高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括高低溫箱和設(shè)置在其內(nèi)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，測(cè)試機(jī)構(gòu)包括安裝支架、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、密封圈安裝軸、被試密封圈和收集器；被試密封圈穿設(shè)在安裝支架的底部上，并用埋塵的方式模擬月塵環(huán)境，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為穿設(shè)在被試密封圈內(nèi)的密封圈安裝軸提供動(dòng)力，使其相對(duì)于密封圈轉(zhuǎn)動(dòng)。本發(fā)明還提供了一種高低溫測(cè)試方法，采用上述裝置，將測(cè)試機(jī)構(gòu)放到高低溫箱中后，對(duì)其進(jìn)行模擬月面環(huán)境溫度的設(shè)定，啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)一定轉(zhuǎn)數(shù)后停止，拆下收集器用放大鏡檢測(cè)收集器上通過(guò)灰塵數(shù)量并估算其直徑，看是否滿足指標(biāo)要求。本發(fā)明測(cè)試檢測(cè)一體化設(shè)計(jì)，有與實(shí)際相符的高低溫測(cè)試環(huán)境，且能直觀、準(zhǔn)確的判斷出密封圈的密封性能。
【專(zhuān)利說(shuō)明】高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及防塵密封圈密封性能的驗(yàn)證技術(shù)，特別涉及一種高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]在月球表面，月晝高溫能達(dá)到150° C，月夜低溫達(dá)到-180° C，溫差極大，并且月塵帶靜電。月面探測(cè)器在工作過(guò)程中，探測(cè)器暴露在外的機(jī)構(gòu)和運(yùn)動(dòng)關(guān)節(jié)若不采取有效的防塵措施，月塵進(jìn)入機(jī)構(gòu)內(nèi)部會(huì)增大運(yùn)動(dòng)部件摩擦，降低傳動(dòng)效率，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致機(jī)構(gòu)卡死。因此必須采取密封措施防止月塵進(jìn)入機(jī)構(gòu)內(nèi)部，從而消除月塵對(duì)機(jī)構(gòu)的影響。
[0004]應(yīng)用于高低溫環(huán)境下的輕小型防塵密封圈密封性能的考核與驗(yàn)證關(guān)系著密封圈能否正常使用。目前防塵密封圈密封性能的測(cè)試基本局限于常溫環(huán)境下。在330度的大溫差環(huán)境下防塵性能的測(cè)試還沒(méi)有出現(xiàn)過(guò)。申請(qǐng)?zhí)枮?01110320877.5，專(zhuān)利名稱(chēng)為“旋轉(zhuǎn)軸唇形密封圈防干燥灰塵實(shí)驗(yàn)方法”的專(zhuān)利中，公開(kāi)了一種密封件防塵實(shí)驗(yàn)方法，其驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)密封圈旋轉(zhuǎn)，同時(shí)驅(qū)動(dòng)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)攪動(dòng)灰塵罩內(nèi)的灰塵，最后檢測(cè)密封圈唇間的灰塵得出密封圈的密封性能。該專(zhuān)利存在以下缺點(diǎn):第一，由于月塵與地面灰塵有較大區(qū)別，地球重力、大氣等環(huán)境引起的灰塵運(yùn)動(dòng)模式也不一樣，驅(qū)動(dòng)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)攪動(dòng)灰塵罩內(nèi)的灰塵無(wú)法達(dá)到月球上灰塵的揚(yáng)塵、塵土懸浮的效果，無(wú)法考核月面防塵效果；第二，上述專(zhuān)利通過(guò)測(cè)試密封唇件灰塵的數(shù)量來(lái)判斷密封性，但即使密封唇間存在少量灰塵，也不影響防塵效果，不影響機(jī)構(gòu)的正常運(yùn)行，由于月球上粉塵粒子更細(xì)，穿透性更強(qiáng)，在月球環(huán)境下防塵技術(shù)手段更難，所以上述專(zhuān)利的試驗(yàn)效果不佳；第三，如果是測(cè)唇間灰塵，密封圈的拆卸過(guò)程中容易帶進(jìn)外部灰塵，甚至是實(shí)驗(yàn)裝置中的灰塵，易造成二次污染。
[0005]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]為了解上述問(wèn)題本發(fā)明還提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括一測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)一步包括:
安裝支架，內(nèi)部呈一矩形容置空間；
驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，安裝在安裝支架的頂部上，所述驅(qū)動(dòng)軸的下端設(shè)置有一密封圈安裝軸，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為所述密封圈安裝軸提供動(dòng)力使其轉(zhuǎn)動(dòng)；所述密封圈安裝軸的下端穿出所述安裝支架的底部；
被試密封圈，穿設(shè)在所述安裝支架的底部上，且所述被試密封圈的外徑部分與所述支架底部過(guò)盈配合，并通過(guò)一固定板壓緊；所述被試密封圈套設(shè)在所述密封圈安裝軸上，所述密封圈安裝軸相對(duì)于所述被試密封圈轉(zhuǎn)動(dòng)；所述安裝支架的容置空間內(nèi)的下端形成一埋塵空間，用于放置灰塵，且所述被試密封圈的上端埋設(shè)在所述灰塵內(nèi)；
收集器，設(shè)置在所述安裝支架底部的外側(cè)面上，且所述收集器覆蓋所述密封圈安裝軸的底端和所述被試密封圈的下端面。
[0007]較佳地，所述高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置還包括一高低溫箱，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)放置在所述高低溫箱內(nèi)，所述高低溫箱用于模擬月球表面環(huán)境溫度。
[0008]較佳地，所述安裝支架底部與所述密封圈安裝軸相對(duì)的位置處設(shè)置有一第一通孔，所述密封圈安裝軸的下端穿過(guò)所述第一通孔，且所述被試密封圈安裝在所述第一通孔的內(nèi)側(cè)壁上；
較佳地，所述安裝支架底部的內(nèi)側(cè)端面上設(shè)置有所述固定板，所述固定板壓在所述被試密封圈的上端面上；所述固定板上設(shè)置有第二通孔，所述密封圈安裝軸穿過(guò)所述第二通孔，且所述第二通孔與所述密封圈安裝軸之間存在間隙。
[0009]較佳地，所述搜集裝置安裝在所述安裝支架底部的外側(cè)端面上，所述收集器的外側(cè)端面上與所述被試密封圈相對(duì)的位置處設(shè)置有一凹槽，且所述凹槽的槽口壓在所述被試密封圈下端面的外側(cè)邊緣上。
[0010]本發(fā)明還提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，采用如上所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括以下步驟:
步驟一:將所述被試密封圈安裝到所述密封圈安裝軸與所述安裝支架底部之間，并在潔凈的環(huán)境下安裝好所述收集器；
步驟二:向所述安裝支架內(nèi)側(cè)的容置空間內(nèi)放入灰塵，并使灰塵覆蓋所述被試密封
圈；
步驟三:啟動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，使所述密封圈安裝軸相對(duì)于所述被試密封圈運(yùn)轉(zhuǎn)規(guī)定轉(zhuǎn)數(shù)后停止工作；
步驟四:將所述收集器拆卸下來(lái)，用放大鏡觀察所述收集器上的灰塵的數(shù)量以及直徑，將獲取的灰塵的數(shù)量和直徑與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比。
[0011]較佳地，在所述收集器安裝前，對(duì)所述收集器進(jìn)行清理和檢驗(yàn)。
[0012]較佳地，所述高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置還包括一高低溫箱，啟動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)前將所述測(cè)試機(jī)構(gòu)放置到所述高低溫箱內(nèi)，并對(duì)所述高低溫箱進(jìn)行溫度設(shè)定以模擬月球表面環(huán)境溫度。
[0013]較佳地，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)停止工作后，在潔凈環(huán)境下拆卸下所述收集器。
[0014]本發(fā)明由于采用以上技術(shù)方案，使之與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點(diǎn)和積極效果:
1)本發(fā)明提供的高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法，采用密封圈埋入灰塵的方式加嚴(yán)考核密封圈的密封性能，以適用于密封圈在月面環(huán)境下防塵效果的考察；
2)本發(fā)明提供的高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法，通過(guò)收集器上灰塵的數(shù)量和直徑來(lái)判斷防塵效果，具有直觀、準(zhǔn)確的判斷出密封圈的密封性能的特點(diǎn)；
3)本發(fā)明提供的高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法，在潔凈環(huán)境下安裝和拆卸收集器，避免了收集器的二次污染，從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0015]4)本發(fā)明提供的高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法，引入高低溫箱，使得本發(fā)明適用于高低溫環(huán)境下輕小型防塵密封圈的密封圈的測(cè)試。
[0016]【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0017]結(jié)合附圖，通過(guò)下文的詳細(xì)說(shuō)明，可更清楚地理解本發(fā)明的上述及其他特征和優(yōu)點(diǎn)，其中:
圖1為本發(fā)明測(cè)試機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明被試密封圈的安裝局部示意圖；
圖3為本發(fā)明溫度試驗(yàn)程序圖。
[0018]符號(hào)說(shuō)明:
1-安裝支架
2-驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)
3-密封圈安裝軸
4-被試密封圈
5-收集器 51-凹槽
6-安裝支架底部 61-凹槽部分
7-固定板
8-埋塵空間
9-高低溫箱。
[0019]
【具體實(shí)施方式】
[0020]參見(jiàn)本發(fā)明實(shí)施例的附圖，下文將更詳細(xì)地描述本發(fā)明。然而，本發(fā)明可以以許多不同形式實(shí)現(xiàn)，并且不應(yīng)解釋為受在此提出之實(shí)施例的限制。相反，提出這些實(shí)施例是為了達(dá)成充分及完整公開(kāi)，并且使本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員完全了解本發(fā)明的范圍。這些附圖中，為清楚起見(jiàn)，可能放大了層及區(qū)域的尺寸及相對(duì)尺寸。
[0021]針對(duì)月面輕小型聚四氟乙烯防塵密封圈高低溫環(huán)境下密封性能的測(cè)試，本發(fā)明提供了一種高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置及測(cè)試方法，通過(guò)獲得的被試密封圈與密封圈安裝軸之間在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中灰塵的泄露量，進(jìn)行與標(biāo)準(zhǔn)值的對(duì)比來(lái)獲得被試密封圈的密封性能。
[0022]參考圖1，本發(fā)明提供了一種高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括一測(cè)試機(jī)構(gòu)，該測(cè)試機(jī)構(gòu)由安裝支架1、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2、密封圈安裝軸3、被試密封圈4和收集器5組成。具體的，安裝支架I呈一矩形狀，其內(nèi)部形成一矩形空間。驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2的上端安裝到安裝支架I的內(nèi)側(cè)頂部上，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2的下端連接有一密封圈安裝軸3，密封圈安裝軸3的下端穿過(guò)安裝支架I的底部，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2為密封圈安裝軸提供動(dòng)力使其轉(zhuǎn)動(dòng)；其中，密封圈安裝軸3為可替換軸，可根據(jù)被試密封圈4的不同型號(hào)、不同大小，以及實(shí)際工作中軸的材質(zhì)，加工特定的密封圈安裝軸3，運(yùn)用到密封性能試驗(yàn)中。
[0023]在本實(shí)施例中，被試密封圈4安裝在安裝支架I的底部上。支架底部6為一可拆卸安裝板，安裝支架底部6通過(guò)螺釘?shù)确绞桨惭b到安裝支架I上；安裝支架底部6與密封圈安裝軸3的對(duì)應(yīng)位置處設(shè)置有一第一通孔，被試密封圈4穿設(shè)在第一通孔內(nèi)，被試密封圈4的外側(cè)壁緊靠所述第一通孔的內(nèi)側(cè)壁；其中，如圖2所示，被試密封圈4的上端邊緣處設(shè)計(jì)有一凸起部分，第一通孔的上端邊緣處設(shè)置有與凸起部分相匹配的凹槽部分61，當(dāng)被試密封圈4安裝到第一通孔內(nèi)的時(shí)候，凸起部分剛好卡到凹槽部分61內(nèi)，起到加強(qiáng)被試密封圈4與安裝支架底部6之間的連接。密封圈安裝軸3穿設(shè)在被試密封圈4的內(nèi)；密封圈安裝軸3在驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2的作用下相對(duì)于被試密封圈4轉(zhuǎn)動(dòng)。
[0024]安裝支架底部6的內(nèi)側(cè)端面上還設(shè)置有一固定板7，固定板7的中間位置上設(shè)置有第二通孔，密封圈安裝軸3穿過(guò)固定板7的第二通孔；固定板7通過(guò)螺釘?shù)确绞桨惭b到安裝支架底部6的內(nèi)側(cè)端面上，并使得第一通孔和第二通孔同軸設(shè)置，第二通孔的邊緣剛好壓在被試密封圈4上端面的靠近邊緣的位置上，且保證第二通孔的內(nèi)側(cè)壁與密封圈安裝軸3之間留有間隙；固定板7主要用于對(duì)被試密封圈4進(jìn)行進(jìn)一步的固定，提高試驗(yàn)效果。安裝支架底部6的上方與安裝支架I之間形成埋塵空間8，在埋塵空間8內(nèi)加入用于試驗(yàn)的灰塵，并使灰塵覆蓋安裝支架底部6、固定板7、被試密封圈4以及密封圈安裝軸3。由于月塵與地面灰塵有較大區(qū)別，地球重力、大氣等環(huán)境引起的灰塵運(yùn)動(dòng)模式也不一樣，若如現(xiàn)有技術(shù)中采用驅(qū)動(dòng)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)攪動(dòng)灰塵無(wú)法達(dá)到月球上灰塵的揚(yáng)塵、塵土懸浮的效果，無(wú)法考核月面防塵效果，本發(fā)明采用密封圈埋入塵土的方式加嚴(yán)考核密封性能，提高性能測(cè)試的效果，且適用于用在月面環(huán)境下的密封圈的性能測(cè)試。
[0025]在本實(shí)施例中，收集器5安裝在安裝支架底部6的外側(cè)端面上。具體的，收集器5與安裝支架底部6相對(duì)的端面上設(shè)置有一凹槽51 ;收集器5通過(guò)螺釘?shù)确绞桨惭b到安裝支架底部6上，密封圈安裝軸3的底部位于凹槽51內(nèi)，凹槽51的槽口部分壓在被試密封圈4下端面的外側(cè)邊緣上，且凹槽51的內(nèi)側(cè)壁與密封圈安裝軸3之間留有間隙，以便于收集器5收集槽被試密封圈4與密封圈安裝軸之間泄漏下來(lái)的灰塵。
[0026]在本實(shí)施例中，該高低溫環(huán)境防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置還包括一高低溫箱9，用于模擬各種高低溫環(huán)境。具體的，將設(shè)置有被試密封圈4的測(cè)試機(jī)構(gòu)放入到高低溫箱9中，且在安裝支架底部用耐高低溫膠帶(例如3M92聚酰亞胺薄膜膠帶)固定一溫度傳感器，用于檢測(cè)環(huán)境溫度。根據(jù)月面實(shí)際的溫度環(huán)境情況，對(duì)高低溫箱9進(jìn)行設(shè)定，使其內(nèi)部模擬形成月球表面環(huán)境溫度。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2選擇能夠耐高低溫的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，在試驗(yàn)過(guò)程中，整個(gè)測(cè)試機(jī)構(gòu)是放入高低溫箱9中的，被試密封圈4的密封圈性能測(cè)試過(guò)程中的旋轉(zhuǎn)需要由驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)提供，因此驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)本身需要具備環(huán)境適應(yīng)能力和在高低溫環(huán)境下的工作能力。本發(fā)明引入高低溫箱9，使其適用于高低溫環(huán)境下輕小型防塵密封圈的密封圈性能測(cè)試。
[0027]本發(fā)明還提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，采用如上所述的裝置進(jìn)行密封性能測(cè)試，包括如下步驟:
步驟一:將被試密封圈4安裝到密封圈安裝軸3與安裝支架底部6之間，并在潔凈的環(huán)境下安裝好收集器5。
[0028]具體的，首相將被試密封圈4安裝到安裝支架底部6上，并通過(guò)固定板7對(duì)被試密封圈4進(jìn)行進(jìn)一步的固定，將安裝有被試密封圈4的安裝支架底部6通過(guò)螺釘安裝到安裝支架I上。然后，在潔凈的環(huán)境下將收集器5安裝到安裝支架底部6上，在潔凈的環(huán)境下進(jìn)行安裝，是為了防止外界的灰塵進(jìn)入到收集器內(nèi)，影響試驗(yàn)結(jié)果。另外，在收集器5安裝前可進(jìn)行適當(dāng)?shù)那謇砗蜋z修，以免影響試驗(yàn)結(jié)果的判斷。
[0029]步驟二:向安裝支架I內(nèi)側(cè)的容置空間內(nèi)放入灰塵，并使灰塵覆蓋被試密封圈4。
[0030]具體的，將用于試驗(yàn)的灰塵加入到安裝支架底部6上側(cè)與安裝支架I之間的埋塵空間內(nèi)，并保證被試密封圈4被埋在灰塵下，加嚴(yán)考核密封性能，提高性能測(cè)試的效果，且適用于用在月面環(huán)境下的密封圈的性能測(cè)試。在加入灰塵的過(guò)程中，注意避免污染到收集器5，以防影響試驗(yàn)結(jié)果的判斷。
[0031]在本實(shí)施例中，測(cè)試機(jī)構(gòu)設(shè)置好后，將整個(gè)測(cè)試機(jī)構(gòu)放入到高低溫箱中，高低溫箱內(nèi)形成一可控的高低溫環(huán)境。然后，對(duì)高低溫箱進(jìn)行溫度設(shè)定，可根據(jù)實(shí)際工況對(duì)高低溫箱設(shè)定高低溫環(huán)境變化曲線圖，例如如圖3中所示的試驗(yàn)溫度程序圖，圖中設(shè)置有常溫點(diǎn)、低溫點(diǎn)a、低溫點(diǎn)b、高溫點(diǎn)c等，在設(shè)定的溫度點(diǎn)進(jìn)行密封圈運(yùn)轉(zhuǎn)，測(cè)試密封性能，其中升溫、降溫速率一般控制在3° C/min。在本實(shí)施例中，主要是針對(duì)月球表面高低溫環(huán)境來(lái)進(jìn)行設(shè)定的，當(dāng)然也可根據(jù)具體情況進(jìn)行一定的調(diào)整，此處不作限制。
[0032]步驟三:啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)2，使密封圈安裝軸3相對(duì)被試密封圈4運(yùn)轉(zhuǎn)規(guī)定轉(zhuǎn)數(shù)后停止工作。
[0033]其中密封圈安裝軸3運(yùn)轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)數(shù)，可根據(jù)具體情況進(jìn)行設(shè)置，此處不作限制。
[0034]步驟四:將收集器5拆卸下來(lái)，用放大鏡觀察收集器5上的灰塵的數(shù)量以及直徑，將獲取的灰塵的數(shù)量和直徑與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比。
[0035]具體的，首先將測(cè)試機(jī)構(gòu)從高低溫箱中取出，然后在潔凈的環(huán)境下將收集器5從安裝支架底座6上拆卸下來(lái)，以防止收集器收到二次污染，影響試驗(yàn)結(jié)果的判斷。收集器5拆卸下來(lái)后，通過(guò)放大鏡對(duì)收集器5上的灰塵進(jìn)行觀察，以檢測(cè)到收集器5上灰塵的數(shù)量，并估算其直徑；再將獲取的灰塵的數(shù)量和直徑與標(biāo)準(zhǔn)要求值進(jìn)行對(duì)比，從而來(lái)判斷被試密封圈的密封性能。
[0036]綜上所述，本發(fā)明提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括高低溫箱和設(shè)置在其內(nèi)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，測(cè)試機(jī)構(gòu)內(nèi)部設(shè)有埋塵空間、安裝支架、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、被試密封圈和收集器，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)安裝在安裝支架上，其下端設(shè)置有一密封圈安裝軸；被試密封圈穿設(shè)在安裝支架的底部上，密封圈安裝軸的下端穿過(guò)被試密封圈至安裝支架的外側(cè)，埋塵空間內(nèi)裝入塵土并覆蓋被試密封圈的上端；收集器設(shè)置在安裝支架底部的外側(cè)面上，覆蓋密封圈安裝軸的底端和被試密封圈的下端面。本發(fā)明還提供了一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，采用如上所述的裝置，首先將安裝有被試密封圈的測(cè)試機(jī)構(gòu)放置到高低溫箱中，并進(jìn)行溫度設(shè)定模擬月面環(huán)境溫度，啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)一定轉(zhuǎn)數(shù)后停止，拆下收集器，用放大鏡檢測(cè)收集器上通過(guò)密封圈的灰塵數(shù)量，并估算其直徑，看是否滿足指標(biāo)要求。本發(fā)明測(cè)試檢測(cè)一體化設(shè)計(jì)，有與實(shí)際相符的高低溫測(cè)試環(huán)境，且能直觀、準(zhǔn)確的判斷出密封圈的密封性能。
[0037]本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員應(yīng)理解，本發(fā)明可以以許多其他具體形式實(shí)現(xiàn)而不脫離本發(fā)明的精神或范圍。盡管已描述了本發(fā)明的實(shí)施例，應(yīng)理解本發(fā)明不應(yīng)限制為這些實(shí)施例，本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員可如所附權(quán)利要求書(shū)界定的本發(fā)明精神和范圍之內(nèi)作出變化和修改。
【權(quán)利要求】
1.一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，其特征在于，包括一測(cè)試機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)一步包括: 安裝支架，內(nèi)部呈一矩形容置空間； 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，安裝在安裝支架的頂部上，所述驅(qū)動(dòng)軸的下端設(shè)置有一密封圈安裝軸，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為所述密封圈安裝軸提供動(dòng)力使其轉(zhuǎn)動(dòng)；所述密封圈安裝軸的下端穿出所述安裝支架的底部； 被試密封圈，穿設(shè)在所述安裝支架的底部上，且所述被試密封圈的外徑部分與所述支架底部過(guò)盈配合，并通過(guò)一固定板壓緊；所述被試密封圈套設(shè)在所述密封圈安裝軸上，所述密封圈安裝軸相對(duì)于所述被試密封圈轉(zhuǎn)動(dòng)；所述安裝支架的容置空間內(nèi)的下端形成一埋塵空間，用于放置灰塵，且所述被試密封圈的上端埋設(shè)在所述灰塵內(nèi)； 收集器，設(shè)置在所述安裝支架底部的外側(cè)面上，且所述收集器覆蓋所述密封圈安裝軸的底端和所述被試密封圈的下端面。
2.如權(quán)利要求1所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置還包括一高低溫箱，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)放置在所述高低溫箱內(nèi)，所述高低溫箱用于模擬月球表面環(huán)境溫度。
3.如權(quán)利要求1或2所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述安裝支架底部與所述密封圈安裝軸相對(duì)的位置處設(shè)置有一第一通孔，所述密封圈安裝軸的下端穿過(guò)所述第一通孔，且所述被試密封圈安裝在所述第一通孔的內(nèi)側(cè)壁上。
4.如權(quán)利要求3所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述安裝支架底部的內(nèi)側(cè)端面上設(shè)置有所述固定板，所述固定板壓在所述被試密封圈的上端面上；所述固定板上設(shè)置有第二通孔，所述密封圈安裝軸穿過(guò)所述第二通孔，且所述第二通孔與所述密封圈安裝軸之間存在間隙。
5.如權(quán)利要求3所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述搜集裝置安裝在所述安裝支架底部的外側(cè)端面上，所述收集器的外側(cè)端面上與所述被試密封圈相對(duì)的位置處設(shè)置有一凹槽，且所述凹槽的槽口壓在所述被試密封圈下端面的外側(cè)邊緣上。
6.一種高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置，包括以下步驟: 步驟一:將所述被試密封圈安裝到所述密封圈安裝軸與所述安裝支架底部之間，并在潔凈的環(huán)境下安裝好所述收集器； 步驟二:向所述安裝支架內(nèi)側(cè)的容置空間內(nèi)放入灰塵，并使灰塵覆蓋所述被試密封圈； 步驟三:啟動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，使所述密封圈安裝軸相對(duì)于所述被試密封圈運(yùn)轉(zhuǎn)規(guī)定轉(zhuǎn)數(shù)后停止工作； 步驟四:將所述收集器拆卸下來(lái)，用放大鏡觀察所述收集器上的灰塵的數(shù)量以及直徑，將獲取的灰塵的數(shù)量和直徑與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比。
7.如權(quán)利要求6所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述收集器安裝前，對(duì)所述收集器進(jìn)行清理和檢驗(yàn)。
8.如權(quán)利要求6所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，其特征在于，所述高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試裝置還包括一高低溫箱，啟動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)前將所述測(cè)試機(jī)構(gòu)放置到所述高低溫箱內(nèi)，并對(duì)所述高低溫箱進(jìn)行溫度設(shè)定以模擬月球表面環(huán)境溫度。
9.如權(quán)利要求6所述的高低溫防塵密封圈密封性能測(cè)試方法，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)停止工作后，在潔凈環(huán)境下拆卸下所述收集器。
【文檔編號(hào)】G01M3/00GK103969004SQ201410200147
【公開(kāi)日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2014年5月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月13日
【發(fā)明者】宗魏, 肖杰, 丁亮亮, 曾占魁, 施飛舟 申請(qǐng)人:上海宇航系統(tǒng)工程研究所