本申請(qǐng)涉及集成電路，具體涉及一種電容模塊檢測(cè)電路、芯片、光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置、對(duì)焦馬達(dá)、攝像模組以及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、目前，攝像模組通常需要具備光學(xué)對(duì)焦以及光學(xué)防抖功能。其中，光學(xué)對(duì)焦是指通過光學(xué)鏡片(或光學(xué)鏡頭)沿光學(xué)系統(tǒng)光軸方向的移動(dòng)，以便于攝像設(shè)備進(jìn)行對(duì)焦調(diào)節(jié)并獲取清晰的圖像。光學(xué)防抖是指通過光學(xué)鏡片(或光學(xué)鏡頭)在垂直于光軸方向上的移動(dòng)，補(bǔ)償攝像過程中因設(shè)備抖動(dòng)而發(fā)生的位移量，從而避免因設(shè)備抖動(dòng)而造成圖像模糊的現(xiàn)象。因此，攝像模組需要具備光學(xué)鏡片移動(dòng)檢測(cè)功能，以檢測(cè)對(duì)焦過程以及光學(xué)防抖過程光學(xué)鏡片的移動(dòng)位置，實(shí)現(xiàn)光學(xué)鏡片移動(dòng)控制-光學(xué)鏡片移動(dòng)檢測(cè)的閉環(huán)控制過程。

2、在相關(guān)技術(shù)中，為降低光學(xué)鏡片的移動(dòng)位置檢測(cè)方案的成本，有采用電容結(jié)構(gòu)來檢測(cè)光學(xué)鏡片的移動(dòng)位置的方案，其中電容的一個(gè)極板固定，另外一個(gè)極板隨光學(xué)透鏡移動(dòng)，然后通過測(cè)量電容的電容值來計(jì)算電容兩極板間間距/面積的改變情況，從而確定光學(xué)鏡片的移動(dòng)位置。然而，測(cè)量電容的電容值通常需要檢測(cè)電路分別與電容的兩個(gè)極板電連接，即檢測(cè)電路需要連接一個(gè)固定的極板以及一個(gè)移動(dòng)的極板，這對(duì)于電子設(shè)備上小型化的攝像模組而言是極其困難的。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電容模塊檢測(cè)電路、芯片、光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置、對(duì)焦馬達(dá)、攝像模組以及電子設(shè)備，以解決以上技術(shù)問題。

2、第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電容模塊檢測(cè)電路，電容模塊包括第一電容、第二電容以及第三電容，第一電容的第一極板、第二電容的第一極板以及第三電容的第一極板相互電連接，電容模塊檢測(cè)電路包括：

3、電壓控制模塊，電壓控制模塊用于控制第一電容的第二極板以及第二電容的第二極板的電壓；

4、測(cè)量模塊，測(cè)量模塊用于在電壓控制模塊改變第一電容的第二極板以及第二電容的第二極板的電壓的過程中，根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第一電容值相關(guān)的第一數(shù)字信號(hào)，以及根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第二電容值相關(guān)的第二數(shù)字信號(hào)；

5、其中，第一電容值為第一電容與第二電容的電容值之差，第二電容值為第一電容與第二電容的電容值之和，第一電容與第二電容的電容值之差隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變；

6、第一電容與第二電容的電容值之和不隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變，或者，第一電容與第二電容的串聯(lián)電容值不隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變。

7、第二方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N芯片，包括如第一方面所述的電容模塊檢測(cè)電路。

8、第三方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置，包括：

9、如第二方面所述的芯片，所述芯片具有第一輸出引腳、第二輸出引腳以及第一輸入引腳；

10、電容模塊，電容模塊包括第一電容、第二電容以及第三電容，第一電容的第一極板、第二電容的第一極板以及第三電容的第一極板相互電連；

11、其中，第一電容與第二電容的電容值之差隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變；

12、第一電容與第二電容的電容值之和不隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變，或者，第一電容與第二電容的串聯(lián)電容值不隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變；

13、第一輸出引腳與第一電容的第二極板連接以控制第一電容的第二極板的電壓，第二輸出引腳與第二電容的第二極板連接以控制第二電容的第二極板的電壓，第一輸入引腳與第三電容的第二極板連接以根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量測(cè)量光學(xué)透鏡的移動(dòng)距離。

14、第四方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N對(duì)焦馬達(dá)，包括如第三方面所述的光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置。

15、第五方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N攝像模組，包括如第四方面所述的對(duì)焦馬達(dá)。

16、第六方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電子設(shè)備，包括如第五方面所述的攝像模組。

17、本申請(qǐng)?jiān)陔妷嚎刂颇K改變第一電容的第二極板以及第二電容的第二極板的電壓的過程中，測(cè)量模塊可以根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第一電容和第二電容的電容值之差相關(guān)的第一數(shù)字信號(hào)，并可以根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第一電容和第二電容的電容值之和相關(guān)的第二數(shù)字信號(hào)，由于第一電容與第二電容的電容值之和不隨檢測(cè)對(duì)象(例如光學(xué)透鏡)的移動(dòng)而改變，或者第一電容與第二電容的串聯(lián)電容值不隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變，而第一電容與第二電容的電容值之差隨檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)而改變，因此第一電容與第二電容的電容值之和(或者第一電容與第二電容的串聯(lián)電容值)表征了一個(gè)固定位置，而第一電容與第二電容的電容值之差表征了檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)距離，進(jìn)而可以利用第一數(shù)字信號(hào)以及第二數(shù)字信號(hào)計(jì)算得到檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)距離。

18、同時(shí)，由于本申請(qǐng)的電容模塊檢測(cè)電路是控制第一電容的第二極板、第二電容的第二極板的電壓，并接收第三電容的第二極板釋放的電荷，也就是說本申請(qǐng)的電容模塊檢測(cè)電路僅連接了第一電容的第二極板、第二電容的第二極板以及第三電容的第二極板，而無需連接同一電容的第一極板與第二極板(即一個(gè)移動(dòng)極板與另一個(gè)固定的極板)，最終本申請(qǐng)的電容模塊檢測(cè)電路可以準(zhǔn)確確定檢測(cè)對(duì)象的移動(dòng)位置的同時(shí)，還有利于降低光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置的制造難度。

技術(shù)特征：

1.一種電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述電容模塊包括第一電容、第二電容以及第三電容，所述第一電容的第一極板、所述第二電容的第一極板以及所述第三電容的第一極板相互電連接，所述電容模塊檢測(cè)電路包括：

2.如權(quán)利要求1所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，在所述測(cè)量模塊根據(jù)所述第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第一電容值相關(guān)的第一數(shù)字信號(hào)的過程中，所述第一電容的第二極板以及所述第二電容的第二極板的電壓變化相反；

3.如權(quán)利要求2所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述電壓控制模塊具有第一工作狀態(tài)、第二工作狀態(tài)、第三工作狀態(tài)以及第四工作狀態(tài)；

4.如權(quán)利要求3所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述電壓控制模塊包括第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)以及第四開關(guān)；

5.如權(quán)利要求3所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述電壓控制模塊包括第一時(shí)鐘輸出單元以及第二時(shí)鐘輸出單元；

6.如權(quán)利要求1所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊包括第一運(yùn)算放大器以及積分電容；

7.如權(quán)利要求6所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括積分開關(guān)以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器；

8.如權(quán)利要求6所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括反饋電阻、解調(diào)單元以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器；

9.如權(quán)利要求6所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括第一積分開關(guān)、第二積分開關(guān)、量化器以及數(shù)模轉(zhuǎn)換器；

10.如權(quán)利要求6所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括解調(diào)單元、量化器以及數(shù)模轉(zhuǎn)換器；

11.如權(quán)利要求10所述的電容模塊檢測(cè)電路，其特征在于，所述測(cè)量模塊還包括電流鏡；

12.一種芯片，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至11任一項(xiàng)所述的電容模塊檢測(cè)電路。

13.一種光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

14.一種對(duì)焦馬達(dá)，其特征在于，包括如權(quán)利要求13所述的光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置。

15.一種攝像模組，其特征在于，包括如權(quán)利要求14所述的對(duì)焦馬達(dá)。

16.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括如權(quán)利要求15所述的攝像模組。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電容模塊檢測(cè)電路、芯片、光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置、對(duì)焦馬達(dá)、攝像模組以及電子設(shè)備，電容模塊檢測(cè)電路包括：電壓控制模塊，電壓控制模塊用于控制第一電容的第二極板以及第二電容的第二極板的電壓；測(cè)量模塊，測(cè)量模塊用于在電壓控制模塊改變第一電容的第二極板以及第二電容的第二極板的電壓的過程中，根據(jù)第三電容的第二極板釋放的電荷量輸出與第一電容值相關(guān)的第一數(shù)字信號(hào)，以及第二電容值相關(guān)的第二數(shù)字信號(hào)。本申請(qǐng)的電容模塊檢測(cè)電路僅連接了第一電容的第二極板、第二電容的第二極板以及第三電容的第二極板，而無需連接同一電容的第一極板與第二極板，因此有利于降低光學(xué)透鏡移動(dòng)檢測(cè)裝置的制造難度。

技術(shù)研發(fā)人員：黃占秋,劉覽琦,柯毅
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢市聚芯微電子有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6