專利名稱：用于在線測試的自動化調(diào)試和優(yōu)化的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在線測試(in-circuit test)，更具體而言，涉及用于在線測試的自動化調(diào)試和優(yōu)化的方法和裝置。
背景技術(shù)：
對利用計算機(jī)系統(tǒng)來收集、處理和分析數(shù)據(jù)的日漸增高的依賴性使得系統(tǒng)裝配工藝和相關(guān)聯(lián)的硬件不斷改進(jìn)。隨著集成電路的速度和密度上的改進(jìn)，設(shè)計和測試這些集成電路的成本和復(fù)雜度顯著增加。當(dāng)前，大的復(fù)雜工業(yè)集成電路測試器(在工業(yè)中通常稱為“自動化測試設(shè)備”或“ATE”)進(jìn)行集成電路器件的復(fù)雜測試，所述集成電路器件例如有集成電路、印刷電路板(PCB)、多芯片模塊(MCM)、片上系統(tǒng)(SOC)器件、印刷電路組件(PCA)等。必須進(jìn)行的測試除了別的以外還可包括在線測試(ICT)、功能測試和結(jié)構(gòu)測試，并且必須進(jìn)行的測試被設(shè)計來驗證待測器件(DUT)的適當(dāng)結(jié)構(gòu)性能、操作性能和功能性能。
自動化測試的一個示例是執(zhí)行在線測試。在線測試驗證印刷電路板(PCB)上的組件的適當(dāng)電連接，并且在線測試通常是使用釘床夾具(bed-of-nail fixture)或者機(jī)器人飛針(robotic flying-prober)(可被編程移動的一組探針)來進(jìn)行的。釘床夾具/機(jī)器人飛針探測待測器件的節(jié)點，施加一組激勵(stimuli)，然后接收測量響應(yīng)。分析器處理測量響應(yīng)，以確定測試是通過了還是失敗了。
典型的在線測試將覆蓋數(shù)千種器件，包括電阻器、電容器、二極管、晶體管、電感器等。測試通常經(jīng)由某種類型的用戶接口而被傳遞到測試器。通常，用戶接口允許技術(shù)人員輸入用于每種類型設(shè)備的各種配置和參數(shù)，以自動生成用于該類型設(shè)備的測試。但是，由于各種原因，所述自動生成的測試常常有相當(dāng)大的百分比(例如，20％)是有錯誤的，因為當(dāng)在已知良好的待測器件上執(zhí)行所述自動生成的測試時，該測試不能確定待測器件或組件的狀態(tài)。很明顯，對于包括上千個組件的待測器件，這導(dǎo)致大量的測試必須被手動修正。專家技術(shù)人員通常知道如何修正出錯的測試。但是，由于存在如此多的需要修正的“出錯”測試，因此大量時間(因而代價高昂)可能被耗費在測試調(diào)試和優(yōu)化上，而不是花費在器件本身的實際測試上。從而，存在下述技術(shù)需求，即抽取并自動化測試技術(shù)人員的專家知識，以修正和優(yōu)化集成電路測試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種用于自動調(diào)試和優(yōu)化在線測試的方法和裝置，所述在線測試用于在自動化測試器上測試待測器件。所述新的測試調(diào)試和優(yōu)化技術(shù)抽取容納在知識框架中的專家知識，并自動化制定有效穩(wěn)定的測試用于在集成電路測試器上執(zhí)行。根據(jù)本發(fā)明，在線測試器包括自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)，該自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)接收集成電路測試，并且對該測試進(jìn)行調(diào)試以及優(yōu)選地進(jìn)行優(yōu)化，以確保該測試將至少滿足有效性和穩(wěn)定性要求。該自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)包括自動調(diào)試控制器，該自動調(diào)試控制器具有測試制定引擎(test formulation engine)，該測試制定引擎訪問與待測器件相關(guān)聯(lián)的知識框架以制定和打包有效穩(wěn)定的測試用于測試待測器件，所述測試優(yōu)選地是被優(yōu)化的測試。自動調(diào)試控制器對與對應(yīng)于要被測試進(jìn)行測試的組件的活動(active)規(guī)則集相關(guān)聯(lián)的許多規(guī)則進(jìn)行迭代。規(guī)則定義了動作和有效性標(biāo)準(zhǔn)，以及優(yōu)選地定義了穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)。新制定的所提出的測試是基于給定的規(guī)則而生成的，并且在測試頭中被測試，以確認(rèn)所提出的測試是否滿足有效性標(biāo)準(zhǔn)以及優(yōu)選地是否滿足穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)。一旦所提出的測試已被發(fā)現(xiàn)滿足所要求的標(biāo)準(zhǔn)，則該測試優(yōu)選地被用來替換原來提供的測試。如果要進(jìn)行優(yōu)化，則自動調(diào)試控制器基于知識框架生成所有可能的所提出測試，并且選擇最好地滿足有效性和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)的所提出測試。


通過結(jié)合附圖參考下面的詳細(xì)說明，本發(fā)明的更完全理解以及本發(fā)明的許多附帶優(yōu)點將變得更好理解因而將很清楚，在所述附圖中，類似的參考符號指示相同或者相似的組件，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的自動化測試系統(tǒng)的示意性框圖；圖2是現(xiàn)有技術(shù)測量電路的示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)的框圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明的知識框架的框圖；圖5是規(guī)則的結(jié)構(gòu)圖；圖6是由本發(fā)明的自動調(diào)試控制器的測試制定引擎執(zhí)行的方法的流程圖；以及圖7是示例規(guī)則集的示例處理圖。
具體實施例方式
現(xiàn)參考本發(fā)明，圖1是根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的自動化測試系統(tǒng)2的示意性框圖。如圖所示，測試系統(tǒng)2包括支持夾具6的測試頭8和自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)10，其中在夾具6上安裝了容納或者實現(xiàn)待測器件(DUT)4的印刷電路板(PCB)。測試頭8包括控制器26、測試配置電路20和測量電路28。例如針床夾具之類的夾具6是針對每個PCB布線圖定制的，并且包括多個探針12，所述多個探針12在待測器件4被適當(dāng)?shù)匕仓迷趭A具6上時電連接到待測器件4的節(jié)點。探針12經(jīng)由夾具6被耦合到接口引腳14。
測試配置電路20包括繼電器18的矩陣16，測試配置電路20是經(jīng)由控制總線22上的控制器26可編程的，以斷開和/或閉合矩陣16中的每個繼電器18，從而獲得測試頭8的接口引腳14和測試頭8內(nèi)部的一組測量總線24之間的任何期望的連接。測量總線24被電連接到測量電路28的節(jié)點。測量電路28的被連接到一組測試總線24的特定節(jié)點可以在測量電路28的內(nèi)部被硬連線(hardwire)，或者可經(jīng)由繼電器的另一可編程矩陣(未示出)來配置?？刂破?6從自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)10接收測試設(shè)置指令，以對矩陣16(以及其它繼電器矩陣，如果有的話)進(jìn)行編程，從而獲得待測器件4和測量電路28之間的一組期望連接路徑。自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)10對要在待測器件4上執(zhí)行的在線測試進(jìn)行調(diào)試和/或優(yōu)化，將在下文中詳細(xì)描述自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)10。
圖2示出了現(xiàn)有技術(shù)的測量電路28的示例性例子30。測量電路30被稱為“雙線”測量電路。測量電路30包括運算放大器32，運算放大器32的正輸入端46被耦合到地，負(fù)輸入端48被耦合到輸入節(jié)點I40。參考電阻器Rref42被耦合在運算放大器32的輸出節(jié)點Vo44和輸入節(jié)點I40之間。DUT4上被表征為未知阻抗Zx的待測組件38被耦合到輸入節(jié)點I40和源輸入節(jié)點S36之間。源輸入節(jié)點36由電壓激勵源34提供的已知參考電壓Vs來激勵。如果假定是理想的運算放大器電路，則通過待測組件38的未知阻抗Zx的電流應(yīng)該等于通過參考電阻器Rref42的電流，并且在負(fù)輸入端48維持虛接地。如本領(lǐng)域所公知的，在理想的運算放大器電路中，理論上的阻抗計算為Zx＝-Rref(Vs/Vo)當(dāng)測試諸如電阻器的電阻性模擬組件時，使用精確DC電壓激勵源34和輸出節(jié)點Vo44處的DC檢測器來確定輸出電壓的電阻性分量(resistivecomponent)。當(dāng)測試諸如電容器和電感器的電抗性模擬組件時，使用精確AC電壓激勵源34和輸出節(jié)點Vo44處的相位同步檢測器來確定輸出電壓的電抗性分量。
在本發(fā)明的范圍外的其它測量通常被用來降低保護(hù)錯誤(guarderror)和補(bǔ)償引線阻抗。為了進(jìn)行一組測量，通過下述操作來建立從DUT4上的待測組件38到測量電路28的連接路徑，即對繼電器矩陣16進(jìn)行編程以配置繼電器18，使得將針床夾具6的探針12經(jīng)由內(nèi)部測量總線20電連接到測量電路28，其中針床夾具6的探針12被電連接到待測器件4上的節(jié)點。在圖2的示例性測量電路30中，內(nèi)部測量總線包括分別被電連接到S節(jié)點36和I節(jié)點40的S總線和I總線。在測試建立期間，在對待測組件38進(jìn)行測試之初，對從待測器件4到測量電路28的內(nèi)部測量總線20的連接進(jìn)行編程。在已建立起連接之后，在等待繼電器連接的固有延遲完成之后，測量電路28可以得到對待測組件38的實際測試測量。當(dāng)測試完結(jié)時，繼電器連接都被初始化到已知狀態(tài)，以為開始下一測試做準(zhǔn)備。
圖2中所描述的測量電路30僅用于示例的目的。圖2圖示了示例硬件連接，具體地即圖1的測量電路28，其必須由在線ATE提供以進(jìn)行在特定器件上的在線測試，在此示例中，所述特定器件被表征為未知阻抗Zx。但是，應(yīng)該理解，一般的在線測試將覆蓋數(shù)千個器件，包括電阻器、電容器、二極管、晶體管、電感器等。
現(xiàn)參考本發(fā)明，在圖3中更詳細(xì)地示出了并且在圖6中的操作中描述了圖1的自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)10的示例性實施例100。如圖3所示，自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100優(yōu)選地包括測試頭監(jiān)督器104、自動調(diào)試控制器106、知識框架120、發(fā)送隊列112和結(jié)果屬性監(jiān)聽器114。
測試頭監(jiān)督器104接收測試102以進(jìn)行調(diào)試/優(yōu)化。測試102可以是從交互式圖形用戶界面測試建立程序接收的，或者從測試文件輸入裝置接收的。下面是用于電阻器件族的源文件R208.dat的示例。
R208.dat?。。?！2 0 1 1021582599 0000！IPGrev 05.00pd Thu May 16 14:56:40 2002！公共引線電阻500m，公共引線電感1.00u！夾具EXPRESS斷開所有連接將s連接到“R208-1”；將a連接到“R208-1”將i連接到“R208-2”；將b連接到“R208-2”電阻器10，12.8，3.75，rel，ar100m，sa，sb，en！“r208”是受限測試。
！DUT標(biāo)稱10，正公差1.00％，負(fù)公差1.00％！DUT高10.1，低9.9！測試高限11.276，低限9.625！公差乘數(shù)5.00！允許遙測由測試器接收到的測試102通常將被包裝成數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)形式，其包括要被調(diào)試的測試的源文件中容納的信息，也包括諸如器件名稱的其它信息等等。
通常，測試102將是要被調(diào)試/優(yōu)化的有缺陷的在線測試，例如下述測試，即當(dāng)對已知良好的板進(jìn)行測試時(即，當(dāng)已知該組件是良好的因而測試應(yīng)該使該組件通過時)，測試表明該組件不合格或者不能確定該測試的一個或多個參數(shù)的狀態(tài)。每個測試102測試被安裝在測試器上的DUT 4上的單個個體組件，并且每個測試102是測試源文件的表示，其中所述測試源文件已被準(zhǔn)備好(即，已被編譯成目標(biāo)代碼，因而不再是ASCII文本可讀格式)在測試頭8上的不同處理器上運行/執(zhí)行。
測試頭監(jiān)督器104本質(zhì)上是測試頭8和自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100之間的接口，其目的是保護(hù)測試頭資源以免過載。在優(yōu)選實施例中，測試頭8本身是單個處理資源；因此，測試頭8在任何給定的時間槽(time slot)中僅能執(zhí)行單件工作。測試頭監(jiān)督器104操作來通過監(jiān)控測試頭8資源的分配而保護(hù)測試頭。在優(yōu)選實施例中，測試頭監(jiān)督器104被實現(xiàn)為Java線程，該Java線程處理要被發(fā)送到測試頭8的各種工作。當(dāng)測試頭監(jiān)督器104接收要被調(diào)試/優(yōu)化的測試102時，其激活自動調(diào)試控制器106。激活的方法取決于自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100的具體實現(xiàn)。例如，自動調(diào)試控制器106可以被實現(xiàn)為接收測試102(或者指向測試102的指針)作為參數(shù)的靜態(tài)過程函數(shù)。在另一實施例中，自動調(diào)試控制器106被實現(xiàn)為具有單獨處理器和存儲器的硬件，其中存儲器用于存儲實現(xiàn)自動調(diào)試控制器106的功能的程序指令。在優(yōu)選實施例中，測試頭監(jiān)督器104創(chuàng)建自動控制器106對象的實例，并且將所接收的測試102傳遞給所創(chuàng)建的實例，所述實例的生存期起始于測試頭監(jiān)督器104進(jìn)行實例化之時，而終止于對所接收測試102的調(diào)試/優(yōu)化過程完成之時。
自動調(diào)試控制器106包括測試制定引擎108，在自動調(diào)試控制器106的生存期期間，該測試制定引擎108生成一個或多個所提出的理論上無缺陷的測試109，所述測試109準(zhǔn)備好由測試頭8執(zhí)行。在生成所提出的理論上無缺陷的測試109時，測試制定引擎108訪問知識框架120來確定要采取的適宜動作、有效性標(biāo)準(zhǔn)和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)。
知識框架120容納關(guān)于要在DUT4上測試的各種組件的測試知識，所述測試知識允許自動調(diào)試控制器106確定如何對給定的測試進(jìn)行制定和包裝。在圖4中圖示了知識框架120的優(yōu)選實施例的更詳細(xì)的框圖。如其中所示，知識框架120包括一個或多個規(guī)則集122a、122b、…、122m。每個規(guī)則集122a、122b、…、122m與一個或者多個規(guī)則124a_1、124a_2、…、124a_i、124b_1、124b_2、…、124b_j、124m_1、124m_2、…、124m_k相關(guān)聯(lián)。圖5圖示了每個規(guī)則124a_1、124a_2、…、124a_i、124b_1、124b_2、…、124b_j、124m_1、124m_2、…、124m_k的結(jié)構(gòu)124。如圖5所示，每個規(guī)則優(yōu)選地包括三個組元(component)，即包括動作組元130、有效性測試組元132和穩(wěn)定性測試組元134(例如，過程能力指數(shù)(CPK))。
動作組元130代表調(diào)試/優(yōu)化策略。動作組元130可以實現(xiàn)或者指向諸如要被執(zhí)行的庫函數(shù)的代碼。
有效性組元132包括或者指向下述測試或者算法，所述測試或者算法將期望結(jié)果和由測試器測量得到的實際結(jié)果相比較。通常有效性測試組元132將包括多個期望的參數(shù)值以和所接收的參數(shù)值進(jìn)行驗證，以驗證所提出的理論上無缺陷的測試109是否合格。
穩(wěn)定性測試組元134被實施來驗證測試的魯棒性(robustness)。在操作期間，只有有效性測試通過才進(jìn)行穩(wěn)定性測試組元134。通過多次應(yīng)用有效性測試以收集其統(tǒng)計值(例如，過程能力指數(shù)CPK)來實施穩(wěn)定性測試。CPK是測量結(jié)果，其指示從知識框架120中導(dǎo)出的所制定測試的穩(wěn)定性級別。
對于要在DUT4上測試的每個可能的組件(例如，電阻器、電容器、二極管、FET、電感器等等)，知識框架120都包括對應(yīng)的規(guī)則集。自動調(diào)試控制器106在活動規(guī)則集的級別上工作。每個器件/組件族可以具有許多規(guī)則集，但是在任一給定時刻，知識框架120中只有一個規(guī)則集可以是活動的。自動調(diào)試控制器106中的測試制定引擎108對每個器件/組件族僅執(zhí)行該活動規(guī)則集中的規(guī)則。
每個規(guī)則集122中的一組規(guī)則124根據(jù)預(yù)定的優(yōu)先級順序被排序。測試制定引擎108根據(jù)預(yù)定的優(yōu)先級順序執(zhí)行規(guī)則集內(nèi)的規(guī)則。具體而言，測試制定引擎108基于活動規(guī)則集122的當(dāng)前所選規(guī)則124的有效性組元132和動作組元130生成測試頭應(yīng)該獲得的參數(shù)/測量的列表。此參數(shù)/測量列表代表該測試的優(yōu)點，由此正被測試的組件可以被分類為“好”或“壞”。其它分類也是可能的。
一旦測試制定引擎108生成所提出的理論上無缺陷的測試109，則所提出的理論上無缺陷的測試109就被發(fā)送到發(fā)送隊列112。發(fā)送隊列112以優(yōu)先級順序(例如，先入先出)將測試頭-準(zhǔn)備就緒(testhead-ready)測試存儲在隊列中。當(dāng)測試頭資源變?yōu)榭捎脮r，測試頭監(jiān)督器104從隊列中去除一個測試，并且將該測試發(fā)送到測試頭8用于執(zhí)行。
結(jié)果屬性監(jiān)聽器114監(jiān)控從測試頭8返回的狀態(tài)和數(shù)據(jù)，并且將所述狀態(tài)和數(shù)據(jù)打包成自動調(diào)試結(jié)果115。自動調(diào)試結(jié)果115包括在執(zhí)行測試期間由測試頭實際測量得到的測試參數(shù)。自動調(diào)試結(jié)果115被回傳到測試頭監(jiān)督器104，指示測試頭8上的測試執(zhí)行已經(jīng)完成并且測試頭8的資源已被釋放來等待新工作。測試頭監(jiān)督器104將該自動調(diào)試結(jié)果115轉(zhuǎn)發(fā)到自動調(diào)試控制器106，并且如果在發(fā)送隊列112中存在其它工作等待發(fā)送到測試頭8，則從隊列112中去除下一工作并且分配測試頭8的資源以執(zhí)行下一工作。
自動調(diào)試控制器106包括測試結(jié)果分析器110。測試結(jié)果分析器110處理來自測試器的自動調(diào)試結(jié)果115，將實際參數(shù)/測量與規(guī)則124的測試有效性組元132中指示的那些期望參數(shù)/測量相比較，其中所提出的理論上無缺陷的測試109是從規(guī)則124生成的。
如果實際測試參數(shù)的一個或者多個與規(guī)則124的測試有效性組元132中所指示的期望參數(shù)/測量不符，則該測試被認(rèn)為是壞的并且被丟棄，其中所提出的理論上無缺陷的測試109是從規(guī)則124生成的。如果活動規(guī)則集122中額外的未被處理的規(guī)則124保持待處理，則測試制定引擎108隨后從集合122中選擇下一優(yōu)先級最高的規(guī)則124，并且基于所選擇的新規(guī)則生成新的所提出的理論上無缺陷的測試109。
重復(fù)該處理，直到有效的所提出的理論上無缺陷的測試109被找到。一旦有效的所提出的理論上無缺陷的測試109被找到，則該測試被重復(fù)執(zhí)行一次或多次迭代，以生成實際的穩(wěn)定性級別(例如，CPK)，并且將所生成的實際的穩(wěn)定性級別與所要求的穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)相比較，其中所要求的穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)是在規(guī)則124的穩(wěn)定性組元132中提出的，并且當(dāng)前所提出的理論上無缺陷的測試109是從規(guī)則124生成的。如果當(dāng)前所提出的理論上無缺陷的測試109通過了穩(wěn)定性測試，則該測試109被認(rèn)為是有效測試。
如果自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100被配置成僅進(jìn)行調(diào)試，則一旦有效的所提出的理論上無缺陷的測試109被找到，該有效的所提出的理論上無缺陷的測試109就被優(yōu)選地用來代替被提供用于調(diào)試的測試102，并且測試102的處理完成。
如果自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100被配置成還進(jìn)行優(yōu)化，則測試制定引擎108將制定所有可能的有效的所提出的理論上無缺陷的測試109(其滿足有效性和穩(wěn)定性測試)，然后將選擇最好地滿足了有效性和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)的特定的有效的所提出的理論上無缺陷的測試109。所選擇的“最好的”測試然后被用來代替被提供用于調(diào)試的測試102，并且測試102的處理完成。
圖6是圖示圖3的自動化測試調(diào)試和優(yōu)化系統(tǒng)100的測試制定引擎108的一般操作的流程圖。如圖6所示，測試制定引擎108接收要被調(diào)試和/或優(yōu)化的測試102(步驟201)。測試制定引擎108訪問知識框架120，以確定適于正被測試102測試的組件的動作、有效性標(biāo)準(zhǔn)和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)(步驟202)。如先前所述，在優(yōu)選實施例中，知識框架120包括一個或多個規(guī)則集，每個規(guī)則集具有一個或多個具有相關(guān)聯(lián)的動作、有效性標(biāo)準(zhǔn)和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)則。在此優(yōu)選實施例中，測試制定引擎108激活與正被測試102測試的組件相對應(yīng)的規(guī)則集。測試制定引擎108然后確定在制定有效性測試時是否存在可能嘗試的更多動作，如從知識框架120確定的那樣(步驟203)。如果存在在制定有效性測試時要嘗試的更多動作，則測試制定引擎108選擇下一動作及其相關(guān)聯(lián)的有效性和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)(步驟204)。測試制定引擎108然后基于所選擇的動作及其相關(guān)聯(lián)的有效性和穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)來制定所提出的理論上無缺陷的測試109(步驟205)。所提出的理論上無缺陷的測試109然后被提交給測試頭8用于執(zhí)行(步驟206)。
測試制定引擎108等候來自測試頭8的有關(guān)所提出的理論上無缺陷的測試109的結(jié)果(步驟207)。當(dāng)結(jié)果從測試頭8返回時，測試制定引擎108然后分析所返回的測試結(jié)果，以基于有效性標(biāo)準(zhǔn)來確定所提出的理論上無缺陷的測試109是否有效。如先前所述，通常有效性標(biāo)準(zhǔn)由一系列期望的參數(shù)測量組成。據(jù)此，在此實施例中，測試制定引擎108將在測試結(jié)果中接收到的實際參數(shù)測量與期望的參數(shù)測量相比較。如果實際參數(shù)測量滿足有效性標(biāo)準(zhǔn)(即，匹配期望的參數(shù)測量)，則所提出的理論上無缺陷的測試109被認(rèn)為有效；否則無效。如果所提出的理論上無缺陷的測試109無效(在步驟209中確定)，則測試制定引擎108返回到步驟203，以確定是否可得到更多動作來嘗試。
如果所提出的理論上無缺陷的測試109有效(在步驟209中確定)，則測試制定引擎108確定所提出的理論上無缺陷的測試109是否應(yīng)該被重新運行以收集用于穩(wěn)定性測試的穩(wěn)定性測量(步驟210)。如果是，則測試制定引擎108返回到步驟206以重新向測試頭提交所提出的理論上無缺陷的測試109用于執(zhí)行。
當(dāng)運行穩(wěn)定性測試時，步驟206到210被重復(fù)，直到達(dá)到指定的運行次數(shù)和/或收集了足夠的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。一旦統(tǒng)計信息被收集，則測試制定引擎108計算穩(wěn)定性統(tǒng)計信息(步驟211)并且基于所計算的統(tǒng)計信息和知識框架120中所指定的穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)來確定所提出的理論上無缺陷的測試109是否穩(wěn)定(步驟212)。如果所提出的理論上無缺陷的測試109不穩(wěn)定，則測試制定引擎108返回到步驟203，以確定是否可得到更多動作來嘗試。
如果所提出的理論上無缺陷的測試109穩(wěn)定，則測試制定引擎108確定測試是否應(yīng)當(dāng)被優(yōu)化(步驟213)。如果否，則當(dāng)測試DUT4時，當(dāng)前有效穩(wěn)定的所提出的理論上無缺陷的測試109優(yōu)選地被用來代替所接收的測試102(步驟215)。
如果需要優(yōu)化，則測試制定引擎108存儲當(dāng)前有效穩(wěn)定的所提出的理論上無缺陷的測試109(步驟214)，并且返回到步驟203以確定是否可得到更多的動作來嘗試。步驟204到214被重復(fù)，直到所有的動作都已經(jīng)被制定到所提出的理論上無缺陷的測試中并且確認(rèn)有效/無效，以及在被確認(rèn)有效的所提出的理論上無缺陷的測試上已執(zhí)行穩(wěn)定性檢查。
當(dāng)測試制定引擎108確定不能得到更多的動作來嘗試時(步驟203)，測試制定引擎108確定是由于優(yōu)化而到達(dá)過程中的該點，還是由于不能發(fā)現(xiàn)有效測試而到達(dá)過程中的該點(步驟216)。如果不能發(fā)現(xiàn)有效測試，則測試制定引擎108生成指示沒有發(fā)現(xiàn)所接收的測試102的解決方案的狀態(tài)，并且優(yōu)選地提供就參數(shù)而言的“最好”測試以用于代替被提供進(jìn)行調(diào)試的測試102(步驟217)。另一方面，如果測試制定引擎108由于優(yōu)化測試了所有可能的動作，則其基于有效性標(biāo)準(zhǔn)和可能的有效穩(wěn)定的所提出的理論上無缺陷的每個測試滿足有效性/穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)的程度來選擇最好的有效穩(wěn)定的所提出的理論上無缺陷的測試(步驟218)。當(dāng)測試DUT4時，測試制定引擎108隨后優(yōu)選地使用所選擇的最好的有效穩(wěn)定的所提出的理論上無缺陷的測試代替所接收的測試102(步驟219)。
圖7圖示了用于包括要測試的多個組件/器件的DUT4的示例知識框架220。如此示例中所示，活動規(guī)則集是電阻器規(guī)則集222a。電阻器規(guī)則集222a包括多個規(guī)則224a_1、224a_2、…、224a_n。測試制定引擎108以優(yōu)先級的順序處理活動規(guī)則集(在所圖示的示例中為電阻器規(guī)則集222a)中的每個224a_1、224a_2、…、224a_n。
下面是圖示了示例規(guī)則集定義文件的示例ruleset.xml文件。ruleset.xml文件是描述了要被測試的器件、規(guī)則集與規(guī)則之間的關(guān)系的XML文件。
Ruleset.xml<？xml版本＝“1.0”編碼＝“UTF-8”？>
-<規(guī)則集>
+<器件ID＝“跨接線”>
+<器件ID＝“電阻器”>
+<器件ID＝“保險絲”>
-<器件ID＝“電容器”>
-<規(guī)則集ID＝“約瑟夫”>
<規(guī)則ID＝“自動調(diào)試保護(hù)”/>
<規(guī)則ID＝“用自動調(diào)試保護(hù)設(shè)置幅度”/>
<規(guī)則ID＝“設(shè)置幅度”/>
</規(guī)則集>
</器件>
+<器件ID＝“二極管/齊納”>
+<器件ID＝“晶體管”>
+<器件ID＝“電感器”>
+<器件ID＝“FET”>
+<器件ID＝“開關(guān)”>
+<器件ID＝“電位計”>
</規(guī)則集>
表1中示出了用于描述內(nèi)容的ruleset.xml文件的關(guān)鍵字。
表1

規(guī)則集由根據(jù)運行序列優(yōu)先級排序的規(guī)則組成。在任何給定的ruleset.xml中，可以定義多個規(guī)則集，這意味著視需要可以定義多個規(guī)則集。每個規(guī)則集被標(biāo)記到特定器件族。每個規(guī)則集將容納一個或多個規(guī)則。規(guī)則的ID用來標(biāo)識規(guī)則的動作，如在rule.xml中所發(fā)現(xiàn)的那樣。
rule.xml容納規(guī)則數(shù)據(jù)庫。每個規(guī)則可以具有動作和其關(guān)聯(lián)的輸入的組合。輸入代表關(guān)于該單個動作的局部信息(localized information)。
一個單個動作可以被應(yīng)用于具有不同局部內(nèi)容的不同規(guī)則。其輸入是用來控制動作算法的行為的一組標(biāo)準(zhǔn)。動作代表在測試制定引擎中運行的特定代碼集。
下面是圖示了示例規(guī)則集定義文件的示例rule.xml文件。rule.xml文件是描述了要被測試的器件、規(guī)則集與規(guī)則之間的關(guān)系的XML文件。
Rule.xml<？xml版本＝“1.0”編碼＝“UTF-8”？>
-<規(guī)則DB>
+<規(guī)則ID＝“設(shè)置幅度”>
-<規(guī)則ID＝“用自動調(diào)試保護(hù)設(shè)置幅度”>
<說明值＝“設(shè)置幅度”/>
<器件ID＝“電容器”/>
<有效性-增益最大值＝“10”最小值＝“0.0”名稱＝“增益”狀態(tài)＝“真”/>
<有效性-相位最大值＝“20”最小值＝“0.0”名稱＝“相位”狀態(tài)＝“真”/>
-<穩(wěn)定性>
<狀態(tài)值＝“真”/>
<CPK值＝“1.0”/>
<運行值＝“5”/>
</穩(wěn)定性>
<合并(merge)值＝“假”/>
<自動-調(diào)整最大值＝“”最小值＝“”偏移類型＝“百分比”類型＝“0”/>
<動作ID＝“1”/>
-<動作ID＝“2”>
<輸入ID＝“1”值＝“1”/>
<輸入ID＝“2”值＝“10”/>
<輸入ID＝“3”值＝“1”/>
<輸入ID＝“4”值＝“1”/>
<輸入ID＝“5”值＝“10”/>
<輸入ID＝“6”值＝“1”/>
</動作>
</規(guī)則>
+<規(guī)則ID＝“自動調(diào)試保護(hù)”>
+<規(guī)則ID＝“增強(qiáng)”>
+<規(guī)則ID＝“交換S和I”>
+<規(guī)則ID＝“用自動調(diào)試保護(hù)交換S和I”>
</規(guī)則DB>
表2中示出了用于描述內(nèi)容的Rule.xml文件的關(guān)鍵字。
表2


應(yīng)該理解，提供上述文件示例僅出于示例的目的而不是進(jìn)行限制。知識框架120可以根據(jù)任何數(shù)目的不同格式和結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)，并且只需要包括有關(guān)動作和相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)和可選的穩(wěn)定性標(biāo)準(zhǔn)的知識，所述知識可由自動調(diào)試控制器在為給定組件制定所提出的理論上無缺陷的測試過程中進(jìn)行訪問。
盡管出于解釋的目的已經(jīng)公開了本發(fā)明的該優(yōu)選實施例，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解到，在不背離權(quán)利要求所公開的本發(fā)明的范圍和精神的條件下，各種修改、添加和替換都是可能的。當(dāng)前所公開的發(fā)明的其它益處和用途也可能將隨著時間變得清楚。
權(quán)利要求
1.一種用于制定與要在測試器上測試的組件相關(guān)聯(lián)的測試的方法，所述方法包括如下步驟訪問包括對應(yīng)于所述要被測試的組件的動作以及相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)的知識框架；從所述知識框架中選擇動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)；基于所述所選擇的動作以及所述相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)，制定所提出的理論上無缺陷的測試；向所述測試器提交所述所提出的理論上無缺陷的測試用于執(zhí)行；從所述測試器接收所述所提出的理論上無缺陷的測試的結(jié)果；考慮與所述動作相關(guān)聯(lián)的所述有效性標(biāo)準(zhǔn)來分析所述所接收的結(jié)果，其中所述所提出的理論上無缺陷的測試是基于所述動作而被制定的；以及如果所述分析確定所述所提出的理論上無缺陷的測試滿足所述有效性標(biāo)準(zhǔn)，則提供所述所提出的理論上無缺陷的測試作為用于測試所述組件的有效測試。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括如果所述分析確定所述所提出的理論上無缺陷的測試不滿足所述有效性標(biāo)準(zhǔn)則確定是否存在與所述組件相關(guān)聯(lián)的更多的未處理的動作；以及如果存在與所述組件相關(guān)聯(lián)的更多的未處理的動作則選擇不同的動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)；以及使用所述所選擇的不同動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)來重復(fù)所述制定步驟至所述提供步驟。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述知識框架包括一個或多個規(guī)則集，每個規(guī)則集包括具有相關(guān)聯(lián)的動作以及有效性標(biāo)準(zhǔn)的一個或多個規(guī)則，所述方法還包括激活對應(yīng)于所述要被測試的組件的規(guī)則集；以及僅從與所述所激活的規(guī)則集相關(guān)聯(lián)的規(guī)則中選擇所述知識框架中的所述動作以及所述相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述所激活的規(guī)則集中的所述規(guī)則每個都具有相關(guān)聯(lián)的優(yōu)先級級別，并且是以優(yōu)先級的順序被選擇的。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述有效性標(biāo)準(zhǔn)包括一個或多個期望的參數(shù)測量；所述結(jié)果包括由所述測試器測量的對應(yīng)的一個或多個實際參數(shù)測量；所述分析步驟包括將所述一個或多個期望的參數(shù)測量與所述對應(yīng)的一個或多個實際參數(shù)測量相比較；以及如果所述一個或多個期望的參數(shù)測量與所述對應(yīng)的一個或多個實際參數(shù)測量相符合，則認(rèn)為所述所提出的理論上無缺陷的測試有效。
6.一種用于制定與要在測試器上測試的組件相關(guān)聯(lián)的測試的自動化調(diào)試控制器，所述控制器包括知識框架，其包括對應(yīng)于所述要被測試的組件的動作以及相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)；測試制定引擎，其從所述知識框架中選擇動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)，并且基于所述所選擇的動作以及所述相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)，制定所提出的理論上無缺陷的測試；測試器監(jiān)督器，其向所述測試器提交所述所提出的理論上無缺陷的測試用于執(zhí)行；結(jié)果監(jiān)聽器，其監(jiān)聽并接收來自所述測試器的所述所提出的理論上無缺陷的測試的結(jié)果；測試結(jié)果分析器，其考慮與所述動作相關(guān)聯(lián)的所述有效性標(biāo)準(zhǔn)來分析所述所接收的結(jié)果，并且，如果所述分析確定所述所提出的理論上無缺陷的測試滿足所述有效性標(biāo)準(zhǔn)，則通過所述所提出的理論上無缺陷的測試作為用于測試所述組件的有效測試，其中所述所提出的理論上無缺陷的測試是基于所述動作而被制定的。
7.如權(quán)利要求6所述的控制器，其中如果所述所提出的理論上無缺陷的測試沒有被通過作為有效測試，則所述測試制定引擎從所述知識框架中選擇不同的動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)，并且基于所述所選擇的不同動作以及其相關(guān)聯(lián)的有效性標(biāo)準(zhǔn)來制定新的所提出的理論上無缺陷的測試。
8.如權(quán)利要求7所述的控制器，其中所述測試器監(jiān)督器接收由所述測試制定引擎制定的每個所提出的理論上無缺陷的測試，并且向所述測試器提交所述所接收的所提出的理論上無缺陷的測試用于執(zhí)行；所述結(jié)果監(jiān)聽器監(jiān)聽并接收來自所述測試器的每個所述所提交的所提出的理論上無缺陷的測試的結(jié)果；以及所述測試結(jié)果分析器考慮與所述相應(yīng)的動作相關(guān)聯(lián)的所述相應(yīng)的有效性標(biāo)準(zhǔn)來分析每個所述所接收的結(jié)果，并且，如果所述相應(yīng)的所提出的理論上無缺陷的測試的所述相應(yīng)的測試結(jié)果滿足所述相應(yīng)的有效性標(biāo)準(zhǔn)，則通過所述相應(yīng)的所提出的理論上無缺陷的測試作為用于測試所述組件的有效測試，其中所述相應(yīng)的所提出的理論上無缺陷的測試是基于所述相應(yīng)的動作而被制定的。
9.如權(quán)利要求6所述的控制器，其中所述所激活的規(guī)則集中的所述規(guī)則每個都具有相關(guān)聯(lián)的優(yōu)先級級別，并且是以優(yōu)先級的順序被選擇的。
10.如權(quán)利要求6所述的控制器，其中所述有效性標(biāo)準(zhǔn)包括一個或多個期望的參數(shù)測量；所述結(jié)果包括由所述測試器測量的對應(yīng)的一個或多個實際參數(shù)測量；所述測試結(jié)果分析器將所述一個或多個期望的參數(shù)測量與所述對應(yīng)的一個或多個實際參數(shù)測量相比較，以確定所述所提出的理論上無缺陷的測試是否有效。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種用于自動調(diào)試和優(yōu)化在線測試的方法和裝置，所述在線測試用于在自動化測試器上測試待測器件。該新的測試調(diào)試和優(yōu)化技術(shù)抽取容納在知識框架中的專家知識，自動制定有效穩(wěn)定的測試，以在集成電路測試器上執(zhí)行，所述測試優(yōu)選地是被優(yōu)化的測試。
文檔編號G06F11/25GK1693916SQ20051005142
公開日2005年11月9日 申請日期2005年3月2日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月5日
發(fā)明者盧奕錕, 韋建峰, 陳添福, 羅伊·H·威廉斯 申請人:安捷倫科技有限公司