專利名稱：：光盤片夾鉗磁性測試的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及托盤式光驅(qū)的夾鉗，尤其是關(guān)于一種應(yīng)用于托盤式光驅(qū)的光盤片夾鉗磁性測試的方法。
背景技術(shù)：
：由于電子化信息時代的來臨，對于具有高容量的可攜式數(shù)字儲存媒體的需求也與日俱增，早期普遍被使用的軟盤(floppydisk)所能提供的儲存容量已不敷需求。因此，具有高儲存容量、高品質(zhì)、便于攜帶、易于保存等特性的光學(xué)儲存媒體及其儲存裝置便迅速地被廣泛使用，如光驅(qū)(CD-ROMdrive)、燒錄機(CD-Rdrive)等等。光驅(qū)一般可由盤片進出的方式，區(qū)分為托盤式(tray)與吸入式(slot-in)光驅(qū)。習知的托盤式光驅(qū)通常具有如圖1a所示的結(jié)構(gòu)，主要包含有承載光盤用的托盤10、對光盤進行讀寫動作的光學(xué)讀寫頭20、轉(zhuǎn)動光盤用的轉(zhuǎn)盤(turntable)30、以及做為驅(qū)動裝置的馬達40。圖1a中，光學(xué)讀寫頭20、轉(zhuǎn)盤30與馬達40均設(shè)置于一框架50內(nèi)，托盤10則是以可移動方式設(shè)置于框架50上。馬達40可設(shè)置不止一組，分別用以驅(qū)動光學(xué)讀取頭20、轉(zhuǎn)盤30、以及設(shè)置在框架50上的齒輪皮帶組52。托盤10上具有凹陷的承載部12，用于承載光盤片，托盤10底部則設(shè)置有齒條，可與齒輪皮帶組52嚙合，而使托盤10藉由齒輪皮帶組52的帶動與框架50相對滑動。另外，框架50內(nèi)設(shè)有一支撐板26，用以支撐光學(xué)讀取頭20以及轉(zhuǎn)盤30，使轉(zhuǎn)盤30可伸入光盤片的中心孔而驅(qū)動光盤片旋轉(zhuǎn)，且光學(xué)讀取頭20可相對于光盤片進行移動。另外，為控制托盤10與框架50滑動時的相對位置，通常會在框架50上設(shè)置有托盤10的位置偵測裝置，例如圖1a的框架50上即設(shè)置有一內(nèi)側(cè)極限開關(guān)54以及一外側(cè)極限開關(guān)56，以偵測托盤10與框架50滑動時的相對位置。另外，為使光盤片可與轉(zhuǎn)盤30固定而進行旋轉(zhuǎn)，通常是使用一夾鉗(clamper)裝置將光盤片固定于轉(zhuǎn)盤30。舉例而言，圖1b是顯示習知光驅(qū)中使用的夾鉗裝置的一例，其中夾鉗60是設(shè)置于一擺臂上，可相對于轉(zhuǎn)軸62進行上下擺動，將光盤片1固定于伸入光盤片1中心孔的轉(zhuǎn)盤30，使轉(zhuǎn)盤30可穩(wěn)定驅(qū)動光盤片1旋轉(zhuǎn)。夾鉗60對光盤片1的固定可依不同的機構(gòu)設(shè)計，采用彈性體的彈力夾持或是電磁鐵的磁力吸附等各種方式進行。當使用者欲將光盤片1置入托盤式光驅(qū)以進行讀寫動作前，首先必須進行托盤30的退出動作，使托盤滑出光驅(qū)外，供使用者將光盤片1放置于托盤10的承載部12，然后再將托盤10送入光驅(qū)中，使轉(zhuǎn)盤30伸入光盤片1的中心孔。如此，即可以夾鉗60將光盤片1固定于轉(zhuǎn)盤30，藉由轉(zhuǎn)盤30來驅(qū)動光盤片1旋轉(zhuǎn)，并進而由光學(xué)讀取頭20將數(shù)據(jù)寫入光盤片1，或由光盤片1上讀取數(shù)據(jù)。一般而言，為使托盤式光驅(qū)的操作效率提升，通常使用一直流馬達(DCmotor)做為控制托盤10滑動與夾鉗60夾持動作的馬達40。如此，可藉由直流馬達的輸入電壓控制其輸出扭力與功率，使得托盤10在進行光盤片1的送入或退出動作時，夾鉗60可同步動作，以節(jié)省托盤10與夾鉗60分別動作的時間。以下請參考圖1c，以托盤式光驅(qū)的托盤10退出動作為例，說明直流馬達40控制托盤10與夾鉗60的流程。當使用者對光驅(qū)輸入托盤退出的指令(步驟S10)時，直流馬達40接收一前段輸入電壓，而同時驅(qū)動夾鉗60與齒輪皮帶組52(步驟S20)，使夾鉗60釋放光盤片1，并對托盤10提供一退出力，準備帶動托盤10向外退出。此一階段為托盤30的前段退出動作。當托盤10開始移動而驅(qū)動內(nèi)側(cè)極限開關(guān)56時，表示光盤片1已脫離定位，完成前段退出動作(步驟S30)；此時直流馬達40可停止夾鉗60的驅(qū)動，而繼續(xù)接收一輸入電壓，以驅(qū)動齒輪皮帶組52以該退出力帶動托盤10向外退出(步驟S40)。當托盤10滑至光驅(qū)外側(cè)而驅(qū)動外側(cè)極限開關(guān)54(步驟S50)時，表示托盤10已退至外側(cè)，此時直流馬達40即可停止驅(qū)動(步驟S60)，使托盤10停止滑動，完成退出動作。然而，托盤式光驅(qū)若是采用電磁鐵做為磁力吸附式的夾鉗60時，由于夾鉗60可能因制造上的缺陷，或是光驅(qū)組裝或操作中的異常狀況，而產(chǎn)生磁性異常的問題，無法確實進行吸附夾持光盤片1的動作。如此不但可能造成光盤片1無法正常讀取的問題，且在托盤10進行送入或退出動作時，可能會因為夾鉗60的吸附不良，而造成光盤片1刮傷的現(xiàn)象，影響送入或退出動作。針對上述問題，雖然可在制造時對夾鉗進行磁性量測的動作，減少夾鉗磁性的不良率，然而，對夾鉗一個個進行磁性量測，會使得制造流程的時間成本增加，不僅費時費力，且仍然無法防止夾鉗因光驅(qū)組裝或操作不當而產(chǎn)生磁性異常的問題。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明的一目的即在于提出一種光盤片夾鉗磁性測試的方法，利用對直流馬達的電壓控制，量測托盤式光驅(qū)的托盤退出時的參數(shù)，做為判斷夾鉗磁性是否異常的依據(jù)，如此即可直接在光驅(qū)組裝的測試時，藉由簡易的托盤退出檢驗動作，測試夾鉗的磁性是否異常，而不需另外進行夾鉗的磁性測試。本發(fā)明揭示一種光盤片夾鉗磁性測試的方法，適用于一托盤式光驅(qū)。首先，提供一前段輸入電壓至托盤式光驅(qū)的直流馬達，以驅(qū)動托盤式光驅(qū)的托盤及夾鉗進行一前段退出動作。前段退出動作進行完畢后，提供較該前段輸入電壓小而不足以使托盤完成退出動作的一測試電壓至直流馬達，以驅(qū)動托盤進行一退出測試動作。當托盤于退出測試動作中的退出距離大于一特定距離時，即表示夾鉗的磁性吸附力不足，故決定夾鉗為磁性異常。本發(fā)明所提供的一種光盤片夾鉗磁性測試的方法，適用于一托盤式光驅(qū)，該方法包含下列步驟提供一前段輸入電壓至該托盤式光驅(qū)的一直流馬達，以驅(qū)動該托盤式光驅(qū)的一托盤及一磁性夾鉗進行一前段退出動作；提供較該前段輸入電壓小而不足以使該托盤完成退出動作的一測試電壓至該直流馬達，以驅(qū)動該托盤進行一退出測試動作；以及當該托盤于該退出測試動作中的退出距離大于一特定距離時，決定該磁性夾鉗為磁性異常。所述的前段退出動作包含該磁性夾鉗脫離一光盤片的動作以及該托盤驅(qū)動一內(nèi)側(cè)極限開關(guān)的動作。所述的前段輸入電壓以及測試電壓是根據(jù)該直流馬達的輸入電流與輸出功率比決定。所述的前段輸入電壓包含6伏特的第一輸入電壓以及3.4伏特的第二輸入電壓。所述的測試電壓包含2.2伏特的一直流電壓。由于本發(fā)明的光盤片夾鉗磁性測試的方法，是在托盤式光驅(qū)進行組裝后，才進行夾鉗的磁性測試，因此可以確保夾鉗不會因光驅(qū)組裝或操作不當而產(chǎn)生磁性異常的問題。圖1a是習知托盤式光驅(qū)的托盤結(jié)構(gòu)的立體圖；圖1b是習知托盤式光驅(qū)的夾鉗結(jié)構(gòu)的示意圖；圖1c是托盤式光驅(qū)的退出動作的流程圖；圖2是本發(fā)明一實施例的光盤片夾鉗磁性測試的方法的流程圖；圖3是本發(fā)明一實施例中直流馬達的輸入電壓與時間的關(guān)系圖。符號說明1～光盤片；10～托盤；12～承載部；20～光學(xué)讀取頭；26～支撐板；30～轉(zhuǎn)盤；40～馬達；50～框架；52～齒輪皮帶組；54～內(nèi)側(cè)極限開關(guān)；56～外側(cè)極限開關(guān)；60～夾鉗；62～轉(zhuǎn)軸；110～前段輸入電壓；112～第一輸入電壓；114～第二輸入電壓；120～測試電壓。具體實施例方式如習知技術(shù)所述，托盤式光驅(qū)中，夾鉗可能因制造上的缺陷，或是光驅(qū)組裝或操作中的異常狀況，而產(chǎn)生磁性異常的問題，無法確實進行吸附夾持光盤片的動作。此時，若對此一具有磁性異常的夾鉗的托盤式光驅(qū)進行托盤的退出動作，則很可能也會連帶受到影響，無法正常使托盤退出。因此，本發(fā)明提出的光盤片夾鉗磁性測試的方法，即針對夾鉗磁性異常時會影響托盤退出動作的特性，利用控制直流馬達輸入電壓的方式，調(diào)整托盤的退出力，使退出力在不足以使托盤完成退出動作的狀況下對托盤進行一退出測試動作，并藉由量測退出測試動作中托盤退出時的距離，做為判斷夾鉗磁性是否異常的依據(jù)。如此，制造商在托盤式光驅(qū)的制程中，不需另外進行夾鉗的磁性測試，只需直接在光驅(qū)組裝測試時藉由簡易的托盤退出檢驗動作，即可測試夾鉗的磁性是否異常。以下請參見圖2與圖3，以一實施例具體說明本發(fā)明的光盤片夾鉗磁性測試的方法。本發(fā)明的光盤片夾鉗磁性測試的方法是由托盤的退出動作加以改良，適用于一托盤式光驅(qū)，例如圖1a以及圖1b所示的托盤式光驅(qū)，其中夾鉗60是采用電磁鐵的磁力吸附式磁性夾鉗。當托盤式光驅(qū)的制造商欲對一組裝好的托盤式光驅(qū)進行夾鉗磁性測試時，首先必須先輸入一退出測試指令(步驟S110)，此時，一前段輸入電壓會送至托盤式光驅(qū)的直流馬達40，以驅(qū)動托盤式光驅(qū)的托盤10及磁性夾鉗60進行前段退出動作(步驟S120)。具體而言，此一前段退出動作與一般托盤退出動作中的前段退出動作完全相同，即如圖1c的步驟S20以及S30所述，直流馬達40接收前段輸入電壓后，同時驅(qū)動磁性夾鉗60與齒輪皮帶組52，使磁性夾鉗60釋放光盤片1，并對托盤10提供一退出力，準備帶動托盤10向外滑出，直到托盤10開始移動而驅(qū)動內(nèi)側(cè)極限開關(guān)56時，表示光盤片1已脫離定位，如此即完成前段退出動作。如圖1c的步驟S20所述，進行前段退出動作時，直流馬達40同時驅(qū)動磁性夾鉗60與齒輪皮帶組52，使磁性夾鉗60釋放光盤片1，并對托盤10提供一退出力，準備帶動托盤10向外滑出。此時，若磁性夾鉗60的磁性吸附力正常，則使磁性夾鉗60釋放光盤片1的動作會消耗一部份直流馬達40所提供的功率，因而限定托盤10的退出力于一定范圍大小之內(nèi)；然而，若磁性夾鉗60的磁性異常，則會使得直流馬達40所提供的功率消耗于磁性夾鉗60的部份減少，因而相對使得托盤10的退出力變大。因此，磁性夾鉗60的磁性吸附力越低，則會使得托盤10的退出力相對越大，因而影響后續(xù)的托盤10退出動作。根據(jù)上述原理，前段退出動作進行完畢后，即可提供較前段輸入電壓小，且不足以使托盤10完成退出動作的一測試電壓至直流馬達40，以驅(qū)動托盤10進行一退出測試動作(步驟S130)。由于測試電壓是設(shè)為不足以使托盤10完成退出動作的大小，因此托盤10無法完全退出至外側(cè)，此時托盤10的退出距離與前段退出動作中托盤所受到的退出力相關(guān)。若前段退出動作中托盤10的退出力越大，則托盤10的退出距離越遠；反之，前段退出動作中托盤10的退出力越小，則托盤10的退出距離越近。換言之，托盤10的退出距離較遠時，即代表前段退出動作中托盤10的退出力較大，亦即磁性夾鉗60的磁性吸附力較小。退出測試動作之后，可量測出托盤10于退出測試動作中的退出距離(步驟S140)，并判斷托盤10的退出距離是否大于一特定距離(步驟S150)。此一特定距離可藉由實驗而得到。當托盤10的退出距離大于此一特定距離時，即表示磁性夾鉗60的磁性吸附力不足，故可判定磁性夾鉗60為磁性異常(步驟S160)，必須進行更換；而當托盤10的退出距離并未大于此一特定距離時，即表示磁性夾鉗60的磁性吸附力正常，故可判定磁性夾鉗60合于標準(步驟S170)。圖3是顯示本實施例的光盤片夾鉗磁性測試過程中，直流馬達40的輸入電壓與時間的關(guān)系。圖3中，前段輸入電壓110是采用6伏特的第一輸入電壓112以及3.4伏特的第二輸入電壓114，以使直流馬達40可順利地同時驅(qū)動磁性夾鉗60與齒輪皮帶組52，使磁性夾鉗60釋放光盤片1，并提供使托盤10向外滑動的退出力。而退出測試動作中，測試電壓120則采用明顯小于第二輸入電壓114的2.2伏特的直流電壓，使得托盤10不足以完成退出動作，而可進行退出測試動作。在此必須說明，本發(fā)明的前段輸入電壓110以及測試電壓120是與托盤式光驅(qū)所采用的直流馬達40的輸入電流與輸出功率比有關(guān)，因此針對不同的托盤式光驅(qū)的結(jié)構(gòu)，可參考直流馬達40的特性，利用實驗而得到適當?shù)那岸屋斎腚妷?10以及測試電壓120的值。藉由本發(fā)明的光盤片夾鉗磁性測試的方法，托盤式光驅(qū)的制造商在托盤式光驅(qū)的制程中，不需另外進行夾鉗的磁性測試，只需直接在光驅(qū)組裝測試時藉由簡易的托盤退出檢驗動作，即可測試夾鉗的磁性是否異常，因而不需增加額外的時間成本，即可確保夾鉗磁性異常的機率。另外，由于本發(fā)明的光盤片夾鉗磁性測試的方法，是在托盤式光驅(qū)進行組裝后，才進行夾鉗的磁性測試，因此可以確保夾鉗不會因光驅(qū)組裝或操作不當而產(chǎn)生磁性異常的問題。雖然本發(fā)明已以具體的較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，仍可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的申請專利范圍所界定者為準。權(quán)利要求1.一種光盤片夾鉗磁性測試的方法，適用于一托盤式光驅(qū)，其特征在于該方法包含下列步驟提供一前段輸入電壓至該托盤式光驅(qū)的一直流馬達，以驅(qū)動該托盤式光驅(qū)的一托盤及一磁性夾鉗進行一前段退出動作；提供較該前段輸入電壓小而不足以使該托盤完成退出動作的一測試電壓至該直流馬達，以驅(qū)動該托盤進行一退出測試動作；以及當該托盤于該退出測試動作中的退出距離大于一特定距離時，決定該磁性夾鉗為磁性異常。2.如權(quán)利要求1所述的光盤片夾鉗磁性測試的方法，其特征在于該前段退出動作包含該磁性夾鉗脫離一光盤片的動作以及該托盤驅(qū)動一內(nèi)側(cè)極限開關(guān)的動作。3.如權(quán)利要求1所述的光盤片夾鉗磁性測試的方法，其特征在于該前段輸入電壓以及該測試電壓是根據(jù)該直流馬達的輸入電流與輸出功率比決定。4.如權(quán)利要求1所述的光盤片夾鉗磁性測試的方法，其特征在于該前段輸入電壓包含6伏特的第一輸入電壓以及3.4伏特的第二輸入電壓。5.如權(quán)利要求4所述的光盤片夾鉗磁性測試的方法，其特征在于該測試電壓包含2.2伏特的一直流電壓。全文摘要本發(fā)明揭示一種光盤片夾鉗磁性測試的方法，適用于一托盤式光驅(qū)，針對托盤式光驅(qū)在夾鉗磁性異常時會影響托盤退出動作的特性，利用控制直流馬達輸入電壓的方式，調(diào)整托盤的退出力，使退出力在不足以使托盤完成退出動作的狀況下，對托盤進行一退出測試動作，并藉由量測退出測試動作中托盤退出時的距離，做為判斷夾鉗磁性是否異常的依據(jù)。文檔編號G11B33/00GK1577560SQ03150340公開日2005年2月9日申請日期2003年7月28日優(yōu)先權(quán)日2003年7月28日發(fā)明者許振榕申請人:建興電子科技股份有限公司