光子波譜分析儀的制作方法
【專利摘要】光子波譜分析儀，其特征在于，主要包括：光束導(dǎo)入裝置，光束過濾板，光束整流裝置，光束偏振裝置，光束諧波裝置，光柵裝置，光束折光裝置，八棱透鏡，標(biāo)準(zhǔn)光源裝置，轉(zhuǎn)換裝置，放大裝置，穩(wěn)流裝置，記錄與顯示裝置；其中，光束導(dǎo)入裝置含有十三陵偏光透鏡，該透鏡表面覆蓋有厚度為9.77um的六甲胺九溴酸鉻锫納米復(fù)合濾光膜，光束過濾板含有濾光透鏡，該透鏡表面含有六磷酸鎘錫納米復(fù)合薄膜，光束整流裝置含有透光整流薄膜，該薄膜含有硫酸鋯鎂復(fù)合材料，光束偏振裝置含有偏振反射鏡，該反射鏡表明覆蓋有十二烷基溴酸錸復(fù)合反光膜，標(biāo)準(zhǔn)光源裝置含有光束發(fā)電極，該電極材料為氧化釕鋨合金。
【專利說明】光子波譜分析儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光子波譜分析領(lǐng)域，尤其涉及光子波譜分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]光子波譜分析，對(duì)于原子結(jié)構(gòu)特性以及基團(tuán)性質(zhì)分析具有重要意義，單原子氣體或金屬蒸氣所發(fā)的光波均有線狀光譜，當(dāng)原子能量從較高能級(jí)向較低能級(jí)躍遷時(shí)，就輻射出波長(zhǎng)單一的光波。這種波長(zhǎng)單一的單色光是不存在的，由于能級(jí)本身有一定寬度和多普勒效應(yīng)等原因，原子所輻射的光譜線總會(huì)有一定寬度；在較窄的波長(zhǎng)范圍內(nèi)仍包含各種不同的波長(zhǎng)成分。原子光譜按波長(zhǎng)的分布規(guī)律反映了原子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，每種原子都有自己特殊的光譜系列。通過對(duì)原子光譜的研究可了解原子內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，對(duì)樣品所含成分進(jìn)行定性和定量分析。但是現(xiàn)有光子波譜分析技術(shù)對(duì)于由于分子的電子態(tài)的變化而產(chǎn)生光子與分子轉(zhuǎn)動(dòng)和振動(dòng)狀態(tài)之間的關(guān)聯(lián)無法實(shí)現(xiàn)有效的分析，因此，需要對(duì)現(xiàn)有技術(shù)提出改進(jìn)，設(shè)計(jì)一種新的光子波譜分析儀。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服現(xiàn)有裝置的不足之處，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
[0004]光子波譜分析儀，其特征在于，主要包括:
[0005]I—光束導(dǎo)入裝置，2—光束過濾板，3—光束整流裝置，4—光束偏振裝置，5—光束諧波裝置，6—光柵裝置，7-光束折光裝置，8—八棱透鏡，9一標(biāo)準(zhǔn)光源裝置，10-轉(zhuǎn)換裝置，11—放大裝置，12—穩(wěn)流裝置，13—記錄與顯不裝置；
[0006]其中，
[0007]光束導(dǎo)入裝置(I)含有十三陵偏光透鏡，該透鏡表面覆蓋有厚度為9.77um的六甲胺九溴酸鉻锫納米復(fù)合濾光膜，
[0008]光束過濾板(2)含有濾光透鏡，該透鏡表面含有六磷酸鎘錫納米復(fù)合薄膜，
[0009]光束整流裝置(3)含有透光整流薄膜，該薄膜含有硫酸鋯鎂復(fù)合材料，
[0010]光束偏振裝置(4)含有偏振反射鏡，該反射鏡表明覆蓋有十二烷基溴酸錸復(fù)合反光膜，
[0011]標(biāo)準(zhǔn)光源裝置(9)含有光束發(fā)電極，該電極材料為氧化釕鋨合金。
[0012]光束導(dǎo)入裝置(I)主要用于待分析光束的篩選與導(dǎo)入，光束過濾板(2)主要用于外來干擾光束的去除，光束整流裝置(3)主要用于散射光束的調(diào)控與約束，光束偏振裝置
(4)主要用于光束的偏振控制，實(shí)現(xiàn)光束傳導(dǎo)的高效，減少光束的過快衰減，光束諧波裝置
(5)主要用于光束的波形調(diào)整，避免光束波段異常，光柵裝置(6)主要用于光譜的分離以及光譜衍射程度的分析，光束折光裝置(7)主要用于光束傳播路徑的引導(dǎo)，八棱透鏡(8)主要用于標(biāo)準(zhǔn)光束的隔離分析。
[0013]標(biāo)準(zhǔn)光源裝置(9)主要用于校正光源的提供，用于儀器誤差的校準(zhǔn)和干擾誤差的排除，轉(zhuǎn)換裝置(10)主要用于光電信號(hào)的轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)光譜信號(hào)的可視化分析，放大裝置(11)主要用于信號(hào)的放大傳輸，穩(wěn)流裝置(12)主要用于傳輸信號(hào)的穩(wěn)定控制，防止信號(hào)波動(dòng)幅度過大超過儀器載荷，記錄與顯示裝置(13)主要用于檢測(cè)分析信號(hào)的顯示與保存。
[0014]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是:
[0015](I)通過光束的偏振控制，實(shí)現(xiàn)光束傳導(dǎo)的高效，減少光束的過快衰減；
[0016](2)通過光束諧波裝置實(shí)現(xiàn)光束的波形調(diào)整，避免光束波段異常，
[0017](3)通過標(biāo)準(zhǔn)光源裝置(9)實(shí)現(xiàn)校正光源的提供，用于儀器誤差的校準(zhǔn)和干擾誤差的排除。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0018]圖1是光子波譜分析儀的示意圖
[0019]如圖1所示，本發(fā)明所述的光子波譜分析儀，主要包括:
[0020]I—光束導(dǎo)入裝置，2—光束過濾板，3—光束整流裝置，
[0021 ]4—光束偏振裝置，5—光束諧波裝置，6—光柵裝置，
[0022]7—光束折光裝置，8—八棱透鏡，9—標(biāo)準(zhǔn)光源裝置，
[0023]10—轉(zhuǎn)換裝置，11—放大裝置，12—穩(wěn)流裝置，13—記錄與顯不裝置；
[0024]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
【具體實(shí)施方式】
[0025]首先，通過光束導(dǎo)入裝置(I)進(jìn)行待分析光束的篩選與導(dǎo)入，采用光束過濾板(2)實(shí)現(xiàn)外來干擾光束的去除，通過光束整流裝置(3)進(jìn)行散射光束的調(diào)控與約束，采用光束偏振裝置(4)能夠?qū)崿F(xiàn)光束的偏振控制，實(shí)現(xiàn)光束傳導(dǎo)的高效，減少光束的過快衰減，通過光束諧波裝置(5)實(shí)現(xiàn)光束的波形調(diào)整，避免光束波段異常，然后再通過光柵裝置(6)進(jìn)行光譜的分離以及光譜衍射程度的分析，用光束折光裝置(7)實(shí)現(xiàn)光束傳播路徑的引導(dǎo)，
[0026]然后，采用八棱透鏡(8)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)光束的隔離分析，通過標(biāo)準(zhǔn)光源裝置(9)進(jìn)行校正光源的提供，用于儀器誤差的校準(zhǔn)和干擾誤差的排除，借助于轉(zhuǎn)換裝置(10)實(shí)現(xiàn)光電信號(hào)的轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)光譜信號(hào)的可視化分析，通過放大裝置(11)進(jìn)行信號(hào)的放大傳輸，采用穩(wěn)流裝置(12)用于傳輸信號(hào)的穩(wěn)定控制，防止信號(hào)波動(dòng)幅度過大超過儀器載荷，最后，通過記錄與顯示裝置(13)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)分析信號(hào)的顯示與保存。
【權(quán)利要求】
1.光子波譜分析儀，其特征在于，主要包括: I—光束導(dǎo)入裝置，2—光束過濾板，3—光束整流裝置，4—光束偏振裝置，5—光束諧波裝置，6—光柵裝置，7—光束折光裝置，8—八棱透鏡，9一標(biāo)準(zhǔn)光源裝置，10--轉(zhuǎn)換裝置，11一放大裝置，12—穩(wěn)流裝置，13—記錄與顯不裝置； 其中， 光束導(dǎo)入裝置(I)含有十三陵偏光透鏡，該透鏡表面覆蓋有厚度為9.77um的六甲胺九溴酸鉻锫納米復(fù)合濾光膜， 光束過濾板(2)含有濾光透鏡，該透鏡表面含有六磷酸鎘錫納米復(fù)合薄膜， 光束整流裝置(3)含有透光整流薄膜，該薄膜含有硫酸鋯鎂復(fù)合材料， 光束偏振裝置(4)含有偏振反射鏡，該反射鏡表明覆蓋有十二烷基溴酸錸復(fù)合反光膜， 標(biāo)準(zhǔn)光源裝置(9 )含 有光束發(fā)電極，該電極材料為氧化釕鋨合金。
【文檔編號(hào)】G01J3/02GK104019896SQ201410230848
【公開日】2014年9月3日 申請(qǐng)日期:2014年5月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月28日
【發(fā)明者】?jī)?chǔ)冬紅, 彭飛, 郭睦庚 申請(qǐng)人:成都中遠(yuǎn)千葉科技有限公司