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160線陶瓷四邊引線片式載體老化測試插座的制作方法

文檔序號:6880632閱讀:249來源:國知局
專利名稱:160線陶瓷四邊引線片式載體老化測試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置,尤其能對160線陶瓷四邊引線片式載 體元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。
背景技術(shù)
目前,在我國可靠性技術(shù)領(lǐng)域,國內(nèi)老化試驗插座系列產(chǎn)品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料,在對被測器件進行測試時,老化工作溫度僅為-25°C +85°C,且老化工作時 間短暫,插座接觸件表面鍍銀,結(jié)構(gòu)簡單,存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領(lǐng)域,陶瓷四邊引線片 式載體元器件高端技術(shù)產(chǎn)品,因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置,不能滿足對器件性能指 標(biāo)的測試要求,容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足,本實 用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25。C +85X: 擴大到-65'C +15(TC, 一次老化連續(xù)工作時間長達1000h (15CTC)以上,插拔壽命5000次 以上,而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中,具有接觸電阻小、 一致性 好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點,大大提高了插座的可靠性和使用壽 命。本實用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照160線陶瓷四邊引線片式載體元器 件的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求,將插座設(shè)計成三大組成部分,即插座體、接觸件和壓緊裝置。插 座體由座、蓋和鉤組成,選用進口的耐高溫型特種高溫工程塑料,經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù) 制造成插座本體,用于被試器件的定位安裝。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型,經(jīng)30(TC高溫 淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金,采用與被試器件引出線相對應(yīng)的方式,并由中心對稱、 四面排列形式組成;該實用新型在陶瓷四邊引線片式載體系列插座中屬于接觸件數(shù)目多(160 線)、接觸件節(jié)距小(接觸件的節(jié)距僅為0.65mm)的結(jié)構(gòu),同時在接觸件排列上,首次采用 每面三排的排列結(jié)構(gòu)。插座的壓緊裝置由插座體和壓塊組成,當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時, 使蓋及安裝在蓋上的壓塊產(chǎn)生位移,壓塊向下運動,被試器件壓緊接觸件,而壓塊上的凸臺 可使被試器件在壓緊接觸件的過程中受力均勻,這種結(jié)構(gòu)可以避免接觸件與被試器件接觸時 磨損電鍍層。通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種翻蓋式結(jié)構(gòu)設(shè)計成零插拔力式的結(jié)構(gòu),可避免接觸件插拔時磨損電鍍層,影響電接觸性能,徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性差和機械壽命不長的技術(shù)難點,還可以滿足被 試器件不同引線的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用160線陶瓷四邊引線片式載體 和其它同類陶瓷四邊引線片式載體元器件高溫老化試驗和性能測試,填補了國內(nèi)空白,替代 進口,為國家節(jié)約了外匯,為用戶節(jié)約了成本,可以獲得較大的經(jīng)濟效益和社會效益。


以下結(jié)合附圖和實例對本實用新型作進一步說明。 圖1是本實用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。 圖2是本實用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。圖l l軸2鉤3壓簧4壓塊5軸6蓋7軸8大扭簧9前腳簧片 IO中腳簧片ll后腳簧片12座具體實施方式
在圖1中,將接觸件即前腳簧片9、中腳簧片10、后腳簧片11按與被試器件引出線相對 應(yīng)、軸向?qū)ΨQ的方式裝入插座體的座12中;將壓塊4和軸5裝入插座體的蓋6中;再將軸l、 鉤2和壓簧3裝入插座體的蓋6之中;最后將裝好的蓋6、軸7和大扭簧8—起裝入插座體 的座12中。該方案中,插座體用于被試器件的定位安裝,同時插座體還起自動壓緊裝置的作用,當(dāng) 鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時,被試器件自動壓緊接觸件;接觸件由鍍金簧片按與被試器件引 出線相對應(yīng)、自動壓緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。
權(quán)利要求1. 一種適用于160線陶瓷四邊引線片式載體老化測試插座,其特征是它是由插座體、接觸件和定位裝置三個部分統(tǒng)一組成,插座體由座、蓋和鉤組成,用于被試器件的自動壓緊,插座體選用進口的耐高溫型特種高溫工程塑料,經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造而成,接觸件與被試器件引出線相對應(yīng)并安裝于插座體的座中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的160線陶瓷四邊引線片式載體老化測試插座,其特征是插座 體和接觸件是一個統(tǒng)一整體,接觸件由對稱的160線、0.65mm細節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組 成,分別安裝于座的4面凹槽中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的160線陶瓷四邊引線片式載體老化測試插座,其特征是插座 的鎖緊裝置插座體和壓塊,這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計成自動壓緊鎖、零插拔力結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置,尤其能對160線陶瓷四邊引線片式載體元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。按照160線陶瓷四邊引線片式載體的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求,將插座設(shè)計成三大組成部分,即插座體、接觸件和壓緊裝置。插座體由座、蓋和鉤組成,選用進口耐高溫型特種工程塑料,經(jīng)高溫注塑成型,用于被試器件定位安裝。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型,采用與被試器件引出線相對應(yīng)、中心對稱、四面(每面三排)排列形式組成;該實用新型接觸件數(shù)目多(160線)、節(jié)距小。插座的壓緊裝置由插座體和壓塊組成,當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時,壓塊向下運動,被試器件壓緊接觸件,通電后進行高溫老化試驗和性能測試。具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點,大大提高了插座的可靠性和使用壽命。
文檔編號H01R13/639GK201112801SQ200720109310
公開日2008年9月10日 申請日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國 申請人:曹宏國
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