測(cè)CELLBUS故障，有利于CELLBUS故障的及時(shí)發(fā)現(xiàn)，從而避免了數(shù)據(jù)的丟失。同時(shí)，本發(fā)明通過構(gòu)造一組個(gè)數(shù)與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為1、其余位為0，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同；或者，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為0、其余位為1，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為0的數(shù)據(jù)位互不相同的測(cè)試數(shù)據(jù)，保證了全面、準(zhǔn)確地檢測(cè)CELLBUS故障，使得在確定CELLBUS無故障后，用戶可以放心使用。


圖1是本發(fā)明提供的檢測(cè)CELLBUS故障的流程圖；圖2是本發(fā)明提供的在ATM系統(tǒng)中，檢測(cè)32位CELLBUS故障的具體
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的核心思想是構(gòu)造并保存位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同的測(cè)試數(shù)據(jù)，然后將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，并接收測(cè)試數(shù)據(jù)，將接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與保存的測(cè)試數(shù)據(jù)比較，若兩者相同，判定CELLBUS無故障；若不相同或者測(cè)試數(shù)據(jù)沒被接收到，則判定CELLBUS有故障。
圖1是本發(fā)明提供的檢測(cè)CELLBUS故障的流程圖，如圖1所示，其具體步驟如下步驟101構(gòu)造并保存測(cè)試數(shù)據(jù)。
構(gòu)造的測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)可以不限。
步驟102將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上。
步驟103CELLBUS接口器件接收測(cè)試數(shù)據(jù)。
步驟104將接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)比較，判斷兩者是否相同，若是，執(zhí)行步驟105；否則，執(zhí)行步驟106。
步驟105判定CELLBUS無故障，本流程結(jié)束。
步驟106判定CELLBUS有故障。
CELLBUS接口器件沒有接收到任何數(shù)據(jù)，或者接收到的數(shù)據(jù)與發(fā)送的測(cè)試數(shù)據(jù)不同，都認(rèn)為CELLBUS有故障。
當(dāng)判定CELLBUS有故障之后，可對(duì)CELLBUS進(jìn)行檢修或替換。
需要指出的是本發(fā)明中的測(cè)試數(shù)據(jù)可任意構(gòu)造。但是，若要盡快發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線被固定拉成高電平的故障，可以采用測(cè)試數(shù)據(jù)A測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，且，測(cè)試數(shù)據(jù)的每一位都為0；若要盡快發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線被固定拉成低電平的故障，可以采用測(cè)試數(shù)據(jù)B測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，且，測(cè)試數(shù)據(jù)的每一位都為1。
采用以上兩種測(cè)試數(shù)據(jù)的缺點(diǎn)是檢測(cè)準(zhǔn)確度不能保證。即使接收數(shù)據(jù)與發(fā)送數(shù)據(jù)完全相同，也不能確定CELLBUS無故障，因?yàn)楫?dāng)數(shù)據(jù)線發(fā)生粘連時(shí)，有可能粘連的數(shù)據(jù)線顯示的值都為0或1，而使得接收數(shù)據(jù)與發(fā)送數(shù)據(jù)完全相同。
為了全面、準(zhǔn)確地檢測(cè)CELLBUS故障，可采用以下兩種測(cè)試數(shù)據(jù)之一首先，這兩種測(cè)試數(shù)據(jù)都滿足測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)等于CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，具體地，第一種每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為1、其余位為0，且各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同。例如測(cè)試數(shù)據(jù)1的第1位為1、其余位為0；測(cè)試數(shù)據(jù)2的第2位為1、其余位為0；......；測(cè)試數(shù)據(jù)m的第m位為1、其余位為0；......。
第二種每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為0、其余位為1，且各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為0的數(shù)據(jù)位互不相同。例如測(cè)試數(shù)據(jù)1的第1位為0、其余位為1；測(cè)試數(shù)據(jù)2的第2位為0、其余位為1；......；測(cè)試數(shù)據(jù)m的第m位為0、其余位為1；......。
在實(shí)際應(yīng)用中，以上每種測(cè)試數(shù)據(jù)中的各數(shù)據(jù)無先后之分，可任意排列。
由以上所述，若測(cè)試數(shù)據(jù)為第一種，那么當(dāng)?shù)?位為1、其余位為0的數(shù)據(jù)被正確接收到時(shí)，就可以判定CELLBUS的第1位數(shù)據(jù)線沒有與所有其它位數(shù)據(jù)線發(fā)生粘連，同時(shí)可以判定CELLBUS的第1位數(shù)據(jù)線沒有被固定拉成低電平、且其余所有位數(shù)據(jù)線沒有被固定拉成高電平，依此類推，將所有測(cè)試數(shù)據(jù)全部正確接收到后，就可以判定CELLBUS的所有位數(shù)據(jù)線都沒有產(chǎn)生被固定拉成低電平、被固定拉成高電平和粘連的故障，也沒有發(fā)生電平錯(cuò)誤的情況。
下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明再作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
圖2是本發(fā)明提供的在ATM系統(tǒng)中，檢測(cè)32位CELLBUS故障的具體實(shí)施例的流程圖，如圖2所示，具體步驟如下步驟201構(gòu)造測(cè)試數(shù)據(jù)，并依次保存測(cè)試數(shù)據(jù)，選定并記錄虛通道連接(VCC，Virtual Channel Connection)標(biāo)識(shí)，然后將測(cè)試數(shù)據(jù)以AALX(X＝0、1或5)報(bào)文或ATM信元的形式發(fā)送到CELLBUS接口器件上。
構(gòu)造的測(cè)試數(shù)據(jù)為32個(gè)32位的測(cè)試數(shù)據(jù)，且每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為1，其余位為0，各測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同。
用戶在將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS接口器件上時(shí)，可以AALX報(bào)文或ATM信元的形式發(fā)送。在發(fā)送前，首先要選定VCC標(biāo)識(shí)，包括虛路徑標(biāo)識(shí)(VPI，Virtual Path Identifier)和虛通道標(biāo)識(shí)(VCI，Virtual ChannelIdentifier)，然后將VCC標(biāo)識(shí)封裝到ATM信元頭部分，將測(cè)試數(shù)據(jù)封裝到ATM信元的凈荷部分。每個(gè)ATM信元的凈荷長(zhǎng)度是48個(gè)字節(jié)。根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度32×4＝128個(gè)字節(jié)，若使用ATM信元發(fā)送方式，則共需3個(gè)ATM信元，剩余的凈荷空間可添加任意數(shù)據(jù)，最好是前面提到的數(shù)據(jù)A和數(shù)據(jù)B。若使用AALX報(bào)文發(fā)送方式，以AAL5為例，則需將測(cè)試數(shù)據(jù)封裝進(jìn)3個(gè)ATM信元，其中，前兩個(gè)ATM信元的凈荷空間全部被測(cè)試數(shù)據(jù)添滿，剩余32字節(jié)的測(cè)試數(shù)據(jù)添加在第三個(gè)ATM信元的凈荷空間，這樣第三個(gè)ATM信元剩余16字節(jié)的凈荷空間，該空間的前8個(gè)字節(jié)可以添加任意數(shù)據(jù)，最好是前面提到的數(shù)據(jù)A和數(shù)據(jù)B，并且，該前8個(gè)字節(jié)剩余凈荷空間必須是連續(xù)的，后面8個(gè)字節(jié)用來作為AAL5報(bào)文尾部。對(duì)于ATM信元發(fā)送方式來說，其剩余凈荷空間沒有該要求。
VPI和VCI的值必須在系統(tǒng)要求的范圍內(nèi)，且不與其它的VPI和VCI相同。
步驟202CELLBUS接口器件以ATM信元的形式接收AALX報(bào)文或ATM信元，然后給接收到的ATM信元添加目的地址、校驗(yàn)信息后以幀結(jié)構(gòu)的形式發(fā)送到CELLBUS上。
3個(gè)ATM信元是以3個(gè)幀結(jié)構(gòu)的形式發(fā)送的，且?guī)Y(jié)構(gòu)中帶有VCC值。
無論測(cè)試數(shù)據(jù)是以AALX報(bào)文還是以ATM信元的形式發(fā)送，CELLBUS接口器件都是以ATM信元的形式接收。
步驟203CELLBUS接口器件根據(jù)幀結(jié)構(gòu)中的校驗(yàn)信息進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)通過，且檢測(cè)到幀結(jié)構(gòu)中的目的地址與自身地址相同。
校驗(yàn)沒通過，該數(shù)據(jù)會(huì)被丟棄。
步驟204CELLBUS接口器件接收幀結(jié)構(gòu)中的數(shù)據(jù)。
步驟205CELLBUS接口器件根據(jù)VCC值，將測(cè)試數(shù)據(jù)以ATM信元的形式發(fā)送到VCC上。
步驟206檢測(cè)VCC上是否有數(shù)據(jù)，若是，執(zhí)行步驟207；否則，執(zhí)行步驟210。
可設(shè)定查詢次數(shù)，并不停地查詢VCC上是否有數(shù)據(jù)，若是就接收該數(shù)據(jù)；若在設(shè)定查詢次數(shù)內(nèi)，在該VCC上沒有檢測(cè)到數(shù)據(jù)，判定CELLBUS有故障。
步驟207接收VCC上的數(shù)據(jù)。
步驟208判斷接收數(shù)據(jù)與保存的測(cè)試數(shù)據(jù)是否完全一致，若是，執(zhí)行步驟209；否則，執(zhí)行步驟210。
步驟209判定CELLBUS無故障，本流程結(jié)束。
步驟210判定CELLBUS有故障。
以上所述僅為本發(fā)明的過程及方法實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)信元總線CELLBUS故障的方法，其特征在于，該方法包括A、構(gòu)造并保存位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同的測(cè)試數(shù)據(jù)；B、將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，然后接收測(cè)試數(shù)據(jù)，若接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，判定CELLBUS無故障；否則，判定CELLBUS有故障。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟B所述將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，然后接收測(cè)試數(shù)據(jù)的具體步驟為將測(cè)試數(shù)據(jù)添加虛通道連接標(biāo)識(shí)后，以異步傳輸模式ATM信元或ATM適配層AAL0或AAL1或AAL5報(bào)文的形式發(fā)送到CELLBUS接口器件上，然后CELLLBUS接口器件以ATM信元的形式接收，并添加校驗(yàn)信息、目的地址后以幀結(jié)構(gòu)的形式發(fā)送到CELLBUS上，CELLBUS接口器件根據(jù)幀結(jié)構(gòu)校驗(yàn)信息進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)通過，且檢測(cè)到幀結(jié)構(gòu)中的目的地址為自身地址，接收測(cè)試數(shù)據(jù)，然后CELLBUS接口器件將測(cè)試數(shù)據(jù)以ATM信元的形式發(fā)送到虛通道連接上，查詢虛通道連接上是否有數(shù)據(jù)，若是，接收該數(shù)據(jù)；否則，判定CELLBUS有故障。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試數(shù)據(jù)的每個(gè)數(shù)據(jù)位都為1。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試數(shù)據(jù)的每個(gè)數(shù)據(jù)位都為0。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1，步驟A所述保存測(cè)試數(shù)據(jù)為依次保存所有的測(cè)試數(shù)據(jù)；步驟B所述接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同為接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與步驟A中保存的測(cè)試數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)相同。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1為所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)至少等于CELLBUS的數(shù)據(jù)線的根數(shù)，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中1位為0、其余位為1，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為0的數(shù)據(jù)位互不相同。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)大于1為所述測(cè)試數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)至少等于CELLBUS的數(shù)據(jù)線的根數(shù)，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中1位為1、其余位為0，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢測(cè)CELLBUS故障的方法，本發(fā)明通過構(gòu)造并保存位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同的測(cè)試數(shù)據(jù)，然后將測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送到CELLBUS上，并接收測(cè)試數(shù)據(jù)，若接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)與保存的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，就判定CELLBUS沒有故障。本發(fā)明可以檢測(cè)CELLBUS故障，有利于CELLBUS故障的及時(shí)發(fā)現(xiàn)，從而避免了數(shù)據(jù)的丟失。同時(shí)，本發(fā)明通過構(gòu)造一組個(gè)數(shù)與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，每個(gè)數(shù)據(jù)的位寬與CELLBUS數(shù)據(jù)線的根數(shù)相同，且，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為1、其余位為0，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為1的數(shù)據(jù)位互不相同；或者，每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的其中一位為0、其余位為1，各個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)為0的數(shù)據(jù)位互不相同的測(cè)試數(shù)據(jù)，保證了全面、準(zhǔn)確地檢測(cè)CELLBUS故障，也使得在確定CELLBUS無故障后，用戶可以放心使用。
文檔編號(hào)H04L12/56GK1859226SQ200510084150
公開日2006年11月8日 申請(qǐng)日期2005年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月14日
發(fā)明者劉龍新 申請(qǐng)人:上海華為技術(shù)有限公司