本發(fā)明涉及一種導(dǎo)電銀漿抗銀遷移的測試方法，特別涉及一種觸摸屏專用低溫固化導(dǎo)電銀漿抗銀遷移能力的測試方法。
背景技術(shù)：
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，電子顯示技術(shù)尤其是觸摸屏技術(shù)的發(fā)展是前所未有的，這些都促使電子顯示產(chǎn)品向小型化、微型化、輕質(zhì)、實用、環(huán)保等方向發(fā)展。而隨著近年來絲網(wǎng)印刷技術(shù)的不斷升級細(xì)化，激光雕刻等新工藝不斷完善成熟，使得在ITO、普通玻璃和聚酯薄膜材料上得到導(dǎo)電線路越來越細(xì)，尤其是激光蝕刻的導(dǎo)電銀漿線路最細(xì)可以達到L/S-20/20μm；使用感光銀漿得到線路甚至可以達到L/S-10/10μm。
隨著導(dǎo)電線路越來越細(xì)，使得銀遷移發(fā)生的幾率越來越高。每年因發(fā)生銀遷移而引起的失效案例也越來越多。銀遷移(Silver Migration)現(xiàn)象是指在存在直流電壓梯度的潮濕環(huán)境中，水分子滲入含銀導(dǎo)體表面電解形成氫離子和氫氧根離子，電解反應(yīng)如下所示：
H2O→H++OH-
銀在電場及氫氧根離子的作用下，離解產(chǎn)生銀離子，并產(chǎn)生下列可逆反應(yīng)：
在電場的作用下，銀離子從高電位向低電位遷移，并形成絮狀或枝蔓狀擴展，在高低電位相連的邊界上形成黑色氧化銀。
由于導(dǎo)電線路越來越細(xì)，大家越來越關(guān)注基礎(chǔ)材料本身的抗銀遷移能力。近年來，電容屏發(fā)展的井噴之勢和持續(xù)火爆大大促進了觸摸屏電子漿料的發(fā)展。據(jù)市場調(diào)研機構(gòu)Gartner分析，未來幾年智能手機、平板電腦和3D電視等產(chǎn)品銷量平均增長率都將超過50％，電容屏將是以上產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展最直接的受益者，這些都使得觸摸屏導(dǎo)電漿料的需求量將呈指數(shù)級增加。但是，目前我國觸摸屏導(dǎo)電漿料大部分依賴進口，而且業(yè)內(nèi)抗銀遷移能力較好的銀漿品牌為韓國INKTEC，國內(nèi)漿料市場份額依舊很小，但觸摸屏組件的銷量卻非常龐大，觸摸屏專用漿料的技術(shù)還未能取得重大突破，漿料的抗銀遷移性能與韓國、日本一些廠家相比仍然存在一定差距。若想要加速抗銀遷移銀漿的研發(fā)效率，就必須有一種能夠方便、快捷評價銀漿抗銀遷移能力的實驗方法。
技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的就是為了測試觸摸屏導(dǎo)電漿料自身的抗銀遷移能力，尤其是在絲網(wǎng)印刷以及激光蝕刻細(xì)微精致導(dǎo)電線路方面，提供了一種能夠測試觸摸屏專用導(dǎo)電漿料抗銀遷移能力的方法。
本發(fā)明的測試觸摸屏專用導(dǎo)電漿料抗銀遷移能力的方法包括測試工具、測試原理、測試結(jié)果分析等方面，其中測試工具包括直流穩(wěn)壓電源、移液槍、測試網(wǎng)版、無紙記錄儀、半自動印刷機、激光蝕刻機、導(dǎo)線與PET膜。測試原理等效為一個電容器與二極管串聯(lián)，利用二極管擊穿分壓的原理，使電容器兩端電壓產(chǎn)生一定壓降。原來測試線路等效的電容器介質(zhì)為空氣，滴水之后，介質(zhì)變成了水，水和空氣的介電常數(shù)不一樣，所以電容器兩端電壓會產(chǎn)生變化，但此時仍然是電容器，直到銀遷移發(fā)生的一瞬間，電容器導(dǎo)通，成為一個阻值很高的電阻，二極管正常工作，等效為一個電阻。隨著銀遷移數(shù)量增多，樣片電阻逐漸下降，樣片上的電壓也會隨之變化。根據(jù)記錄儀導(dǎo)出的數(shù)據(jù)，找到電壓突變的第二個點，即為銀遷移發(fā)生的第一時間點。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：
一種測試觸摸屏銀漿抗銀遷移能力的實驗方法，其中：
所述去離子水電導(dǎo)率為0.1～5.0μS/cm，以防止其它雜質(zhì)離子對實驗結(jié)果的影響。所述的每次測試所使用去離子水量為1～500μL，以保證每次環(huán)境的一致性。優(yōu)選地，使用移液槍，或可控量程的注射裝置來控制水滴的體積。所述的數(shù)據(jù)記錄儀為無紙記錄儀，全程記錄測試圖形兩端電壓變化，測試結(jié)果準(zhǔn)確，數(shù)據(jù)處理方便。無紙記錄儀量程設(shè)置為0～12V。所述的測試電壓為0.2V～12.0V，電源可選擇直流穩(wěn)壓電源或者額定功率大于所有回路總功率之和的電池。優(yōu)選直流穩(wěn)壓電源，所有電路并聯(lián)安裝。所述的測試圖形，線間距為50～450μm。優(yōu)選地，所述線間距220μm。
本發(fā)明提出一種觸摸屏銀漿專用的抗銀遷移能力的測試方法，該方法包括以下幾個步驟：
步驟一，印刷測試圖形樣片。
將制作好的網(wǎng)版放到絲印機上，取一定量樣品，印刷得到測試圖形樣片；或?qū)⒂∷D形用激光蝕刻成圖中測試線條的形狀，線間距為30～450μm。
步驟二，連接測試線路。
如圖1所示，將電源正負(fù)極分別連接在兩個測試塊上，將記錄儀電壓信號輸入接 口，也連接到兩個測試塊上，用防水絕緣膠水或膠帶橫向貼在測試圖形上，保證單次測量間距為0.1～5.0mm。
步驟三，測試。
用移液槍在測試預(yù)留位置滴加1～500μL去離子水，觀察記錄儀電壓曲線，當(dāng)電壓出現(xiàn)第二個突降點時，斷開電路，導(dǎo)出記錄儀中的數(shù)據(jù)。找到數(shù)據(jù)曲線上第二個電壓突降的點，即為銀遷移發(fā)生的點，線路失效的第一時間。
步驟四，重復(fù)測試。
沿圖1中絕水膠帶上邊緣剪掉，剩余圖形可以重復(fù)測試。
本發(fā)明中的測試方法，采用去離子水提供銀遷移需要的水分子，無紙記錄儀全程記錄數(shù)據(jù)，大大縮短了測試銀遷移的時間，改善了觸摸屏銀漿產(chǎn)品銀遷移測試的效率，提高了測試數(shù)據(jù)的系統(tǒng)性與準(zhǔn)確性，使得研發(fā)抗銀遷移觸摸屏銀漿的結(jié)果反饋更加及時、準(zhǔn)確。移液槍、穩(wěn)壓電源、防水膠帶的加入，改善了水滴條件的準(zhǔn)確性；確保了實驗結(jié)果的一致性與可重復(fù)性。
附圖說明
圖1為本發(fā)明測試線路的示意圖，圖中標(biāo)記分別如下所述：
1、二極管；2、穩(wěn)壓電源；3、記錄儀；4、移液槍；5、測試圖形；6、防水膠帶；7、去離子水。
具體實施方式
下面結(jié)合具體實施方式對本發(fā)明進行詳細(xì)說明。
實例一
步驟一，印刷樣品。
將制作好的網(wǎng)版放到絲印機上，取100g漿料樣品，印刷10片樣片，線距取250μm，固化。
步驟二，連接電路。
如圖1所示，將電源正負(fù)極分別連接在兩個測試塊上，將記錄儀電壓信號輸入接口，也連接到兩個測試塊上，用防水絕緣膠水或膠帶橫向貼在測試圖形上，保證單次 測量間距為3mm，
步驟三，測試。
用移液槍在測試預(yù)留位置滴加50μL的去離子水，觀察記錄儀電壓曲線，當(dāng)電壓下降至1.3v以下時，斷開電路，將記錄儀中的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，找到數(shù)據(jù)曲線上第二個電壓突降的點，即為銀遷移發(fā)生的點，線路失效的第一時間。
步驟四，重復(fù)測試。
沿圖1中防水膠帶上邊緣剪掉，剩余圖形可以重復(fù)測試。
實例二
步驟一，印刷樣品。
將制作好的網(wǎng)版放到絲印機上，取100g漿料樣品，印刷10片樣片，固化后，用激光雕刻出圖1中測試圖形形狀，線間距為250μm。
步驟二，連接電路。
如圖1所示，測試線路的連接，將電源正負(fù)極分別連接在兩個測試塊上，將記錄儀電壓信號輸入接口，也連接到兩個測試塊上，用防水絕緣膠水或膠帶橫向貼在測試圖形上，保證單次測量間距為3mm。
步驟三，測試。
用移液槍在測試預(yù)留位置滴加50μL的去離子水，觀察記錄儀電壓曲線，當(dāng)電壓下降至1.3v以下時，斷開電路，導(dǎo)出記錄儀中的數(shù)據(jù)，找到數(shù)據(jù)曲線上，第二個電壓突降的點，即為銀遷移發(fā)生的點，線路失效的第一時間。
步驟四，重復(fù)測試。
沿圖1中防水膠帶上邊緣剪掉，剩余圖形可以重復(fù)測試。
以上結(jié)合最佳實施例對本發(fā)明進行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進行的修改、等效組合。