本發(fā)明涉及基片處理裝置、基片處理方法和計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、專利文獻(xiàn)1公開了一種基片處理裝置,其包括:保持部,其構(gòu)成為能夠以基片可旋轉(zhuǎn)的方式保持基片;供給部,其構(gòu)成為能夠?qū)Ρ槐3衷诒3植康幕┙o處理液;和加熱部,其構(gòu)成為能夠?qū)南卤砻婀┙o加熱后的氮?dú)鈦韺?duì)基片進(jìn)行加熱。
2、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
3、專利文獻(xiàn)
4、專利文獻(xiàn)1:日本特開2019-134000號(hào)公報(bào)
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、發(fā)明要解決的技術(shù)問題
2、本發(fā)明對(duì)能夠更高精度地對(duì)基片的周緣部進(jìn)行處理的基片處理裝置、基片處理方法和計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)進(jìn)行說明。
3、用于解決技術(shù)問題的技術(shù)方案
4、基片處理裝置的一例包括:旋轉(zhuǎn)保持部,其構(gòu)成為能夠保持基片并使其旋轉(zhuǎn);處理液供給部,其構(gòu)成為能夠?qū)闹芫壊抗┙o處理液;加熱部,其構(gòu)成為能夠?qū)陌ㄖ行牟康膮^(qū)域進(jìn)行加熱;周緣加熱部,其構(gòu)成為能夠?qū)闹芫壊窟M(jìn)行加熱;和控制部。控制部構(gòu)成為能夠執(zhí)行:第一處理,控制旋轉(zhuǎn)保持部來使基片旋轉(zhuǎn);第二處理,控制處理液供給部,來對(duì)旋轉(zhuǎn)中的基片的周緣部供給處理液;和第三處理,至少在對(duì)基片的周緣部供給處理液的期間,控制加熱部和周緣加熱部,對(duì)包含基片的中心部的區(qū)域和基片的周緣部進(jìn)行加熱,以使得包含基片的中心部的區(qū)域的溫度與基片的周緣部的溫度之差處于規(guī)定的范圍內(nèi)。
5、發(fā)明效果
6、根據(jù)本發(fā)明的基片處理裝置、基片處理方法和計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì),能夠更高精度地對(duì)基片的周緣部進(jìn)行處理。
1.一種基片處理裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片處理裝置,其特征在于:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片處理裝置,其特征在于:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片處理裝置,其特征在于:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片處理裝置,其特征在于:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基片處理裝置,其特征在于:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基片處理裝置,其特征在于:
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的基片處理裝置,其特征在于:
9.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的基片處理裝置,其特征在于:
10.一種基片處理方法,其特征在于,包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基片處理方法,其特征在于:
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基片處理方法,其特征在于:
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基片處理方法,其特征在于:
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基片處理方法,其特征在于:
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的基片處理方法,其特征在于:
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基片處理方法,其特征在于:
17.根據(jù)權(quán)利要求10至16中的任一項(xiàng)所述的基片處理方法,其特征在于:
18.根據(jù)權(quán)利要求10至16中任一項(xiàng)所述的基片處理方法,其特征在于:
19.一種計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于: