巖體樣本研磨裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種巖體樣本研磨裝置，包括殼體以及與殼體配裝的上蓋，還包括設于殼體內(nèi)的研磨機構(gòu)，驅(qū)動研磨機構(gòu)工作的驅(qū)動裝置以及設于研磨機構(gòu)外部的篩選裝置；所述篩選裝置包括網(wǎng)篩罩，所述網(wǎng)篩罩的底端連接網(wǎng)篩座，所述網(wǎng)篩座與殼體底口活動連接，該裝置可以實現(xiàn)更精確的篩選，保證巖體樣本顆粒大小達到要求后可及時分選出來，防止繼續(xù)研磨產(chǎn)生的高溫破壞巖體樣本中的有機質(zhì)，不影響實驗結(jié)果的精確性，節(jié)省了人力和物力。
【專利說明】巖體樣本研磨裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種在巖體分析實驗中用于精確研磨巖體樣本的儀器，尤其是一種巖體樣本研磨裝置，屬實驗儀器領域。
【背景技術】
[0002]巖體樣本粒度研磨機是一種在巖體分析實驗中用于研磨巖體樣本顆粒的儀器，但是由于現(xiàn)有的巖體樣本粒度研磨機在研磨巖體樣本時無法精確的篩選，顆粒大小經(jīng)過研磨達到要求后不能及時分選出來而繼續(xù)參與研磨，研磨過程中產(chǎn)生的高溫會破壞巖體樣本中的有機質(zhì)，從而對實驗結(jié)構(gòu)產(chǎn)生影響，并且浪費了人力和時間。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]為了解決上述問題，本發(fā)明提出了一種巖體樣本研磨裝置，它可以實現(xiàn)更精確的篩選，保證巖體樣本顆粒大小達到要求后可及時分選出來，防止繼續(xù)研磨產(chǎn)生的高溫破壞巖體樣本中的有機質(zhì)，節(jié)省了人力和物力。
[0004]本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種巖體樣本研磨裝置，包括殼體以及與殼體配裝的上蓋，還包括設于殼體內(nèi)的研磨機構(gòu)，驅(qū)動研磨機構(gòu)工作的驅(qū)動裝置以及設于研磨機構(gòu)外部的篩選裝置；所述篩選裝置包括網(wǎng)篩罩，所述網(wǎng)篩罩的底端連接網(wǎng)篩座，所述網(wǎng)篩座與殼體底口活動連接。
[0005]所述網(wǎng)篩座對應網(wǎng)篩罩的底口部位為密封結(jié)構(gòu)。
[0006]當篩選裝置與殼體連接時，所述網(wǎng)篩罩的頂端與上蓋緊密相抵。
[0007]所述網(wǎng)篩罩和網(wǎng)篩座上的網(wǎng)孔大小相同。
[0008]所述研磨機構(gòu)包括刀具，所述刀具安裝于一刀軸上；所述刀具由周向均布在刀軸上的多片刀片組成。
[0009]所述驅(qū)動裝置為一電機，所述電機設于上蓋內(nèi)，所述電機的輸出軸與刀軸連接。
[0010]所述殼體的底口和網(wǎng)篩座的外周對應設有螺紋結(jié)構(gòu)，兩者旋轉(zhuǎn)連接。
[0011]所述殼體的底口和網(wǎng)篩座的外周對應設有卡扣裝置，兩者彈性卡接。
[0012]該裝置設有支架，能夠支承在殼體的外部。
[0013]該裝置的下部對應殼體的底口設有顆粒收集器。
[0014]本發(fā)明的有益效果是:一種巖體樣本研磨裝置，它可以實現(xiàn)更精確的篩選，保證巖體樣本顆粒大小達到要求后可及時分選出來，防止繼續(xù)研磨產(chǎn)生的高溫破壞巖體樣本中的有機質(zhì)，不影響實驗結(jié)果的精確性，節(jié)省了人力和物力。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明。
[0016]附圖1為一種巖體樣本研磨裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖中，1.電機，2.上蓋，3.網(wǎng)篩罩，4.殼體，5.刀軸，6.支架，7.網(wǎng)篩座，8.刀具，9.顆粒收集器。
【具體實施方式】
[0018]在附圖中，一種巖體樣本研磨裝置，包括殼體4以及與殼體4配裝的上蓋2，還包括設于殼體4內(nèi)的研磨機構(gòu)，驅(qū)動研磨機構(gòu)工作的驅(qū)動裝置以及設于研磨機構(gòu)外部的篩選裝置；所述篩選裝置包括網(wǎng)篩罩3，所述網(wǎng)篩罩3的底端連接網(wǎng)篩座7，所述網(wǎng)篩座7與殼體4底口活動連接。
[0019]所述網(wǎng)篩座7對應網(wǎng)篩罩3的底口部位為密封結(jié)構(gòu)。
[0020]當篩選裝置與殼體4連接時，所述網(wǎng)篩罩3的頂端與上蓋2緊密相抵。
[0021]所述網(wǎng)篩罩3和網(wǎng)篩座7上的網(wǎng)孔大小相同。
[0022]所述研磨機構(gòu)包括刀具8,所述刀具8安裝于一刀軸5上；所述刀具8由周向均布在刀軸5上的多片刀片組成。
[0023]所述驅(qū)動裝置為一電機1，所述電機I設于上蓋2內(nèi)，所述電機I的輸出軸與刀軸5連接。
[0024]所述殼體4的底口和網(wǎng)篩座7的外周對應設有螺紋結(jié)構(gòu)，兩者旋轉(zhuǎn)連接。
[0025]所述殼體4的底口和網(wǎng)篩座的外周對應設有卡扣裝置，兩者彈性卡接。
[0026]該裝置設有支架6，能夠支承在殼體4的外部。
[0027]該裝置的下部對應殼體4的底口設有顆粒收集器9。
[0028]使用時，將殼體4安裝于支架6上；根據(jù)實驗對巖樣顆粒大小的需求，確定網(wǎng)篩孔徑的大小，從而選取合適的篩選裝置，并將篩選裝置與殼體4連接；向篩選裝置內(nèi)裝入待研磨巖樣，并將刀具8置于網(wǎng)篩罩3內(nèi)，此時上蓋2與殼體4密封,按動電機I開關，使刀具8旋轉(zhuǎn)研磨巖樣；一旦有符合所要求的粒徑大小的巖樣顆粒，即會及時從網(wǎng)篩罩3飛出，并通過網(wǎng)篩座7上的篩網(wǎng)孔落入顆粒收集器10內(nèi)，防止繼續(xù)研磨的過程中產(chǎn)生高溫破壞巖樣顆粒中的有機質(zhì)，而網(wǎng)篩罩3底端密封的設計，可防止刀具8轉(zhuǎn)動中產(chǎn)生的風力將顆粒收集器10內(nèi)的顆粒吹散。
【權(quán)利要求】
1.一種巖體樣本研磨裝置，包括殼體(4)以及與殼體(4)配裝的上蓋(2)，其特征是，還包括設于殼體(4)內(nèi)的研磨機構(gòu)，驅(qū)動研磨機構(gòu)工作的驅(qū)動裝置以及設于研磨機構(gòu)外部的篩選裝置；所述篩選裝置包括網(wǎng)篩罩(3)，所述網(wǎng)篩罩(3)的底端連接網(wǎng)篩座(7)，所述網(wǎng)篩座(7)與殼體(4)底口活動連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述網(wǎng)篩座(7)對應網(wǎng)篩罩(3)的底口部位為密封結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，當篩選裝置與殼體(4)連接時，所述網(wǎng)篩罩(3)的頂端與上蓋(2)緊密相抵。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述網(wǎng)篩罩(3)和網(wǎng)篩座(7)上的網(wǎng)孔大小相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述研磨機構(gòu)包括刀具(8)，所述刀具(8)安裝于一刀軸(5)上；所述刀具(8)由周向均布在刀軸(5)上的多片刀片組成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述驅(qū)動裝置為一電機(I)，所述電機(I)設于上蓋(2)內(nèi)，所述電機(I)的輸出軸與刀軸(5)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述殼體(4)的底口和網(wǎng)篩座(7 )的外周對應設有螺紋結(jié)構(gòu)，兩者旋轉(zhuǎn)連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，所述殼體(4)的底口和網(wǎng)篩座的外周對應設有卡扣裝置，兩者彈性卡接。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，該裝置設有支架(6)，能夠支承在殼體(4)的外部。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種巖體樣本研磨裝置，其特征是，該裝置的下部對應殼體(4)的底口設有顆粒收集器(9)。
【文檔編號】G01N1/28GK103575582SQ201310505819
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年10月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月24日
【發(fā)明者】朱清德 申請人:朱清德