本發(fā)明涉及電子筆的評價方法及評價系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、以往，已知有使用評價工具來評價電子筆的性能且根據(jù)需要而調(diào)整與性能相關(guān)的各種各樣的設定的方法(例如，參照日本專利第6473554號公報)。

2、現(xiàn)有技術(shù)文獻

3、專利文獻

4、專利文獻1：日本專利第6473554號公報

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、發(fā)明所要解決的課題

2、例如，設想通過在使包含機器人的移動機構(gòu)把持著電子筆的狀態(tài)下移動電子筆而謀求評價的自動化。在該情況下，為了使電子筆向期望的三維位置移動，需要使為了控制移動機構(gòu)的驅(qū)動而定義的“機械坐標系”和在用于檢測電子筆的位置的平面狀傳感器定義的“傳感器坐標系”一致的位置調(diào)整(或者，校準)。因此，存在想要以更簡易的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)進行上述的位置調(diào)整這一需求。

3、本發(fā)明鑒于上述的問題而完成，其目的在于提供能夠以更簡易的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)完成機械坐標系與傳感器坐標系之間的位置調(diào)整的電子筆的評價方法及評價系統(tǒng)。

4、用于解決課題的手段

5、本發(fā)明的第一方案中的電子筆的評價方法是使用了評價系統(tǒng)的方法，所述評價系統(tǒng)構(gòu)成為包含檢測電子筆的位置的平面狀傳感器和在把持著所述電子筆的狀態(tài)下使該電子筆移動的移動機構(gòu)，其中，所述評價方法包括：配置工序，以使為了控制所述移動機構(gòu)的驅(qū)動而定義的三維機械坐標系中的與第一軸及第二軸分別正交的第三軸的方向與在所述平面狀傳感器定義的二維傳感器坐標系的第一軸及第二軸所形成的傳感器坐標平面正交的方式配置所述平面狀傳感器；角度調(diào)整工序，通過使所配置的所述平面狀傳感器以法線方向為軸進行旋轉(zhuǎn)而以使所述三維機械坐標系的第一軸及第二軸所形成的機械坐標平面的朝向和所述傳感器坐標平面的朝向一致的方式進行角度調(diào)整；及位置調(diào)整工序，以使進行了旋轉(zhuǎn)的所述傳感器坐標平面上的基準點和所述機械坐標平面上的基準點一致的方式進行位置調(diào)整。

6、本發(fā)明的第二方案中的電子筆的評價系統(tǒng)具備：平面狀傳感器，檢測電子筆的位置；移動機構(gòu)，在把持著所述電子筆的狀態(tài)下使該電子筆移動；控制裝置，控制所述移動機構(gòu)的驅(qū)動；及旋轉(zhuǎn)機構(gòu)，以所述平面狀傳感器的法線方向為軸而使該平面狀傳感器旋轉(zhuǎn)，所述平面狀傳感器以使為了對所述移動機構(gòu)進行驅(qū)動控制而定義的三維機械坐標系中的與第一軸及第二軸分別正交的第三軸的方向與在所述平面狀傳感器定義的二維傳感器坐標系的第一軸及第二軸所形成的傳感器坐標平面正交的方式配置，所述控制裝置在由所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)以使所述三維機械坐標系的第一軸及第二軸所形成的機械坐標平面的朝向和所述傳感器坐標平面的朝向一致的方式進行了所述平面狀傳感器的旋轉(zhuǎn)的狀態(tài)下，以使所述傳感器坐標平面上的基準點和所述機械坐標平面上的基準點一致的方式調(diào)整所述機械坐標平面的位置。

7、發(fā)明效果

8、根據(jù)本發(fā)明，能夠以更簡易的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)進行機械坐標系與傳感器坐標系之間的位置調(diào)整。

技術(shù)特征：

1.一種電子筆的評價方法，是使用了評價系統(tǒng)的電子筆的評價方法，所述評價系統(tǒng)構(gòu)成為包含檢測電子筆的位置的平面狀傳感器和在把持著所述電子筆的狀態(tài)下使該電子筆移動的移動機構(gòu)，其中，

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子筆的評價方法，

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子筆的評價方法，

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子筆的評價方法：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子筆的評價方法，

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子筆的評價方法，

7.一種電子筆的評價系統(tǒng)，具備：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電子筆的評價方法及評價系統(tǒng)。該評價方法包括：配置工序(S10)，以使三維機械坐標系中的與第一軸及第二軸分別正交的第三軸的方向與二維傳感器坐標系的第一軸及第二軸所形成的傳感器坐標平面(40)正交的方式配置平面狀傳感器(22)；角度調(diào)整工序(S15)，以使三維機械坐標系的第一軸及第二軸所形成的機械坐標平面(50)的朝向和傳感器坐標平面(40)的朝向一致的方式進行角度調(diào)整；及位置調(diào)整工序(S17)，以使傳感器坐標平面(40)上的傳感器基準點(CP)和機械坐標平面(50)上的機械基準點(Pt2)一致的方式進行位置調(diào)整。

技術(shù)研發(fā)人員：門脅淳
受保護的技術(shù)使用者：株式會社和冠
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6