專利名稱：冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種計(jì)算機(jī)信息技術(shù)，特別涉及一種磁盤陣列裝置存 儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)，其可應(yīng)用于一冗余式磁盤陣列
(Redundant Array of Independent Disks, RAID)。
背景技術(shù)：
冗余式磁盤陣列(Redundant Array of Ind印endent Disks, RAID) 具備有二個(gè)或二個(gè)以上的實(shí)體硬盤的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)裝置，其通常應(yīng) 用于搭接至網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器，用以存儲(chǔ)數(shù)量極為龐大的計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)。 此外，由于冗余式磁盤陣列具備有多個(gè)實(shí)體硬盤，因此通常被用來提 供高可靠性的數(shù)據(jù)容錯(cuò)及備份功能。
對(duì)于數(shù)據(jù)容錯(cuò)及備份功能，RAID的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范訂定有多種存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 模式，并將此些存儲(chǔ)數(shù)據(jù)模式以不同的級(jí)層來表示；例如初級(jí)的RAID 存儲(chǔ)模式(RAID Level 0)代表將數(shù)據(jù)以交錯(cuò)方式存儲(chǔ)于二個(gè)或二個(gè)以 上的實(shí)體硬盤；第一級(jí)的RAID存儲(chǔ)模式(RAID Level l)代表將數(shù)據(jù)以 鏡射方式(mirroring)存儲(chǔ)于二個(gè)或二個(gè)以上的實(shí)體硬盤；第二級(jí)的 RAID存儲(chǔ)模式(RAID Level 2)代表將數(shù)據(jù)以交錯(cuò)及容錯(cuò)方式存儲(chǔ)于二 個(gè)或二個(gè)以上的實(shí)體硬盤；等等?；旧?，目前常用的RMD存儲(chǔ)模式 包括RAID Level 0、 RAID Level 1、 RAID Level 2、 RAID Level 3、 RAID Level 4、 RAID Level 5、 RAID Level 6、和RAID Level 10，以 上除RAID Level 0外，皆為冗余式的存儲(chǔ)技術(shù)。然而目前本技術(shù)領(lǐng)域 于冗余式磁盤陣列的應(yīng)用上，仍缺少一種可測試其存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的可靠性 的工具。
有關(guān)于上述的各種不同級(jí)層的RAID存儲(chǔ)模式的詳細(xì)內(nèi)容，請(qǐng)參閱 RAID咨詢委員會(huì)(RAID Advisory Board)所訂定的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范；于此說明 書中，將不對(duì)其細(xì)節(jié)內(nèi)容作進(jìn)一步的詳細(xì)的說明。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的主要目的在于提供一種 冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)，其可應(yīng)用來測試冗 余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的可靠性與冗余數(shù)據(jù)的正確性。
本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法至少包括(PI) 一冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序，用以測試該冗余式磁盤陣列的冗余數(shù)據(jù) 是否正確；(P2)—磁盤刪減測試程序，用以仿真測試該冗余式磁盤陣 列于其中一個(gè)成員磁盤損毀后，是否仍可正常運(yùn)作，并可讀取出正確 的數(shù)據(jù)；以及(P3)—磁盤增加測試程序，用以測試該冗余式磁盤陣列 新增加一個(gè)成員磁盤后，是否可于該新增加的成員磁盤上正確地存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)。
于系統(tǒng)架構(gòu)上，本發(fā)明的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測
試系統(tǒng)至少包括(A)—數(shù)據(jù)寫入單元，用以將測試數(shù)據(jù)寫入冗余式磁
盤陣列；(B)—冗余數(shù)據(jù)測試單元，其用以測試該冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)
的冗余數(shù)據(jù)是否正確；(C)一冗余式磁盤陣列運(yùn)作測試單元，其用以測
試該冗余式磁盤陣列是否能正確無誤地運(yùn)作；(D)—冗余式磁盤陣列重
建監(jiān)視單元，用以監(jiān)視冗余式磁盤陣列是否在進(jìn)行重建；(E)—磁盤刪
減單元和；(F)—磁盤增加單元；其中該磁盤刪減單元用以于該冗余式
磁盤陣列中刪減一個(gè)成員磁盤，而該磁盤增加單元用以于該冗余式磁 盤陣列中新增加一個(gè)成員磁盤。
本發(fā)明的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)的 特點(diǎn)在于可對(duì)該冗余式磁盤陣列進(jìn)行3項(xiàng)測試程序:磁盤一冗余式存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)測試程序、 一磁盤刪減測試程序及一磁盤增加測試程序，由此即 可完整地測試出冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的可靠性。


圖1為一應(yīng)用示意圖，用以顯示本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù) 據(jù)可靠性測試系統(tǒng)的應(yīng)用方式及其模塊化的基本架構(gòu)；
圖2A為一應(yīng)用示意圖，用以顯示本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)
據(jù)可靠性測試系統(tǒng)所執(zhí)行的寫入測試數(shù)據(jù)的一個(gè)應(yīng)用范例；
圖2B為一應(yīng)用示意圖，用以顯示本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)
據(jù)可靠性測試系統(tǒng)所執(zhí)行的冗余數(shù)據(jù)測試的一個(gè)應(yīng)用范例；
圖2C為一應(yīng)用示意圖，用以顯示本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)
據(jù)可靠性測試系統(tǒng)所執(zhí)行的重建監(jiān)視的一個(gè)應(yīng)用范例；
圖3為一作業(yè)流程圖，用以顯示本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)
據(jù)可靠性測試系統(tǒng)所執(zhí)行的各個(gè)測試程序的作業(yè)流程。
附圖標(biāo)記說明10計(jì)算機(jī)平臺(tái)(網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器)
11屏幕監(jiān)視器
20硬盤陣列裝置(RAID)
21控制接口
30鏡射磁盤群組
31第一磁盤
32第二磁盤
33第三磁盤
40本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng)
100數(shù)據(jù)寫入單元
200冗余數(shù)據(jù)測試單元
300冗余式磁盤陣列運(yùn)作測試單元
400冗余式磁盤陣列重建監(jiān)視單元
500磁盤刪減單元
600磁盤增加單元
具體實(shí)施例方式
以下配合所附的圖，詳細(xì)揭露本發(fā)明的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)的實(shí)施例。
圖1顯示本發(fā)明較佳實(shí)施例的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測
試系統(tǒng)(如標(biāo)號(hào)40所指的虛線框所包括的部分)的應(yīng)用方式，本實(shí)施例 中，該冗余式磁盤陣列的等級(jí)為1 (RAID Level 1)。如圖所示，本發(fā)明 的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng)40于實(shí)際應(yīng)用上搭載至一 計(jì)算機(jī)平臺(tái)，例如為一網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器IO，且該網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器IO設(shè)置有一冗 余式硬盤陣列(Redundant Array of Ind印endent Disks, RAID) 20， 用以對(duì)該冗余式硬盤陣列20執(zhí)行一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試程序，以測試 該冗余式硬盤陣列20的RAID LEVEL 1的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)功能是否于實(shí)際操作時(shí)具有高可靠性，本較佳實(shí)施例中，該冗余式磁盤陣列等級(jí)為1，因 此其存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的方式為鏡射存儲(chǔ)。
于圖1所示的實(shí)施例中，冗余式硬盤陣列20具有一控制接口 21， 且僅以3個(gè)磁盤31、 32、 33為例作示范性的說明。于實(shí)際應(yīng)用上，冗 余式硬盤陣列20中的磁盤的數(shù)量并無限制。
如圖1所示，本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng) 40的實(shí)體架構(gòu)的對(duì)象導(dǎo)向組件模型(object-oriented component model)至少包括6個(gè)主要單元(A)—數(shù)據(jù)寫入單元100，用以將測試 數(shù)據(jù)寫入冗余式磁盤陣列；(B)—冗余數(shù)據(jù)測試單元200，其用以測試 該冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)的冗余數(shù)據(jù)是否正確；(C)一冗余式磁盤陣列運(yùn) 作測試單元300，其用以測試該冗余式磁盤陣列是否能正確無誤地運(yùn) 作；(D)—冗余式磁盤陣列重建監(jiān)視單元400，用以監(jiān)視冗余式磁盤陣 列是否在進(jìn)行重建；(E)—磁盤刪減單元500;和(F)—磁盤增加單元 600。
以下說明本發(fā)明的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng)40如 何利用上述的對(duì)象來對(duì)RAID Level 1的冗余式磁盤陣列20進(jìn)行存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)的可靠性測試。
本最佳實(shí)施例中，此可靠性測試程序包括(P1)執(zhí)行一冗余式存 儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序、(P2)執(zhí)行一磁盤刪減測試程序、和(P3)執(zhí)行一磁 盤增加測試程序；且此3個(gè)測試程序即由前述的冗余存儲(chǔ)測試單元
100; —冗余式磁盤陣列運(yùn)作測試單元200;磁盤刪減單元300;以及
磁盤增加單元400來分別執(zhí)行。 (Pl)冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序
冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序Pl用以測試該冗余式磁盤陣列20存儲(chǔ) 的數(shù)據(jù)是否正確，本實(shí)施例中，即測試該冗余式磁盤陣列20在RAID Level l鏡射式存儲(chǔ)下，是否具有正確的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。此冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 測試程序Pl進(jìn)而細(xì)分為3個(gè)程序(Pl-l)寫入測試數(shù)據(jù)、和(P1-2)對(duì) 比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確；分別由數(shù)據(jù)寫入單元100、冗余數(shù)據(jù)測試單元 200來負(fù)責(zé)執(zhí)行。
于具體實(shí)施上，在進(jìn)行測試數(shù)據(jù)寫入程序之前，可還包括下列的 細(xì)節(jié)歩驟
(5110) 令使用者(即網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)管理人員)輸入一RAID Level 1存 儲(chǔ)模式下的成員數(shù)量N，其中1< N < Nmax， Nmax為冗余式硬盤陣列 20可提供的最大成員數(shù)量。于圖2A-圖2C所示的實(shí)施例中，成員數(shù)量 例如為^2。
(5111) 通過冗余式硬盤陣列20的控制接口 21來建立一 RAID Level l鏡射磁盤群組30。由于成員數(shù)量N二2，因此此冗余式磁盤陣列 20的磁盤群組30的成員磁盤即如圖2A所示般地包括第一磁盤31、第 二磁盤32 (第三磁盤33則用以作為備份磁盤)。
(5112) 讀取該磁盤群組30中的總區(qū)塊數(shù)量B。 寫入測試數(shù)據(jù)的步驟(P1-1)用以將一組原始測試數(shù)據(jù)(例如以來表示)如圖2A所示般地依RAID Level 1的規(guī)則寫入至該磁盤 群組30中的各個(gè)成員磁盤(包括第一磁盤31、第二磁盤32)。于具體 實(shí)施上，此程序的細(xì)節(jié)步驟如下
(5121) 對(duì)該第一磁盤31、第二磁盤32進(jìn)行一區(qū)塊組態(tài)寫入程
序，直至其存儲(chǔ)空間飽和為止。
(5122) 通過控制接口 21停止該冗余式硬盤陣列20。 對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確的步驟(P1-2)用以將上述的數(shù)據(jù)寫入單元
100寫入至該磁盤群組30中的第一磁盤31、第二磁盤32上的存儲(chǔ)數(shù) 據(jù)分別對(duì)比至原始的測試數(shù)據(jù)[XYZ]，由此而檢查出該磁盤群組30中 的各個(gè)成員磁盤31、 32是否可正確地存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。于具體實(shí)施上，此程 序的細(xì)節(jié)步驟如下
(5131) 將磁盤群組30中的第1個(gè)成員磁盤31上的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)讀 出，并將其對(duì)比至原始的測試數(shù)據(jù)[XYZ]，由此而測試是否有錯(cuò)誤發(fā)生; 若有錯(cuò)誤，則發(fā)出一讀取動(dòng)作錯(cuò)誤信息，并將此信息顯示于網(wǎng)絡(luò)服務(wù) 器10的屏幕監(jiān)視器11上來告知給測試人員。
(5132) 將第一成員磁盤31的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)與其它成員(即第二成員 磁盤32)作對(duì)比，以測試是否有錯(cuò)誤發(fā)生；若有任何成員磁盤產(chǎn)生對(duì)比 錯(cuò)誤，則發(fā)出一對(duì)比錯(cuò)誤信息，并將此信息顯示于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器10的屏 幕監(jiān)視器11上來告知給測試人員。
(5133) 通過RAID控制接口 21重新啟動(dòng)該冗余式硬盤陣列20。
(5134) 對(duì)該冗余式硬盤陣列20迸行數(shù)據(jù)讀取動(dòng)作，并將讀出的
數(shù)據(jù)對(duì)比至原始的測試數(shù)據(jù)[XYZ]，以測試是否有錯(cuò)誤發(fā)生；若有錯(cuò)誤， 則發(fā)出一讀取錯(cuò)誤信息，并將此信息顯示于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器10的屏幕監(jiān)視 器ll上來告知給測試人員。
(P2)磁盤刪減測試程序
磁盤刪減測測試程序P2用以仿真測試該冗余式磁盤陣列20于其 中一個(gè)成員磁盤損毀后，是否仍可正常運(yùn)作，并可讀取出正確的數(shù)據(jù)。
本實(shí)施例中，即測試該RAID Level 1的冗余式磁盤陣列20，是否 可于該磁盤群組30的成員磁盤發(fā)生損毀狀況或被移除)的情況下，仍 可正常地運(yùn)作并讀取正確的數(shù)據(jù)。圖2B所示的范例是以仿真成員磁盤 中的第二磁盤32發(fā)生損毀狀況而僅剩余第一磁盤31為完好的情況作 說明。
此磁盤刪減測測試程序P2進(jìn)而細(xì)分為3個(gè)程序(P2-l)仿真一磁 盤損毀、(P2-2)測試冗余式磁盤陣列是否正常運(yùn)作、和(P2-3)對(duì)比存 儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確，分別由磁盤刪減單元500、冗余式磁盤陣列運(yùn)作測試 單元300、和冗余數(shù)據(jù)測試單元200來負(fù)責(zé)執(zhí)行。
仿真一磁盤損毀的步驟(P2-l)用以將該磁盤群組30中任一個(gè)成員 磁盤(本實(shí)施例中第二磁盤32)仿真成一損毀的磁盤，以測試該冗余式 磁盤陣列20于一個(gè)成員磁盤損毀時(shí)磁盤，是否仍可正常且完整地讀取 出原先所存儲(chǔ)入的數(shù)據(jù)。
由于本實(shí)施例的冗余式磁盤陣列20是一 RAID Level 1的磁盤陣 列，因此其可允許成員數(shù)減一的磁盤損毀，因此，若成員數(shù)大于二時(shí)， 可持續(xù)(P2-1) (P2-2) (P2-3)的步驟，直到該磁盤群組的成員數(shù)為一。
于具體實(shí)施上，此程序的細(xì)節(jié)步驟如下
(5211) 通過RAID控制接口 21來停止該RAID硬盤陣列裝置20。
(5212) 從該鏡射磁盤群組30中隨機(jī)挑選一個(gè)成員磁盤(例如為 第二磁盤32)，并將其組態(tài)信息(RAID superblock)清除。此動(dòng)作即可 將成員磁盤中的第二磁盤32自成員磁盤中排除，因此可將第二磁盤32 仿真成一損毀的磁盤。
測試冗余式磁盤陣列是否正常運(yùn)作的步驟P2-2用以測試該冗余式 磁盤陣列20是否能正確無誤地運(yùn)作，于具體實(shí)施上，此程序的細(xì)節(jié)步 驟如下
(5221) 通過RAID控制接口 21來重新運(yùn)作該冗余式磁盤陣列20。
(5222) 檢査是否于成員磁盤中第二磁盤32被仿真成一損毀的磁 盤后，冗余式磁盤陣列20仍可正常運(yùn)作；若運(yùn)作失敗，則發(fā)出一運(yùn)作 失敗信息，并將此信息顯示于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器10的屏幕監(jiān)視器11上來告 知給測試人員。
對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確的步驟(Pl-3)用以將該存儲(chǔ)數(shù)據(jù)對(duì)比模塊 130所讀取出的鏡射存儲(chǔ)數(shù)據(jù)對(duì)比至原始測試數(shù)據(jù)[XYZ]，由此而檢查 出該冗余式磁盤陣列20是否可正確地提供數(shù)據(jù)。于具體實(shí)施上，此程
序的細(xì)節(jié)步驟如下
(S231)將讀取出的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)對(duì)比至原始測試數(shù)據(jù)[XYZ]，并檢査
是否有錯(cuò)誤發(fā)生；若有錯(cuò)誤，則發(fā)出一冗余數(shù)據(jù)失效信息，并將此信 息顯示于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器10的屏幕監(jiān)視器11上來告知給測試人員。 (P3)磁盤增加測試程序
磁盤增加測試程序P3于本實(shí)施例，用以測試該RAID Level 1的 冗余式磁盤陣列20，于該磁盤群組30中有任一成員磁盤(例如為第2 磁盤32)發(fā)生損毀的情況下，是否可利用另一磁盤(例如為第3磁盤33) 來正常地提供一重建功能(rebuild),并正確存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。此重建功能測 試程序進(jìn)而細(xì)分為3個(gè)程序(P3-l)仿真一備份磁盤、(P3-2)監(jiān)視冗 余式磁盤陣列是否正常重建、和(P3-3)對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確，分別 由磁盤增加單元600、冗余式磁盤陣列重建監(jiān)視單元400、和冗余數(shù)據(jù) 測試單元200來負(fù)責(zé)執(zhí)行。
仿真一備份磁盤的步驟(P3-1)用以從該鏡射磁盤群組30中選擇一 非成員磁盤(例如為第3磁盤33)來指定作為一備份磁盤。于具體實(shí)施 上，此程序的細(xì)節(jié)步驟如下
(5311) 通過RAID控制接口 21停止該RAID硬盤陣列裝置20。
(5312) 隨機(jī)選取RAID硬盤陣列裝置20中的一非成員磁盤(例如 為圖2C所示的第三磁盤33)，并修改該選取的磁盤(即第三磁盤33)修 改為與其它所有成員磁盤(即第一磁盤31)相同的組態(tài)方式(即RAID superblock所存的組態(tài)數(shù)據(jù))，以將該第三磁盤33設(shè)定成一成員磁盤。
要特別說明的是，在磁盤刪減測試程序P2中，將第二磁盤32自 成員磁盤中刪除后，第二磁盤32即成為一非成員磁盤，因此在磁盤增 加測試程序P3中，亦可以再度新增第二磁盤32，為一新的成員磁盤。 重建程序監(jiān)視程序(P3-2)用以于該鏡射磁盤群組30中有一磁盤損 毀的情況下，自動(dòng)于該冗余式磁盤陣列20被重新啟動(dòng)后，監(jiān)視該冗余 式磁盤陣列20是否可正常地利用新增的成員磁盤來進(jìn)行一重建程序。 于具體實(shí)施上，此程序的細(xì)節(jié)步驟如下
(5321) 通過RAID控制接口 21來重新運(yùn)作冗余式磁盤陣列20。
(5322) 通過RAID控制接口21來監(jiān)視冗余式磁盤陣列20其是否 處于重建模式；若否，則發(fā)出一重建功能失效信息，并將此信息顯示 于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器10的屏幕監(jiān)視器11上來告知給測試人員。
(5323) 重復(fù)地監(jiān)視該RAID硬盤陣列裝置20，直至其完成重建程序。
對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確的步驟(P3-3)用以于上述的重建程序完成 之后，對(duì)比該新增的成員磁盤(即第三磁盤33)上所重建的數(shù)據(jù)是否符 合原始測試數(shù)據(jù)[XYZ]，由此而檢查出該冗余式磁盤陣列20是否可靠 地執(zhí)行重建功能，并可正確的建立冗余數(shù)據(jù)。于具體實(shí)施上，此程序 的細(xì)節(jié)歩驟如下
(5331) 將第三磁盤33上的重建數(shù)據(jù)讀出，并對(duì)比至原始測試數(shù) 據(jù)[XYZ];若有錯(cuò)誤，則發(fā)出一重建失敗信息，并將此信息顯示于網(wǎng)絡(luò) 服務(wù)器10的屏幕監(jiān)視器11上來告知給測試人員。
(5332) 通過RAID控制接口 21來停止該冗余式磁盤陣列20。 同樣的，若成員數(shù)大于二時(shí)，可持續(xù)(P3-1) (P3-2) (P3-3)的步
驟，直到該磁盤群組的成員數(shù)達(dá)到初始的設(shè)定數(shù)。
上述的3項(xiàng)測試程序完成之后，即可完整地測試出該RAID Level 1 的冗余式磁盤陣列20的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性。
總而言之，本發(fā)明提供了一種冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測 試方法及系統(tǒng)，其特點(diǎn)在于可通過冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序、磁盤刪 減測試程序及磁盤增加測試程序，來自動(dòng)地測試出冗余式磁盤陣列存 儲(chǔ)數(shù)據(jù)在各種狀況下的可靠性。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用以限定本發(fā)明的 實(shí)質(zhì)技術(shù)內(nèi)容的范圍。本發(fā)明的實(shí)質(zhì)技術(shù)內(nèi)容廣義地定義于上述的權(quán)
利要求書中。若任何他人所完成的技術(shù)實(shí)體或方法與上述的權(quán)利要求 書所定義的完全相同、或是等效的變更，均將被視為涵蓋于本發(fā)明的 權(quán)利要求書內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法，其可應(yīng)用于一計(jì)算機(jī)平臺(tái)，且該計(jì)算機(jī)平臺(tái)配有一磁盤陣列裝置，用以對(duì)該磁盤陣列裝置進(jìn)行存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試程序；其特征在于，此冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法至少包括一冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序，用以測試該冗余式磁盤陣列的冗余數(shù)據(jù)是否正確；一磁盤刪減測試程序，用以仿真測試該冗余式磁盤陣列于其中一個(gè)成員磁盤損毀后，是否仍可正常運(yùn)作，并可讀取出正確的數(shù)據(jù)；以及一磁盤增加測試程序，用以測試該冗余式磁盤陣列新增加一個(gè)成員磁盤后，是否可于該新增加的成員磁盤上正確地存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方 法，其特征在于，該冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序包括一寫入測試數(shù)據(jù)步驟，用以將一組測試數(shù)據(jù)寫入至該磁盤陣列裝 置；以及一對(duì)比步驟，用以對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方 法，其特征在于，該磁盤刪減測試程序至少包括仿真一磁盤損毀；測試冗余式磁盤陣列是否正常運(yùn)作；以及 對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方 法，其中該磁盤增加測試程序用以測試該冗余式磁盤陣列于有一成員 磁盤發(fā)生損毀的情況下，是否可利用另一磁盤來正常地執(zhí)行一重建程 序；且該重建程序包括仿真一備份磁盤； 監(jiān)視冗余式磁盤陣列是否正常重建；以及 對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
5. —種冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng)，其搭載至 一計(jì)算機(jī)平臺(tái)，且該計(jì)算機(jī)平臺(tái)配有一磁盤陣列裝置，用以對(duì)該磁盤 陣列裝置進(jìn)行一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試程序；其特征在于，此冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試系統(tǒng)至少包括 一數(shù)據(jù)寫入單元，用以將測試數(shù)據(jù)寫入冗余式磁盤陣列； 一冗余數(shù)據(jù)測試單元，其用以測試該冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)的冗余 數(shù)據(jù)是否正確；一冗余式磁盤陣列運(yùn)作測試單元，其用以測試該冗余式磁盤陣列 是否能正確無誤地運(yùn)作；一冗余式磁盤陣列重建監(jiān)視單元，用以監(jiān)視冗余式磁盤陣列是否 在進(jìn)行重建；一磁盤刪減單元，其刪減該冗余式磁盤陣列中的一指定的磁盤；以及一磁盤增加單元，其增加一新磁盤至該冗余式磁盤陣列。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測 試系統(tǒng)，其特征在于，該計(jì)算機(jī)平臺(tái)為一網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測 試系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)寫入單元和該冗余數(shù)據(jù)測試單元用以共 同負(fù)責(zé)執(zhí)行一冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序，其至少包括一寫入測試數(shù)據(jù)步驟，用以將一組測試數(shù)據(jù)寫入至該磁盤陣列裝 置；以及一對(duì)比步驟，用以對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測 試系統(tǒng)，其特征在于，該冗余存儲(chǔ)測試單元、該冗余式磁盤陣列運(yùn)作 測試單元、該磁盤刪減單元、和該磁盤增加單元用以共同負(fù)責(zé)執(zhí)行一 磁盤刪減測試程序，其至少包括 仿真一磁盤損毀；測試冗余式磁盤陣列是否正常運(yùn)作；以及 對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的冗余式磁盤陣列裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測 試系統(tǒng)，其特征在于，該磁盤增加單元、該冗余式磁盤陣列重建監(jiān)視 單元、和該冗余數(shù)據(jù)測試單元用以共同負(fù)責(zé)執(zhí)行一磁盤增加測試程序， 且該磁盤增加測試程序用以測試該冗余式磁盤陣列于有一成員磁盤發(fā) 生損毀的情況下，是否可利用另一磁盤來正常地執(zhí)行一重建程序；其 中該重建程序包括仿真一備份磁盤；監(jiān)視冗余式磁盤陣列是否正常重建；以及 對(duì)比存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否正確。
全文摘要
一種冗余式磁盤陣列存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試方法及系統(tǒng)，其可應(yīng)用于對(duì)一冗余式磁盤陣列(Redundant Array of Independent Disks，RAID)進(jìn)行一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)可靠性測試程序，以測試該磁盤陣列的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)是否具有可靠性；且其特點(diǎn)在于對(duì)該磁盤陣列進(jìn)行3項(xiàng)測試程序冗余式存儲(chǔ)數(shù)據(jù)測試程序、磁盤刪減測試程序及磁盤增加測試程序，由此即可完整地測試出RAID Level 1鏡射存儲(chǔ)模式的操作可靠性。
文檔編號(hào)G06F11/28GK101192185SQ20061016331
公開日2008年6月4日 申請(qǐng)日期2006年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月30日
發(fā)明者陳志偉 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司