專利名稱：調(diào)節(jié)記錄速度和激光功率的光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤記錄速度測定方法，用于測定可滿意地在光盤例如小型的可記錄光盤(CD-R)以及可再寫光盤(CD-RW)內(nèi)記錄信息的速度。
本發(fā)明還涉及光盤寫入激光功率的測定方法，用于測定可滿意地在光盤例如小型的可記錄光盤(CD-R)以及可再寫光盤(CD-RW)內(nèi)記錄信息的寫入激光功率值。
背景技術(shù)：
作為傳統(tǒng)的對于光盤例如CD-R和數(shù)字多用可記錄光盤(DVD-R)的記錄方法，以大于標(biāo)準(zhǔn)線速度(一倍速度)的多倍線速度(如，兩倍速度，四倍速度，…等)進(jìn)行高速記錄。
通過改變所謂的對策用于按照記錄速度的增加來調(diào)節(jié)寫入激光功率，光照時間，光照起始時間等，由此可以忽略各自的記錄速度的記錄誤差進(jìn)行記錄。然而，某些類型的記錄光盤不滿足高速記錄要求，所以，在對于這些光盤以高速進(jìn)行記錄時，極可能產(chǎn)生記錄誤差。還有，即使可以滿足高速記錄的光盤的記錄，有時基于記錄裝置和光盤的相容性也會產(chǎn)生記錄誤差。在出現(xiàn)這種記錄誤差時，數(shù)據(jù)區(qū)不能正確地再現(xiàn)。
對于實施的光功率控制(OPC調(diào)節(jié)激光束的最佳寫入功率)包含在正常記錄之前在光盤的預(yù)定區(qū)域以多個記錄速度進(jìn)行測試記錄；獲得在所述測試記錄速度可進(jìn)行最佳記錄的寫入激光功率。然而，在OPC情況下，不能測定可以實際進(jìn)行記錄的優(yōu)選速度范圍。如果對應(yīng)于欲記錄的光盤類型和在光盤上進(jìn)行記錄的裝置的結(jié)合可以測定最佳記錄速度范圍，則利用相應(yīng)的光盤和記錄裝置的結(jié)合抑制記錄誤差，從而可以在較短的時間內(nèi)進(jìn)行記錄。然而，一種測定可以獲得滿意的記錄速度范圍的有效方法至今還沒有提出。
作為按照記錄速度放大控制寫入激光功率成為最佳的方法，已提出進(jìn)行最佳功率控制的OPC方法，該方法包含在正常記錄前在光盤的預(yù)定區(qū)內(nèi)用多個寫入激光功率值進(jìn)行測試記錄；以及從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)結(jié)果獲得寫入激光功率值。
在傳統(tǒng)的OPC中，從測試記錄區(qū)再現(xiàn)的信號獲得指示寫入激光功率值與β值之間關(guān)系的寫入激光功率值的β值特性，而采用對應(yīng)于預(yù)定最佳β值的寫入激光功率值作為最佳寫入激光功率值。另外，β值是一個涉及到再現(xiàn)信號水平或幅度的參數(shù)，可以利用(a+b)/(a-b)關(guān)系式獲得，其中，字母a表示8-14調(diào)制(EFM)信號波形的峰值電平(具有“+”號)，作為光探測器的回光接收信號，而b(具有“-”號)表示返回信號的底電平。
此外，在傳統(tǒng)的OPC中，測定對應(yīng)于預(yù)定最佳β值的寫入激光功率值。即，只考慮β值測定寫入激光功率值。然而，在光盤的特性隨著其類型不同而不同時，在只考慮β值并用簡單測定的寫入激光功率值記錄時將使記錄狀態(tài)的質(zhì)量水平變壞。例如，寫入激光功率值和β值之間的關(guān)系通常是線性的，而有時卻是非線性關(guān)系，如圖49所示，這是由于光盤的崎變，染料不均勻性等因素所致。如圖29所示，在光盤中，β值和寫入激光功率值之間的關(guān)系基本上具有線性特性，除了部分BT外(所述例子中，在β值為10附近，以及寫入激光功率值為16mw附近)。在采用相應(yīng)于β值有效改變的β值有效點BT的寫入激光功率值(例如16mw)對于具有這種特性的光盤進(jìn)行記錄時，有時不能得到滿意的記錄狀態(tài)質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明考慮到上述的情況，所以發(fā)明的第一個目的在于提供一種光盤記錄速度測定方法，該方法可以測定采用小記錄誤差獲得滿意記錄的記錄速度。本發(fā)明的第二個目的在于提供一種光盤寫入激光功率測定的方法，用于不管記錄光盤的類型如何均能獲得可使記錄誤差降低的寫入激光功率值。
為了獲得第一個目的，按照本發(fā)明，提供一種利用將激光束寫入光盤測定記錄速度的方法。本發(fā)明方法所采用的步驟是，在以一個或多個記錄速度水平進(jìn)行實際記錄之前在光盤的預(yù)定記錄區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄，同時從光盤的預(yù)定區(qū)由讀出激光束再現(xiàn)信號，并依據(jù)再現(xiàn)信號產(chǎn)生第一特性記錄速度，所述的第一特性表示激光束的光學(xué)特性和信號記錄狀態(tài)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，所述的光學(xué)特性或者采用從光盤反射的讀出激光束獲得的β值表示，或者用寫入激光束表示，基于定性參數(shù)的預(yù)定的優(yōu)選范圍從第一特性產(chǎn)生第二特性，并使第二特性表示記錄速度與相應(yīng)于記錄狀態(tài)的定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選范圍的關(guān)系特征范圍之間的一種關(guān)系，以及按照第二特性和預(yù)定于獲得優(yōu)選記錄狀態(tài)的光學(xué)特征的預(yù)定范圍測定記錄速度的優(yōu)選值。
按照本發(fā)明，對于受到正常記錄的光盤進(jìn)行參數(shù)記錄，而β值或者寫入激光功率值用于將對于記錄狀態(tài)水平的定性參數(shù)設(shè)定定性參數(shù)，所述的記錄狀態(tài)水平由測試記錄速度得到。于是，由β值或者寫入激光功率值得到的記錄速度是可以得到的優(yōu)選值。所以，可以測定用小的記錄誤差實現(xiàn)滿意記錄的記錄速度。
另外，上述的方法還包含下述步驟對應(yīng)于多種類型的光盤儲存多個定性參數(shù)的優(yōu)選范圍，在測試記錄情況下檢測光盤的類型，使產(chǎn)生第二特性的步驟使用相應(yīng)于光盤檢測類型的定性參數(shù)的光學(xué)范圍，以及測定使用相應(yīng)于光盤的檢測類型的光學(xué)特征的優(yōu)選范圍的步驟。
還有，在所述的方法中，產(chǎn)生第一特性的步驟采用從由包含在光盤信號再現(xiàn)的信號內(nèi)的幀同步信號檢測的頻率，一在再現(xiàn)信號內(nèi)包含的誤差C1，一再現(xiàn)信號的抖動信號，一再現(xiàn)信號的偏差，一加到激光束的調(diào)制度，激光束從光盤的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度組成的組所選擇的定性參數(shù)。
為了取得上述的第二目的，按照本發(fā)明，提供一種測定用于將信號記錄到光盤上的寫入光束的功率的方法，本發(fā)明的方法由下述步驟執(zhí)行，在實施記錄前，將對光盤的預(yù)定測試區(qū)上的信號進(jìn)行測試記錄，并再現(xiàn)來自光盤的預(yù)定測試區(qū)的信號，按照所再現(xiàn)的信號產(chǎn)生一記錄特性，表示Δβ與寫入光束的功率之間的關(guān)系。其中Δβ表示每單位寫入光束的功率量β值的偏差，而Δβ值是從再現(xiàn)信號的幅度偏差得到，以及利用Δβ的優(yōu)選范圍按照所產(chǎn)生的記錄特性測定寫入光束的優(yōu)選范圍。所述的功率對于實現(xiàn)優(yōu)選的記錄是預(yù)定的。
按照本發(fā)明的方法，從測試記錄前再現(xiàn)的信號獲得作為β值改變量的寫入激光功率值和Δβ之間的關(guān)系，考慮Δβ值測定寫入激光功率值。所以，可以測定進(jìn)行滿意記錄的寫入激光功率值，即使采用具有所謂β有效點的特性的光盤也可進(jìn)行測定，在所述的β有點，對于個別不規(guī)則的產(chǎn)品，例如崎變和染料不均勻的光盤，β值有效地相對于寫入激光功率值改變。
另外，按照本發(fā)明，還提供一種測定將信號記錄在光盤上的寫入光束的功率的方法。本發(fā)明方法的執(zhí)行步驟是，在實際記錄前，對于在光盤的預(yù)定測試區(qū)上的信號進(jìn)行測試記錄的寫入光束的功率的測試方法，從光盤的預(yù)定測試區(qū)再現(xiàn)信號，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生記錄特性，表示寫入光束的功率和至少與記錄量有關(guān)的記錄特性的定性參數(shù)之一之間的關(guān)系，并從由包含在光盤的再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，一再現(xiàn)信號的抖動，一再現(xiàn)信號的偏差，一加到激光束的調(diào)制度，一激光束從光盤的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等所組成的組中予以選擇，以及測定按照所產(chǎn)生的記錄特性在實際記錄中所用的寫入光束的優(yōu)選功率。
按照本發(fā)明寫入激光功率值與β值之間沒有關(guān)系，但是寫入激光功率值與至少一個與記錄質(zhì)量水平有關(guān)的參數(shù)之間的關(guān)系，例如幀同步信號的檢測頻率，C1誤差，從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號得到的偏差以及激光功率值需考慮到所述的關(guān)系予以測定。所以，可以測定進(jìn)行滿意記錄的寫入激光功率值，即使光盤具有所謂的β有效點特性也可，在該點對于個別不同的產(chǎn)品例如光盤的崎變和染料不均勻性，β值相應(yīng)于寫入激光功率值會具有有效的改變。
另外，按照本發(fā)明，提供測量在光盤上記錄信號用的寫入光束功率的方法。本發(fā)明的方法包含下述步驟，在實際記錄之前對于在光盤的預(yù)定測試區(qū)上的信號進(jìn)行測試記錄的步驟，從光盤的預(yù)定測試區(qū)再現(xiàn)信號，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，表示寫入光束的功率和與記錄特性以及從再現(xiàn)信號的幅度偏差得到的β值，一檢測包含在光盤的再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，一包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，一再現(xiàn)信號的抖動，一再現(xiàn)信號的偏差，一加到光盤的調(diào)制度，一從光盤的激光束的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等所組成的組選擇的一個定性測試之間的關(guān)系步驟，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生其它記錄特性，表示寫入光束的功率和其它的定性測試之間的關(guān)系，以及按照所產(chǎn)生的記錄參數(shù)測定實際記錄用的寫入光束的優(yōu)選功率。
按照本發(fā)明的方法，寫入激光功率值和至少兩個或多個有關(guān)記錄質(zhì)量的性質(zhì)參數(shù)，例如β值，幀同步信號的檢測頻率，C1誤差，抖動之間的關(guān)系，并從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號得到偏差，通過考慮多個涉及記錄水平的參數(shù)確定寫入激光功率值。所有，即使光盤具有所謂β重要點的特性，也可以確定進(jìn)行滿意記錄的寫入激光功率值，在所述的點一些參數(shù)，例如β值由于不同的產(chǎn)品，如光盤的崎變和染料不均勻性，相對于寫入激光功率值會有有效的改變。


圖1表示本發(fā)明第一實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖2表示測試區(qū)的示意圖，其中利用光盤記錄/再現(xiàn)裝置在光盤內(nèi)進(jìn)行測試記錄。
圖3表示作為光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)元件的控制器的功能鍵結(jié)構(gòu)的框圖。
圖4表示由控制器記錄最大速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖5表示作為控制器的結(jié)構(gòu)元件的C1誤差優(yōu)選值儲存器的儲存內(nèi)容的說明圖。
圖6表示利用控制器記錄最大速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖7表示作為控制器的結(jié)構(gòu)元件的β優(yōu)選值儲存器的儲存內(nèi)容的說明圖。
圖8表示光盤記錄/再現(xiàn)裝置的CAV操作和CLV操作之間切換時間的說明圖。
圖9表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置記錄數(shù)據(jù)時由控制器執(zhí)行的控制過程的流程圖。
圖10表示按照光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例由控制器記錄最小速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖11表示按照光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例由控制器記錄最小速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖12表示在光盤/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)實施例中CAV和CLV操作之間的切換時間的說明圖。
圖13A和13B表示由控制器記錄最大速度的其它導(dǎo)出方法的說明圖。
圖14表示由控制器記錄最大速度的其它導(dǎo)出方法的說明圖。
圖15表示光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例的構(gòu)成的框圖。
圖16表示按照光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例，由控制器記錄最大速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖17表示另一個光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例的構(gòu)成的框圖。
圖18表示按照光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例，由控制器記錄最大速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖19表示光盤記錄/再現(xiàn)裝置的另一改進(jìn)例的構(gòu)成的框圖。
圖20表示按照光盤記錄/再現(xiàn)裝置的另一改進(jìn)例，由控制器記錄最大速度的導(dǎo)出方法的說明圖。
圖21A-21C表示涉及可用于由光盤/再現(xiàn)裝置導(dǎo)出記錄速度的記錄水平的參數(shù)與β值之間關(guān)系的曲線圖。
圖22表示作為光盤記錄/再現(xiàn)裝置的第二實施例的結(jié)構(gòu)元件的控制器的功能結(jié)構(gòu)的框圖。
圖23表示作為控制器的結(jié)構(gòu)元件的β優(yōu)選值信息儲存器的儲存內(nèi)容的說明圖。
圖24表示由光盤記錄/再現(xiàn)裝置進(jìn)行的測試記錄獲得的用于每個激光功率值的β值和C1誤差的一個例子的示意圖。
圖25表示從寫入激光功率值和β值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖26表示作為控制器的結(jié)構(gòu)元件的C1誤差優(yōu)選值信息儲存器的儲存內(nèi)容的說明圖。
圖27表示從寫入激光功率值和C1誤差值之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖28表示另一光盤記錄/再現(xiàn)裝置在記錄時間通過控制器執(zhí)行的過程的流程圖。
圖29表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中從寫入激光功率值和幀同步信號檢測頻率測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖30表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，從寫入激光功率值和抖動值之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖31表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，從寫入激光功率值和偏差值之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖32表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，從寫入激光功率值和RF信號的幅度值之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖33表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，從寫入激光功率值和調(diào)制度之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖34表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，從寫入激光功率值和反射率之間的關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖35表示在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的其它改進(jìn)例中，測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖36表示按照本發(fā)明第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的過程的框圖。
圖37表示作為第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)元件的控制器的功能結(jié)構(gòu)的框圖。
圖38表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中寫入激光功率值和C1誤差值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖39表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中寫入激光功率值和幀同步信號檢測頻率之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖40表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中寫入激光功率值和幀同步信號檢測頻率值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖41表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中寫入激光功率值和C1誤差值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖42表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中寫入激光功率值和C1誤差值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖43表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中寫入激光功率值和幀同步信號檢測頻率之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的改進(jìn)例的說明圖。
圖44表示按照第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中寫入激光功率值和幀同步檢測信號頻率之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的其它改進(jìn)例的說明圖。
圖45表示按照本發(fā)明第四實施例，作為光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)元件的控制器的功能結(jié)構(gòu)的框圖。
圖46表示按照第四實施例，寫入激光功率值和由光盤記錄/再現(xiàn)裝置進(jìn)行的測試記錄得到的β值之間關(guān)系的實例圖。
圖47表示按照第四實施例，在光盤記錄/再現(xiàn)裝置中從寫入激光功率值和Δβ值之間關(guān)系測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖48表示按照第四實施例，在光盤記錄/再現(xiàn)裝置的改進(jìn)例中測定最佳寫入激光功率值的過程的說明圖。
圖49表示寫入激光功率值和從在光盤上進(jìn)行測試記錄的測試區(qū)的再現(xiàn)信號獲得的β值之間關(guān)系的舉例說明圖。
具體實施例方式
下面將引用

本發(fā)明的實施例。A-1.第一實施例的結(jié)構(gòu)首先，圖1表示按照本發(fā)明的第一實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置結(jié)構(gòu)的示意框圖。如圖1所示，光盤記錄/再現(xiàn)裝置包括光接收器10，主軸馬達(dá)11，RF放大器12，伺服電路13，地址檢測電路14，解碼器15，控制器16，編碼器17，對策電路18，激光驅(qū)動器19，激光功率控制電路20，頻率發(fā)生器21，包絡(luò)檢測電路22，C1誤差檢測電路23和β檢測電路24。主軸馬達(dá)11是一個轉(zhuǎn)動/驅(qū)動用于記錄數(shù)據(jù)的光盤(如CD-R)D的馬達(dá)。光接收器10具有一個激光兩極管，一個光學(xué)系統(tǒng)，例如透鏡和反光鏡，以及一個返回光接收元件。光接收器在記錄和再現(xiàn)時用激光束照射光盤D，并從光盤D接收返回的光，以及將受到8-14調(diào)制(EFM)的RF信號作為光接收信號輸出到RF放大器12。另外，光接收器10具有監(jiān)視兩極管，由光盤D返回的光在兩極管內(nèi)產(chǎn)生電流，所述的電流加到激光功率控制電路20上。
RF放大器12對于從光接收器10提供的并受到EFM調(diào)制的信號進(jìn)行放大，并將放大的RF信號輸出到伺服電路13，地址檢測電路14，包絡(luò)檢測電路22，β檢測電路24和解碼器15。解碼器15EFM-調(diào)制由RF放大器12提供經(jīng)EFM-調(diào)制的RF信號并在再現(xiàn)時產(chǎn)生再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
另一方面，在記錄時，解碼器15在再現(xiàn)測試記錄區(qū)時EFM-調(diào)制從RF放大器12提供的RF信號，所述的C1誤差檢測電路23依據(jù)解調(diào)信號檢測C1誤差，并將該誤差輸出至控制器。所述的C1誤差檢測電路23利用稱為交叉讀取Solomon碼(CIRC)的誤差校正碼使EFM解調(diào)信號受到誤差校正，并檢測在一子碼幀(98EFM幀)內(nèi)不能執(zhí)行的第一誤差校正的幀數(shù)，即，C1誤差的頻率。
在進(jìn)行記錄時，本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的過程為，在正常的記錄前，使光盤D的內(nèi)圓周側(cè)上的預(yù)定區(qū)域(見圖2)受到測試記錄，并得到一記錄速度，在該速度相對于基于測試記錄區(qū)的再現(xiàn)結(jié)果來說可以進(jìn)行滿意的記錄。所述的C1誤差檢測電路23檢測測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號的C1誤差，并將誤差輸出至控制器16。
這里。參見圖2說明用于進(jìn)行光盤D(CD-R)的測試記錄的測試區(qū)。基于直徑為46-50mm的光盤D的區(qū)域用作導(dǎo)引區(qū)114，而用于記錄數(shù)據(jù)的節(jié)目區(qū)118和剩余區(qū)120位于導(dǎo)引區(qū)的外圓周側(cè)。另一方面，還有內(nèi)圓周側(cè)功率標(biāo)定區(qū)(PCA)112。所述的內(nèi)圓周側(cè)PCA區(qū)112包括一測試區(qū)112a和一計數(shù)區(qū)112b。所述的測試區(qū)112a在正常記錄過程前受到測試記錄。這里，將可以進(jìn)行大量測試記錄的區(qū)做成測試區(qū)112a，而指示部分在測試記錄的端部結(jié)束記錄的測試區(qū)112a的EFM信號被記錄在計數(shù)區(qū)112b內(nèi)。所以，在光盤D受到測試記錄時，讀取計數(shù)區(qū)112b的EFM信號。然后，可以得到欲執(zhí)行測試記錄的測試區(qū)112a的位置。在本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中，在正常記錄前測試區(qū)112受到測試記錄。
再參見圖1，地址檢測電路14從由RF放大器12提供的EFM信號中提取擺動信號分量，并對指示包含在擺動信號分量內(nèi)的每個位置的時間信息，識別盤和盤類型的信息，例如盤的染料的信息進(jìn)行解碼，并將信息輸出到控制器16。
所述的β檢測電路24計算β(對稱性)值作為在測試記錄區(qū)再現(xiàn)時涉及從RF放大器12提供的EFM調(diào)制的RF信號的再現(xiàn)信號水平的參數(shù)，并輸出計算結(jié)果至控制器16。β值由(a+b)/(a-b)確定，其中，字母b表示受到EFM調(diào)制的信號波形的峰值(符號+)，而字母b表示信號波形的底電平(符號-)。
包絡(luò)檢測電路22檢測光盤D的計數(shù)區(qū)112b的EFM信號的包絡(luò)，以便檢測光盤D的部分預(yù)定測試區(qū)，在參數(shù)進(jìn)行前由該測試區(qū)部分開始參數(shù)記錄。
伺服電路13進(jìn)行主軸馬達(dá)11的轉(zhuǎn)動控制，以及聚焦控制，跟蹤控制以及光接收器10的反饋控制。在本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中，可以在記錄時以恒定的角速度切換和執(zhí)行驅(qū)動光盤D的一種恒定角速度(CAV)的方法，以及在將線速度設(shè)定為常數(shù)時驅(qū)動光盤D的一種恒定線速度方法。伺服電路13響應(yīng)控制器16的控制信號改變CAV控制以及CLV控制。在由伺服電路13進(jìn)行的CAV控制中，控制由頻率發(fā)生器21檢測的主軸馬達(dá)11的轉(zhuǎn)數(shù)與設(shè)定的轉(zhuǎn)數(shù)一致。另外，在由伺服電路13進(jìn)行的CLV控制中，控制主軸馬達(dá)11，使由RF放大器12提供的EFM-調(diào)制的信號的擺動信號指示一設(shè)定的線速度放大。
編碼器17EFM-調(diào)制所提供的記錄數(shù)據(jù)，并輸出數(shù)據(jù)至對策電路18。所述的對策電路18相對于從編碼器17提供的EFM信號執(zhí)行時間軸的校正處理，并對激光驅(qū)動器19輸出驅(qū)動信號。激光驅(qū)動器19按照從對策電路18提供的記錄數(shù)據(jù)調(diào)制的信號驅(qū)動光接收器10的激光兩極管，并控制激光功率控制電路20。
激光功率控制電路20控制光接收器10的激光兩極管發(fā)出的激光功率。具體地說，激光功率控制電路20依據(jù)從光接收器10的監(jiān)測兩極管提供的電流值以及由控制器16提供的指示激光功率的最佳目標(biāo)值的信息控制激光驅(qū)動器19，使具有最佳激光功率的激光束從光接收器10發(fā)射。
控制器16由中央處理單元(CPU)，只讀存儲器(ROM)，隨機(jī)存取存儲器(RAM)等構(gòu)成，并按照ROM內(nèi)存儲的程序控制光盤記錄/再現(xiàn)裝置的各個裝置部件的工作。
首先，控制器16控制各個裝置的部件，以在上述的正?；?qū)嶋H記錄前對于設(shè)定在光盤記錄/再現(xiàn)裝置內(nèi)的光盤D的預(yù)定區(qū)域進(jìn)行測試記錄。另外，控制器16執(zhí)行用于獲得記錄速度的記錄速度測定處理，在所述的處理中，在利用光盤記錄/再現(xiàn)裝置受到測試記錄的光盤D上可以進(jìn)行無任何記錄誤差的滿意記錄，并依據(jù)由β檢測電路24檢測的β值進(jìn)行測試記錄區(qū)的再現(xiàn)時獲得的信號，以及由C1誤差檢測電路23檢測的C1誤差的計數(shù)值等進(jìn)行記錄速度測定。圖3表示為獲得記錄速度而執(zhí)行記錄速度測定處理的控制器16的功能結(jié)構(gòu)。
如圖3所示，控制器16具有C1誤差優(yōu)選值儲存器200，記錄速度-β特性函數(shù)儲存器201，β優(yōu)選值儲存器202，β-C1誤差特性產(chǎn)生部分203，記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204以及記錄速度產(chǎn)生部分205。
在所述的β-C1誤差特性產(chǎn)生部分203中，提供由β檢測電路24檢測β值，以及由C1誤差檢測電流23檢測的C1誤差的計數(shù)值(下稱C1誤差值)。之后，在圖4A表示多個記錄速度(例如，V1，V2，V3；V1＜V2＜V3)中的每一個的β值和C1誤差的計數(shù)值之間的關(guān)系指示的記錄特性可以從所提供的β值和C1誤差值得到。為了獲得多個記錄速度中的每個特性，用三個記錄速度V1，V2，V3進(jìn)行測試記錄，并從在每個速度記錄的區(qū)域的再現(xiàn)信號檢測的β值和C1誤差值可以獲得每個速度的記錄特性。此外，代替在每個速度執(zhí)行測試記錄和獲得如圖3所示的記錄特性的方法，例如圖3所示的方法，所述方法包括只在一個記錄速度進(jìn)行測試記錄；利用其它的數(shù)據(jù)依據(jù)事先進(jìn)行的實驗結(jié)果從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號得到速度；依據(jù)獲得不同于測試記錄速度的記錄速度的特性。還有，對于某一速度(一個或者多個速度)可以進(jìn)行一次或者多次測試記錄，但是最好進(jìn)行多次測試記錄，使所獲得的判斷結(jié)果更精確。
所述記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204得到一記錄速度特性，該特性基于如上所述的由β-C1誤差特性產(chǎn)生部分203獲得的對于各個記錄速度的β-C1誤差特性以及儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器200內(nèi)儲存的C1誤差優(yōu)選值信息的如圖4所示的值和記錄速度之間的關(guān)系。
如圖5所示，在C1誤差優(yōu)選值儲存器200中，對于每種類型的光盤D(不同的制造者和染料)儲存指示執(zhí)行滿意記錄的C1誤差值的范圍的信息。在所述的例子中，儲存指示滿意記錄可以在C1誤差值為0-10(在最大時為98C1誤差值)范圍內(nèi)用A型盤執(zhí)行的信息。這里，儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器200內(nèi)的信息是一個對于每種類型的光盤由先期的實驗所獲得的值。記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204利用儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器200內(nèi)的C1誤差優(yōu)選值信息，利用下述的方法獲得如圖4B所示的記錄速度-β特性。
首先，記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204從儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器200內(nèi)的優(yōu)選值信息獲得對應(yīng)于由地址檢測器電路14檢測的光盤D的信息類型的C1誤差優(yōu)選值信息。另外，依據(jù)所獲得的C1誤差優(yōu)選值信息和如圖4A所示的β-C1誤差特性產(chǎn)生部分203獲得的β-C1誤差特性獲得用于將C1誤差值設(shè)定在三個記錄速度中的每一個所獲得的由C1誤差優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)的β值的上和下限。例如，在由地址電路14檢測的光盤的類型信息是A時，從儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器200內(nèi)的C1誤差優(yōu)選值信息獲得對應(yīng)于類型A的優(yōu)選值信息(0-10)。另外，如圖4B所示，可以獲得用于設(shè)定C1誤差值在由所獲得的C1誤差優(yōu)選值信息指示的范圍1-10內(nèi)C1誤差值的β值的可能的上限值PJ1，PJ2，PJ3和下限值PK1，PK2，PK3。
在獲得各個記錄速度的β值的可能的上限值PJ1，PJ2，PJ3和下限值PK1，PK2，PK3時，記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204獲得如圖4B所示的記錄速度與依據(jù)所獲得的上限值PJ1，PJ2，PJ3和下限值PK1，PK2，PK3，以及儲存在記錄速度-β特性函數(shù)儲存器201內(nèi)的函數(shù)信息的β值的可能的上和下限值范圍之間的關(guān)系。在記錄速度-β值特性函數(shù)儲存器201內(nèi)，儲存指示用于對應(yīng)于記錄速度改變將C1誤差值設(shè)定在優(yōu)選范圍內(nèi)的β值的上和下限值的改變的函數(shù)信息。這里，依據(jù)事先由以大量的記錄速度進(jìn)行的測試記錄實驗所獲得的有關(guān)大量的記錄速度的β值的上和下限值取得函數(shù)信息，并將線性函數(shù)儲存在本實施例中(即，如圖4B中的曲線所示的函數(shù)線性改變)。而對于函數(shù)信息，對于每種類型的光盤D(不同的制造者和染料)事先儲存最佳信息，可以按照光盤D的類型信息選擇合適的函數(shù)信息。而，β-值的上和下限相對于記錄速度的位移可以從函數(shù)信息和上限值PJ1，PJ2，PJ3和下限值PK1，PK2，PK3利用圖4B所示的線L1和L2限定。在利用線L1和L2作限定時，可以獲得指示由β的上限值和β的下限值的β-值的可能范圍的值βm與記錄速度之間的關(guān)系，以及可以獲得如圖6所示的記錄速度-β范圍特性。此外，從上述的三個記錄速度的特性獲得三個上限值PJ1，PJ2，PJ3和下限值PK1，PK2，PK3，利用這些值可以獲得β值的可能的βm范圍和記錄速度之間的關(guān)系。在兩個函數(shù)(即，線性函數(shù)Y＝ax+b+c，其中c表示隨著實際測量的上和下限值改變的值，而a，b是固定值)，它們用于被儲存在記錄速度-β特性函數(shù)儲存器201內(nèi)的上和下限值，在獲得某種速度V1的上限值PJ1和下限值PK1時，線性函數(shù)可用于限定線L1和L2。于是，可以獲得β值的可能的范圍βm和記錄速度之間的關(guān)系。用這種方法可以從一速度的β-C1誤差特性獲得可能的范圍βm和記錄速度之間的關(guān)系。當(dāng)然，在這種情況下，可以以單一的速度進(jìn)行測試記錄。另外，代替取得如上所述的上和下限值，可以事先保持指示β值的可能范圍βm和記錄速度之間的關(guān)系的函數(shù)(即，線性函數(shù)Y＝AX+B＝C，其中，C表示隨著實際測量的上限值和對此指定的速度的下限值之間的差變化的值，而A，B是固定值)。β值的可能范圍βm和記錄速度之間的關(guān)系可以從這些函數(shù)和速度的上限值和下限值之間的關(guān)系的實際測量值得到。
記錄速度產(chǎn)生部分205獲得一最大速度，在該速度光盤記錄/再現(xiàn)裝置可以相對于依據(jù)由上述的記錄速度-β特性產(chǎn)生部分204獲得的記錄速度-β范圍特性和儲存在β值優(yōu)選值儲存器202內(nèi)的β優(yōu)選值信息的受到用保持滿意的記錄水平的測試記錄的光盤D執(zhí)行記錄。如圖7所示，在β優(yōu)選值儲存器202中，儲存指示允許對于每種光盤D的類型(不同的制造者和染料)的進(jìn)行滿意記錄的起伏范圍的值。在所述的舉例中，儲存指示可以用A型光盤在β位于10或以上的范圍內(nèi)進(jìn)行滿意記錄的信息。即，在優(yōu)選的β值范圍內(nèi)作為目標(biāo)的下降時對于光盤記錄/再現(xiàn)裝置很難控制β在一個小的范圍值內(nèi)，因為光盤D的扭曲，染料不均勻等原因。在β優(yōu)選值儲存器202中，考慮到控制用非常小的目標(biāo)β值的困難，因此儲存光盤記錄/再現(xiàn)裝置可以足以將β值控制在目標(biāo)范圍內(nèi)，即使光盤D有扭曲，染料不均勻等出現(xiàn)。這里，儲存在β優(yōu)選值儲存器202內(nèi)的信息是一個在先對于每種盤類型由實驗獲得的值。所述的記錄速度產(chǎn)生部分205使用儲存在β優(yōu)選值儲存器202的β值范圍的優(yōu)選值信息以獲得最大的記錄速度，在該速度β位于從圖6所示的特性由優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)，最大記錄速度作為光盤記錄/再現(xiàn)裝置可以在受到用保持記錄水平受到測試記錄的光盤D上進(jìn)行記錄的最大速度。圖6的例子表示β值的范圍βm的優(yōu)選值信息是10或以上的情況。在這種情況下，得到特性線L3與線L4相交，βm＝10時的記錄速度最大值作為記錄的最大速度。
回到圖1，在本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置內(nèi)的控制器16控制硬件，以根據(jù)上述獲得的記錄最大速度進(jìn)行CAV和CLV之間的切換。具體地說，控制器16控制伺服電路13，以便在最內(nèi)圓周側(cè)上記錄時利用CAV方法。在用這種方法開始記錄后，控制器16基于從地址檢測電路提供的地址信息確定光盤D的徑向位置，并以預(yù)定的角速度驅(qū)動主軸馬達(dá)11。在這種情況下，在對應(yīng)于如上所述獲得的最大速度檢測徑向位置時，控制器輸出將CAV方法切換到CLV方法的控制信號至伺服電路18。如圖8所示，在轉(zhuǎn)數(shù)相應(yīng)于最內(nèi)圓周位置的12倍速度的線速度時以CAV方法驅(qū)動主軸馬達(dá)11。在線速度達(dá)到轉(zhuǎn)數(shù)的最大速度(16倍速度)時檢測徑向位置。于是，控制器16輸出切換CLV至伺服電路13的控制信號。之后，在CLV方法中，伺服電路13以16倍的速度驅(qū)動主軸馬達(dá)11。
還有，在以CAV方法記錄時，控制器16相繼將指示最佳激光功率的目標(biāo)值的信息按照線速度輸出至激光功率控制電路20。即，在執(zhí)行CAV控制時，隨著記錄線速度相繼改變，所以輸出指示相繼改變線速度的激光功率最佳目標(biāo)值的信息。具體地說，在外圓周側(cè)徑向光盤的記錄。即，在線速度增加時，作為目標(biāo)值的大激光功率相繼輸出至激光功率輸出電路20。這里，可以參考由事先的實驗得到的數(shù)據(jù)表獲得對應(yīng)于電流線速度的最佳激光功率的目標(biāo)值，或者可以用所謂的OPC方法獲得。所述的OPC方法包括在正常記錄前在最內(nèi)圓周部分進(jìn)行光盤D的測試記錄；以及從由讀出記錄部分得到的再現(xiàn)信號在每個線速度獲得最佳激光功率的目標(biāo)值。A-2第一實施例的操作上面已經(jīng)描述了按照本發(fā)明的第一實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)。下面將參見由圖8所示的控制器16進(jìn)行的流程圖說明由如上所述結(jié)構(gòu)的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的記錄操作。
首先，在用戶將光盤D放置在光盤記錄/再現(xiàn)裝置內(nèi)并指令記錄開始時，在所設(shè)置光盤D(Sa1步)的測試區(qū)112a進(jìn)行記錄測試。然后，控制器16利用從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號檢測到的β值和C1誤差值去驅(qū)動最大的記錄速度，在該速度光盤記錄/再現(xiàn)裝置對應(yīng)于設(shè)置的光盤D進(jìn)行滿意的記錄(Sa2步)。
之后，控制器16指示伺服電路13以CAV方法驅(qū)動光盤D(Sa4步)，并以CAV方法進(jìn)行記錄。在以這種方式開始CAV方法的記錄時，控制器16將指示相應(yīng)于線速度改變的最佳激光功率的目標(biāo)值的信息輸出至激光功率控制電路20，以便隨著線速度的增加使激光功率增加。由此，激光功率控制電路20反饋控制激光功率，以便獲得從控制器16提供的目標(biāo)值。
另外，控制器16依據(jù)從地址檢測電路檢測到的地址信息判斷是否光盤D的記錄位置的線速度達(dá)到上述的最大記錄速度(Sa4步)。這里，在判斷到記錄位置的線速度沒有達(dá)到最大線速度時，控制器16以CAV方法連續(xù)進(jìn)行記錄。在欲記錄的所有數(shù)據(jù)被記錄時，記錄過程結(jié)束(Sa5步判斷“YES”)。另一方面，在Sa4步判斷記錄位置的線速度達(dá)到最大記錄速度時，控制器將指示記錄方法從CAV方法切換至CLV方法的控制信號輸出到伺服電路13，并以CLV方法執(zhí)行記錄(Sa6步)。
之后，在用CLV方法記錄時，控制器16判斷是否記錄結(jié)束(Sa7步)。在欲記錄的所有數(shù)據(jù)被記錄時，或者用戶指示記錄結(jié)束時，判斷結(jié)果是“YES”，于是記錄過程結(jié)束。
在本實施例中，在正常數(shù)據(jù)記錄過程前進(jìn)行測試記錄，并從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號可以獲得對于光盤D取得滿意記錄的最大記錄速度。還有，在進(jìn)行正常記錄時，CAV記錄進(jìn)行到直至獲得最大的記錄速度。在最大的記錄速度達(dá)到后，CVA記錄以該速度進(jìn)行。所以，不用賦予一滿意的記錄質(zhì)量水平就可以在短時間內(nèi)記錄數(shù)據(jù)。于是，在用戶不用告知光盤D的相應(yīng)記錄速度或者光盤D與光盤記錄/再現(xiàn)裝置相兼容的情況下指令記錄時，在短時間內(nèi)可以以滿意的記錄水平進(jìn)行自動記錄數(shù)據(jù)。A-3改進(jìn)例本發(fā)明不限于上述的實施例，對此可作出各種如下的改進(jìn)。(改進(jìn)例1)在上述的實施例中，直至達(dá)到與測試記錄的結(jié)果一致的最大記錄速度時才進(jìn)行CAV記錄。在達(dá)到最大速度記錄后，執(zhí)行CLV記錄。然而，可以從開始以最大記錄速度或者較低的速度進(jìn)行CLV記錄。
另外，上述獲得的最大記錄速度是12倍的速度，而用戶指令16倍速度的CLV記錄。在這種情況下，會將不能以16倍速度的CLV記錄取得滿意記錄的信息告知用戶，可使用戶再次設(shè)定記錄速度。另外，在用戶設(shè)定的記錄速度大于由上述獲得的最大記錄速度時，不用用戶如上述那樣再次設(shè)定速度，就可以自動地設(shè)定最大的記錄速度或者較低的記錄速度。在這種情況下，需估計以改變/設(shè)定記錄速度進(jìn)行記錄所需的時間，并將估計的時間告知用戶。(改進(jìn)例2)另外，在上述的實施例中，可以獲得可能進(jìn)行滿意記錄的最大記錄速度，然而，也需考慮進(jìn)行低速記錄時記錄水平受到破壞的情況(如圖10所示，在低速時用于將C1誤差值受到在優(yōu)選范圍內(nèi)的β值的范圍βm減小的情況)。在這種情況下，如圖11所示，可以獲得由β優(yōu)選值信息指示的某一速度值(在所示例中為10或以上)作為最小記錄速度Vmin。
如圖12所示，在用這種方法獲得的具有最小記錄速度的正常記錄時，以大于所獲得的最小記錄速度(所述例中為4倍速度)的記錄速度進(jìn)行CLV記錄，并可以切換至CAV記錄，此時CAV記錄的線速度超過最小記錄速度。(改進(jìn)例3)
另外，在本實施例中，以β值為基礎(chǔ)得到記錄速度，但是并不限于此，也可以依據(jù)寫入激光功率值獲得記錄速度。在這種情況下，控制器16從C1誤差檢測電路23提供的C1誤差值的多個記錄速度中的每個獲得下寫入激光功率值和圖13A所示的C1誤差值之間的關(guān)系。這里，如圖13A所示，在寫入激光功率值用作為參考而不是β值時，記錄功率值也隨著較高的記錄速度而增加。所以，依據(jù)寫入激光功率值獲得作為參考的記錄速度。之后，由OPC獲得的每個速度和最佳寫入激光功率值PL1，PL2，PL3的特性被用于得到功率值的上限值PJ1’，PJ2’，PJ3’和下限值PK1’，PK2’，PK3’的差值與最佳寫入激光功率值之比，此時，C1誤差值不大于對于每個從最佳寫入激光功率值的速度的參考值，即，從最佳寫入激光功率值得到所允許的功率值的比例(％)。例如，利用下述的等式可獲得對于記錄速度V1的上允許范圍值PJ01(％)。
PJ01＝(PJ1’-PL1)/PL1*100采用這種方式，如圖13B所示，可獲得在各個記錄速度內(nèi)寫入激光功率的允許上限范圍值PJ01，PJ02，PJ03和允許下限范圍值PK01，PK01，PK03。另外，如圖14所示，可以獲得寫入激光功率值的允許范圍和記錄速度之間的關(guān)系，以及可獲得寫入激光功率值的優(yōu)選范圍Pm指示預(yù)定值Pm1時的記錄速度，并作為最大的記錄速度。(改進(jìn)例4)還有，在本實施例中，依據(jù)C1值小于預(yù)定值的β范圍獲得記錄速度。然而，涉及記錄水平的參數(shù)不限于C1誤差，也可利用其它的參數(shù)。例如，如圖15所示，代替C1誤差檢測電路23，提供幀同步信號檢測和計數(shù)器電路140。提供幀同步信號檢測電路140a和用于由幀同步信號檢測電路140a檢測的對幀同步信號的檢測頻率進(jìn)行計數(shù)的計數(shù)器電路140b，而不用C1誤差值。由計數(shù)器電路140b計數(shù)的幀同步信號的檢測頻率可用于獲得記錄速度。這里，類似于前述的實施例，幀同步信號檢測電路140a和計數(shù)器電路140b對測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號進(jìn)行EFM-調(diào)制，同時從所獲得的信號檢測EFM幀同步信號，計數(shù)檢測頻率，并對控制器16輸出計數(shù)結(jié)果。
一種使用幀同步信號的檢測頻率而不是C1誤差值的方法包括獲得幀同步信號的檢測頻率和對于從檢測電路140提供的幀同步信號的檢測頻率的多個如圖16A所示的記錄速度中的每一個的β值依據(jù)從β檢測電路24提供的β值之間的關(guān)系。該方法還包括對于各個記錄速度(V1，V2，V3)獲得β值的上限值SPJ1，SPJ2，SPJ3和下限值SPK1，SPK2，SPK3，以便獲得由先前的實驗得到的幀同步信號(例如，90或以上)的檢測頻率的范圍，因此可以保持如圖16B所示的滿意的記錄水平；依據(jù)利用先前由實驗獲得的函數(shù)(在本例中為線性函數(shù))得到記錄速度β范圍特性，該特性指示記錄速度和指示β值范圍的值βm之間的關(guān)系。在用這種方法得到記錄速度β值范圍后，采用類似于本實施例中的記錄速度產(chǎn)生部分，可以得到記錄最大速度。
另外，如圖17所示，提供抖動檢測電路160替代C1誤差檢測電路23，并可以使用由抖動檢測電路160檢測的抖動值替代C1誤差值來得到記錄速度。。這里，抖動檢測電路160具有均衡器，限幅器，鎖相回路(PLL)電路，以及抖動測量單元。由RF放大器12提供的RF信號通過均衡器，而通過均衡器的信號由限幅器二進(jìn)制，然后將二進(jìn)制的RF信號加到PLL電路和抖動測量單元。在PLL電路中，從二進(jìn)制的RF信號產(chǎn)生時鐘信號，并將所產(chǎn)生的時鐘信號送到抖動測量單元，抖動測量單元測量抖動作為記錄位的標(biāo)準(zhǔn)偏差和偏差時鐘和二進(jìn)制RF信號的參考長度偏差。
一種使用抖動值替代C1誤差值的方法包括得到抖動值和從由抖動檢測電路160提供的抖動值的多個如圖18A所示的記錄速度中的每個速度的β值以及由β檢測電路24提供的β值之間的關(guān)系。還包括對于各個記錄速度(V1，V2，V3)得到β值的上限值JPJ1，JPJ2，JPJ3以及下限值JPK1，JPK2，JPK3，以便獲得由先前圖18B所示的可以保持滿意記錄水平的實驗所得到的抖動值的范圍(在本實施例中抖動值為35或以下)；并利用由先前的實驗得到的函數(shù)(在本例中為線性函數(shù))獲得指示記錄速度和指示β值范圍的值βm之間關(guān)系的記錄速度β范圍特性。在利用這種方法得到記錄速度β范圍特性之后，類似于實施例中的記錄速度產(chǎn)生部分可以得到記錄的最大速度。
此外，如圖19所示，提供偏差檢測電路180代替C1誤差值檢測電路23。并可以使用由偏差檢測電路180檢測的偏差值替代C1誤差值，獲得記錄速度。這里，偏差檢測電路180類似于抖動檢測電路160具有均衡器，限幅器和PLL電路。另外，代替抖動測量單元，還提供一偏差測量單元用于檢測從PLL電路提供的時鐘以及從限幅器提供的二進(jìn)制RF滿意度之間的偏差(記錄位和參考長度偏差)。
一種利用偏差值代替C1誤差值的方法包括獲得偏差值和從偏差檢測電路180提供的偏差值的對于圖20A所示的多個記錄速度中的每個的β值以及從β值檢測電路24提供的β值之間的關(guān)系，該方法還包括對于各個記錄速度(V1，V2，V3)的上限值DPJ1，DPJ2，DPJ3和下限值DPK1，DPK2，DPK3，以便由可以保持如圖20B所示的滿意記錄水平的先前實驗所得到的偏差值的范圍(在本實施例中為-20≤偏差值≤20)；以及利用由先前的實驗獲得的函數(shù)用于得到指示記錄速度和指示β值的范圍的值βm之間關(guān)系的記錄速度β范圍特性。在采用這種方法獲得記錄速度β值范圍特性之后，類似于本實施例的記錄速度產(chǎn)生部分，可以得到記錄最大速度。
另外，替代C1誤差值，在再現(xiàn)測試記錄區(qū)時，可以利用從RF放大器12提供的參數(shù)，例如RF信號的幅度，調(diào)制度以及反射率得到記錄速度。這里，RF信號的幅度值與β值之間的關(guān)系具有一種特性，即，幅度值隨著β值的上升而增加的特性，并且幅度值提高至某種程度直至達(dá)到如圖21A所示的飽和。類似于上述的實施例，對于多個記錄速度中的每個速度獲得所述的特性，即，對于每個記錄速度可以獲得由先前的實驗得到的在RF信號的幅度的范圍內(nèi)的β值的上和下限值。之后，類似于上述的實施例可以獲得所述的記錄速度。
還有，調(diào)制度和β值之間的關(guān)系具有類似于圖21B所示的RF信號的幅度的特性。類似于前述的實施例，對于多個記錄速度中的每個速度可以獲得上述的特性，并對于每個記錄速度可以獲得由先前的實驗得到的在調(diào)制度范圍內(nèi)的β值的上限值和下限值。之后，類似于上述的實施例，可以得到所述的記錄速度。另外，假設(shè)RF信號的最大值是Imax，而最小值是Imin，則由調(diào)制度＝(Imax-Imin)/Imax的關(guān)系式獲得調(diào)制度。
另外，反射率和β值之間的關(guān)系具有線性函數(shù)的特性，其中如圖21C所示，反射率隨β值的增加而下降。類似于上述的實施例，得到對于多個記錄速度中的每個速度的特性，并對于每個記錄速度可以獲得由先前的實驗得到的在反射率范圍內(nèi)的β值的上限值和下限值。之后，類似于上述的實施例，可以獲得記錄速度。另外，可以使RF信號通過低通濾波器以及求平均值得到反射率。
此外，在上述的實施例中，可以得到代替C1誤差值的每個參數(shù)和β值之間的關(guān)系，然后獲得記錄速度。然而，如改進(jìn)實施例所述，為了得到記錄速度可以獲得每個參數(shù)和寫入激光功率值之間的關(guān)系。
另外，可以利用多個參數(shù)(例如，C1誤差值和抖動值)來獲得各個記錄速度。例如，在獲得最大記錄速度時，可以利用兩個參數(shù)得到的記錄速度中的低速度作為最大記錄速度。在獲得最小記錄速度時，可以利用利用兩個參數(shù)得到的記錄速度中的較高的速度作為最小記錄速度。(改進(jìn)例5)還有，在前述的實施例中，描述了利用CD-R作為光盤D的例子。然而，本發(fā)明也可使用于CD-RW，DVD-R，DVD-隨機(jī)存取儲存器(DVD-RAM)等的記錄。(改進(jìn)例6)此外，用于執(zhí)行包括測定記錄速度過程的記錄處理的控制器16可以由特殊使用的硬件電路構(gòu)成。另外，在控制器16由中央處理器(CPU)等構(gòu)成時，可以通過執(zhí)行儲存在例如只讀儲存器(ROM)內(nèi)的程序由軟件實現(xiàn)處理。在由軟件利用上述方法進(jìn)行處理時，各種可以用計算機(jī)實現(xiàn)記錄處理的記錄介質(zhì)，例如CD-ROM和軟磁盤可以供用戶使用，或者可以通過傳輸媒體例如互聯(lián)網(wǎng)將程序提供給用戶。
如上所述，按照本發(fā)明的第一方面，在對于某種光盤記錄時，可以測定具有一些記錄誤差的記錄速度范圍。B-1第二實施例的構(gòu)成本發(fā)明的第二實施例基本上與第一實施例的某些構(gòu)成相同。因此，參見圖1，提供按照本發(fā)明第二實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的構(gòu)成說明如圖1所示，所述的光盤記錄/再現(xiàn)裝置包括光接收器10，主軸馬達(dá)11，RF放大器12，伺服電路13，地址檢測器電路14，解碼器16，控制器16，編碼器17，對策電路18，激光驅(qū)動器19，激光功率控制電路20，頻率發(fā)生器21，包絡(luò)檢測電路22，C1檢測電路23和β檢測電路24。
主軸馬達(dá)11是一個供記錄數(shù)據(jù)的用于旋轉(zhuǎn)/驅(qū)動光盤(如，CD-R)D的馬達(dá)。光接收器10具有一個激光二極管，一光學(xué)系統(tǒng)例如透鏡和反射鏡，以及返回光接收元件。在進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時，光接收器用激光束照射光盤D，再從光盤D接收返回的光，并輸出受到8-14調(diào)制(EFM)的RF信號，作為RF放大器12的光接收信號。另外，光接收器10具有監(jiān)視二極管，由光盤D返回的光在所述的監(jiān)視二極管內(nèi)產(chǎn)生電流，并將所述的電流供給激光功率控制電路20。
所述的RF放大器12對來自光接收器10的RF信號進(jìn)行放大，并受到WFM調(diào)制，以及對伺服電路13，地址檢測電路13，包絡(luò)檢測電路22，β檢測電路24和解碼器15輸出經(jīng)放大的RF信號。解碼器15對來自RF放大器12的經(jīng)調(diào)制的RF信號進(jìn)行EFM解調(diào)，并在再現(xiàn)時產(chǎn)生再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
另一方面，在進(jìn)行記錄時，解碼器15對于在再現(xiàn)測試記錄數(shù)據(jù)時由RF放大器12提供的RF信號進(jìn)行EFM解調(diào)，C1誤差檢測電路23依據(jù)解調(diào)信號檢測C1誤差，并將該誤差輸出至控制器。所述的C1誤差檢測電路23利用所謂交錯讀出Solomon碼(CIRC)的誤差校正碼，使EFM解調(diào)信號受到誤差校正，并檢測在一子碼幀(98EFM幀)內(nèi)不能進(jìn)行第一誤差校正的幀數(shù)，即，C1誤差的頻率。
按照本發(fā)明第二實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置，其構(gòu)成可用于在正常記錄前采用由用戶設(shè)定的記錄速度在光盤D的內(nèi)圓周側(cè)的預(yù)定區(qū)(見圖2)進(jìn)行測試記錄，并在進(jìn)行如上記錄時，依據(jù)測試記錄區(qū)的再現(xiàn)結(jié)果獲得對于光盤D進(jìn)行滿意記錄的記錄速度。在用光盤記錄/再現(xiàn)裝置進(jìn)行測試記錄時，采用15個階段改變寫入激光功率值，并對于一個寫入激光功率值的一個子碼幀記錄EFM信號，以及記錄對于15幀的所有的EFM信號。
這里，將參見圖2再次描述執(zhí)行光盤D(CD-R)測試記錄的區(qū)域。將具有直徑為46-50mm的光盤D的區(qū)域作為導(dǎo)引區(qū)114，并在導(dǎo)引區(qū)的外圓周側(cè)上制取記錄數(shù)據(jù)用的節(jié)目區(qū)118和剩余區(qū)120。另一方面，還具有一個內(nèi)圓周側(cè)功率校正區(qū)(PCA)112。所述的內(nèi)圓周側(cè)PCA區(qū)112包括一測試區(qū)112a和一計數(shù)區(qū)112b。在正常記錄過程前測試區(qū)112a受到測試記錄。這里，將進(jìn)行大量測試記錄的區(qū)作為測試區(qū)112a，而在測試記錄結(jié)束指示結(jié)束記錄的測試區(qū)112a的部分的EFM信號被記錄在計數(shù)區(qū)112b內(nèi)。所以，在光盤D受到測試記錄時，讀出計數(shù)區(qū)112b的EFM信號。于是，可以見到執(zhí)行測試記錄的測試區(qū)112a的位置。在本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中，測試區(qū)112在正常記錄前已受到測試記錄。
再回到圖1，地址檢測電路14從EF放大器12提供的EFM信號中提取抖動信號成分，并對指示包括在抖動信號成分內(nèi)的每個位置的時間信息(地址信息)解碼，識別信息(光盤ID)用于識別光盤以及盤類型，例如盤的染料，并向控制器16輸出信息。
所述的β檢測電路24在再現(xiàn)測試記錄區(qū)時將β值作為對于從RF放大器12提供的EFM調(diào)制的RF信號的再現(xiàn)記錄水平的參數(shù)進(jìn)行計算，并將計算結(jié)果輸?shù)娇刂破?6。利用等式(a+b)/(a-b)測定β值，其中，字母a表示受到EFM調(diào)制的信號波形的峰值電平(+號)，而，字母b表示底電平(-號)。
所述的包絡(luò)檢測電路22檢測光盤D的計數(shù)區(qū)112b的EFM信號的包絡(luò)，以便檢測在進(jìn)行參數(shù)記錄前開始測試記錄的光盤D的預(yù)定測試區(qū)的部分。
所述的伺服電路13進(jìn)行主軸馬達(dá)11的轉(zhuǎn)動控制，以及聚焦控制，跟蹤控制和光接收器10的反饋控制。在本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置中，以恒定線速度(CLV)的方法進(jìn)行記錄，由用戶設(shè)定線性的記錄速度驅(qū)動光盤D。所述的伺服電路13執(zhí)行CLV控制，用于按照從控制器16提供的設(shè)定速度指示的控制信號以設(shè)定的線速度驅(qū)動主軸馬達(dá)。這里，在利用伺服電路13進(jìn)行CLV的控制中，控制主軸馬達(dá)11以便線速度放大，以便從RF放大器12提供EFM調(diào)制信號的抖動信號。
編碼器17對提供的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行EFM調(diào)制，并將數(shù)據(jù)輸出到對策電路18(strategy circuit)。對策電路18對于由編碼器17提供的EFM信號進(jìn)行時間軸校正等處理，并將信號輸出至激光驅(qū)動器19。激光驅(qū)動器19按照由對策電路18提供的用記錄數(shù)據(jù)調(diào)制的信號驅(qū)動光接收器10的激光二極管，并控制激光功率控制電路20。
所述的激光功率控制電路20控制從光接收器10的激光二極管所發(fā)出的激光功率。具體地說，激光功率控制電路20基于從光接收器10的監(jiān)測二極管提供的電流值，以及指示從控制器16提供的激光功率的最佳目標(biāo)值的信息控制激光驅(qū)動器19，以便由光接收器10發(fā)射具有最佳激光功率的激光束。
首先，控制器16控制各個裝置部件，以便對于在如上所述的正常記錄前設(shè)定在光盤記錄/再現(xiàn)裝置內(nèi)的光盤D的預(yù)定區(qū)執(zhí)行上述的測試記錄。而且，控制器16依據(jù)由β檢測電路24，以及由C1誤差檢測電路23等檢測的C1誤差的檢測頻率的計數(shù)值(下面稱為C1誤差值)檢測的β值測定對于由用戶以在再現(xiàn)參數(shù)記錄區(qū)時所獲得的信號設(shè)定的記錄速度進(jìn)行記錄用的最佳寫入激光功率值，并控制激光功率控制電路20，使得在進(jìn)行正常記錄時，從光接收器10發(fā)射的激光束具有確定的最佳激光功率值。圖22說明控制器16用于獲得最佳寫入激光功率值的過程的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)。
如圖22所示，控制器16具有C1誤差優(yōu)選值信息儲存器250，β優(yōu)選值信息儲存器251，激光功率值規(guī)定部分252，激光功率范圍規(guī)定部分253，以及最佳激光功率值確定部分254。
所述的激光功率規(guī)定部分252獲得指示寫入激光功率值和在正常記錄前從OPC獲得的結(jié)果(多個寫入激光功率值和相應(yīng)于各個激光功率值的β值)得到的β值之間關(guān)系的記錄功率-β特性。所述的激光功率值規(guī)定部分252依據(jù)所述的記錄功率-β特性，儲存在β優(yōu)選值信息儲存器251內(nèi)的β優(yōu)選值信息，以及從地址檢測電路14提供的盤類型信息規(guī)定寫入激光功率值。如圖23所示，對于光盤D的每種類型(制造者，染料等)，在β優(yōu)選值儲存器251內(nèi)，儲存用于進(jìn)行最佳記錄的指示β值的β優(yōu)選值信息，儲存β值＝“0”作為在本例中對于A型光盤的β值優(yōu)選值信息。這里，儲存在β優(yōu)選值儲存器251內(nèi)的信息是一個對于由先前的實驗用不同類型的光盤獲得的值。此外，不僅對于每種類型的光盤可以儲存一優(yōu)選的β值，而且還可以對每個記錄速度(一倍速度，四倍速度，八倍速度)儲存在β優(yōu)選值儲存器251內(nèi)。
例如，如圖24獲得OPC結(jié)果(相應(yīng)于15個類型的寫入激光功率值的β值和C1誤差值)時，激光功率規(guī)定部分252獲得指示寫入激光功率值和圖25所示的由寫入激光功率值表示的β值以及OPC結(jié)果的β值之間關(guān)系的β功率特性。另外，激光功率值規(guī)定部分252獲得從相應(yīng)于儲存在β優(yōu)選值儲存器251內(nèi)的大量光盤類型的β優(yōu)選值信息的地址檢測電路14提供的光盤類型信息的β優(yōu)選值信息。還有，在β優(yōu)選值儲存器251內(nèi)儲存每個記錄速度(一倍速度，四倍速度，八倍速度，…)的優(yōu)選β值時，可以得到相應(yīng)于所設(shè)定的記錄速度的β優(yōu)選值信息。此外，所述的激光功率值規(guī)定部分252是指依據(jù)OPC結(jié)構(gòu)獲得的β-功率特性(見，圖25)，并對應(yīng)于由所獲得的β優(yōu)選值信息所指示的β值規(guī)定一寫入激光功率值Pt。
激光功率范圍規(guī)定部分253獲得指示寫入激光功率值和從在正常記錄前由OPC獲得的結(jié)果(相應(yīng)于各個激光功率值的多個寫入激光功率值以及C1誤差值)得到的C1誤差值之間關(guān)系的寫入功率-C1誤差特性激光功率范圍規(guī)定部分253規(guī)定寫入激光功率的可能的上限值和下限值，即，一個基于寫入功率-C1誤差特性，儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器250內(nèi)的C1誤差優(yōu)選值信息，以及由地址檢測電路14提供的盤類型信息的寫入激光功率的可能值的范圍。如圖26所示，在C1誤差優(yōu)選值儲存器250中，對于光盤D的每種類型(制造者，染料等)儲存指示執(zhí)行最佳記錄用的C1誤差值的可能范圍的C1誤差優(yōu)選值信息，儲存C1誤差值＝“0-10”’作為對于所述實施例的A型光盤的C1誤差優(yōu)選值信息。此外，在C1誤差優(yōu)選值儲存器250內(nèi)，不僅對于每種類型的光盤而且對于每個記錄速度(一倍速度，四倍速度，八倍速度，…)均可以儲存指示優(yōu)選C1誤差值的可能范圍的信息。
例如，在獲得如圖24所示的OPC結(jié)果時，激光功率范圍規(guī)定部分253獲得指示寫入激光功率值和從如圖27所示的寫入激光功率值的C1誤差值以及OPC結(jié)果的C1誤差值之間關(guān)系的功率-C1誤差特性。還有，激光功率范圍規(guī)定部分253從相應(yīng)于儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器250內(nèi)的大量光盤類型的C1誤差優(yōu)選值信息的地址檢測電路14所提供的盤的類型信息獲得C1誤差值信息。另外，在C1誤差優(yōu)選值儲存器150內(nèi)儲存每個記錄速度(一倍速度，四倍速度，八倍速度…)的C1誤差值的優(yōu)選范圍，并可獲得對應(yīng)于設(shè)定的記錄速度的C1誤差優(yōu)選值信息。還有，激光功率范圍規(guī)定部分253是指依據(jù)OPC結(jié)果獲得的功率-C1誤差特性(見，圖27)，并獲得將C1誤差值設(shè)定在由所獲得的C1誤差優(yōu)選值信息指示的C1誤差值的范圍內(nèi)的寫入激光功率的上限值PJ(在本實施例中為16mv)和下限值PK(在本實施例中為13mv)，并規(guī)定可能的范圍Pm(寫入激光功率的13-16mv)。
最佳激光功率值確定部分254依據(jù)由激光功率規(guī)定部分252規(guī)定的寫入激光功率值Pt，和由如上述的激光功率范圍規(guī)定部分253規(guī)定的寫入激光功率的有效范圍Pm確定最佳寫入激光功率值。具體地說，最佳激光功率值確定部分254判斷是否由激光功率值規(guī)定部分252規(guī)定的寫入激光功率值位于由激光功率范圍規(guī)定部分253規(guī)定的寫入激光功率值的有效范圍Pm內(nèi)。在判斷到所述的寫入激光功率值位于所述范圍Pm內(nèi)時，將所述的寫入激光功率值Pt確定為最佳寫入激光功率值。另一方面，在寫入激光功率值Pt位于Fm范圍內(nèi)時，再次進(jìn)行OPC，可以采用類似于上述的方法進(jìn)行基于OPC結(jié)果確定最佳寫入激光功率值的處理過程。然而，在寫入激光功率值沒有位于Pm范圍內(nèi)時，確定的方法包括確定寫入激光功率值Pt和上限值PJ或者下限值PK(接近寫入激光功率值Pt)的平均值作為最佳寫入激光功率值。于是，可以不僅考慮β值，而且還考慮C1誤差值來確定最佳寫入激光功率值。
控制器16將指示從如上所述的OPC結(jié)果獲得的最佳寫入激光功率值提供至如圖1所示的激光功率控制電路20，而激光功率控制電路20控制激光驅(qū)動器19，使得從光接收器19發(fā)射至光盤D的記錄激光束的功率值與最佳寫入激光功率值一致。B-2.操作上面說明了按照本發(fā)明第二實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)。由上述構(gòu)成的光盤記錄/再現(xiàn)裝置進(jìn)行記錄時間的操作將參見按照儲存在ROM內(nèi)的程序由圖28所示的控制器16執(zhí)行的過程流程圖予以說明。
首先，用戶在光盤記錄/再現(xiàn)裝置中設(shè)置光盤D，并指令以某種記錄速度開始記錄。然后，控制器16控制各個裝置部件，以采用OPC(Sb1步)執(zhí)行光盤D的測試區(qū)112a內(nèi)的參數(shù)記錄。具體地說，將測試記錄用的信號送到編碼器17，并控制激光功率控制電路20，使寫入激光功率值在15個階段內(nèi)受到改變。采用這種方式控制各個裝置的部件，即，對每個寫入激光功率值記錄一子碼幀用的EFM信號，并對于所有的15幀記錄EFM信號進(jìn)行測試記錄。
在控制各個部件執(zhí)行測試記錄時，控制器16依據(jù)從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號獲得的OPC結(jié)果確定如上所述的最佳寫入激光功率值(Sb2步)。之后，控制器16控制激光功率控制電路20，伺服電路13等，以便由用戶設(shè)定的記錄速度和如上述確定的最佳激光功率值執(zhí)行記錄，并對應(yīng)于光盤D進(jìn)行記錄過程(Sb3步)。
在本實施例中，在正常記錄前進(jìn)行測試記錄，依據(jù)β值和指示從測試記錄的再現(xiàn)信號得到的記錄狀態(tài)的水平的C1誤差值測定最佳寫入激光功率值，并可以用測定的寫入激光功率值進(jìn)行記錄。也就是，只考慮常用的OPC中的β值測定最佳寫入激光功率值。然而，按照本發(fā)明，可以不僅考慮β值，而且還考慮C1誤差值測定最佳寫入激光功率值。所以，與只考慮β值的功率測定方法相比較，可以減低由于各個光盤D產(chǎn)品的差別(卷曲，崎變，染料不均勻等)引起記錄水平變壞。例如，在利用對于β值有效改變的具有β值有效改變點特性的光盤(見圖48)進(jìn)行對應(yīng)于β有效點的寫入激光功率值記錄時。但是，有時不能獲得滿意的記錄狀態(tài)水平。然而，在本實施例中，不僅考慮β值，而且還考慮其它有關(guān)記錄水平的參數(shù)來測定最佳寫入激光功率值。所以，可以抑制由β改變點所引起的記錄水平變壞。B-3改進(jìn)例可以用如下不同的方式改進(jìn)第二實施例。B-3-1改進(jìn)例1第二實施例的方法包含對應(yīng)于多個寫入激光功率值，從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號測量β值和C1誤差值；并利用這些參數(shù)測定最佳激光功率值。然而，所述方法可以包含從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號獲得對于記錄狀態(tài)品質(zhì)的其它參數(shù)；并利用所獲得的參數(shù)測定最佳寫入激光功率值。
例如，如圖15所示，采用幀同步信號檢測電路140a和計數(shù)器電路140b替代第二實施例中的C1誤差檢測電路23。除了β值外，可以利用由幀同步信號檢測電路140a和計數(shù)器電路140b檢測的幀同步信號檢測頻率測定最佳寫入激光功率值。這里，類似于第二實施例，幀同步信號檢測電路140a和計數(shù)器電路140b對測試記錄區(qū)的再現(xiàn)RF信號進(jìn)行EFM調(diào)制，并從所獲得的信號檢測EFM幀同步信號，以及對檢測頻率計數(shù)，并將頻率輸出到控制器16。
在利用幀同步信號的檢測頻率代替C1誤差值時，即，使用β值和幀同步信號的檢測頻率測定最佳寫入激光功率值時，類似于第二實施例，首先，從幀同步信號檢測電路140a和計數(shù)器電路140b提供的幀同步信號的檢測頻率，和從β檢測電路24提供的β值獲得指示寫入激光功率值和β值之間關(guān)系的寫入功率-β特性。另外，如圖29所示，獲得指示寫入激光功率值和幀同步信號檢測頻率之間關(guān)系的寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性。
所述方法還包括類似于第二實施例，對應(yīng)于由預(yù)-儲存β優(yōu)選值信息指示的β值規(guī)定寫入激光功率值Pt；引用如圖29所示的寫入功率-幀同步信號檢測頻率；獲得在由預(yù)-儲存幀同步信號檢測頻率優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)(在本實施例中，幀同步信號檢測頻率為90或以上)設(shè)定頻率和規(guī)定寫入激光功率的可能范圍SPm用的寫入激光功率的上限值SPJ(在本實施例中為16.5mW)和下限值SPK(在本實施例中為12.5mW)。
在從β值規(guī)定寫入激光功率值Pt時，寫入激光功率的可能范圍由幀同步信號檢測頻率規(guī)定，并且如同第二實施例，所述的寫入激光功率值Pt位于SPm范圍內(nèi)，以及將寫入激光功率值Pt確定為最佳寫入激光功率值。另一方面，在寫入激光功率值Pt不在范圍SPm內(nèi)時，再次執(zhí)行OPC，同時可以依據(jù)類似于上述的OPC結(jié)果進(jìn)行測定最佳寫入激光功率值的過程。然而，在寫入激光功率值Pt不在SPm范圍內(nèi)時，測定方法包括測定寫入激光功率值Pt和上限值SPJ或下限值SPK(接近于寫入激光功率值Pt)的平均值作為最佳寫入激光功率值。于是，不僅β值，而且?guī)叫盘柕臋z測頻率均可以測定最佳寫入激光功率值。
另外，如圖17所示，提供抖動檢測電路160代替C1誤差檢測電路23，所以可以由抖動檢測電路160而不是C1誤差值所檢測到的抖動值來確定最佳寫入激光功率值。這里，抖動檢測電路160包括均衡器，限幅器鎖相回路(PLL)電路和抖動測量部件。從RF放大器12提供的RF信號通過均衡器，并由限幅器對通過均衡器的信號進(jìn)行二進(jìn)制。另外，二進(jìn)制的RF信號被加到PLL和抖動測量部件。在PLL電路中，由二進(jìn)制的RF信號產(chǎn)生時鐘信號，并將所產(chǎn)生的時鐘信號送到抖動測量部件。所述的抖動測量部件從時鐘和二進(jìn)制RF信號測量抖動作為記錄位的標(biāo)準(zhǔn)偏差以及參考長度偏差。
在利用抖動值而不是C1誤差值時，即，在利用β值和抖動值測量最佳寫入激光功率值時，首先，類似于第二實施例，獲得指示寫入激光功率值和從抖動檢測電路160提供的抖動值以及從β檢測電路24提供的β值之間的關(guān)系的寫入功率-β特性(見，圖25)和從β檢測電路24提供的β值。另外，也可以如圖30所示，獲得指示寫入激光功率值和抖動值之間關(guān)系的寫入功率-抖動特性。
所述的方法還包括類似于第二實施例，規(guī)定對應(yīng)于由預(yù)-儲存的β優(yōu)選值信息指示的β值的寫入激光功率值Pt(見，圖25)；引用圖30所示的寫入功率-抖動特性；并獲得寫入激光功率的上限值JPJ(本例中為16.9mW)和下限值JPK(本例中為12.1mW)，用于將該值設(shè)定在由預(yù)儲存到抖動優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)(在本例中為抖動值35或小于該值)，并規(guī)定寫入激光功率的可能范圍JPm。
在用這種方法從β值規(guī)定寫入激光功率值Pt時，由抖動值規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍JPm，以及如第二實施例，寫入激光功率值Pt位于范圍JPm內(nèi)，并將該寫入激光功率值Pt作為最佳寫入激光功率值。另一方面，在寫入激光功率值Pt不在范圍JPm內(nèi)時，再次進(jìn)行OPC，并可以基于類似于上述的OPC結(jié)果進(jìn)行測定最佳寫入激光功率值的過程。另外，在寫入激光功率值Pt不在范圍JPm內(nèi)時，測定方法包括將寫入激光功率值Pt和上限值JPJ或下限值JPK(接近于寫入激光功率值)的平均值作為最佳寫入激光功率值。
此外，如圖19所示，用偏差檢測電路180代替C1誤差檢測電路23，并可以利用由偏差檢測電路180檢測的偏差值測定最佳寫入激光功率值。這里。偏差檢測電路180包括均衡器，限幅器和類似于抖動檢測電路160的PLL電路。還有，代替抖動測量部件，采用偏差測量部件從PLL電路提供的時鐘信號以及從限幅器提供的二進(jìn)制RF信號進(jìn)行偏差測量(記錄位和記錄長度的偏差)。
在采用偏差值而不用C1誤差值時，即，在利用β值和偏差值測量最佳寫入激光功率值時，首先，類似于第二實施例，寫入功率-β特性(見，圖25)指示寫入激光功率值和從偏差檢測電路180提供的偏差值所獲得的β值以及從β檢測電路24提供的β值之間的關(guān)系。而，寫入功率-偏差特性指示寫入激光功率值和圖31所示的偏差值之間的關(guān)系。
所述的方法還包括規(guī)定由對應(yīng)于類似于第二實施例的預(yù)-儲存β優(yōu)選值信息指示的β值寫入激光功率值Pt(見，圖25)；引用圖31所示的寫入功率-偏差特性；以及獲得寫入激光功率的上限值DPJ(在本例中為14.5mW)和下限值DPK(在本例中為12mW)，用于將由預(yù)-儲存偏差優(yōu)選值信息指示的值設(shè)定在范圍(在本例中為-20-20的偏差值)內(nèi)，并規(guī)定寫入激光功率的可能范圍DPm。
在采用這種方法由β值規(guī)定寫入激光功率值Pt時，寫入激光功率值的可能范圍DPm由偏差值規(guī)定，并且寫入激光功率值Pt位于類似于第二實施例的范圍DPm內(nèi)，可以將寫入激光功率值視為最佳寫入激光功率值。另一方面，在寫入激光功率值不在范圍DPm內(nèi)時，再次進(jìn)行OPC，依據(jù)OPC的結(jié)果進(jìn)行類似于上述的最佳寫入激光功率值測定的過程。另外，在寫入激光功率值不在范圍DPm內(nèi)時，測定的方法包括測量寫入激光功率值Pt和上限值DPJ或下限值DPK(接近于寫入激光功率值Pt)的平均值作為最佳寫入激光功率值。
另外，代替C1誤差值，可以采用例如在再現(xiàn)測試記錄區(qū)時從RF放大器12提供的RF信號的幅度，調(diào)制度以及反射率等值作為參數(shù)來測定最佳寫入激光功率值。這里，寫入激光功率值和RF信號的幅度值之間的關(guān)系基于下述特性，即，幅度值隨著寫入激光功率值的上升而上升，而且幅度值上升到某一程度時達(dá)到飽和，如圖32所示。在利用RF幅度值測定最佳寫入激光功率值時，在再現(xiàn)如上所述的測試記錄區(qū)時從RF放大器12提供的RF信號得到寫入功率-幅度特性。所述的方法還包括引用所獲得的特性；由獲得的寫入激光功率的上限值RPJ和下限值RPK用于將寫入激光功率設(shè)定在由RF信號的幅度的預(yù)-儲存的優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)，并規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍RPm。另外，類似于第二實施例，可以依據(jù)范圍RPm和由β值規(guī)定的寫入激光功率值Pt測定最佳寫入激光功率值。
此外，調(diào)制度和寫入激光功率值之間的關(guān)系具有類似于圖33所示的RF信號的幅度與寫入激光功率值之間的關(guān)系。在利用調(diào)制度測定最佳寫入激光功率值時，可以從上述的再現(xiàn)測試記錄區(qū)時RF放大器2提供的RF信號得到寫入功率-調(diào)制度特性。所述的方法還包括引用所獲得的特性；獲得寫入激光功率的上限值HPJ和下限值HPK，引用將寫入激光功率設(shè)定在由調(diào)制度的預(yù)-儲存的優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)，并規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍HPm。另外，類似于第二實施例，可以依據(jù)范圍HPm和從類似于第二實施例的β值規(guī)定的寫入激光功率值Pt來測定最佳寫入激光功率值。還有，假設(shè)RF信號的最大值是Imax，而最小值是Imin，則利用調(diào)制度公式，調(diào)制度＝(Imax-Imin)獲得調(diào)制度。
還有，反射率和寫入激光功率值之間的關(guān)系具有線性函數(shù)的特性，其中反射率隨著寫入激光功率值的增加而下降，見圖34。在利用反射率測定最佳寫入激光功率值時，可以在再現(xiàn)如上所述的測試記錄區(qū)時從RF放大器12提供的RF信號得到寫入功率-反射率特性。所述的方法還包括引用所獲得的特性；獲得寫入激光功率的上限值HSPJ和下限值SHPK，用于將寫入激光功率設(shè)定在由反射率的預(yù)-儲存優(yōu)選值信息指示的范圍內(nèi)，并規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍HSPm。另外，類似于第二實施例，可以依據(jù)范圍HSPm和從β值規(guī)定的寫入激光功率值Pt測定最佳寫入激光功率值。還有，可以通過從RF放大器12提供的RF信號以及平均信號獲得反射率。B-3-2改進(jìn)例2在第二實施例以及先前的改進(jìn)例中，從按照測試記錄的結(jié)果所獲得的β值規(guī)定一點的寫入激光功率值，而從其它的參數(shù)(C1誤差值，幀同步信號的檢測頻率，抖動值，偏差值，RF信號的幅度，調(diào)制度和反射率)獲得寫入激光功率值的可能范圍。然而，所示的方法可以包括利用其它的參數(shù)規(guī)定一個點的寫入激光功率值；并利用β值規(guī)定寫入激光功率的可能范圍。
另外，所述的方法可以包括利用兩個或多個參數(shù)，例如記錄狀態(tài)的水平，如C1誤差值，幀同步信號的檢測頻率，抖動值，RF信號的幅度，調(diào)制度和反射率，來測定最佳寫入激光功率值。例如，所述方法可以包括利用C1誤差值規(guī)定一點的寫入激光功率值；利用幀同步信號的檢測頻率規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍；以及依據(jù)所規(guī)定的寫入激光功率值和范圍來測定最佳寫入激光功率值。
另外，在第二實施例中，一點的寫入激光功率值可以由一個參數(shù)規(guī)定(例如在第二實施例中的β值)，而寫入激光功率值的可能范圍由其它參數(shù)(在第二實施例中的C1誤差值)規(guī)定。在由參數(shù)規(guī)定的預(yù)定的寫入激光功率值位于由其它的參數(shù)規(guī)定的范圍內(nèi)時，一點的寫入激光功率值作為最佳寫入激光功率值。然而，還可以由其它的方法測定最佳寫入激光功率值。例如，從β值規(guī)定的的寫入激光功率值和從C1誤差值規(guī)定的一點的寫入激光功率值的平均值作為最佳寫入激光功率值。
還有，可以利用兩個涉及記錄狀態(tài)水平的參數(shù)，例如β值和C1誤差值獲得最佳寫入激光功率值。然而，也可以采用前述參數(shù)(C1誤差值，幀同步信號的檢測頻率，抖動值，偏差值，EF信號的幅度，調(diào)制度和反射率)中的三個或多個。例如，在使用三個參數(shù)，如，β值，C1誤差值，和幀同步信號的檢測頻率值，類似于第二實施例所述獲得最佳寫入激光功率值時，寫入激光功率值Pt由寫入功率-特性(見，圖25)規(guī)定，而寫入激光功率值的可能范圍從寫入功率-C1誤差特性和寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性獲得。例如，如圖35所示，在寫入激光功率值的可能范圍由寫入功率-C1誤差值規(guī)定時，寫入激光功率值的可能范圍SPm由寫入功率-幀同步信號檢測頻率規(guī)定，而最佳寫入激光功率值可以依據(jù)疊加至范圍SPm上(范圍KPm＝本例中的范圍Pm)的部分范圍Pm的范圍KPm，以及寫入激光功率值Pt來規(guī)定。C.第三實施例下面將參見圖36和37說明按照本發(fā)明第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置。如圖36所示，按照本發(fā)明第三實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置不同于按照本發(fā)明第二實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置在于，在第二實施例中沒有提供β檢測電路24。C1誤差檢測電路利用在再現(xiàn)類似于第二實施例中的測試記錄區(qū)時由1RF放大器12所提供的RF信號測量C1誤差，并輸出C1誤差值作為對控制器16的測量結(jié)果。
第三實施例中的控制器16在測定最佳寫入激光功率值的方法上不同于第二實施例中的控制器16。圖37表示在第三實施例中利用控制器16測定最佳寫入激光功率值過程的控制器16的功能結(jié)構(gòu)。如圖37所示，控制器16具有C1誤差優(yōu)選值儲存器220，以及最佳寫入激光功率值測定部分221。
所述的最佳寫入激光功率值測定部分221得到指示寫入激光功率值和由正常記錄前進(jìn)行的OPC所獲得結(jié)果(多個寫入激光功率值和對應(yīng)于該寫入激光功率值的C1誤差值)的如圖38所示的C1誤差值之間關(guān)系的寫入功率-誤差特性。最佳寫入激光功率值測定部分221依據(jù)儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器220中的C1誤差優(yōu)選值信息，以及從地址檢測電路14提供的盤類型信息規(guī)定寫入激光功率值。在C1誤差優(yōu)選值儲存器220中，對于每種類型(不同的制造和染料)的光盤D儲存用于執(zhí)行最佳記錄的指示C1誤差值的抖動優(yōu)選值信息。這里，儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器220內(nèi)的信息是一個由先前實驗對于每個光盤獲得的值。
在獲得指示寫入激光功率值和如圖38所示的C1誤差值之間關(guān)系的功率-C1誤差特性時，最佳寫入激光功率值測定部分221可以獲得對應(yīng)于儲存在C1誤差優(yōu)選值儲存器220內(nèi)的大量光盤類型的從C1誤差優(yōu)選值信息的地址檢測電路14提供的對應(yīng)于光盤類型的C1誤差優(yōu)選值信息CJK(可以等于0)。另外，最佳寫入激光功率值測定部分221引用依據(jù)OPC結(jié)果獲得的功率-C1誤差特性，并測定對應(yīng)于由所獲得的誤差值信息指示的C1誤差值的寫入激光功率值Pt’。還有，控制器16控制激光功率控制電路20的各個裝置部件，使得具有測定的寫入激光功率值Pt’的激光束從光接收器10發(fā)射至光盤D。
按照第三實施例，可以考慮C1誤差值，而不是β值來作為參數(shù)測定最佳寫入激光功率值。例如，對于在β值具有有效改變點的特性的光盤進(jìn)行對應(yīng)于該β有效點的寫入激光功率值的記錄。由此，在某些情況下就不能得到滿意的記錄狀態(tài)水平。然而，在本實施例中，部件考慮β值，而且還考慮其它有關(guān)記錄狀態(tài)的水測定最佳寫入激光功率值。所以，可以抑制由β有效點引起的記錄狀態(tài)水平的變壞。
還有，在第三實施例中，提供C1誤差檢測電路23從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號檢測C1誤差值，并將在指示預(yù)-儲存的優(yōu)選值的C1誤差值的寫入激光功率值作為最佳寫入激光功率值。然而，所述的方法可以包括檢測有關(guān)記錄狀態(tài)，例如抖動值，幀同步信號的檢測頻率，偏差值和RF信號的幅度的水平的參數(shù)；以及利用這些參數(shù)中的任一個測定最佳寫入激光功率值。
還有，在第三實施例中，將對應(yīng)于C1誤差優(yōu)選值儲存器220中儲存的C1誤差值的優(yōu)選值CJK的寫入激光功率值Pt’作為最佳寫入激光功率值。然而，在最佳寫入激光功率值不是從β參數(shù)而是從其它參數(shù)測定時，可以利用下述方法。
例如，在從測試記錄區(qū)的RF信號檢測幀同步信號的檢測頻率時，可以得到如圖39的實線所表示的寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性。在獲得該特性時，測定最佳寫入激光功率值的方法首先包括獲得接近寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性二次函數(shù)作為利用最小均方方法(圖39中由點劃線表示的)由實線表示的測試記錄的結(jié)果。例如，在二次函數(shù)用幀同步信號檢測頻率(SYEQ)＝ap2+bp+c表示時(其中p表示指示寫入激光功率值的可變值，而a，b，c表示固定值)，微分該二次函數(shù)，就可以得到每單位寫入激光功率的幀同步信號檢測頻率的變量＝ap+b(下面稱為ΔNSYEQ)。用這種方法得到的ΔNSYEQ和寫入激光功率值之間的關(guān)系可以用如圖40所示的線性函數(shù)表示，引用圖40表示的寫入功率-ΔNSYEQ特性，和對應(yīng)于預(yù)-儲存的優(yōu)選ΔNSYEQ值SK的寫入激光功率值Pt″作為最佳寫入激光功率值。
還有，為了從由EFM-解調(diào)測試記錄區(qū)的RF信號得到的信號檢測C1誤差值，和測定最佳寫入激光功率值，類似于利用幀同步信號檢測頻率測定最佳寫入激光功率值，接近于如圖41所示的寫入功率-C1誤差值特性的二次函數(shù)可以通過最小均方方法(由圖41所示的點劃線)獲得。例如，類似于利用幀同步信號的檢測頻率，微分所示的二次函數(shù)，并得到如圖42所示的寫入功率-ΔC1誤差特性。引用圖42所示的寫入功率-ΔC1誤差特性，并測定對應(yīng)于預(yù)-儲存的優(yōu)選的ΔC1誤差值的寫入激光功率值PCt作為最佳寫入激光功率值。
另外，在上述的改進(jìn)例中，利用最小均方方法獲得接近于寫入功率-幀同步信號檢測頻率的二次函數(shù)，或者寫入功率-誤差特性。在利用微分二次函數(shù)獲得的線性函數(shù)表示的ΔNSYEQ或ΔC1誤差特性指示優(yōu)選值時的寫入激光功率值作為最佳值。然而，可使用的方法包含獲得類似于上述的接近寫入功率-幀同步信號檢測頻率的二次函數(shù)；在由所獲得的二次函數(shù)(點劃線)的曲線和指示幀同步信號檢測頻率＝0的線所限定的部分區(qū)域設(shè)定為S時，測定具有區(qū)域S的40％的寫入激光功率值。在這種情況下，可以由先前的實驗獲得具有該區(qū)域比率的寫入激光功率值，并儲存由實驗結(jié)果獲得的區(qū)域比率。
另外，如圖44所示，代替前述的測定具有區(qū)域S的比率的最佳寫入激光功率值，獲得類似于如上述獲得的二次函數(shù)的曲線和表示預(yù)設(shè)的幀同步信號檢測頻率值(在本實施例中幀同步信號檢測頻率＝50)的線F50相交作為寫入激光功率值PSK，PSJ。并從這些值可以測定最佳寫入激光功率值。例如，如圖44所示，由下式得到最佳寫入激光功率值PS。
PS＝(PSJ-PSK)*0.4+PSK利用該等式，得到寫入激光功率值PSK和PSJ之間的值(PSJ的60％的值)作為相交值，是PSK的40％值，并可以作為最佳寫入激光功率值。
另外，使用檢測幀同步信號的檢測頻率和C1誤差值的方法，由最小均方法利用二次函數(shù)表示各特性，并對二次函數(shù)微分或得到由二次函數(shù)曲線包圍的區(qū)域，并獲得最佳寫入激光功率值，該方法不僅可用于如幀同步信號檢測頻率和C1誤差參數(shù)的測定，也可用于如抖動值參數(shù)的測定。D第四實施例下面將說明按照本發(fā)明第四實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置。按照第四實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)基本上類似于第二實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置，其不同點在于用控制器16測定最佳寫入激光功率值的方法上。所以，下面將參見圖45說明由第四實施例的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的控制器6測定最佳寫入激光功率值的方法，圖中表示用于測定最佳寫入激光功率值的過程的控制器16的功能結(jié)構(gòu)。
如圖45所示，第四實施例中的控制器45具有Δβ值儲存器300，β有效點檢測器301，和最佳寫入激光功率值測定部分302。
所述的β有效點檢測器301獲得指示寫入激光功率值和在正常記錄前從OPC得到的結(jié)果(多個激光功率值和對應(yīng)于各個激光功率值的β值)所表示在圖46上的β值之間關(guān)系的寫入功率-β特性。另外，如圖47所示，獲得指示每單位寫入激光功率值的β值改變量，即β值的微分值Δβ，和寫入激光功率值之間關(guān)系的寫入功率-Δβ特性。
所述的β有效點檢測器301檢測β值和寫入激光功率值之間關(guān)系中各部分的不同，即，依據(jù)寫入功率-Δβ特性的β值具有有效改變的β有效點和儲存在Δβ值儲存器300中的Δβ值信息。所述Δβ儲存300儲存用于檢測由先前的實驗獲得的β有效點的Δβ值的閾值BTS。如圖46所示，所述的β有效點BT是與其它部分相比具有較小Δβ值的部分。所以，可以將檢測的Δβ值小于儲存在Δβ儲存器300中的Δβ值的部分作為β有效點。在圖46的例子中，接近15-16mW的寫入激光功率值的部分是β有效點BT。從圖47可見，β值有效點的部分(接近寫入激光功率值的部分)的Δβ值小于任何其它部分的值。所述的β有效點檢測器301檢測Δβ值小于儲存在Δβ值儲存器300內(nèi)的Δβ值的閾值BTS的部分作為β有效點BT，并獲得對應(yīng)于該β值有效點BT的寫入激光功率值(下限值PBK至上限值PBJ)。
另外，除了用于檢測β值有效點BT的Δβ值的閾值BTS外，用于規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍的Δβ值的閾值BCS被儲存在Δβ值儲存器300內(nèi)。最佳寫入激光功率值測定部分參見圖47所示的寫入功率-Δβ特性，并規(guī)定寫入激光功率值的范圍(PBm1，PBm2)，其中Δβ值大于儲存在Δβ儲存器300中的閾值BCS。還有，最佳寫入激光功率值測定部分302測定寫入激光功率值，該值小于如上所述的由β有效點檢測器301獲得的對應(yīng)于β值有效點BT的寫入激光功率值PBK，并且屬于寫入激光功率值的范圍PBm1和PBm2，由此測定的寫入激光功率值作為最佳寫入激光功率值。
在第四實施例中的控制器16控制光盤記錄/再現(xiàn)裝置的各個裝置部件，使所述的記錄以上述測定的最佳寫入激光功率值進(jìn)行。為了對于具有β有效點特性的光盤進(jìn)行記錄，使所進(jìn)行記錄的光盤具有寫入激光功率值(在本實施例中為15.5mW，見圖47)對應(yīng)于β值具有有效改變的β值有效點的特性。因此，在某些情況下不能得到滿意的記錄水平。然而，在本實施例中，如上所述獲得Δβ值和檢測β有效點，使寫入激光功率值小于對應(yīng)于β有效點的寫入激光功率值時進(jìn)行記錄。所以，因為β有效點從而可以阻止記錄水平的變壞。
此外，在獲得Δβ值并用于測定最佳寫入激光功率值時，其它的參數(shù)(C1誤差值，幀同步信號檢測頻率，抖動值，偏差值，反射率)可用于測定最佳寫入激光功率值。例如，在除了Δβ值外還應(yīng)用幀同步信號檢測頻率的C1誤差值時，類似于第四實施例從寫入功率-Δβ特性獲得寫入激光功率值的可能范圍。還有，寫入激光功率值的可能范圍可以從寫入功率-C1誤差特性和寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性獲得。例如，如圖48所示，從寫入功率-C1誤差特性規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍Pm，以及從寫入功率-幀同步信號檢測頻率特性規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍SPm，還可以從寫入功率-Δβ特性規(guī)定寫入激光功率值的可能范圍PBm。在這種情況下，可以測定設(shè)在范圍Pm，SPm，BPm的疊加部分的范圍KPm內(nèi)的寫入激光功率值為最佳寫入激光功率值。E改進(jìn)例還有，本發(fā)明不限于上述的各種實施例，還可以作如下的各種改進(jìn)。
在各個實施例中，用恒定的線速度CLV方法進(jìn)行記錄，其中主軸馬達(dá)11以恒定的線速度驅(qū)動光盤D。然而，可以采用以恒定的角速度驅(qū)動光盤D的CAV方法進(jìn)行記錄。在采用恒定的角速度CAV方法進(jìn)行記錄時，在記錄位置趨于盤的外圓周側(cè)時，記錄線速度增加。所以，需要按照記錄線速度的改變來改變寫入激光功率值。因此，在進(jìn)行記錄時，所述的CAV方法包括在不同點實施例中，對于多個記錄線速度需進(jìn)行如上述的測定最佳寫入激光功率值的過程；獲得指示多個記錄速度和對應(yīng)于多個記錄速度的最佳寫入激光功率值之間關(guān)系的記錄速度-最佳寫入激光功率特性；引用所述的記錄速度-最佳功率特性；并按照記錄線速度的改變來改變最佳寫入激光功率值。
另外，在上述的第二和第三實施例和改進(jìn)例中，從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號獲得兩個或多個參數(shù)，例如β值和C1誤差值(第三實施例)，并將所獲得的參數(shù)引用測定最佳寫入激光功率值。然而，在檢測各個參數(shù)的電路的能力不足時，以及采用與以高速度記錄得到最佳寫入激光功率值的記錄速度相同的高速度再現(xiàn)記錄區(qū)時，則采用相同的時間測量多個參數(shù)的過程就不能跟上再現(xiàn)速度。因此，有時不能精確地從再現(xiàn)參數(shù)獲得諸如β值和C1誤差值。所以，需提出減少獲得參數(shù)的取樣周期(如，兩倍的周期)。然而，在獲得C1誤差值時，最大的C1誤差數(shù)是48(通常是98)，但存在精度方面的問題。
考慮到利用高速記錄的OPC，即以高記錄速度進(jìn)行OPC精確地獲得多個參數(shù)的困難，則以低于記錄速度的速度進(jìn)行再現(xiàn)，并從低的再現(xiàn)速度獲得的再現(xiàn)信號測量多個參數(shù)，從而可以更精確地得到多個參數(shù)。
另外，其它的方法包括以高速進(jìn)行OPC的記錄；將記錄區(qū)的再現(xiàn)進(jìn)行多次；并對多次再現(xiàn)所獲得的各個再現(xiàn)信號所測量的參數(shù)進(jìn)行平均，以提高參數(shù)的測量精度。還有，將第一再現(xiàn)信號只用于測量β值，而第二再現(xiàn)信號用于獲得C1誤差值。采用這種方法可以將每個所獲得的再現(xiàn)信號用于測量任一類的參數(shù)。當(dāng)然，可以采用低于記錄速度的速度進(jìn)行多個再現(xiàn)。
另外，在不同的實施例中，例如使用CD-R如同使用上述的光盤D一樣。然而，本發(fā)明也可用于CD-RW，DVD-R，DVD隨機(jī)存取儲存器(DVD-RAM)，相變-重寫的(PC-RW)等的記錄。
還有，對于用于執(zhí)行包括最佳寫入激光功率值的測定過程的記錄過程的控制器16可以由專用的硬件電路，中央處理單元(CPU)等構(gòu)成。當(dāng)執(zhí)行儲存器，例如只讀儲存器(ROM)儲存的程序時，由軟件實現(xiàn)處理過程。在用這種方式由軟件進(jìn)行處理過程時，可以將不同的記錄介質(zhì)，例如CD-ROM和其內(nèi)記錄由計算機(jī)實現(xiàn)處理的程序的軟磁盤提供給用戶，或者通過傳輸介質(zhì)例如互聯(lián)網(wǎng)將程序提供給用戶。
如上所述，按照本發(fā)明的第二方面，不管欲記錄各個光盤產(chǎn)品的差別，均可以減少產(chǎn)生記錄誤差。
權(quán)利要求
1.一種利用在光盤上寫入激光束測定信號的記錄速度的方法，所述的方法包含下述的步驟在實際記錄前以一個或者多個記錄速度在光盤的預(yù)定區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；利用從光盤的預(yù)定記錄區(qū)由讀出激光再現(xiàn)信號；依據(jù)再現(xiàn)信號產(chǎn)生以記錄速度為函數(shù)的第一特性，所述的第一特性表示激光束的光學(xué)特征和信號的記錄狀態(tài)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，所述的光學(xué)特征或者采用從光盤反射的激光束獲得的β值，或者采用寫入激光束的功率表示；依據(jù)定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選值從第一特性產(chǎn)生一第二特性，并使第二特性表示記錄速度和對應(yīng)于記錄狀態(tài)的定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選范圍的光學(xué)特征的可用范圍之間的關(guān)系；以及按照所述的第二特性和由優(yōu)選記錄狀態(tài)得到的光學(xué)特征的預(yù)定優(yōu)選范圍，測定記錄速度的優(yōu)選值。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包含對應(yīng)于多種類型的光盤儲存多個定性參數(shù)的優(yōu)選范圍和多個光學(xué)特征的優(yōu)選范圍，并在測試記錄時檢測光盤的類型，使產(chǎn)生第二特性的步驟依據(jù)光盤的檢測類型使用定性參數(shù)的光學(xué)范圍，以及使測定步驟依據(jù)光盤的檢測類型使用光學(xué)特征的優(yōu)選范圍。
3.權(quán)利要求1所述的方法，其中產(chǎn)生第一特性的步驟適合定性參數(shù)，該定性參數(shù)是從檢測包含在光盤再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的檢測頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號抖動，再現(xiàn)信號的偏差加至激光束的調(diào)制度，激光束從光盤的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等所組成的信號組所選擇的參數(shù)。
4.一種利用寫入激光束以一定的記錄速度將信號記錄至光盤上的裝置，該裝置包含一個測試記錄部分，在實際記錄前以一個或多個檔次的記錄速度在光盤的預(yù)定區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；一個再現(xiàn)部分，利用來自光盤的預(yù)定區(qū)的讀出激光束再現(xiàn)信號；一個第一產(chǎn)生部分，依據(jù)再現(xiàn)信號產(chǎn)生以記錄速度為函數(shù)的第一特性，所述的第一特性表示激光束的光學(xué)特征和信號的記錄狀態(tài)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，所述的光學(xué)特征或者采用從光盤反射的激光束獲得的β值，或者采用寫入激光束的功率表示；一個第二產(chǎn)生區(qū)，依據(jù)定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選值從第一特性產(chǎn)生一第二特性，第二特性表示記錄速度和對應(yīng)于記錄狀態(tài)的定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選范圍的光學(xué)特征的可用范圍之間的關(guān)系；以及一個測定部分，按照第二特性以及用于獲得優(yōu)選記錄狀態(tài)的光學(xué)特征的預(yù)定優(yōu)選范圍測定記錄速度的優(yōu)選值。
5.如權(quán)利要求5所述的裝置，還包含儲存部分，依據(jù)光盤的不同類型，儲存多個定性參數(shù)的優(yōu)選范圍和多個光學(xué)特征的優(yōu)選范圍；一個檢測部分，檢測測試記錄的光盤類型，使第二產(chǎn)生部分使用對應(yīng)于光盤的檢測類型的定性參數(shù)的光學(xué)范圍，而測定部分使用對應(yīng)于光盤類型的光學(xué)特征的優(yōu)選范圍。
6.如權(quán)利要求4所述的裝置，其中第一產(chǎn)生部分適合定性參數(shù)，該定性參數(shù)是從檢測包含在光盤再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的檢測頻率，以及包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號抖動，再現(xiàn)信號的偏差加至激光束的調(diào)制度，激光束從光盤的反射率和再現(xiàn)信號的幅度等參數(shù)所組成的參數(shù)組選擇。
7.如權(quán)利要求4所述的裝置，還包含一個設(shè)定部分，該部分由用戶操作用于設(shè)定所希望的記錄速度；以及一個判斷部分，該部分判斷是否可能按照記錄速度的測定的優(yōu)選值在光盤上實際記錄信號。
8.如權(quán)利要求7所述的裝置，還包含一個調(diào)節(jié)部分，在判斷部分判斷實際記錄由于所希望的記錄速度超過優(yōu)選的記錄速度時是否可能操作，該部分用于使所希望的記錄速度移到優(yōu)選的記錄速度之下，以此能夠進(jìn)行信號的記錄。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置，還包含一個預(yù)示部分，該部分預(yù)示以移動的記錄速度進(jìn)行記錄所需要的時間，以及一個指示部分，向用戶指示預(yù)示的時間。
10.如權(quán)利要求4所述的裝置，還包含一個確定部分，該部分在信號記錄時操作，用于選擇光盤以恒定的線速度轉(zhuǎn)動光盤的CLV方式驅(qū)動光盤，還是以恒定的角速度轉(zhuǎn)動光盤的CAV方式操作；以及一個控制部分，該部分控制驅(qū)動部分，按照測定的優(yōu)選記錄速度切換CLV方式和CAV方式操作。
11.一種用在光盤裝置中的計算機(jī)程序，所述的裝置具有處理器，用于以優(yōu)選的記錄速度由寫入激光束將信號記錄在光盤上，由處理器執(zhí)行計算機(jī)程序，使光盤裝置能夠執(zhí)行包含下述步驟的處理在時間記錄前，以一個或者多個記錄速度對光盤的記錄區(qū)上的信號進(jìn)行測試記錄；利用來自光盤的預(yù)定區(qū)的讀出激光束再現(xiàn)信號；依據(jù)再現(xiàn)信號產(chǎn)生以記錄速度為函數(shù)的第一特性，所述的第一特性表示激光束的光學(xué)特征和信號的記錄狀態(tài)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，所述的光學(xué)特征或者采用從光盤反射的激光束獲得的β值，或者采用寫入激光束的功率表示；依據(jù)定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選值從第一特性產(chǎn)生一第二特性，并使第二特性表示記錄速度和對應(yīng)于記錄狀態(tài)的定性參數(shù)的預(yù)定優(yōu)選范圍的光學(xué)特征的可用范圍之間的關(guān)系；以及按照所述的第二特性和由優(yōu)選記錄狀態(tài)得到的光學(xué)特征的預(yù)定優(yōu)選范圍，測定記錄速度的優(yōu)選值。
12.一種測定在光盤上記錄信號用的寫入激光束的功率的方法，包含在實際記錄前對光盤的預(yù)定記錄區(qū)上信號進(jìn)行測試記錄；從光盤的預(yù)定測試區(qū)的信號進(jìn)行再現(xiàn)；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，該特性表示Δβ和寫入激光束的功率之間的關(guān)系，Δβ表示單位寫入激光束的功率量的β值變化，而β值從再現(xiàn)信號的幅度變化得到；按照產(chǎn)生的記錄特性并利用Δβ的優(yōu)選范圍測定寫入激光束的優(yōu)選功率，該值用于實現(xiàn)優(yōu)選的記錄。
13.一種測定在光盤上記錄信號用的寫入激光束的功率的方法，包含在實際記錄前對光盤的預(yù)定記錄區(qū)上信號進(jìn)行測試記錄；從光盤的預(yù)定測試區(qū)的信號進(jìn)行再現(xiàn)；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，該特性表示寫入激光束的功率和至少一個與記錄的特性有關(guān)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，并從檢測包含在光盤的再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，以及包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，激光束從光盤的反射率和再現(xiàn)信號的幅度等所組成的參數(shù)組中選擇；以及按照所產(chǎn)生的記錄特性測定實際記錄中所用的寫入光束的優(yōu)選功率。
14.一種測定在光盤上記錄信號用的寫入激光束的功率的方法，包含在實際記錄前對光盤的預(yù)定記錄區(qū)上信號進(jìn)行測試記錄；從光盤的預(yù)定測試區(qū)的信號進(jìn)行再現(xiàn)；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，該特性表示寫入激光束的功率和一個與記錄的特性有關(guān)的定性參數(shù)之間的關(guān)系，并從檢測包含在光盤的再現(xiàn)信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，以及包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，激光束從光盤的反射率和再現(xiàn)信號的幅度等所組成的參數(shù)組中選擇；以及按照再現(xiàn)信號，產(chǎn)生其它的記錄特性，表示寫入激光束的功率和其它的定性參數(shù)之間的關(guān)系；以及按照所產(chǎn)生的記錄特性測定時間使用中寫入激光束的優(yōu)選功率。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，其中所述的產(chǎn)生步驟包含產(chǎn)生至少表示光束的功率和β值之間關(guān)系的記錄特性。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述的測定步驟包含，按照表示功率和β值之間關(guān)系的第一記錄特性的功率優(yōu)選值，和按照表示功率和不同于β值的有效參數(shù)之間關(guān)系的第二記錄特性測定功率的優(yōu)選范圍，以及測定是否所測定的大小包括在所測定的范圍內(nèi)。
17.如權(quán)利要求14所述的方法，其中所述的記錄步驟包含以小于測試記錄時的寫入信號速率的讀出速率再現(xiàn)信號的步驟。
18.如權(quán)利要求14所述的方法，其中再現(xiàn)步驟包含利用在測試區(qū)上進(jìn)行多次再現(xiàn)光道的步驟。
19.一種利用具有優(yōu)選功率的寫入光束在光盤上記錄信號的裝置，該裝置包含一個測試記錄部分，使得在實際記錄前在光盤的預(yù)定測試區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；一個再現(xiàn)部分，從光盤的預(yù)定測試區(qū)再現(xiàn)信號；一個產(chǎn)生部分，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生記錄特性，其表示Δβ和寫入光束的功率之間的關(guān)系，所述的Δβ旨示每單位寫入光束的功率量的β值，所述的β值從再現(xiàn)信號的幅度變化得到；以及一個測定部分，按照利用Δβ的優(yōu)選范圍產(chǎn)生的記錄特性測定寫入光束的優(yōu)選功率，以便實現(xiàn)優(yōu)選記錄。
20.一種利用具有優(yōu)選功率的寫入光束在光盤上記錄信號的裝置，該裝置包含一個測試記錄部分，使得在實際記錄前在光盤的預(yù)定測試區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；一個再現(xiàn)部分，從光盤的預(yù)定測試區(qū)再現(xiàn)信號；一個產(chǎn)生部分，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，其表示寫入光束和至少一個有效參數(shù)之間的關(guān)系，所述的有效參數(shù)與記錄質(zhì)量相關(guān)，并選擇由檢測包含在從光盤再現(xiàn)的信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，光束從光盤反射的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等組成的參數(shù)組中的參數(shù)；以及一個測定部分，按照所產(chǎn)生的記錄特性測定實際記錄中使用的寫入光束的優(yōu)選功率。
21.一種利用具有優(yōu)選功率的寫入光束在光盤上記錄信號的裝置，該裝置包含一個測試記錄部分，使得在實際記錄前在光盤的預(yù)定測試區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；一個再現(xiàn)部分，從光盤的預(yù)定測試區(qū)再現(xiàn)信號；一個產(chǎn)生部分，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，其表示寫入光束和一個有效參數(shù)之間的關(guān)系，所述的有效參數(shù)與記錄性能相關(guān)，有效參數(shù)選擇由檢測包含在從光盤再現(xiàn)的信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，光束從光盤反射的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等組成的參數(shù)組中的參數(shù)；其它產(chǎn)生部分，按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生其它記錄特性，其表示寫入光束的功率和其它有效參數(shù)之間的關(guān)系；以及一個測定部分，按照所產(chǎn)生的記錄特性測定實際記錄用的寫入光束的優(yōu)選功率。
22.一種用在光盤裝置中的計算機(jī)程序，所述的裝置具有一個利用具有優(yōu)選寫入光束功率將信號記錄在光盤上的處理器，并由處理器執(zhí)行計算機(jī)程序，使得光盤裝置能用于進(jìn)行處理，所述的處理步驟包括在實際記錄前在光盤的預(yù)定記錄區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；再現(xiàn)光盤的預(yù)定測試記錄區(qū)的信號；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生記錄特性，其表示Δβ和寫入光束的功率之間的關(guān)系，所述的Δβ表示每單位寫入光束功率量的β值變化，所述的β從再現(xiàn)信號的幅度的變化得到；以及按照所用的Δβ的優(yōu)選范圍產(chǎn)生的記錄特性測定寫入光束的優(yōu)選功率，其用于實現(xiàn)優(yōu)選的記錄。
23.一種用在光盤裝置中的計算機(jī)程序，所述的裝置具有一個利用具有優(yōu)選寫入光束功率將信號記錄在光盤上的處理器，并由處理器執(zhí)行計算機(jī)程序，使得光盤裝置能用于進(jìn)行處理，所述的處理步驟包括在實際記錄前在光盤的預(yù)定記錄區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；再現(xiàn)光盤的預(yù)定測試記錄區(qū)的信號；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，其表示寫入激光束的功率和至少與記錄性能有關(guān)的有效參數(shù)中的一個之間的關(guān)系，有效參數(shù)選擇由檢測包含在從光盤再現(xiàn)的信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，光束從光盤反射的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等組成的參數(shù)組中的參數(shù)；以及按照所產(chǎn)生的記錄特性測定用在實際記錄中的寫入光束的優(yōu)選功率。
24.一種用在光盤裝置中的計算機(jī)程序，所述的裝置具有一個利用具有優(yōu)選寫入光束功率將信號記錄在光盤上的處理器，并由處理器執(zhí)行計算機(jī)程序，使得光盤裝置能用于進(jìn)行處理，所述的處理步驟包括在實際記錄前在光盤的預(yù)定記錄區(qū)上進(jìn)行信號的測試記錄；再現(xiàn)光盤的預(yù)定測試記錄區(qū)的信號；按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生一記錄特性，其表示寫入激光束的功率和與記錄性能有關(guān)的有效參數(shù)中的一個之間的關(guān)系，有效參數(shù)選擇由檢測從再現(xiàn)信號的幅度變化得到的β值，包含在從光盤再現(xiàn)的信號內(nèi)的幀同步信號的頻率，包含在再現(xiàn)信號內(nèi)的C1誤差，再現(xiàn)信號的抖動，再現(xiàn)信號的偏差，加到激光束的調(diào)制度，光束從光盤反射的反射率以及再現(xiàn)信號的幅度等組成的參數(shù)組中的參數(shù)；以及按照再現(xiàn)信號產(chǎn)生其它的記錄特性，其表示寫入光束的功率和其它的有效參數(shù)之間的關(guān)系；以及按照所產(chǎn)生的記錄特性測定用在實際記錄中的寫入光束的優(yōu)選功率。
全文摘要
調(diào)整記錄速度和激光功率的光盤裝置,在正常記錄前對于光盤進(jìn)行測試記錄,并從測試記錄的結(jié)果得到用于將涉及記錄狀態(tài)水平的有效參數(shù)設(shè)定在優(yōu)選范圍內(nèi)的β值,于是可以使所得到的β值或者寫入激光功率值位于優(yōu)選值內(nèi)的記錄速度,并可以測定以小的記錄誤差實現(xiàn)滿意記錄的記錄速度,另外,可以從測試記錄區(qū)的再現(xiàn)信號得到寫入激光功率值和Δβ值之間的關(guān)系,并考慮該Δβ值測定寫入激光功率值,所以即使對于寫入激光功率值的β值具有有效改變的β點的特性的光盤也可測定進(jìn)行滿意記錄的寫入激光功率值。
文檔編號G11B7/125GK1372251SQ02102550
公開日2002年10月2日 申請日期2002年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2001年2月5日
發(fā)明者松本圭史 申請人:雅馬哈株式會社