本發(fā)明涉及通信
技術領域：
，特別涉及一種鎖定檢測電路、方法及鎖相電路。
背景技術：
：鎖相環(huán)是一種在正常工作狀態(tài)(即鎖定狀態(tài))下，能夠使輸出的反饋信號與輸入的參考信號保持相同的頻率以及恒定的相位差的閉環(huán)控制電路，一般應用于廣播、通信、頻率合成以及時鐘同步等
技術領域：
。傳統(tǒng)的鎖相環(huán)一般由鑒頻鑒相器、電荷泵、環(huán)路濾波器、壓控振蕩器和分頻器組成。由于當鎖相環(huán)處于非正常工作狀態(tài)(即失鎖狀態(tài))時，容易導致應用該鎖相環(huán)的系統(tǒng)出現(xiàn)故障，因此需要專門的鎖定檢測電路來確定鎖相環(huán)的工作狀態(tài)，以便及時對處于失鎖狀態(tài)的鎖相環(huán)進行檢測和維修。相關技術中的鎖定檢測電路所包含的器件較多，一般包括兩個分頻器、兩個計數器和一個比較器，該鎖定檢測電路的結構較為復雜。技術實現(xiàn)要素：為了相關技術中的問題，本發(fā)明提供了一種簡化鎖定檢測電路結構的鎖定檢測電路、方法及鎖相電路。所述技術方案如下：一方面，提供了一種鎖定檢測電路，該鎖定檢測電路分別與，鎖相環(huán)的參考信號輸入端和反饋信號輸入端，以及控制器相耦合，該鎖定檢測電路包括：相位比較電路以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測電路；該相位比較電路用于分別從該鎖相環(huán)的參考信號輸入端接收參考信號，從該鎖相環(huán)的反饋信號輸入端接收反饋信號，以及從該控制器接收工作模式信號，其中，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在該第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位；該相位比較電路還用于根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號，該對比信號指示了該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系與在該理想鎖定狀態(tài)下的相位關系是否相同，其中，鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系即該參考信號和該反饋信號的相位關系；該狀態(tài)檢測電路用于獲取時鐘信號和該對比信號，并根據該時鐘信號和該對比信號，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。本發(fā)明提供的鎖定檢測電路通過相位比較電路和狀態(tài)檢測電路即可實現(xiàn)對鎖相環(huán)的工作狀態(tài)的檢測，該鎖定檢測電路中所包含的元件較少，電路結構較為簡單?？蛇x的，該相位比較電路可以包括：數據觸發(fā)器(英文：Dataflip-flop；簡稱：D觸發(fā)器)和邏輯門；該D觸發(fā)器的時鐘信號輸入端用于接收該參考信號，該D觸發(fā)器的數據信號輸入端用于接收該反饋信號，該D觸發(fā)器的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接，該D觸發(fā)器用于以該參考信號為采樣時鐘信號，對該反饋信號的電平進行采樣得到采樣信號；該邏輯門用于通過第一輸入端接收該采樣信號，并通過第二輸入端接收該工作模式信號，以及根據該采樣信號和該工作模式信號進行邏輯運算，生成該對比信號?？蛇x的，該相位比較電路可以包括：D觸發(fā)器和邏輯門；該D觸發(fā)器的時鐘信號輸入端用于接收該反饋信號，該D觸發(fā)器的數據信號輸入端用于接收該參考信號，該D觸發(fā)器的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接，該D觸發(fā)器用于以該反饋信號為采樣時鐘信號，對該參考信號的電平進行采樣得到的采樣信號；該邏輯門用于通過第一輸入端接收該采樣信號，并通過第二輸入端接收該工作模式信號，該邏輯門用于根據該采樣信號和該工作模式信號進行邏輯運算，生成該對比信號?？蛇x的，該邏輯運算為異或運算或同或運算中的一種。可選的，該狀態(tài)檢測電路可以包括：計數器和比較器；該計數器的輸入端用于接收該對比信號，該計數器的時鐘信號端用于接收該時鐘信號，該計數器的輸出端與該比較器的輸入端連接，該計數器用于根據該時鐘信號，在預設的計數周期內對該對比信號中的預設電平進行計數得到計數結果，并將計數結果發(fā)送至該比較器；該比較器用于將該計數結果與預設的計數閾值進行比較，并根據比較結果，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測。可選的，在該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平?？蛇x的，在該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平?？蛇x的，該比較器具體用于：將該計數結果與預設的計數閾值進行比較，當該計數結果大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài)；當該計數結果不大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)?？蛇x的，該狀態(tài)檢測電路獲取的該時鐘信號可以為該參考信號；或者，該鎖定檢測電路還可以包括：時鐘發(fā)生器，則該狀態(tài)檢測電路還可以從該時鐘發(fā)生器獲取該時鐘信號。第二方面，提供一種鎖定檢測方法，應用于鎖定檢測電路，該鎖定檢測電路包括：相位比較電路以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測電路，該鎖定檢測電路分別與，鎖相環(huán)的參考信號輸入端和反饋信號輸入端，以及控制器相耦合，該方法包括：分別從該鎖相環(huán)的參考信號輸入端接收參考信號，從該鎖相環(huán)的反饋信號輸入端接收反饋信號，以及從該控制器接收工作模式信號，其中，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在該第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位；根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號，該對比信號指示了該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關系是否相同，其中，該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系即該參考信號和該反饋信號的相位關系；獲取時鐘信號和對比信號，并根據該時鐘信號和該對比信號對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。本發(fā)明提供的鎖定檢測方法可以從控制器接收工作模式信號，并基于該工作模式信號對鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，該檢測過程較為簡單，檢測效率較高。可選的，根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號的具體過程可以包括：將該參考信號作為采樣時鐘信號，對該反饋信號的電平進行采樣，得到采樣信號；根據該采樣信號和該工作模式信號進行邏輯運算，生成該對比信號?？蛇x的，根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號得具體過程還可以包括：將該反饋信號作為采樣時鐘信號，對該參考信號的電平進行采樣，得到采樣信號；根據該采樣信號和該工作模式信號進行邏輯運算，生成該對比信號。可選的，該邏輯運算可以為異或運算或同或運算中的一種?？蛇x的，根據根據時鐘信號和對比信號對鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測的過程具體可以包括：根據該時鐘信號，在預設的計數周期內對該對比信號的預設電平進行計數得到計數結果；將該計數結果與預設的計數閾值進行比較，并根據比較結果，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測?？蛇x的，在該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平?？蛇x的，在該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平?？蛇x的，該將該計數結果與預設的計數閾值進行比較，并根據比較結果，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，包括：將該計數結果與預設的計數閾值進行比較，當該計數結果大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài)；當該計數結果不大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)。可選的，該時鐘信號可以為該參考信號；或者，該時鐘信號可以為時鐘發(fā)生器生成的信號。第三方面，提供了一種鎖相電路，該鎖相電路包括：鎖相環(huán)、控制器以及如第一方面所述的鎖定檢測電路，該鎖定檢測電路分別與，鎖相環(huán)的參考信號輸入端和反饋信號輸入端，以及控制器相耦合；該鎖相環(huán)用于通過該參考信號輸入端向該鎖定檢測電路發(fā)送參考信號，并通過該反饋信號輸入端向該鎖定檢測電路發(fā)送反饋信號；該控制器用于向該鎖定檢測電路發(fā)送工作模式信號，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位。綜上所述，本發(fā)明提供的技術方案帶來的有益效果是：本發(fā)明提供了一種鎖定檢測電路、方法及鎖相電路，該鎖定檢測電路包括相位比較電路和狀態(tài)檢測電路，其中相位比較電路可以根據工作模式信號，生成用于指示參考信號與該反饋信號之間的相位關系的對比信號，狀態(tài)檢測電路可以根據參考信號和該對比信號，生成狀態(tài)檢測信號。相比于相關技術中的鎖定檢測電路，本發(fā)明提供的鎖定檢測電路中僅包含一個觸發(fā)器、一個邏輯門、一個計數器和一個比較器，該鎖定檢測電路所包含的元件較少，電路結構較為簡單。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1A是本發(fā)明實施例提供的一種鎖相環(huán)的結構示意圖；圖1B是本發(fā)明實施例提供的一種鎖相環(huán)的局部結構示意圖；圖1C是本發(fā)明實施例提供的另一種鎖相環(huán)的結構示意圖；圖2是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測電路的應用場景示意圖；圖3是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測電路的結構示意圖；圖4A是本發(fā)明實施例提供的另一種鎖定檢測電路的結構示意圖；圖4B是本發(fā)明實施例提供的一種參考信號與反饋信號的時序關系示意圖；圖4C是本發(fā)明實施例提供的另一種參考信號與反饋信號的時序關系示意圖；圖5是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測方法的流程圖。具體實施方式為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。圖1A是本發(fā)明實施例提供的一種鎖相環(huán)的結構示意圖，如圖1A所示，該鎖相環(huán)可以包括晶振緩沖器101、鑒頻鑒相器102、電荷泵103、低通濾波器104、壓控振動器105和分頻器106。其中，該晶振緩沖器101用于對晶振輸入端輸入的晶振信號進行緩沖后生成參考信號，并將該參考信號輸出至鑒頻鑒相器102，該鑒頻鑒相器102用于檢測該參考信號和反饋信號的相位差，并根據該相位差向電荷泵103輸出脈沖控制信號，該電荷泵103用于根據該脈沖控制信號產生充電電流或放電電流，低通濾波器104用于根據該充電電流或者放電電流向壓控振蕩器105輸出控制電壓，壓控振蕩器105可以根據該控制電壓生成振蕩電壓，以便分頻器106對該振蕩電壓進行分頻后生成反饋信號，并輸入至該鑒頻鑒相器102。從圖1A中可以看出，該鎖相環(huán)中的鑒頻鑒相器、電荷泵、低通濾波器、壓控振蕩器和分頻器可以形成一個反饋系統(tǒng)，該反饋系統(tǒng)能夠調整反饋信號的頻率和相位，使得該反饋信號的頻率和相位“鎖定”到該參考信號的頻率和相位上。也即是，當該鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時，該參考信號與該反饋信號的頻率和相位均相同，或者兩者的頻率相同，相位差恒定。圖1B是本發(fā)明實施例提供的一種鎖相環(huán)的局部結構示意圖，如圖1B所示，為了避免鎖相環(huán)中電荷泵103的非線性對鎖相環(huán)的工作狀態(tài)造成影響，一般還可以在電荷泵103的輸出端增加補償電流(IOffset)31來改善該電荷泵103的非線性，該增加補償電流的鎖相環(huán)也稱為OffsetCP鎖相環(huán)。該OffsetCP鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時，參考信號和反饋信號之間具有一定的相位差。圖1C是本發(fā)明實施例提供的另一種鎖相環(huán)的結構示意圖，如圖1C所示，該鎖相環(huán)包括晶振緩沖器21、鑒相器22、低通濾波器23、壓控振蕩器24以及分頻器25，該鎖相環(huán)中未設置電荷泵，該類型的鎖相環(huán)也稱為Type-I鎖相環(huán)，當該Type-I鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時，參考信號和反饋信號之間也具有固定的相位差。對于上述處于鎖定狀態(tài)時，參考信號與反饋信號之間具有固定相位差的鎖相環(huán)，可以包括兩種工作模式：第一工作模式下，參考信號的相位滯后于反饋信號的相位，在第二工作模式下，反饋信號的相位滯后于參考信號的相位。圖2是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測電路的應用場景示意圖，參考圖2，該鎖定檢測電路00可以分別與鎖相環(huán)10的參考信號輸入端a和反饋信號輸入端b，以及控制器20相耦合。圖3是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測電路的結構示意圖，如圖3所示，該鎖定檢測電路可以包括：相位比較電路01以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測電路02。該相位比較電路01用于分別從該鎖相環(huán)10的參考信號輸入端a接收參考信號，從該鎖相環(huán)10的反饋信號輸入端b接收反饋信號，以及從該控制器20接收工作模式信號，其中，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在該第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位。該相位比較電路01還用于根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號，該對比信號指示了該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關系是否相同，其中，該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系即該參考信號和該反饋信號的相位關系。該狀態(tài)檢測電路02用于獲取時鐘信號和該對比信號，并根據該時鐘信號和該對比信號，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。其中，該鎖相環(huán)10的工作模式可以是由該控制器20進行控制的，示例的，對于圖1B所示的OffsetCP鎖相環(huán)，可以通過控制Offset電流的方向來控制該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，具體的，當控制該Offset電流的方向為從電荷泵103流至低通濾波器104時，該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式；當控制該Offset電流的方向為從低通濾波器流至電荷泵時(即圖1B所示的流向)，該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式。對于不同類型的鎖相環(huán)，控制器對其工作模式的控制方法也不同，本發(fā)明實施例對此不做限定。圖4A是本發(fā)明實施例提供的另一種鎖定檢測電路的結構示意圖，如圖4A所示，在本發(fā)明一種可選的實現(xiàn)方式中，該相位比較電路01可以包括：D觸發(fā)器011和邏輯門012。一方面，該D觸發(fā)器011的時鐘信號輸入端CK用于接收該參考信號，該D觸發(fā)器的數據信號輸入端D用于接收該反饋信號，該D觸發(fā)器的輸出端Q與該邏輯門012的第一輸入端連接，該D觸發(fā)器011用于以該參考信號為采樣時鐘信號，對該反饋信號的電平進行采樣得到采樣信號。另一方面，該D觸發(fā)器011的時鐘信號輸入端CK還可以接收該反饋信號，則該D觸發(fā)器011的數據信號輸入端D接收該參考信號，該D觸發(fā)器011的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接，此時，該D觸發(fā)器能夠以該反饋信號為采樣時鐘信號，對該參考信號的電平進行采樣得到采樣信號。參考圖4A，該邏輯門012用于通過該第一輸入端接收該D觸發(fā)器輸出的采樣信號，并通過該邏輯門的第二輸入端接收該工作模式信號，以及根據該采樣信號和該工作模式信號進行邏輯運算，生成對比信號。具體的，該邏輯門可以為異或門，則此時該異或門可以對該采樣信號和該工作模式信號進行異或運算后生成該對比信號；或者，該邏輯門還可以為同或門，該同或門可以對該采樣信號和該工作模式信號進行同或運算后生成該對比信號。需要說明的是，在實際應用中，該相位比較電路01中還可以設置有多個邏輯門012，例如與門、或門或者與非門等，該多個邏輯門能夠實現(xiàn)異或門或者同或門的邏輯效果，本發(fā)明實施例對該相位比較電路中邏輯門的個數和類型不做具體限定。進一步的，參考圖4A，在本發(fā)明一種可選的實現(xiàn)方式中，該狀態(tài)檢測電路02可以包括：計數器021和比較器022。該計數器021的輸入端用于接收該對比信號，該計數器021的時鐘信號端CK用于接收時鐘信號，該計數器021的輸出端與該比較器022的輸入端連接，該計數器021用于根據該時鐘信號，在預設的計數周期內對該對比信號中的預設電平進行計數得到計數結果，并將該計數結果發(fā)送至該比較器022。其中，參考圖4A，該鎖定檢測電路還可以包括：時鐘發(fā)生器03，該計數器021所接收的時鐘信號可以是由該時鐘發(fā)生器03產生的數字時鐘信號，該時鐘信號的頻率可以為根據實際情況預先設置的；或者也可以直接將該鎖相環(huán)中的參考信號輸入端與該計數器021的時鐘信號端相耦合，也即是，將該鎖相環(huán)中的參考信號作為該計數器021的時鐘信號。此外，該計數器021中預設的計數周期可以根據鎖定檢測電路的實際情況靈活設置，一般計數周期越長，該鎖定檢測電路的檢測精度越高。該比較器022用于將該計數器021發(fā)送的計數結果與預設的計數閾值進行比較，并根據比較結果生成該狀態(tài)檢測信號。具體的，當該計數結果大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài)；當該計數結果不大于該計數閾值時，確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)。需要說明的是，在實際應用中，該計數器021中可以設置有用于接收計數周期的輸入端，該比較器022中也可以設置有用于接收計數閾值和計數周期的輸入端，該比較器022可以將在該計數周期內接收到的計數結果與預設的計數閾值進行比較。在本發(fā)明一種可選的實現(xiàn)方式中，假設該鎖相環(huán)處于第一工作模式(即參考信號的相位滯后于反饋信號的相位)時，控制器輸出的工作模式信號為高電平，該鎖相環(huán)處于第二工作模式(即反饋信號的相位滯后于參考信號的相位)時，該工作模式信號為低電平，參考圖4A，以該D觸發(fā)器011的時鐘信號端CK接收參考信號，數據信號端D接收反饋信號，該邏輯門012為異或門為例，對該鎖定檢測電路的工作原理進行詳細說明。由于該D觸發(fā)器011的時鐘信號端CK接收參考信號，因此該D觸發(fā)器011能夠以該參考信號為采樣時鐘信號，對數據信號端D輸入的反饋信號進行采樣，也即是，在該參考信號的上升沿，向該邏輯門012的第一輸入端輸出該反饋信號的電平。圖4B和圖4C是本發(fā)明實施例提供的鎖相環(huán)在不同工作模式下參考信號與反饋信號的時序關系圖。其中圖4B是鎖相環(huán)在第一工作模式(即參考信號的相位滯后于反饋信號的相位)下，參考信號和反饋信號的時序圖，假設該參考信號和反饋信號在高電平時有效，則從圖4B可以看出，當參考信號的相位滯后于反饋信號的相位時，若該參考信號與反饋信號之間的相位關系穩(wěn)定(即當鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時)，D觸發(fā)器011在參考信號的上升沿對反饋信號進行采樣時，得到的采樣信號為高電平(即圖4B中A點的電平)，此時該D觸發(fā)器輸出1；若該參考信號與反饋信號之間的相位關系不穩(wěn)定(即當鎖相環(huán)處于失鎖狀態(tài)時)，該D觸發(fā)器011輸出的該反饋信號的采樣信號則可能為1，也可能還包含0。圖4C是鎖相環(huán)在第二工作模式(即反饋信號的相位滯后于參考信號的相位)下，參考信號和反饋信號的時序圖，從圖4C可以看出，當反饋信號的相位滯后于參考信號的相位時，若該參考信號與反饋信號之間的相位關系穩(wěn)定，D觸發(fā)器011在參考信號的上升沿對反饋信號進行采樣時，采樣得到的信號為低電平(即圖4C中B點的電平)，即該D觸發(fā)器輸出0；若該參考信號與反饋信號之間的相位關系不穩(wěn)定，該D觸發(fā)器輸出的該反饋信號的采樣信號則可能為0，也可能還包含1。異或門的工作原理如表1所示，即兩個輸入端輸入的電平相異時，輸出為1，兩個輸入端輸入的電平相同時，輸出為0。表1第一輸入端第二輸入端輸出端000011101110因此，當鎖相環(huán)處于第一工作模式時，若該參考信號和反饋信號之間的相位關系穩(wěn)定，則該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號應為1，由于此時該異或門012第二輸入端輸入的工作模式信號為1，則異或門012輸出端輸出的對比信號應全為0；若該參考信號和反饋信號之間的相位關系不穩(wěn)定，則該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號也不穩(wěn)定，即此時該D觸發(fā)器011向邏輯門012的第一輸入端輸出的信號可能為1也可能為0，因此此時該異或門012輸出的對比信號為1或者0。當鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式，即反饋信號的相位滯后于參考信號的相位時，若該參考信號和反饋信號之間的相位關系穩(wěn)定，該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號應為0，由于此時該異或門012第二輸入端輸入的工作模式信號為0，則異或門012輸出端輸出的對比信號也應該為0；若該參考信號和反饋信號之間的相位關系不穩(wěn)定，則該異或門012輸出的對比信號為1或者0。根據上述分析可知，在工作模式信號以高電平指示鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式，該D觸發(fā)器的時鐘信號端CK接收參考信號，且該邏輯門012為異或門的情況下，當該鎖相環(huán)為鎖定狀態(tài)時，該異或門012輸出的對比信號應當全為0，當該鎖相環(huán)為失鎖狀態(tài)時，該異或門012輸出的對比信號可以為1或者0。因此，計數器021在接收到該對比信號后，所統(tǒng)計的該對比信號中的預設電平可以為高電平，也即是，該計數器021可以以該參考信號為時鐘信號，在預設的計數周期內，對該對比信號的高電平進行計數，示例的，假設計數周期為1s，該參考信號的周期為0.1s，則在該計數周期內，該計數器021可以采樣得到10個電平信號，并對該10個電平信號中的高電平進行計數，若在該計數周期1s內，計數器021統(tǒng)計得到該10個電平信號中包括5個高電平，則該計數器021可以將計數結果5發(fā)送至比較器022。若該比較器022中預設的計數閾值為3，則當比較器022接收到計數結果5時，可以確定該計數結果5大于計數閾值3，進而可以確定該鎖相環(huán)中參考信號與反饋信號之間的相位關系不穩(wěn)定，并確定該鎖相環(huán)為失鎖狀態(tài)。在本發(fā)明實施例中，由于當鎖相環(huán)處于第一工作模式時，該工作模式信號可以為低電平，相應的，當鎖相環(huán)處于為第二工作模式時，該工作模式信號為高電平，且該D觸發(fā)器中時鐘信號端所接入的可以為參考信號也可以為反饋信號，該邏輯門對采樣信號和工作模式信號所進行的邏輯運算可以為異或運算也可以為同或運算。因此，該計數器所統(tǒng)計的預設電平可以根據該工作模式信號在不同工作模式下的電平高低、D觸發(fā)器中時鐘信號端接入的信號類型，以及該邏輯門的類型(即邏輯運算的類型)進行設置。具體如表2所示，一方面，在該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平。另一方面，在該工作模式信號以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式，以及該工作模式信號以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為低電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該參考信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過同或運算生成時，該預設電平為高電平；或者，當該采樣信號是由該D觸發(fā)器以該反饋信號作為采樣時鐘信號進行采樣得到，且該對比信號是由該邏輯門通過異或運算生成時，該預設電平為高電平。表2需要說明的是，本發(fā)明上述實施例均是以參考信號和反饋信號的有效電平為高電平為例進行說明的，在實際應用中，該參考信號和反饋信號的有效電平也可以為低電平，則上述表2所示的預設電平的高低也相應的需要進行調整。還需要說明的是，在實際應用中，參考信號和反饋信號之間具有固定相位差的鎖相環(huán)，均可以采用本發(fā)明實施例提供的鎖定檢測電路對鎖相環(huán)中的工作狀態(tài)進行檢測，本發(fā)明實施例該鎖定檢測電路的應用場景不做限定。此外，上述所有可選的實現(xiàn)方式，可以任意結合形成本發(fā)明的可選實施例。綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種鎖定檢測電路，該鎖定檢測電路包括相位比較電路和狀態(tài)檢測電路，其中相位比較電路可以根據工作模式信號，生成用于指示參考信號與該反饋信號之間的相位關系的對比信號，狀態(tài)檢測電路可以根據參考信號和該對比信號，對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測。本發(fā)明實施例提供的鎖定檢測電路由D觸發(fā)器、邏輯門、一個計數器和一個比較器組成，該鎖定檢測電路所包含的元件較少，電路結構較為簡單。圖5是本發(fā)明實施例提供的一種鎖定檢測方法的流程圖，該方法可以應用于如圖3或圖4A所示的鎖定檢測電路中，從圖3或圖4A中可以看出，該鎖定檢測電路包括：相位比較電路01以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測電路02，該鎖定檢測電路可以分別與，鎖相環(huán)的參考信號輸入端和反饋信號輸入端，以及控制器相耦合，如圖5所示，該方法可以包括：步驟501、分別從鎖相環(huán)的參考信號輸入端接收參考信號，從鎖相環(huán)的反饋信號輸入端接收反饋信號，以及從控制器接收工作模式信號。其中，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在該第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位。步驟502、根據該參考信號、該反饋信號以及該工作模式信號，生成對比信號。該對比信號指示了該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關系是否相同，其中，該鎖相環(huán)在實際工作狀態(tài)下的相位關系即該參考信號和該反饋信號的相位關系。步驟503、獲取時鐘信號和該對比信號，并根據該時鐘信號和該對比信號對該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進行檢測，該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。步驟501和步驟502所示的方法可以由上述鎖定檢測電路中的相位比較電路01來實現(xiàn)，步驟503所示的方法可以由該鎖定檢測電路中的狀態(tài)檢測電路02來實現(xiàn)。上述步驟501至步驟503所示的鎖定檢測方法的具體實現(xiàn)過程可以參考前述針對鎖定檢測電路工作原理的描述，本發(fā)明實施例不再贅述。本發(fā)明實施例還提供了一種鎖相電路，參考圖2，該鎖相電路可以包括：鎖相環(huán)10、控制器20以及如第一方面所述的鎖定檢測電路00，該鎖定檢測電路00分別與，鎖相環(huán)10的參考信號輸入端a和反饋信號輸入端b，以及控制器20相耦合。該鎖相環(huán)10用于通過該參考信號輸入端a向該鎖定檢測電路發(fā)送參考信號，并通過該反饋信號輸入端b向該鎖定檢測電路發(fā)送反饋信號。該控制器20用于控制該鎖相環(huán)10的工作模式，并向該鎖定檢測電路00發(fā)送工作模式信號，該工作模式信號指示了該鎖相環(huán)10在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式，該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式，在第一工作模式下，該參考信號的相位滯后于該反饋信號的相位，在該第二工作模式下，該反饋信號的相位滯后于該參考信號的相位。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。當前第1頁1 2 3