本技術(shù)涉及飛針電路，尤其涉及一種飛針控制電路。

背景技術(shù)：

1、印制電路板之后，需要測試電路板是否有開路或短路，目前測試電路板是否存在開路點和短路點的方式之一是飛針測試。

2、隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，單片機具有單任務，控制時間可控的特點，在對測試設備進行實時控制領(lǐng)域具有重要作用。然而，在實際應用中，單片機需要與多種外設進行通信，從而控制不同方向上的飛針針頭。單片機采用單一的通信方式不能適應復雜控制和簡單控制相結(jié)合的場景，容易造成單片機運算資源的浪費。

3、因此，需要一種可以適用于復雜控制和簡單控制相結(jié)合的場景，減少對單片機運算資源的占用。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為克服相關(guān)技術(shù)中存在的問題，本實用新型的目的是提供一種飛針控制電路，該電路可以適用于復雜控制和簡單控制相結(jié)合的場景，減少對單片機運算資源的占用。

2、一種飛針控制電路，包括主控電路和外圍電路，所述主控電路包括主控芯片；所述外圍電路包括外圍芯片和驅(qū)動設備，第一通信模塊電連接至所述外圍芯片和所述主控芯片，第二通信模塊電連接至第一類飛針針頭；所述外圍芯片電連接至所述驅(qū)動設備，所述驅(qū)動設備用于控制第二類飛針針頭；其中，所述第一通信模塊用于串行通信，所述第二通信模塊用于twi通信。

3、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述第一通信模塊包括ft245芯片，所述第一通信模塊的輸入端電連接至所述主控芯片的第一輸出端。

4、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述第二通信模塊包括所述主控芯片的scl引腳和sda引腳。

5、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述外圍芯片的型號為atmega16，所述外圍芯片的輸出端與電機驅(qū)動芯片的輸入端電連接；所述外圍芯片的第一輸入端與所述第二通信模塊電連接，所述外圍芯片的第二輸入端與采樣電路電連接，所述外圍芯片的第三輸入端與傳感器電連接。

6、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述驅(qū)動設備包括多個電機，所述電機驅(qū)動芯片與對應的所述電機電連接，所述電機用于控制對應的所述第二類飛針針頭。

7、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述采樣電路包括采樣芯片，所述采樣芯片的輸入端與所述第一類飛針針頭和所述第二類飛針針頭電連接，所述采樣芯片的輸出端與所述外圍芯片的采樣端電連接；所述采樣芯片用于將模擬采樣信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字采樣信號，將所述數(shù)字采樣信號發(fā)送至所述外圍芯片的采樣端。

8、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述主控芯片的第一通信端與所述第一通信模塊電連接，所述第一通信模塊與計算機的usb接口電連接。

9、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述外圍芯片與測試電壓開關(guān)電路的輸入端電連接，所述測試電壓開關(guān)電路的輸出端與所述第二類飛針針頭電連接，所述測試電壓開關(guān)電路用于測試所述第二類飛針針頭的電壓。

10、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，飛針控制電路還包括第一供電模塊和第二供電模塊，所述第一供電模塊的輸入端電連接至24v電源，所述第一供電模塊的輸出端輸出5v電源；所述第二供電模塊的輸入端電連接至所述24v電源，所述第二供電模塊的輸出端輸出15v電源。

11、在本實用新型較佳的技術(shù)方案中，所述采樣芯片的輸入端與采樣運算放大器的輸出端電連接，所述采樣運算放大器的同相輸入端與第一采樣電阻的第二端電連接；所述第一采樣電阻的第一端與所述第一類飛針針頭或所述第二類飛針針頭電連接，所述第一采樣電阻的第二端與第二采樣電阻的第一端電連接，所述第二采樣電阻的第二端接地。

12、本實用新型的有益效果為：

13、本實用新型提供的一種飛針控制電路包括主控電路和外圍電路，所述主控電路包括主控芯片；所述外圍電路包括外圍芯片和驅(qū)動設備，第一通信模塊電連接至所述外圍芯片和所述主控芯片，第二通信模塊電連接至第一類飛針針頭；所述外圍芯片電連接至所述驅(qū)動設備，所述驅(qū)動設備用于控制第二類飛針針頭；其中，所述第一通信模塊用于串行通信，所述第二通信模塊用于twi通信。主控芯片控制第一通信模塊通過串行通信的方式向外圍芯片發(fā)送指令，外圍芯片控制驅(qū)動設備，驅(qū)動設備控制第二類飛針針頭，串行通信的方式適用于對飛針針頭進行復雜控制。主控芯片控制第二通信模塊通過twi通信的方式控制第一類飛針針頭，twi通信的方式較為簡單，適用于對飛針針頭進行簡單控制。結(jié)合twi通信和串行通信，可以適用于復雜控制和簡單控制相結(jié)合的場景，減少對單片機運算資源的占用。

技術(shù)特征：

1.一種飛針控制電路，其特征在于，包括主控電路和外圍電路，所述主控電路包括主控芯片；所述外圍電路包括外圍芯片和驅(qū)動設備，第一通信模塊電連接至所述外圍芯片和所述主控芯片，第二通信模塊電連接至第一類飛針針頭；所述外圍芯片電連接至所述驅(qū)動設備，所述驅(qū)動設備用于控制第二類飛針針頭；其中，所述第一通信模塊用于串行通信，所述第二通信模塊用于twi通信。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針控制電路，其特征在于，所述第一通信模塊包括ft245芯片，所述第一通信模塊的輸入端電連接至所述主控芯片的第一輸出端。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針控制電路，其特征在于，所述第二通信模塊包括所述主控芯片的scl引腳和sda引腳。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針控制電路，其特征在于，所述外圍芯片的型號為atmega16，所述外圍芯片的輸出端與電機驅(qū)動芯片的輸入端電連接；所述外圍芯片的第一輸入端與所述第二通信模塊電連接，所述外圍芯片的第二輸入端與采樣電路電連接，所述外圍芯片的第三輸入端與傳感器電連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的飛針控制電路，其特征在于，所述驅(qū)動設備包括多個電機，所述電機驅(qū)動芯片與對應的所述電機電連接，所述電機用于控制對應的所述第二類飛針針頭。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的飛針控制電路，其特征在于，所述采樣電路包括采樣芯片，所述采樣芯片的輸入端與所述第一類飛針針頭和所述第二類飛針針頭電連接，所述采樣芯片的輸出端與所述外圍芯片的采樣端電連接；所述采樣芯片用于將模擬采樣信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字采樣信號，將所述數(shù)字采樣信號發(fā)送至所述外圍芯片的采樣端。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針控制電路，其特征在于，所述主控芯片的第一通信端與所述第一通信模塊電連接，所述第一通信模塊與計算機的usb接口電連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的飛針控制電路，其特征在于，所述外圍芯片與測試電壓開關(guān)電路的輸入端電連接，所述測試電壓開關(guān)電路的輸出端與所述第二類飛針針頭電連接，所述測試電壓開關(guān)電路用于測試所述第二類飛針針頭的電壓。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針控制電路，其特征在于，還包括第一供電模塊和第二供電模塊，所述第一供電模塊的輸入端電連接至24v電源，所述第一供電模塊的輸出端輸出5v電源；所述第二供電模塊的輸入端電連接至所述24v電源，所述第二供電模塊的輸出端輸出15v電源。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的飛針控制電路，其特征在于，所述采樣芯片的輸入端與采樣運算放大器的輸出端電連接，所述采樣運算放大器的同相輸入端與第一采樣電阻的第二端電連接；所述第一采樣電阻的第一端與所述第一類飛針針頭或所述第二類飛針針頭電連接，所述第一采樣電阻的第二端與第二采樣電阻的第一端電連接，所述第二采樣電阻的第二端接地。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供了一種飛針控制電路，包括主控電路和外圍電路，主控電路包括主控芯片；外圍電路包括外圍芯片和驅(qū)動設備，第一通信模塊電連接至外圍芯片和主控芯片，第二通信模塊電連接至第一類飛針針頭；外圍芯片電連接至驅(qū)動設備，驅(qū)動設備用于控制第二類飛針針頭；其中，第一通信模塊用于串行通信，第二通信模塊用于TWI通信。主控芯片控制第一通信模塊通過串行通信的方式向外圍芯片發(fā)送指令，外圍芯片控制驅(qū)動設備，驅(qū)動設備控制第二類飛針針頭。主控芯片控制第二通信模塊通過TWI通信的方式控制第一類飛針針頭。結(jié)合TWI通信和串行通信，可以適用于復雜控制和簡單控制相結(jié)合的場景，減少對單片機運算資源的占用。

技術(shù)研發(fā)人員：肖紅征
受保護的技術(shù)使用者：深圳市旺通達電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240222
技術(shù)公布日：2025/1/9