1.一種厚度檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：
公共電極(100)、檢測(cè)電極(200)和控制部(300)；
所述控制部(300)，與所述公共電極(100)連接，用于根據(jù)待測(cè)膜的檢測(cè)信息控制加載在所述公共電極(100)的電壓的電壓信息，并產(chǎn)生所述電壓信息對(duì)應(yīng)的電壓，其中，所述檢測(cè)信息用于指示所述待測(cè)膜的特征，所述電壓信息用于指示加載在所述公共電極(100)上的電壓的特征；
所述公共電極(100)，用于加載所述電壓信息對(duì)應(yīng)的電壓；
所述檢測(cè)電極(200)，與所述公共電極(100)對(duì)應(yīng)且相互間隔的設(shè)置，所述檢測(cè)電極(200)與所述公共電極(100)之間形成檢測(cè)通道，所述檢測(cè)電極(200)用于根據(jù)所述公共電極(100)上加載的電壓檢測(cè)所述待測(cè)膜的厚度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制部(300)包括：電壓時(shí)序控制部(302)和電壓產(chǎn)生部(304)，其中，
所述電壓時(shí)序控制部(302)，用于根據(jù)所述待測(cè)膜的所述檢測(cè)信息控制所述電壓信息，其中，所述電壓信息包括以下至少之一：電壓值、電壓時(shí)序；
所述電壓產(chǎn)生部(304)，與所述電壓時(shí)序控制部(302)連接，用于產(chǎn)生所述電壓信息對(duì)應(yīng)的電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述電壓時(shí)序控制部(302)包括：檢測(cè)信息獲取部(3042)和電壓控制部(3044)，其中，
所述檢測(cè)信息獲取部(3042)，用于獲取所述檢測(cè)信息，其中，所述檢測(cè)信息包括以下至少之一：所述待測(cè)膜的材質(zhì)信息、所述待測(cè)膜的電容量；
所述電壓控制部(3044)，與所述檢測(cè)信息獲取部(3042)連接，用于確定所述檢測(cè)信息對(duì)應(yīng)的所述電壓信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述檢測(cè)電極(200)包括：信號(hào)處理部(202)，其中，
所述信號(hào)處理部(202)，用于根據(jù)所述公共電極(100)上加載的電壓獲取有效信號(hào)，根據(jù)所述有效信號(hào)確定所述待測(cè)膜的厚度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)處理部(202)包括：有效信號(hào)電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2021)、復(fù)位電壓產(chǎn)生電路(2022)、復(fù)位電壓時(shí)序控制電路(2023)、復(fù)位電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2024)、移位時(shí)序控制電路(2025)和差分放大電路(2026)，其中，
所述有效信號(hào)電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2021)，用于轉(zhuǎn)送所述檢測(cè)電極(200)上產(chǎn)生的有效信號(hào)；
所述復(fù)位電壓產(chǎn)生電路(2022)，用于產(chǎn)生復(fù)位電壓對(duì)所述檢測(cè)電極(200)進(jìn)行復(fù)位；
所述復(fù)位電壓時(shí)序控制電路(2023)，與所述復(fù)位電壓產(chǎn)生電路(2022)連接，用于對(duì)所述復(fù)位電壓產(chǎn)生電路(2022)的時(shí)序進(jìn)行控制；
所述復(fù)位電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2024)，用于轉(zhuǎn)送所述復(fù)位電壓產(chǎn)生電路(2022)對(duì)所述檢測(cè)電極(200)進(jìn)行復(fù)位后的所述檢測(cè)電極(200)上的電壓；
所述移位時(shí)序控制電路(2025)，與所述有效信號(hào)電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2021)和所述復(fù)位電壓轉(zhuǎn)送時(shí)序電路(2024)連接，所述移位時(shí)序控制電路(2025)用于將所述有效信號(hào)和所述復(fù)位電壓傳輸至所述差分放大電路(2026)；
所述差分放大電路(2026)，與所述移位時(shí)序控制電路(2025)連接，用于將接收到的所述有效信號(hào)和所述復(fù)位電壓差分放大后進(jìn)行輸 出得到差分信號(hào)，根據(jù)所述差分信號(hào)確定所述待測(cè)膜的厚度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述厚度檢測(cè)裝置還包括：公共電極基板(10)和檢測(cè)電極基板(20)，其中，
所述公共電極(100)設(shè)置在所述公共電極基板(10)的第一表面；
所述檢測(cè)電極(200)設(shè)置在所述檢測(cè)電極基板(20)的第二表面；
所述第一表面和所述第二表面與所述待測(cè)膜的移動(dòng)方向垂直。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述厚度檢測(cè)裝置還包括：公共電極框體(11)與檢測(cè)電極框體(21)，其中，
所述公共電極基板(10)設(shè)置在所述公共電極框體(11)上，所述檢測(cè)電極基板(20)設(shè)置在所述檢測(cè)電極框體(21)上；
所述檢測(cè)電極框體(11)與所述公共電極框體(21)在所述待測(cè)膜的所述移動(dòng)方向上間隔設(shè)置。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述厚度檢測(cè)裝置還包括：公共電極保護(hù)層(13)與檢測(cè)電極保護(hù)層(23)，其中，
所述公共電極保護(hù)層(13)設(shè)置在所述公共電極(100)的表面上；所述檢測(cè)電極保護(hù)層(23)設(shè)置在所述檢測(cè)電極(200)的表面上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述厚度檢測(cè)裝置還包括：公共電極導(dǎo)電薄膜(14)與檢測(cè)電極導(dǎo)電薄膜(24)，其中，
所述公共電極導(dǎo)電薄膜(14)設(shè)置在所述公共電極(100)與所述公共電極保護(hù)層(13)之間；
所述檢測(cè)電極導(dǎo)電薄膜(24)設(shè)置在所有檢測(cè)電極(200)與所述檢測(cè)電極保護(hù)層(23)之間。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，
所述公共電極(100)包括：一個(gè)或者多個(gè)第一電極(100-2)；
所述檢測(cè)電極(200)包括：多個(gè)第二電極(200-2)；
所述一個(gè)或者多個(gè)第一電極(100-2)與所述多個(gè)第二電極(200-2)形成預(yù)設(shè)數(shù)量的厚度檢測(cè)對(duì)；
所述控制部(300)用于控制每個(gè)所述厚度檢測(cè)對(duì)對(duì)應(yīng)的加載在公共電極上的電壓。