專(zhuān)利名稱(chēng)：100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測(cè)試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測(cè)試裝置，是能對(duì)引線根數(shù)100線、節(jié)距 僅為0. 5mm的陶瓷四邊引線扁平封裝元器件可靠性進(jìn)行高溫老化篩選和性能測(cè)試的插座。 本實(shí)用新型屬電子信息技術(shù)可靠性領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
目前，在我國(guó)電子元器件可靠性技 術(shù)領(lǐng)域，公知的國(guó)內(nèi)一般老化試驗(yàn)插座的本 體材料大都采用的是非耐高溫普通塑料，在對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時(shí)間短、接觸件節(jié)距寬、引線根數(shù)少、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，存在著與被測(cè)器件 之間接觸電阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿(mǎn)足對(duì)器件的質(zhì)量 篩選和性能指標(biāo)的測(cè)試要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。國(guó)內(nèi)在可靠性技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)特別是對(duì) 配套于神舟飛船、大推力火箭、衛(wèi)星、核潛艇、洲際導(dǎo)彈及其它國(guó)防軍工、航天、航空、航海、 通信等重點(diǎn)國(guó)防尖端武器裝備等重大項(xiàng)目的集成電路、微電子元器件，尚無(wú)高低溫老化、測(cè) 試、篩選及可靠性試驗(yàn)的專(zhuān)用測(cè)試裝置，所使用的測(cè)試插座大量依賴(lài)國(guó)外進(jìn)口，價(jià)格極為昂 貴，國(guó)家每年要花費(fèi)大筆外匯進(jìn)口產(chǎn)品，訂貨周期較長(zhǎng)，特殊規(guī)格的產(chǎn)品無(wú)法訂貨，部分重 要產(chǎn)品還因禁運(yùn)而影響我國(guó)軍用電子元器件研發(fā)生產(chǎn)進(jìn)度。
發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗(yàn)插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不 足，本實(shí)用新型提供一種新型的專(zhuān)用于集成電路、微電子元器件在線通電狀態(tài)下進(jìn)行高低 溫老化、測(cè)試、篩選及可靠性試驗(yàn)的100線、節(jié)距僅為0. 5mm的陶瓷四邊引線扁平封裝元 器件老化測(cè)試插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從_25°C +85°C擴(kuò)展至-55°C +150°C，一次老化連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)1500h(150°C )以上，插拔壽命8000次以上，而且在對(duì) 被測(cè)試器件進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試過(guò)程中，具有接觸件細(xì)節(jié)距、引線根數(shù)多、接觸電 阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點(diǎn)，大大提高了插座的可靠 性和使用壽命。本實(shí)用新型解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是按照100線陶瓷四邊引線扁平封 裝體元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成三大組成部分，即由插座體、接觸件和定 位裝置三個(gè)部分統(tǒng)一組成。插座體由座、蓋和鉤組成，用于被試器件的自動(dòng)壓緊。接觸件與 被試器件引出線相對(duì)應(yīng)，由對(duì)稱(chēng)的100線、0. 5mm細(xì)節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，采用與 被試器件引出線相對(duì)應(yīng)的方式，每面三排，采用中心對(duì)稱(chēng)方式排列在插座座體四面凹槽中， 即安裝于插座體的座中。插座體和接觸件是一個(gè)統(tǒng)一整體。插座的定位裝置由座、壓塊和 定位板組成，與被試器件的引線與接觸件相對(duì)應(yīng)并安裝在定位板上。插座的鎖緊裝置由座、 蓋、鉤、壓塊和定位板組成，定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性力，促使插座更好的達(dá)到 鎖緊的效果，保證被試器件受力均勻，這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計(jì)成自動(dòng)壓緊鎖、零插拔 力結(jié)構(gòu)。插座體選用耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體。該實(shí)用新型還采用由座、定位板和壓塊組成定位裝置的新樣式，插座體的座、蓋、鉤、壓塊和定位板可起壓緊裝置作用，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時(shí)，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產(chǎn)生位移， 由于壓塊向下運(yùn)動(dòng)，被試器件壓緊接觸件，而定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性，可以保 證被試器件受力均勻，促使插座達(dá)到更好的壓緊效果。接觸件采用彈性結(jié)構(gòu)曲梁式設(shè)計(jì)沖 壓成型，經(jīng)300°C高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金。該實(shí)用新型在同一系列中屬于 細(xì)小節(jié)距結(jié)構(gòu)，接觸件的節(jié)距僅為0. 5mm。這種翻蓋式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)成零插拔力式的結(jié)構(gòu)，可避 免接觸件插拔時(shí)磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試過(guò) 程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、一致性差和機(jī)械壽命不長(zhǎng)的技術(shù)難點(diǎn)，還可以滿(mǎn)足被試器件 不同引線(100線以?xún)?nèi))的要求。本實(shí)用新型的有益效果是該實(shí)用新型可以滿(mǎn)足軍民通用的100線0. 5細(xì)節(jié)距和 其它同類(lèi)陶瓷四邊引線扁平封裝元器件高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)空白，替代 進(jìn)口，為國(guó)家節(jié)約了外匯，為用戶(hù)節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。

圖1是本實(shí)用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。圖2是本實(shí)用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。圖1 :1中腳接觸件、2座、3后腳接觸件、4、定位板、5壓簧、6前腳接觸件、7軸、8扭 簧、9蓋、10壓塊、11軸、12壓簧、13鉤
具體實(shí)施方案在在圖1中，第一步，將前腳接觸件(5)、中腳接觸件(1)和后腳接觸件(3)按與被 試器件引出線相對(duì)應(yīng)結(jié)構(gòu)插入座(2)中；第二步，將壓簧(5)和定位板(4)裝入座(2)中； 第三步，將壓塊(10)、軸(11)、鉤(13)、壓簧(12)和軸(7)裝入插座體的蓋(9)之中；第四 步，將裝好的蓋(9)、軸(7)和扭簧(8) —起裝入插座體的座(2)中。該方案中，插座體和定位板用于被試器件的定位安裝，同時(shí)插座體還起自動(dòng)壓緊 裝置的作用，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時(shí)，被試器件自動(dòng)壓緊接觸件；活動(dòng)的壓塊可以保 證被試器件受力均勻；接觸件由鍍金簧片按與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)、自動(dòng)壓緊和零插拔 力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。
權(quán)利要求1.一種100線0. 5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測(cè)試插座，其特征是它是由 插座體、接觸件和定位裝置三個(gè)部分統(tǒng)一組成，插座體由座( 、蓋(9)和鉤(1 組成，用于 被試器件的自動(dòng)壓緊，接觸件(1)、接觸件(3)、接觸件(6)與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)并安裝 于插座體的座中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測(cè)試插座， 其特征是插座體和接觸件是一個(gè)統(tǒng)一整體，接觸件(1)、接觸件(3)、接觸件(6)由對(duì)稱(chēng)的 100線、0. 5mm細(xì)節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，每面三排分別安裝于座⑵的4面凹槽中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測(cè)試插座， 其特征是插座的鎖緊裝置由座O)、蓋(9)、鉤(13)、壓塊(10)和定位板(4)組成，定位板 (4)下面安裝有壓簧，這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計(jì)成自動(dòng)壓緊鎖、零插拔力結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測(cè)試插座， 其特征是插座的定位裝置由座O)、壓塊(10)和定位板(4)組成，被試器件的引線與接觸 件相對(duì)應(yīng)并安裝在定位板上。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測(cè)試裝置，能對(duì)引線根數(shù)100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。本實(shí)用新型按100線陶瓷四邊引線片式載體系列、0.5節(jié)距封裝元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成三大組成部分，即插座體、接觸件和定位裝置。插座體由座、蓋和鉤組成，插座體的座、蓋、鉤、壓塊和定位板可起壓緊裝置作用，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時(shí)，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產(chǎn)生位移，由于壓塊向下運(yùn)動(dòng)，被試器件壓緊接觸件，而定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性，可以保證被試器件受力均勻，促使插座達(dá)到更好的壓緊效果。接觸件采用與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)的方式，每面三排接觸件，采用中心對(duì)稱(chēng)安裝在插座座體的四面凹槽內(nèi)。插座由座、定位板和壓塊組成定位裝置，被試器件的引線與接觸件相對(duì)應(yīng)并安裝在定位板上。
文檔編號(hào)H01R13/02GK201876477SQ201020281948
公開(kāi)日2011年6月22日 申請(qǐng)日期2010年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月2日
發(fā)明者曹金學(xué) 申請(qǐng)人:曹金學(xué)