本申請(qǐng)涉及薄膜產(chǎn)品，尤其涉及一種薄膜膜面平整度檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、薄膜產(chǎn)品在各個(gè)領(lǐng)域中都有廣泛的應(yīng)用。但由于薄膜制備過程中經(jīng)常有應(yīng)力殘余，導(dǎo)致膜面平整度不良，影響其性能，且會(huì)對(duì)后續(xù)加工工序造成不良影響，因此需對(duì)薄膜的膜面平整度進(jìn)行檢查，一般采取裸視或借助燈光進(jìn)行檢查。然而，常規(guī)通過裸視和借助燈光對(duì)膜面平整度進(jìn)行檢查的方法，難度較大，較難發(fā)現(xiàn)膜面不平整的地方，且主觀性較強(qiáng)，很難判斷不平整度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、(1)要解決的技術(shù)問題

2、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，解決上述背景技術(shù)中的問題。

3、(2)技術(shù)方案

4、第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，通過薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置包括參照物；

5、所述薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，包括：

6、將所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面；

7、根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度。

8、進(jìn)一步地，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括玻璃臺(tái)面；

9、所述將所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面之前，還包括：

10、將待檢測(cè)薄膜平鋪在所述玻璃臺(tái)面上。

11、進(jìn)一步地，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括燈光；

12、所述將所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面，包括：

13、調(diào)整所述燈光的角度，使所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面。

14、進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，包括：

15、根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形位置，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整位置；

16、根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形程度，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整程度。

17、進(jìn)一步地，所述參照物為豎直等距平行粘貼的多條碳帶；

18、所述根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，包括：

19、根據(jù)所述碳帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的彎曲位置，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整位置；

20、根據(jù)所述碳帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的彎曲條數(shù)及范圍，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整程度。

21、進(jìn)一步地，所述參照物為豎直等距平行粘貼的多條有色膠帶；

22、所述根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，包括：

23、根據(jù)所述有色膠帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的彎曲位置，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整位置；

24、根據(jù)所述有色膠帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的彎曲條數(shù)及范圍，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整程度。

25、進(jìn)一步地，所述參照物為粘貼成均勻網(wǎng)格狀的多條碳帶；

26、所述根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，包括：

27、根據(jù)所述碳帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形格子位置，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整位置；

28、根據(jù)所述碳帶在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形格子數(shù)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的不平整程度。

29、第二方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置，用于實(shí)現(xiàn)如上所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法；所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置包括參照物，所述參照物用于倒映在待檢測(cè)薄膜的表面。

30、進(jìn)一步地，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括玻璃臺(tái)面，所述待檢測(cè)薄膜平鋪在所述玻璃臺(tái)面上。

31、進(jìn)一步地，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括燈光，所述燈光用于使所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面。

32、(3)有益效果

33、本申請(qǐng)的上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點(diǎn)：

34、本申請(qǐng)第一方面提供的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，通過將參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面，根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，能夠更好地對(duì)膜面平整度進(jìn)行檢查和判定，從而更好地進(jìn)行品質(zhì)管控及缺陷改善。

35、可以理解的是，上述第二方面的有益效果可以參見上述第一方面中的相關(guān)描述，在此不再贅述。

技術(shù)特征：

1.一種薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，通過薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置包括參照物；

2.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括玻璃臺(tái)面；

3.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括燈光；

4.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度，包括：

5.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述參照物為豎直等距平行粘貼的多條碳帶；

6.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述參照物為豎直等距平行粘貼的多條有色膠帶；

7.如權(quán)利要求1所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，其特征在于，所述參照物為粘貼成均勻網(wǎng)格狀的多條碳帶；

8.一種薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置，其特征在于，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)方法；所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置包括參照物，所述參照物用于倒映在待檢測(cè)薄膜的表面。

9.如權(quán)利要求8所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括玻璃臺(tái)面，所述待檢測(cè)薄膜平鋪在所述玻璃臺(tái)面上。

10.如權(quán)利要求8所述的薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置還包括燈光，所述燈光用于使所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及薄膜產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種薄膜膜面平整度檢測(cè)方法，通過薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)，所述薄膜膜面平整度檢測(cè)裝置包括參照物；所述薄膜膜面平整度檢測(cè)方法包括：將所述參照物倒映在待檢測(cè)薄膜的表面；根據(jù)所述參照物在所述待檢測(cè)薄膜表面的倒影的變形狀態(tài)，確定所述待檢測(cè)薄膜膜面的平整度。本申請(qǐng)能夠更好地對(duì)薄膜膜面平整度進(jìn)行檢查和判定，從而更好地進(jìn)行品質(zhì)管控及缺陷改善。

技術(shù)研發(fā)人員：羅靖,周穎,蔡樂
受保護(hù)的技術(shù)使用者：康輝南通新材料科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6