專利名稱：計算機連接器測試儀的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于測試計算機前置控制面板的連接器的測試儀，特別是涉及可用于測 試多種計算機的前置控制面板的連接器的測試儀。
背景技術：
在大多數(shù)的服務器或桌上型電腦系統(tǒng)中，都會有一個前置的控制面板，其主要功能相同 及大致結(jié)構(gòu)均相似，但不同的計算機的前置控制面板的連接器的信號有所不同，因此，制造 商在生產(chǎn)過程中，往往需要針對不同機型設計不同的測試儀器，如此，延長了測試周期并且 提高了測試成本。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種計算機連接器測試儀，其可用于測試多種計算機的前置 控制面板的連接器。
一種計算機連接器測試儀，用于測試計算機的控制面板的連接器，其包括一可編程的單 片機、至少一個接收所述單片機輸出的測試信號并向所述控制面板的一連接器發(fā)出信號的第 二測試通道、至少一個與所述第二測試通道對應并接收所述控制面板的另一連接器信號后向 所述單片機發(fā)出信號的第一測試通道、 一用于控制所述單片機向所述第二測試通道發(fā)出所述 測試信號的第一控制電路及一由所述單片機控制并用于顯示所述第一及第二測試通道測試結(jié) 果的顯示電路，所述單片機通過判斷所述測試信號是否經(jīng)過由所述第二測試通道、控制面板 的一連接器、控制面板、控制面板的另一連接器及第一測試通道組成的回路返回至所述單片 機，以控制所述顯示電路顯示測試結(jié)果。
相較現(xiàn)有技術，本發(fā)明的較佳實施方式采用單片機作為測試電路的控制元件，其可根據(jù) 不同的計算機前面板進行編程以滿足不同的測試需求，具有良好的通用性，從而縮短了測試 周期并降低了測試成本。


下面參照附圖結(jié)合具體實施方式
對本發(fā)明作進一步的描述。
圖l為本發(fā)明計算機連接器測試儀的較佳實施方式的立體分解圖。
圖2為圖1的立體組裝圖。
圖3為本發(fā)明計算機連接器測試儀的較佳實施方式的電路原理圖。
具體實施例方式
請參照圖l，本發(fā)明計算機連接器測試儀的較佳實施方式包括一盒體IO， 一設于所述盒 體10內(nèi)部的電路板30及一蓋設于所述盒體10頂部的蓋板50。
所述盒體10—側(cè)設有兩個第一開口 1 l及兩個第二開口 12，所述盒體10相對一側(cè)設有兩個 第三開口13。所述盒體10內(nèi)部一端設有一電池槽14用于裝設給所述計算機連接器測試儀提供 電源Vcc的電池組(未標號)。
所述電路板30—端設有兩個第一連接器31及兩個第二連接器32，所述電路板30相對一端 設有兩個第三連接器33。每一第一連接器31具有2*5個引腳，每一第三連接器33具有2*12個 引腳。所述第一連接器31、第二連接器32及第三連接器33依次分別與所述盒體10兩側(cè)的第一 開口ll、第二開口12及第三開口13相對應。所述電路板30上設有若干雙向發(fā)光二極管342、 一個發(fā)光二極管344、 一個第一開關35及一個第二開關36。本較佳實施方式中，所述雙向發(fā) 光二極管342共48個，其中每24個形成一組，兩組雙向發(fā)光二極管342在所述電路板30上排列 形成一矩陣。
所述蓋板50上對應所述雙向發(fā)光二極管342排列形成的矩陣設有一矩形顯示窗52、對應 所述發(fā)光二級管344設有一開孔54、對應所述第一開關35設有一開孔55及對應所述第二開關 36設有一開孔56。
請繼續(xù)參閱圖2，組裝時，所述電路板30收容于所述盒體10內(nèi)部，所述第一連接器31、 第二連接器32及第三連接器33分別通過所述盒體10兩側(cè)的第一開口 11 、第二開口 12及第三開 口13與外部相通。所述雙向發(fā)光二極管342、發(fā)光二極管344、第一開關35及第二開關36分別 對應所述蓋板50上的顯示窗52、開孔54、開孔55及開孔56。
請繼續(xù)參閱圖3 ，設于所述電路板30上用于測試待測控制面板的電路還包括一單片機U1 、兩個分別與所述第二連接器32相對應的4位鎖存器372、兩個分別與所述第三連接器33對應 的12位的鎖存器374、兩個分別與所述第一連接器31對應的4位的緩沖器38、兩個用于放大電 流的驅(qū)動電路39、電容C1及C2、電阻R1、 R2及R3。在本較佳實施方式中，所述單片機U1選用 的是8051單片機。
所述單片機U1的輸出口輸出的數(shù)據(jù)分別經(jīng)由所述鎖存器372傳輸至對應的第二連接器32 ，每一鎖存器372與對應的第二連接器32形成一第二測試通道；所述單片機U1的片選口P3.4 連接至所述鎖存器372中之一，所述片選口P3. 4通過一個非門U2接至所述鎖存器372中之另一 ，所述片選口P3. 4用于選通兩個第二測試通道中的一個。
所述第一連接器31分別通過對應的緩沖器38將數(shù)據(jù)傳輸至所述單片機U1的輸入口 ，所述
片選口P3. 4連接至所述緩沖器38中之一，所述片選口P3. 4通過一個非門U2接至所述緩沖器 38中之另一。每一第一連接器31與對應的緩沖器38形成一第一測試通道。所述片選口P3.4用 于選通兩個第一測試通道中的一個。其中，所述第一測試通道分別與所述第二測試通道一一 對應。
所述單片機U1的另12個輸出口輸出的數(shù)據(jù)分別傳輸至所述鎖存器374，每一鎖存器374輸 出的數(shù)據(jù)分別傳輸至所述驅(qū)動電路39，每一驅(qū)動電路39均驅(qū)動一組雙向發(fā)光二極管342，每 組雙向發(fā)光二極管342對應一個第三連接器33。每一鎖存器374與對應的驅(qū)動電路39及對應的 一組雙向發(fā)光二極管342形成一第三測試通道。所述單片機U1的自定義口P2. 4連接至所述鎖 存器374中之一，所述自定義口P2.4通過一個非門U2接至所述鎖存器374中之另一；所述單片 機U1的自定義口P2. 5連接至所述驅(qū)動電路39中之一，所述自定義口P2. 5通過一個非門U2接至 所述驅(qū)動電路39中之另一。所述自定義口P2. 4與P2. 5通過位操作共同選通兩個第三測試通道 中的一個。
所述單片機U1的自定義口P2. 6接至一NPN型三極管Q1的基極，所述三極管Q1的集電極接 至所述發(fā)光二極管344的陰極，所述發(fā)光二極管344的陽極經(jīng)由 一 電阻R3接至所述電源Vcc ， 所述三極管Q1的發(fā)射極接地。所述三極管Q1、發(fā)光二極管344及電阻R3組成一用于顯示所述 第二測試通道及其對應第一測試通道測試結(jié)果的顯示電路。
所述單片機U1的中斷口P3. 3直接接至所述電源Vcc，同時經(jīng)過由所述第一開關35及一電 阻R1串聯(lián)連接的電路接地， 一電容C1連接于所述中斷口P3. 3與所述電源Vcc之間。所述電容 Cl、第一開關35及電阻R1組成一用于控制第一及第二測試通道的第一控制電路。
所述單片機Ul的復位口Reset經(jīng)由一電阻R2接地， 一電容C2與所述第二開關36并聯(lián)連接 于所述電源Vcc與所述復位口Reset之間。所述電容C2、第二開關36及電阻R2組成一用于控制 所述單片機U1復位的第二控制電路。
使用時，通過對所述單片機U1進行編程使其符合所述待測前置控制面板的測試要求，用 數(shù)據(jù)線將所述計算機連接器測試儀的第一、第二及第三連接器與所述待測前置控制面板的相 應連接器連接(圖未示)。所述單片機U1根據(jù)其內(nèi)部程序每隔一段時間就通過所述片選口 3. 4發(fā)出一選通信號，所述選通信號選通其中一個第二測試通道及與其對應的第一測試通道 ，則被選通的第二測試通道、所述控制面板的連接器、控制面板、控制面板的另一連接器及 被選通的第一測試通道組成的一測試回路。按下所述第一開關35，所述中斷口P3.3由高電平 轉(zhuǎn)換為低電平，即所述中斷口P3.3觸發(fā)，此時，若自被選通的第二測試通道發(fā)出的測試信號 經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線、待測前置控制面板、數(shù)據(jù)線、被選通的第一測試通道返回至所述單片機
Ul，則所述自定義口2.6輸出高電平使得所述三極管Q1導通，所述發(fā)光二極管344發(fā)光，即可得知所述待測前置控制面板的相應連接器為良品，若自被選通的第二測試通道發(fā)出的測試信 號無法返回至所述單片機U1，則所述自定義口2.6輸出低電平使得所述三極管Q1截止，所述 發(fā)光二極管344不發(fā)光，即可得知所述待測前面板的相應連接器存在品質(zhì)問題。
所述單片機U1根據(jù)內(nèi)部程序?qū)λ鲎远x口P2. 5及P2. 6進行位操作以選通其中一第三測試通道，此時，若被選通的第三測試通道的對應一組雙向發(fā)光二極管342均發(fā)光，則所述待 測前置控制面板的相應連接器為良品，若有不發(fā)光的雙向發(fā)光二極管342，則所述待測前置控制面板的相應連接器存在品質(zhì)問題。
當需要測試另一待測前面板時，按一下第二開關36，所述單片機Ul的復位口Reset由低電平轉(zhuǎn)為高電平，即所述復位口Reset觸發(fā)，所述單片機U1復位。
由于所述單片機U1具有可編程功能，所述計算機連接器測試儀可根據(jù)不同的計算機前置控制面板進行編程，使其可適用于待測前面板。由此，既節(jié)省了測試過程中投入的研發(fā)成本 ，又可縮短測試周期。
在上述較佳實施方式中，可根據(jù)實際需要測試的前置控制面板的連接器的數(shù)量，選擇不同的單片機以設置相應數(shù)目的測試通道，從而滿足測試需求。
權利要求
1. 一種計算機連接器測試儀，用于測試計算機的控制面板的連接器，其包括一可編程的單片機、至少一個接收所述單片機輸出的測試信號并向所述控制面板的一連接器發(fā)出信號的第二測試通道、至少一個與所述第二測試通道對應并接收所述控制面板的另一連接器信號后向所述單片機發(fā)出信號的第一測試通道、一用于控制所述單片機向所述第二測試通道發(fā)出所述測試信號的第一控制電路及一由所述單片機控制并用于顯示所述第一及第二測試通道測試結(jié)果的顯示電路，所述單片機通過判斷所述測試信號是否經(jīng)過由所述第二測試通道、控制面板的一連接器、控制面板、控制面板的另一連接器及第一測試通道組成的回路返回至所述單片機，以控制所述顯示電路顯示測試結(jié)果。
2.如權利要求l所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述計算 機連接器測試儀包括兩個第二測試通道及兩個分別與所述第二測試通道一一對應的第一測試 通道，所述單片機的片選口輸出選通信號用以選通其中一第二測試通道及與其對應的第一測 試通道。
3.如權利要求2所述的計算機連接器測試儀，其特征在于每一第二 測試通道包括一用于接收所述單片機輸出信號的鎖存器及一用于連接所述鎖存器及所述控制 面板的一連接器的第二連接器，所述鎖存器同時還接收所述單片機的片選口輸出的選通信號
4.如權利要求2所述的計算機連接器測試儀，其特征在于每一第一 測試通道包括一用于接收所述控制面板的另一連接器輸出的信號的第一連接器及一用于連接 所述第一連接器及所述單片機的輸入口的緩沖器，所述緩沖器接收所述單片機的片選口輸出 的選通信號。
5.如權利要求l所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述計算 機連接器測試儀還包括至少一由所述單片機控制的第三測試通道，用于測試所述控制面板的 其它連接器。
6.如權利要求5所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述第三測試通道包括一用于接收所述單片機另一輸出信號的鎖存器、 一接收所述鎖存器信號的用于 放大電流的驅(qū)動電路、被驅(qū)動電路驅(qū)動的用于顯示所述第三通道測試結(jié)果的一組雙向發(fā)光二 極管及用于連接至所述控制面板的其它連接器的第三連接器。
7.如權利要求l所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述第一 控制電路包括一電容、 一第一開關及一電阻，所述單片機的中斷口接至一電源并經(jīng)過由所述 第一開關及所述電阻串聯(lián)連接的電路接地，所述電容連接于所述中斷口與所述電源之間。
8.如權利要求l所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述計算 機連接器測試儀還包括一用于使所述單片機復位的第二控制電路。
9.如權利要求8所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述第二 控制電路包括一電容、 一第二開關及一電阻，所述單片機的復位口經(jīng)由所述電阻接地，所述 電容與所述第二開關并聯(lián)連接于所述電源與所述復位口之間。
10.如權利要求l所述的計算機連接器測試儀，其特征在于所述顯 示電路包括一三極管、 一發(fā)光二極管及一電阻，所述單片機的一自定義口接至所述三極管的 基極，所述三極管的集電極接至所述發(fā)光二極管的陰極，所述發(fā)光二極管的陽極經(jīng)由所述電 阻接至一電源，所述三極管的發(fā)射極接地。
全文摘要
一種計算機連接器測試儀，用于測試計算機的控制面板的連接器，其包括一單片機、至少一個第二測試通道、至少一個與所述第二測試通道對應第一測試通道、一用于控制所述單片機向所述第二測試通道發(fā)出所述測試信號的第一控制電路及一由所述單片機控制并用于顯示所述第一及第二測試通道測試結(jié)果的顯示電路，所述單片機通過判斷所述測試信號是否經(jīng)過由所述第二測試通道、控制面板的一連接器、控制面板、控制面板的另一連接器及第一測試通道組成的回路返回至所述單片機，以控制所述顯示電路顯示測試結(jié)果。本發(fā)明采用單片機作為控制元件，其可根據(jù)不同的計算機前面板進行編程以滿足測試需求，從而縮短了測試周期并降低了測試成本。
文檔編號G06F11/267GK101206602SQ20061020136
公開日2008年6月25日 申請日期2006年12月22日 優(yōu)先權日2006年12月22日
發(fā)明者珂 孫, 陳明科 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司