觸摸面板用電極基板的檢查方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸摸面板用電極基板的檢查方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)在，以智能手機等便攜信息設(shè)備、自動售票機等自動販賣機為首的各種電子設(shè)備的觸摸面板的搭載正在快速進展中。最近，由于多點觸摸成為可能等原因，靜電電容方式的觸摸面板正在普及。
[0003]靜電電容式的觸摸面板具有多個X傳感器用電極和以在俯視時與X傳感器用電極正交的方式配置的多個Y傳感器用電極，通過將驅(qū)動信號提供給Y傳感器用電極，從X傳感器用電極取得傳感器信號，能檢測形成在X傳感器用電極和Y傳感器用電極之間的靜電電容，基于靜電電容的變化量算出檢測面中的檢測對象物的位置。
[0004]當在傳感器用電極(X傳感器用電極和/或Y傳感器用電極，以下相同)中產(chǎn)生斷線，或者在傳感器用電極間產(chǎn)生短路(漏電)時，不能檢測傳感器用電極間的靜電電容，不能算出檢測對象物的位置。因此，需要用于檢查觸摸面板是否正常工作的檢查工序。
[0005]在以往的檢查工序中，使用接觸式探頭檢查配置于傳感器基板的傳感器用電極的導(dǎo)通，其結(jié)果是，在發(fā)現(xiàn)傳感器用電極的斷線或者短路的情況下，判斷為該傳感器基板不良。
[0006]然而，上述檢查方法能基于傳感器用電極的斷線和短路判斷傳感器基板是否良好，但是不能準確地檢測傳感器用電極的太粗或太細。盡管傳感器用電極的太粗、太細對觸摸面板的檢測精度有很大影響，在以往的檢查方法也不能檢測。另外，例如，在檢查在菱形圖案的傳感器用電極之間設(shè)置有作為浮動電極的偽電極的結(jié)構(gòu)的傳感器基板的情況下，為了檢查傳感器用電極和偽電極的漏電，需要將接觸式探頭與各偽電極對準，檢查需要很多的時間。
[0007]專利文獻I的檢查方法是如下方法:使形成有相互正交的第I傳感器用電極和第2傳感器用電極的被檢查樣品(傳感器模塊)與具備檢查用電極的檢查夾具相對，將檢查用電極轉(zhuǎn)換到任意的固定電位，由此模擬地形成檢測對象物接觸傳感器模塊的狀態(tài)，基于傳感器模塊和檢查夾具之間的靜電電容的變化量，檢測由傳感器用電極的斷線等引起的不良。
[0008]由此，能進行每個檢查都不產(chǎn)生判斷的偏差的檢查。
[0009]現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0010]專利文獻
[0011]專利文獻1:日本公開專利公報“特開2010-86026號公報(2010年4月15日公開)，，

【發(fā)明內(nèi)容】

_2] 發(fā)明要解決的問題
[0013]然而，在專利文獻I的檢查方法中，為了模擬地形成手指接觸的狀態(tài)，檢查用電極能轉(zhuǎn)換到任意的固定電位，使用第I傳感器用電極和第2傳感器用電極來探測傳感器模塊和檢查夾具之間的靜電電容的變化量。
[0014]因此，專利文獻I的檢查方法是能對形成有第I傳感器用電極和第2傳感器用電極的狀態(tài)的傳感器模塊進行的檢查。即，在對包括形成有X傳感器用電極的第I傳感器基板和形成有Y傳感器用電極的第2傳感器基板的觸摸面板進行檢查的情況下，在專利文獻I的檢查方法中，在將第I傳感器基板和第2傳感器基板貼合之前，不能對一方傳感器基板進行檢查。其結(jié)果是，產(chǎn)生合格率降低的問題。
[0015]另外，如專利文獻I那樣在模擬地形成檢測對象物被接觸的狀態(tài)的檢查方法中，檢查用電極的形狀、檢查夾具和傳感器模塊之間的距離等各種外在因素對檢查結(jié)果有影響，因此檢測影響檢測分辨率、位置精度的傳感器用電極間的微小的電容差是困難的，不能進行高精度的檢查。
[0016]本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提供能進行高精度的檢查并且能提高合格率的觸摸面板的檢查方法。
_7] 用于解決問題的方案
[0018]為了解決上述問題，本發(fā)明的一方式的觸摸面板的檢查方法是具有在大致同一方向上延伸的多個傳感器用電極的觸摸面板的檢查方法，包含:第I步驟，在上述傳感器用電極和檢查用電極之間形成了靜電電容的狀態(tài)下，向上述傳感器用電極和上述檢查用電極中的某一方提供驅(qū)動信號；第2步驟，從上述傳感器用電極和上述檢查用電極中的另一方取得基于上述驅(qū)動信號和上述靜電電容生成并且與各上述傳感器用電極對應(yīng)的多個傳感器信號；以及第3步驟，基于上述傳感器信號探測上述傳感器用電極的狀態(tài)。
_9]發(fā)明效果
[0020]根據(jù)本發(fā)明的一方式，能提供能進行高精度的檢查并且能提高合格率的觸摸面板的檢查方法。
【附圖說明】
[0021]圖1是表示觸摸面板的構(gòu)成的框圖。
[0022]圖2是表示觸摸面板的傳感部的構(gòu)成的立體圖，(a)表示第I傳感器基板和第2傳感器基板重疊的狀態(tài)，(b)是第I傳感器基板，(C)是第2傳感器基板。
[0023]圖3是表示觸摸面板的構(gòu)成例的截面圖，(a)表示2G式觸摸面板的截面，(b)表示GFF式的觸摸面板的截面。
[0024]圖4是本發(fā)明的實施方式I的檢查方法中使用的檢查基板的立體圖。
[0025]圖5是表示在本發(fā)明的實施方式I的檢查方法中使第I傳感器基板和檢查基板相互相對的狀態(tài)的立體圖。
[0026]圖6是表示在本發(fā)明的實施方式I的另一檢查方法中使第I和第2傳感器基板與檢查基板相互相對的狀態(tài)的立體圖。
[0027]圖7是本發(fā)明的實施方式2的檢查方法中使用的檢查基板的立體圖。
[0028]圖8是表示在本發(fā)明的實施方式2的檢查方法中使第I傳感器基板和檢查基板相互相對的狀態(tài)的立體圖。
[0029]圖9是表示在本發(fā)明的實施方式2的另一檢查方法中使第I傳感器基板和檢查基板相互相對的狀態(tài)的立體圖。
[0030]圖10是表示各交叉部的靜電電容的大小的2維圖的例子。
[0031]圖11是表示各交叉部的靜電電容的大小的2維圖的另一例。
[0032]圖12是表示使用2維圖的不良部位的確定方法的圖，(a)是表示各交叉部的靜電電容的大小的2維圖的例子，(b)表示傳感器用電極和偽電極的短路部位。
[0033]圖13是表示基于2個傳感器基板的靜電電容的比較結(jié)果的不良部位的確定方法的圖，(a)表示檢查對象的傳感器基板的各交叉部的靜電電容的大小，(b)表示比較用傳感器基板的各交叉部的靜電電容的大小，(C)表示傳感器基板的各交叉部的靜電電容和比較用傳感器基板的各交叉部的靜電電容的差。
[0034]圖14是用于說明本發(fā)明的實施方式3的檢查方法的基材膜和檢查基板的截面圖，
(a)表示基材膜和檢查基板不緊貼的狀態(tài)，(b)表示基材膜和檢查基板緊貼的狀態(tài)。
[0035]圖15是用于說明本發(fā)明的實施方式3的另一檢查方法的基材膜和檢查基板的截面圖，(a)表示基材膜和檢查基板不緊貼的狀態(tài)，(b)表示基材膜和檢查基板緊貼的狀態(tài)。
【具體實施方式】
[0036]〔實施方式I〕
[0037]以下，基于圖1?6詳細說明本發(fā)明的實施方式。
[0038]<觸摸面板的構(gòu)成>
[0039]首先，說明在本實施方式的檢查方法中作為檢查的對象的觸摸面板的基本構(gòu)成。
[0040]圖1是表示觸摸面板的構(gòu)成的框圖。
[0041]觸摸面板I具有:傳感部2，其探測用戶的手指等檢測對象物的接觸或者接近；控制部3，其算出傳感部2中的檢測對象物的接觸(接近)位置；以及主機終端4。
[0042]傳感部2以覆蓋顯示裝置5的顯示面的方式設(shè)置，構(gòu)成觸摸面板I的檢測面。傳感部2具備觸摸面板用電極基板，上述觸摸面板用電極基板具有:相互在大致同一方向上延伸的多個X傳感器用電極12 ;以及在俯視時與X傳感器用電極12正交的多個Y傳感器用電極22。X傳感器用電極12和Y傳感器用電極22隔開規(guī)定的間隔地配置，在X傳感器用電極12和Y傳感器用電極22之間形成靜電電容。
[0043]控制部3具有驅(qū)動線驅(qū)動部31、放大部32、信號取得部33、A/D變換部34、解碼處理部35、檢測基準設(shè)定部36以及位置信息生成部37。
[0044]各Y傳感器用電極22與驅(qū)動線驅(qū)動部31連接，驅(qū)動線驅(qū)動部31依次或者同時向各Y傳感器用電極22提供驅(qū)動信號。由此，Y傳感器用電極22作為驅(qū)動線發(fā)揮功能。此夕卜，例如通過向各Y傳感器用電極22施加脈沖狀的電壓來進行驅(qū)動信號的提供。
[0045]X傳感器用電極12與放大部32連接。放大部32從各X傳感器用電極12取得驅(qū)動信號和以X傳感器用電極12和Y傳感器用電極22之間的靜電電容為基礎(chǔ)的傳感器信號。上述靜電電容根據(jù)檢測對象