專利名稱：磁卡測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于信息的存取。
一般磁卡測試由讀卡裝置、數(shù)模轉(zhuǎn)換裝置和計算機軟件等組成。它是將記錄在磁卡上的模擬信號經(jīng)讀卡機的磁頭讀出后，經(jīng)過放大，變?yōu)榭梢蕴幚淼男盘栞斎肽?shù)轉(zhuǎn)換器，變?yōu)閿?shù)字量再經(jīng)主機控制和處理，同時將標(biāo)準(zhǔn)信號寫到磁卡中，再經(jīng)讀出后分析。故此種裝置包括磁頭驅(qū)動機構(gòu)，讀/寫機構(gòu)和寫電流變化機構(gòu)。并具有選頻與寫電流變化后定標(biāo)及各種磁性能的檢測功能。
由電子工業(yè)出版社1990年5月6日出版的美國丁·斯威格爾茲著的《智能卡》一書中，第8章闡述的磁卡測試方法中說到該測試方法用于封裝在自己的工作站中，在自己的輸入/輸出的磁卡所作的是有限測試，美國專利局發(fā)表的United Atabed Patent 4322613一文中也存在其成本高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜等問題。
本發(fā)明針對上述問題進(jìn)行設(shè)計，按國際磁卡的生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，對磁卡進(jìn)行分辨率、殘余幅度、平均幅值和寫電流等項目的磁性能進(jìn)行測試，以保證生產(chǎn)的磁卡的質(zhì)量和可靠性及互換性。
本發(fā)明采用寫頻率可變的時鐘與碼型產(chǎn)生電路，可以在磁卡上寫上任何位密度的雙頻制及其它碼型，適應(yīng)各種用途的磁卡檢測。該裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，其框圖如圖(1)所示。
磁頭通過主機與電路，可以將磁卡上的信號讀出或根據(jù)主機要求，在磁卡上記錄信號。它包括以下幾個部分1.時鐘電路該時鐘產(chǎn)生電路采用晶振源可變化的脈沖源。根據(jù)測試的要求，選定其中的一種時鐘頻率，以保證磁卡的位密度。
2.碼型產(chǎn)生電路根據(jù)不同的磁卡的位密度，分別輸出不同頻率的碼，可以組成全“0”，全“1”，或任意測試碼型。
3.磁頭讀/寫電路磁頭讀/寫電路，采用前置放大，限幅濾波等方法，以保證讀/寫信號的可靠，其框圖如圖(2)4.數(shù)據(jù)采樣部分采用高精度的直接采樣的數(shù)模轉(zhuǎn)換器，對磁卡信號進(jìn)行直接采樣及數(shù)據(jù)處理5.寫電流變化及檢測電路寫電流的測量，既不能影響磁頭回路，又應(yīng)不失真地反映寫電流波形，為此設(shè)計出專用寫脈沖電流互感器，可以方便地對寫電流進(jìn)行定格。將寫放大器到磁頭去的線穿過磁環(huán)，作為原邊，原邊的電流即流過磁頭的寫電流i，在磁環(huán)上繞上付邊，付邊上并聯(lián)一個電阻，電阻上的電壓VR在滿足忽略原邊，付邊線圈電阻，漏電感;且線圈感抗大于付邊并聯(lián)的電阻;以及并聯(lián)電阻值在數(shù)值上與電流互感器原、付邊匝數(shù)比相等的條件下，即可算得寫電流。加上寫電流調(diào)節(jié)電路，從而保證寫電流的測試。
6.測試電路與主機的接口接口電路保證主機對讀卡機、測試電路及讀/寫電路和磁卡的控制數(shù)。
7.系統(tǒng)處理軟件，包括以下幾個部份(1)峰-峰值檢測及平均峰-峰值幅值的求取磁卡信息記錄采用FM制，根據(jù)頻率不同，判斷數(shù)據(jù)“1”與“0”的周期，在一定周期內(nèi)，求出一個峰點值，再判斷第二個峰點與第一個峰點的方向，求出正負(fù)峰點值，后存入寄存器內(nèi)，將所有峰-峰值采光處理后，進(jìn)行平均值的計算，框圖如圖(3)(2)殘余幅度采用快速Fourier變換，設(shè)Fourier變換點數(shù)N可分為μ個互為質(zhì)數(shù)的因子的整數(shù)，則可把一維序列X(n)映射到U維陣列S〔n1，n2……nu〕，利用Sino關(guān)系
，對各個因子完成處理前的編排塊，然后對數(shù)據(jù)陣列逐點與一個實數(shù)陣列相乘，再根據(jù)中國剩余定理，完成U維陣列S〔R1，R2……Ru〕的映射?？驁D如圖(4)(3)寫電流曲線測試從DA1，DA2通道輸出電壓以控制寫電流，采用灰色預(yù)測模型，對下一時刻電流值進(jìn)行預(yù)測，并進(jìn)行超前控制，程序框圖如圖(5)

圖1是測試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。磁頭與讀寫放大器相連，讀/寫放大器又與脈沖整形電路連接。而脈沖整形電路與接口連接，接口與主機機連，讀/寫放大器與隔離器連，經(jīng)放大濾波后送A/D轉(zhuǎn)換器，與接口及主機連，接口與時鐘頻率源相連，控制碼型產(chǎn)生器，它的輸出送讀/寫放大器，再送入磁頭，接口經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器經(jīng)放大濾波，可控增益及寫電流調(diào)節(jié)送入讀/寫放大器。
圖2是碼形產(chǎn)生器。磁頭與前置放大器連，經(jīng)低通濾波，限幅放大，微分電路，整形電路再通過輸出與主機連，主機與可變時鐘源，編碼電路及寫入驅(qū)動器連，驅(qū)動器與磁頭連。
圖3是峰-峰值檢測及平均峰-峰值幅值求取框圖。
圖4是用快速付剩葉變換處理框圖。
圖5是寫電流曲線測試框圖。
權(quán)利要求
1.磁卡測試儀，其特征在于磁頭與讀寫放大器連接，它的輸出一路與脈沖整形電路相連脈沖整形輸出與接口相連，接口與主機相連，另一路與隔離器相連，經(jīng)放大濾波后送A/D轉(zhuǎn)換器，經(jīng)接口送主機，接口與時鐘頻率源相連，控制碼型產(chǎn)生器，它的輸出送讀/寫放大器，再送磁頭，接口經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器通過放大濾波經(jīng)可控增益及寫電流調(diào)節(jié)再送讀/寫放大器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試儀，其特征在于磁頭與前置放大器連，經(jīng)低通濾波、限幅放大、微分電路、整形電路再通過輸出與主機相連，主機與可變時鐘源，編碼電路及寫入驅(qū)動器相連，驅(qū)動器與磁頭連接。
全文摘要
本發(fā)明采用寫頻可變的時鐘與碼型產(chǎn)生電路，可以在磁卡上寫任何位密度的測試碼型，適用于各種類型的磁卡檢測。它是保證磁卡生產(chǎn)質(zhì)量和可靠性，按國際磁卡生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的重要手段，本發(fā)明功能齊全，測試精度高，重復(fù)性好，使用方便，數(shù)據(jù)結(jié)果準(zhǔn)確，測試時間快和成本低等特點。
文檔編號G11B25/04GK1066743SQ91103160
公開日1992年12月2日 申請日期1991年5月10日 優(yōu)先權(quán)日1991年5月10日
發(fā)明者周敬利, 余勝生, 徐有青, 倪漿銘, 黃益森 申請人:華中理工大學(xué)