面板時間延遲檢測電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種觸控面板，且特別是一種應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路。
【背景技術(shù)】
[0002]請參照圖1，圖1是傳統(tǒng)的電容觸控面板的示意圖。觸控面板I包括觸控界面11、驅(qū)動電路12與檢測電路13。觸控界面11通常具有多個彼此交錯的電極，驅(qū)動電路12提供驅(qū)動信號TX至觸控界面11的其中一個軸向的電極。檢測電路13則用以檢測觸控界面11的另一個軸向的電極的電容值(或電容值變化)。例如:如圖1所示，檢測電路13檢測觸控界面11的另一個軸向的電極的電容基線檢測信號RX。因為觸控界面11的尺寸，不同位置的電極所受到驅(qū)動信號TX和產(chǎn)生電容基線檢測信號RX的信號傳遞路徑不僅不相同，路徑長度也不相同。依據(jù)信號傳遞的不同長度，雖然使用相同的驅(qū)動信號TX，不同路徑長度所造成的電阻-電容延遲(RC delay)(或稱為時間延遲)會不同，使得所產(chǎn)生的電容基線檢測信號RX會有明顯差異。
[0003]請同時參照圖1和圖2，圖2是傳統(tǒng)的電容觸控面板的電容基線檢測信號與校正信號的波形圖。如圖1所示，路徑Pl的長度明顯比路徑P2的長度還短，因此，在時間軸上，檢測電路13所量到對應(yīng)于路徑Pl的檢測信號會早于對應(yīng)于路徑P2的檢測信號。另外，具有較短路徑的檢測信號可能會較短促(rush)且具有較大的峰值。如圖2所示，路徑Pl的信號的峰值大于路徑P2的信號的峰值，且相對而言路徑P2的信號較平緩。另外，較短路徑所對應(yīng)的檢測信號的信號變化范圍可能會較容易超出電路預(yù)設(shè)的動態(tài)范圍(dynamic range)。如圖2所示，在臨界值Th以下的信號變化范圍是預(yù)設(shè)的動態(tài)范圍，路徑Pl的信號的一部分大于臨界值Th,此部分是溢出信號(overflow或loss signal),傳統(tǒng)的檢測電路13會把溢出信號截掉，使得檢測信號造成失真。
[0004]為了達(dá)到基線校正的目的，傳統(tǒng)的作法是提供一個校正信號，對每一個不同路徑的檢測信號做校正，如圖2所示的校正信號的波形，校正信號的波形是在檢測信號的時間軸的位置提供一個抑制(或扣抵)的信號，例如圖2的校正信號由第一電平Va改變?yōu)榈诙娖絍b。不論是路徑Pl或路徑P2都可減去一個相同的校正信號，避免產(chǎn)生檢測信號超出動態(tài)范圍的情況。然而，不同路徑的檢測信號在時間軸上的位置并不相同，使得校正信號可能無法對應(yīng)不同路徑所產(chǎn)生的位于不同時間軸上的檢測信號。因此，由于觸控面板的尺寸對檢測信號的路徑所造成的差異，傳統(tǒng)的校正方式不容易對觸控面板上所有路徑的檢測信號進(jìn)行校正。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實施例提供一種應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，以對觸控面板進(jìn)行實時的基線校正。
[0006]本發(fā)明實施例提供一種應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，包括檢測放大器、比較器以及校正單元。檢測放大器接收來自觸控面板的電極的電容基線檢測信號，檢測放大器將電容基線檢測信號轉(zhuǎn)換為檢測結(jié)果信號。比較器耦接檢測放大器，并將檢測結(jié)果信號與參考信號做比較，據(jù)此產(chǎn)生比較信號。校正單元耦接檢測放大器以及比較器，校正單元依據(jù)比較信號產(chǎn)生控制信號，并將控制信號傳送至檢測放大器，用以控制檢測放大器校正檢測結(jié)果信號。當(dāng)檢測結(jié)果信號大于參考信號時，檢測放大器依據(jù)控制信號而將電容基線檢測信號減去校正信號，以使檢測放大器產(chǎn)生的檢測結(jié)果信號低于一臨界值。
[0007]綜上所述，本發(fā)明實施例提供一種應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路，其可對觸控面板進(jìn)行實時的基線校正。所述面板時間延遲檢測電路可提供電阻-電容延遲的實時監(jiān)測，且是自動的、適應(yīng)性的校正。所述面板時間延遲檢測電路是獨立的檢測機(jī)制，方便地結(jié)合至現(xiàn)有的觸控面板的檢測電路的架構(gòu)中。
[0008]為使能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，但是此等說明與所附圖式僅是用來說明本發(fā)明，而非對本發(fā)明的權(quán)利要求范圍作任何的限制。
【附圖說明】
[0009]圖1是傳統(tǒng)的電容觸控面板的示意圖。
[0010]圖2是傳統(tǒng)的電容觸控面板的電容基線檢測信號與校正信號的波形圖。
[0011]圖3是本發(fā)明實施例提供的應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。
[0012]圖4是本發(fā)明另一實施例提供的應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。
[0013]【符號說明】
[0014]1:觸控面板
[0015]11:觸控界面
[0016]12:驅(qū)動電路
[0017]13:檢測電路
[0018]P1、P2:路徑
[0019]TX、Vdrv:驅(qū)動信號
[0020]RX、SS:電容基線檢測信號
[0021]Th:臨界值
[0022]E:電極
[0023]C、Cm、Cint:電容
[0024]3、4:面板時間延遲檢測電路
[0025]31,41:檢測放大器
[0026]32、42:比較器
[0027]33,43:校正單元
[0028]34:模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器
[0029]Vout:檢測結(jié)果信號
[0030]Vref:參考信號
[0031]Kflag:比較信號
[0032]CK:控制信號
[0033]Dout:數(shù)字信號
[0034]415:電流鏡單元
[0035]411:第一電流源
[0036]412:第二電流源
[0037]413:第一開關(guān)
[0038]414:第二開關(guān)
[0039]Il:第一電流
[0040]12:第二電流
[0041]A:第一端
[0042]B:第二端
[0043]VDD:供應(yīng)電壓
[0044]N1、N2、N3:N 型晶體管
[0045]P1、P2、P3:P 型晶體管
[0046]biasa、biasb:偏壓
[0047]GND:接地
【具體實施方式】
[0048]〔應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的實施例〕
[0049]請參照圖3，圖3是本發(fā)明實施例提供的應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路的電路圖。應(yīng)用于觸控面板基線校正的面板時間延遲檢測電路3包括檢測放大器31、比較器32、校正單元33與模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器34。
[0050]檢測放大器31連接觸控面板的電極，在此的觸控面板是電容式觸控面板。檢測放大器31檢測觸控面板的電極的電容，所述電容可以是自容或互容。如圖3所示，電容C的一端接收驅(qū)動信號Vdrv，電容C的另一端連接電極E，電極E以電路的節(jié)點表示，其代表觸控面板的其中一個電極。本發(fā)明并不限定所述電極的形狀，面板時間延遲檢測電路3是用于連接至電極E以檢測電容值。
[0051]比較器32耦接檢測放大器31，校正單元33耦接檢測放大器31以及比較器32。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器34耦接檢測放大器31。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器34將檢測放大器31產(chǎn)生的檢測結(jié)果信號Vout轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號Dout。在本實施例中，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器34隨著觸控面板所使用的觸控檢測的算法而設(shè)計，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以根據(jù)實際需要而改變模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器34，本發(fā)明并不因此限定。
[0052]檢測放大器31接收來自觸控面板的電極E的電容基線檢測信號SS，檢測放大器31將電容基線檢測信號SS轉(zhuǎn)換為檢測結(jié)果信號Vout。比較器32將檢測結(jié)果信號Vout與參考信號Vref做比較，據(jù)此產(chǎn)生比較信號Kf lag。校正單元33依據(jù)比較信號Kflag產(chǎn)生控制信號CK，并將控制信號CK傳送至檢測放大器31，用以控制檢測放大器31校正檢測結(jié)果信號Vout。
[0053]檢測放大器31可以是電流放大器。在本實施例中，檢測放大器31所接收的電容基線檢測信號SS為電流形式。然而，本發(fā)明并不限定檢測放大器31的類型，