專利名稱：電子設備的測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型是有關于一種電子設備的測試裝置，特別是指一種可自動對電子設備進行測試，而不需手動進行反復操作的電子設備的測試裝置。
背景技術：
參閱圖1所示，是現有一種電子設備的測試方式，該電子設備5可能是一計算機主機或服務器等電子裝置的主機。一般在電子設備5被制造出來時，為了確認電子設備5的功能及動作是否正常無誤，通常會以手動操作方式，由一輸入裝置，例如鍵盤4輸入測試數據給電子設備5以進行功能測試，因此，當待測的電子設備數量龐大、測試數據很多或必須進行多次測試時，操作者必須反復地將測試數據輸入給電子設備5，如此一來，不但需要耗費相當多的人力及時間來進行測試數據的輸入，而且效率不佳，相當不符合經濟效益。此外，由于測試結果為直接顯示在電子設備5上，操作者必須自行透過該電子設備5的測試反應來判斷和紀錄測試結果，在分析電子設備5的失效原因上有其困難性。另外，不同的待測的電子設備5，有不同的測試條件，例如測試時間、測試模式、測試次數...等，也只能以人工操作，難以達到測試的準確性和一致性。

發(fā)明內容
本實用新型的目的在于提供了一種可自動輸入測試數據至電子設備，并儲存測試結果的電子設備的測試裝置。
為了實現上述目的，本實用新型電子設備的測試裝置包含一輸入單元、一存儲單元、一控制單元及一反饋單元。所述輸入單元是用以輸入一測試數據及一功能設定。所述控制單元連接輸入單元及電子設備，用以接受該輸入單元所輸入的該測試數據和該功能設定。所述存儲單元是連接該控制單元，用以儲存經由該控制單元傳送來的該測試數據，且所述控制單元是根據該功能設定將儲存在存儲單元的測試數據送至電子設備以進行測試。所述反饋單元是連接電子設備及存儲單元，用以將電子設備的一測試結果送至存儲單元儲存。
本實用新型所述的電子沒備的測試裝置，其可自動輸入測試且至電子設備，節(jié)約了時間，也提高了測試效率，且該測試裝置能夠自動存儲測試結果，極大方便的操作者了解測試結果，并且其操作簡單，極具有實用價值。


圖1為現有一種電子設備的測試方式的示意圖；圖2為本實用新型電子設備的測試裝置的第一較佳實施例的電路方塊圖；圖3為本實用新型電子設備的測試裝置的第二較佳實施例的電路方塊圖。
具體實施方式
有關本實用新型的前述及其它技術內容、特點與功效，以下配合參考附圖的兩個較佳實施例來詳細說明。
參閱圖2所示，本實用新型電子設備的測試裝置1的第一較佳實施例主要是包含一控制單元11、一存儲單元12、一反饋單元13及一輸入單元15。其中電子設備2可以是一計算機主機或服務器等電子裝置的主機。
輸入單元15是用以輸入一測試數據及一功能設定給控制單元11。控制單元11是連接輸入單元15及電子設備2，用以接受輸入單元15所輸入的測試數據和功能設定。
存儲單元12是連接控制單元11，用以儲存控制單元11所傳送來之測試數據，且控制單元11是根據功能設定，將儲存在存儲單元12的測試數據讀出并送至電子設備2以進行測試。反饋單元13是連接電子設備2及存儲單元12，用以將電子設備2的一測試結果送至存儲單元12儲存。
參閱圖3所示，本實用新型電子設備的測試裝置3之第二較佳實施例是包含一控制單元11、一存儲單元12、一反饋單元13、一顯示單元14、一輸入單元15、一傳輸接口16及一反饋接口17。
輸入單元15包括一第一輸入接口151及第二輸入接口152，第一輸入接口151用以輸入一測試數據給控制單元11，第二輸入接口152用以輸入一功能設定給控制單元11。在本實施例中，所述第一輸入接口151可為一外接的鍵盤，而第二輸入接口152則為一內建的鍵盤。且所述功能設定包括測試時間設定、測試次數設定、測試模式設定、測試開始設定、測試暫停設定及數據清除設定等，其中測試時間設定用以設定測試數據被輸入至電子設備2的時間，測試次數設定是設定測試數據被輸入電子設備2的次數，也即設定電子設備2的測試次數。所述測試模式設定是設定電子設備在測試過程中發(fā)生異常時，是否即自動停止測試，或是達到設定的測試次數后才停止測試。測試暫停設定為令控制單元11暫停對電子設備2的測試，也即暫停輸出測試數據給電子設備2。而數據清除設定則是令控制單元11清除儲存在存儲單元12中的測試數據。
所述控制單元11連接存儲單元12及電子設備2，以將測試數據儲存在存儲單元12中，并根據功能設定，讀取儲存在存儲單元12中的測試數據，并送至電子設備2以進行測試。
所述控制單元11包括依序串接的一串行轉并行接口111、一微處理器112及一并行轉串行接口113。其中，串行轉并行接口111與第一輸入接口151連接，用以將第一輸入接口151輸入的測試數據由串行信號轉成并行信號后，傳給微處理器112，以經由微處理器112將測試數據儲存至存儲單元12中，微處理器112與第二輸入接口152連接，用以接收第二輸入接口152輸入的功能設定。并行轉串行接口113與傳輸接口16連接，以透過傳輸接口16連接電子設備，其中傳輸接口16可以是P/S2接口或USB接口。
因此，在所述第二輸入接口152已完成功能設定之后，當微處理器112收到第二輸入接口152傳來的測試開始設定信號時，微處理器112即根據第二輸入接口152預先設定的測試模式，讀取儲存在存儲單元12中的測試數據，并送給并行轉串行接口113，使將測試數據由并行信號轉成串行信號后，輸出至傳輸接口16，以經由傳輸接口16將測試數據送給電子設備2進行測試。
所述反饋單元13連接存儲單元12，其經由反饋接口17與電子設備2連接，用以將電子設備2的測試結果送至存儲單元12。由此，所述微處理器112即可根據儲存在存儲單元12中的測試結果，比較及判別電子設備2在測試過程中是否發(fā)生異常，以進一步判定電子設備2功能不佳之處。其中所述反饋接口17可以是PCI接口或COMM端口等主機板既有的傳輸接口。
所述顯示單元14是一液晶顯示器，其與存儲單元12連接，主要用以顯示電子設備2的運作狀態(tài)、由第一輸入接口151輸入的測試數據、電子設備2在開機過程中進行POST(Power On Self Test，開機自我測試)時產生的POST碼，以及電子設備2的測試結果。測試數據是由微處理器112傳送至存儲單元12，再經由存儲單元12輸出至顯示單元14。測試結果和POST則是經由反饋單元13送至存儲單元12，再輸出至顯示單元14。
綜合上述說明可知，本實用新型的測試裝置3借助所述控制單元11的微處理器112的控制，可由第一輸入接口151經由串行轉并行接口111輸入測試數據給微處理器112，從而通過微處理器12將測試數據儲存在存儲單元12中。并在測試電子設備2時，由微處理器112根據第二輸入接口152輸入的功能設定，自動地讀取儲存在存儲單元12中的測試數據，透過并行轉串行接口113及傳輸接口16傳給電子設備2進行測試，而達到將人力操作轉換為自動化操作的目的，使得在每一次進行電子設備2的測試時，不須以手動方式反復輸入測試數據，故可大大地節(jié)省測試人力及時間成本。此外，本實用新型的測試裝置2更具有反饋測試結果的功能，其將電子設備2的測試結果經由反饋單元13傳送至存儲單元12儲存，并同時顯示在顯示單元14上，使操作者可針對測試結果分析電子設備2的功能優(yōu)劣及失效的原因，而有助于縮短電子設備2的改良時間。
權利要求1.一種電子設備之測試裝置，其特征在于包含一輸入單元；一控制單元，其連接所述輸入單元及電子設備；一存儲單元，其連接所述控制單元；及一反饋單元，其連接所述電子設備及存儲單元。
2.根據權力要求1所述電子設備的測試裝置，其特征在于更包含一用以連接該電子設備的傳輸接口，其連接所述控制單元與該電子設備。
3.根據權力要求1所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述功能設定包括測試時間設定、測試次數設定、測試模式設定、測試開始設定、測試暫停設定及數據清除設定等。
4.根據權力要求1所述電子設備的測試裝置，其特征在于更包含一顯示單元，其與存儲單元連接。
5.根據權力要求1所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述控制單元更可與一外接的輸入裝置連接。
6.根據權力要求1所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述控制單元包括依序串接的一串行轉并行接口、一微處理器及一并行轉串行接口；所述串行轉并行接口與第一輸入接口以及微處理器連接；所述微處理器與存儲單元、第二輸入接口以及并行轉串行接口連接。
7.根據權力要求2所述電子設備的測試裝置，其特征在于更包含一反饋接口，其連接反饋單元與電子設備。
8.根據權力要求5所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述輸入裝置為一鍵盤。
9.根據權力要求7所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述輸入單元更包括一第一輸入接口及一第二輸入接口。
10.根據權力要求9所述電子設備的測試裝置，其特征在于所述第一及第二輸入接口均為一鍵盤。
專利摘要本實用新型公開了一種電子設備的測試裝置，其包含一可輸入測試數據和功能設定的輸入單元，一與該輸入單元和該電子設備連接且接收所述測試數據及功能設定的控制單元，一儲存由該控制單元傳來的測試數據的存儲單元，一與該電子設備和該存儲單元連接的反饋單元，且該所述控制單元可根據該功能設定，自動地將儲存在該存儲單元的測試數據傳至電子設備進行測試，并可經由反饋單元將電子設備的測試結果回傳給存儲單元，以供測試人員分析電子設備功能失效之原因。本實用新型所述測試裝置操作容易，且方便，大大提高了測試效率。
文檔編號G06F11/22GK2874525SQ20062003938
公開日2007年2月28日 申請日期2006年2月7日 優(yōu)先權日2006年2月7日
發(fā)明者蔣天仁 申請人:上海環(huán)達計算機科技有限公司, 神達電腦股份有限公司