觸控面板及其測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種觸控面板及其測(cè)試方法。該觸控面板包括一觸控傳感器、一屏蔽層、以及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片，該屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片通過(guò)一異方性導(dǎo)電膠來(lái)間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號(hào)路徑。通過(guò)檢測(cè)并判斷信號(hào)路徑的電氣特性可以有效地篩選出屏蔽性能不良的觸控面板，讓生產(chǎn)出的觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。
【專利說(shuō)明】觸控面板及其測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種觸控技術(shù)，特別關(guān)于一種觸控面板及其屏蔽性能的測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]目前廣泛使用的個(gè)人數(shù)字助理、游戲機(jī)、智能手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)等電子系統(tǒng)包括觸控屏和顯示器。其中由于觸控屏是貼合于顯示器上方，因此觸控屏中的一觸控感應(yīng)層容易受到來(lái)自顯示器端的電磁干擾而降低感應(yīng)的精確度。
[0003]為了增強(qiáng)觸控屏抗干擾的能力，在觸控屏中通常會(huì)在觸控感應(yīng)層靠近顯示器的一側(cè)整面覆設(shè)一屏蔽層，藉以防止觸控感應(yīng)層受到來(lái)自顯示器端的電磁干擾。其中，屏蔽層通過(guò)軟性電路板(Flexible Printed Circuit,FPC)來(lái)連接到系統(tǒng)端的接地端，以形成屏蔽層的宣泄路徑。此宣泄路徑的電氣特性好壞將直接影響到屏蔽層的屏蔽效果，因此目前在測(cè)試觸控屏的功能時(shí)也會(huì)對(duì)屏蔽層的宣泄路徑一并測(cè)試。
[0004]現(xiàn)有測(cè)試屏蔽層的宣泄路徑的方法是由檢測(cè)端提供一定頻率的信號(hào)至屏蔽層，用來(lái)量測(cè)屏蔽層與觸控感應(yīng)層之間所形成的耦合電容的電容值。若所測(cè)得的電容值異于默認(rèn)值，則判定宣泄路徑的電氣特性不良，例如:因軟性電路板與屏蔽層之間的接觸不良所造成。
[0005]然而，由于測(cè)試耦合電容的方式是屬于測(cè)試屏蔽層的交流特性，因此測(cè)試時(shí)存在著盲點(diǎn)，例如當(dāng)屏蔽層的阻值異常變大而超過(guò)工作范圍時(shí)，現(xiàn)有的測(cè)試方式便無(wú)法有效且精確地判斷出不良，讓屏蔽層可能因此無(wú)法發(fā)揮原本應(yīng)有的屏蔽效果，進(jìn)而降低觸控屏的抗干擾能力。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明提供一種觸控面板及其測(cè)試方法。
[0007]本發(fā)明揭露了一種觸控面板，包括一觸控傳感器、一屏蔽層、以及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片。該屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片通過(guò)一異方性導(dǎo)電膠來(lái)間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面；其中，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號(hào)路徑。
[0008]在其中一個(gè)實(shí)施例中，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10—15 μm。
[0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箔片的面積大小相同。
[0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
[0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
[0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述屏蔽層是網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述觸控傳感器包含一基板，以及一感測(cè)電極層，形成于所述基板鄰近所述屏蔽層的一表面。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，進(jìn)一步包含一絕緣層，設(shè)置于所述感測(cè)電極層及所述屏蔽層之間。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述絕緣層為一膠體。
[0016]此外，本發(fā)明提供一種觸控面板的測(cè)試方法，其步驟包括:提供一包含一觸控傳感器、一屏蔽層及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片的觸控面板，其中所述屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，所述導(dǎo)電箔片通過(guò)一異方性導(dǎo)電膠來(lái)間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面；通過(guò)任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成的一信號(hào)路徑來(lái)傳遞一測(cè)試信號(hào)；以及計(jì)算所述測(cè)試信號(hào)經(jīng)過(guò)所述信號(hào)路徑所產(chǎn)生的一電氣特性。
[0017]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電氣特性為一回路阻值。
[0018]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述回路阻值和任一所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層的一面阻值呈正向相關(guān)。
[0019]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述回路阻值和任一所述導(dǎo)電箔片電性接觸所述異方性導(dǎo)電膠、所述異方性導(dǎo)電膠電性接觸所述屏蔽層的一接口阻值呈正向相關(guān)。
[0020]在其中一個(gè)實(shí)施例中，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10—15 μ m0
[0021 ] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箱片的面積大小相同。
[0022]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
[0023]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
[0024]藉此，本發(fā)明通過(guò)觸控面板的架構(gòu)改良設(shè)計(jì)，在測(cè)試觸控面板的屏蔽性能時(shí)，檢測(cè)裝置是與屏蔽層構(gòu)成閉合回路而得以直接測(cè)試屏蔽層的直流特性，藉以有效地篩選出屏蔽性能不良的觸控面板，讓生產(chǎn)出的觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0025]圖1A是本發(fā)明實(shí)施例中一種觸控面板的剖面圖及其測(cè)試狀態(tài)示意圖。
[0026]圖1B是顯示圖1A中觸控面板的俯視圖。
[0027]圖2是本發(fā)明實(shí)施例中另一種觸控面板的剖面圖及其測(cè)試狀態(tài)示意圖。
[0028]附圖標(biāo)記說(shuō)明
[0029]10、20?觸控面板；
[0030]12、22a、22b、22c ?檢測(cè)裝置；
[0031]100,200?觸控傳感器；
[0032]1001、2001 ?基板；
[0033]1001a、1001b、2001a、2001b ?表面；
[0034]1002、2002?感測(cè)電極層；
[0035]101、201 ?絕緣層；
[0036]102、202 ?屏蔽層；
[0037]102a、202a ?表面；
[0038]103?信號(hào)路徑；
[0039]104、204?異方性導(dǎo)電膠；
[0040]106a、106b、206a、206b、206c ?導(dǎo)電箔片；
[0041]lla、llb、21a、21b、21c ?連接線;
[0042]120a、120b、220a、220b、220c ?腳位；
[0043]d?間隔距離。

【具體實(shí)施方式】
[0044]實(shí)施例中的各組件的配置是為了表述明白，并非用以限制本發(fā)明。且實(shí)施例中圖式標(biāo)號(hào)的部分重復(fù)，是為了簡(jiǎn)化說(shuō)明，并非意指不同實(shí)施例之間的關(guān)聯(lián)性。
[0045]圖1A是顯示本發(fā)明實(shí)施例中一種觸控面板的剖面圖及其測(cè)試狀態(tài)示意圖。觸控面板10可運(yùn)用在智能型手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、手提電腦等系統(tǒng)裝置上，用來(lái)作為系統(tǒng)裝置的用戶操作接口。本實(shí)施例的觸控面板10包括觸控傳感器100、屏蔽層102以及多個(gè)導(dǎo)電箔片106a和106b，本實(shí)施例是舉例以兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106a來(lái)進(jìn)行說(shuō)明。其中，屏蔽層102絕緣地設(shè)置于觸控傳感器100上，用于屏蔽外界信號(hào)對(duì)于觸控傳感器100的干擾，例如:當(dāng)觸控面板10應(yīng)用于上述系統(tǒng)裝置時(shí)，屏蔽層102得以屏蔽來(lái)自系統(tǒng)裝置的顯示器或主板的電磁信號(hào)干擾。導(dǎo)電箔片106a和106b是通過(guò)異方性導(dǎo)電膠104來(lái)間隔設(shè)置于屏蔽層102遠(yuǎn)離觸控傳感器100的表面102a上。如此一來(lái),導(dǎo)電箔片106a、106b、異方性導(dǎo)電膠104及屏蔽層102串接成一信號(hào)路徑103，而此一信號(hào)路徑103即可提供測(cè)試本實(shí)施例觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽效果。
[0046]更具體來(lái)說(shuō)明，觸控傳感器100進(jìn)一步包含基板1001及感測(cè)電極層1002。本實(shí)施例的基板1001包含相對(duì)應(yīng)的二表面10la及1001b，其中表面10la是靠近使用者觀看的一側(cè)，而感測(cè)電極層1002則是形成于基板1001鄰近屏蔽層102的表面10lb上。此外，由于感測(cè)電極層1002及屏蔽層102皆是屬于導(dǎo)電材料層，因此本實(shí)施例的觸控面板10進(jìn)一步包含一設(shè)置于感測(cè)電極層1002及屏蔽層102之間的絕緣層101，用來(lái)電性絕緣感測(cè)電極層1002與屏蔽層102。就制程上來(lái)看，本實(shí)施例的絕緣層101及屏蔽層102是例如直接以光微影制程(Photo-Lithography Process)在感測(cè)電極層1002上依序形成。在其他實(shí)施例中，絕緣層101可例如是一膠體，而屏蔽層102則是通過(guò)絕緣層101來(lái)與感測(cè)電極層1002進(jìn)行貼合。
[0047]本實(shí)施例的兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106b的面積大小是例如設(shè)計(jì)為相同，并且兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106b之間的間隔距離d范圍較佳是10 μ m到15 μ m。當(dāng)然，導(dǎo)電箔片106a及106b的尺寸規(guī)格及間隔距離d并非以此為限，可依實(shí)際設(shè)計(jì)需求來(lái)調(diào)整。
[0048]承上所述，當(dāng)本實(shí)施例的觸控面板10欲進(jìn)行屏蔽性能的測(cè)試時(shí)，將一檢測(cè)裝置12 (如電阻計(jì))通過(guò)連接線Ila及Ilb分別電性連接觸控面板10的導(dǎo)電箔片106a及106b后，檢測(cè)裝置12可例如先通過(guò)連接線Ila來(lái)傳遞一測(cè)試信號(hào)(如電壓)給導(dǎo)電箔片106a，并讓測(cè)試信號(hào)通過(guò)信號(hào)路徑103傳遞至導(dǎo)電箔片106b，進(jìn)而再通過(guò)連接線Ilb回傳到檢測(cè)裝置12。如此一來(lái)，檢測(cè)裝置12即可計(jì)算出測(cè)試信號(hào)經(jīng)過(guò)信號(hào)路徑103所產(chǎn)生的一電氣特性(如電阻值)，以測(cè)得信號(hào)路徑103的直流特性。藉此，在設(shè)計(jì)上電性連接檢測(cè)裝置12的一判斷裝置(圖未示)或檢測(cè)人員即可根據(jù)檢測(cè)裝置12所計(jì)算出的電氣特性來(lái)判斷屏蔽層102的屏蔽性能，其中若電氣特性不良，即可判定屏蔽層102的屏蔽性能就相對(duì)不良。
[0049]補(bǔ)充說(shuō)明的是，本實(shí)施例所述的連接線11a、Ilb可例如是觸控面板10的一軟性印刷電路板中的導(dǎo)線。當(dāng)觸控面板10在檢測(cè)階段，導(dǎo)電箔片106a及106b是分別通過(guò)連接線Ila及Ilb來(lái)電性連接檢測(cè)裝置12，讓檢測(cè)裝置12、連接線11a、Ilb及信號(hào)路徑103之間形成閉合回路，換句話說(shuō)，檢測(cè)裝置12是一并檢測(cè)整個(gè)連接線11a、信號(hào)路徑103及連接線Ilb這個(gè)回路上的電氣特性(如回路阻值)。當(dāng)觸控面板10應(yīng)用于系統(tǒng)裝置時(shí)，連接線Ila及Ilb對(duì)應(yīng)的腳位定義(Pin Assignment)為接地端,藉此屏蔽層102得以通過(guò)信號(hào)路徑103、連接線IlaUlb及接地端所形成的宣泄路徑來(lái)提供屏蔽的功能。
[0050]接下來(lái)，舉例以電阻計(jì)作為檢測(cè)裝置12來(lái)做進(jìn)一步的說(shuō)明，假設(shè)檢測(cè)裝置12的兩腳位120a及120b之間所檢測(cè)到的回路阻值為Rab，可以用公式(I)表示:
[0051 ] Rffl-RA(Ila)+RA(lla- 106a)+R(106a)+RA(106a- 104)+R(104)+R(104- 102)+RGAP(102)+RB(llb)+RB(llb- 106b)+R(106b)+Rb (106b — 104) +^(104)+^(104 — 102)公式(I)
[0052]其中，RA(lla)為連接線Ila的線阻值；
[0053]RB(llb)為連接線Ilb的線阻值；
[0054]RA(lla^106a)為連接線Ila電性接觸導(dǎo)電箔片106a的接口阻值；
[0055]RB(llb _ 106b)為連接線I Ib電性接觸導(dǎo)電箔片106b的接口阻值；
[0056]R(106a)為導(dǎo)電箔片106a的面阻值；
[0057]R(1_為導(dǎo)電箔片106b的面阻值；
[0058]RA(106a^104)為導(dǎo)電箔片106a電性接觸異方性導(dǎo)電膠104的接口阻值；
[0059]RB(106b^104)為導(dǎo)電箔片106b電性接觸異方性導(dǎo)電膠104的接口阻值；
[0060]Ratl4)為異方性導(dǎo)電膠104的面阻值；
[0061]R(104^102)為異方性導(dǎo)電膠104電性接觸屏蔽層102的接口阻值；以及
[0062]Rgap(102)為屏蔽層102在兩導(dǎo)電箔片106a及106b之間的面阻值。
[0063]由上述公式⑴可知，回路阻值(Rab)與線阻值




(RA(Ila)、RB(Ilb)
)、面阻值(R_、
R(106b)、R(104)、RgAP(102) )及界面阻值 ^Adla — 106a)、(106a — 104)、^(104 — 102)、^Bdlb — 106b)、^BdOeb — 104))
中的任一阻值之間是呈正向相關(guān)。換句話說(shuō)，所測(cè)得的回路阻值將可反應(yīng)出觸控面板10的屏蔽層102、異方性導(dǎo)電膠104及導(dǎo)電箔片106a、106b各迭層的面阻值或是各迭層之間接觸所形成的接口阻值因生產(chǎn)不良等因素而發(fā)生的異常。此外，由于線阻值通常是較為固定的接線(如軟性印刷電路板的導(dǎo)線)，較不容易有變量且阻值較小，因此若忽略不計(jì)的話，檢測(cè)裝置12所測(cè)得的回路阻值即是代表信號(hào)路徑103的電氣特性。
[0064]如前述說(shuō)明的內(nèi)容，檢測(cè)裝置12所測(cè)得的回路阻值可由判斷裝置(未圖標(biāo))來(lái)進(jìn)一步自動(dòng)判斷。在一實(shí)施例中，判斷裝置可例如是默認(rèn)有一標(biāo)準(zhǔn)阻值，當(dāng)回路阻值小于或等于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，判斷裝置可判定觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)，可以發(fā)揮屏蔽信號(hào)的功能而讓觸控面板10具有抗干擾能力。反之，當(dāng)回路阻值大于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，可判定觸控面板10的屏蔽層102可能隨時(shí)會(huì)失去屏蔽干擾信號(hào)的功能，其造成的原因可例如是觸控面板10的屏蔽層102、異方性導(dǎo)電膠104及導(dǎo)電箔片106a、106b各迭層之間有一定電性接觸，但是接觸不良，或者也可能是上述各迭層存在有導(dǎo)電雜質(zhì)而導(dǎo)致回路阻值變大。再者，當(dāng)回路阻值進(jìn)一步為一無(wú)窮大值時(shí)，判斷裝置可判定觸控面板10的屏蔽層102完全失去屏蔽干擾信號(hào)的功能，其造成的原因可例如是觸控面板10的各迭層之間可能因生產(chǎn)不良而出現(xiàn)斷路沒(méi)有任何電性接觸。
[0065]圖2是顯示本發(fā)明實(shí)施例中另一種觸控面板的剖面圖及其測(cè)試狀態(tài)示意圖。本實(shí)施例中的觸控面板20與第I圖中實(shí)施例的觸控面板的架構(gòu)差異點(diǎn)在于本實(shí)施例的觸控面板20是設(shè)計(jì)有三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c。本實(shí)施例的三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c的面積大小是例如設(shè)計(jì)為相同，并且任何相鄰兩個(gè)導(dǎo)電箔片之間的間隔距離d范圍較佳是10 μ m到15 μ m。當(dāng)然，導(dǎo)電箔片206a、206b及206c的尺寸規(guī)格及間隔距離d并非以此為限，可依實(shí)際設(shè)計(jì)需求來(lái)調(diào)整。在本實(shí)施例中，屏蔽層202通過(guò)絕緣層201絕緣地設(shè)置于觸控傳感器200上，用于屏蔽外界信號(hào)對(duì)于觸控傳感器200的干擾，導(dǎo)電箔片206a、206b及206c是通過(guò)異方性導(dǎo)電膠204來(lái)間隔設(shè)置于屏蔽層202遠(yuǎn)離觸控傳感器200的表面202a上。本實(shí)施例為方便說(shuō)明起見(jiàn)，同時(shí)設(shè)置三個(gè)檢測(cè)裝置22a、22b及22c來(lái)分別對(duì)應(yīng)測(cè)試三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c兩兩之間與異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成的信號(hào)路徑，如此一來(lái)，導(dǎo)電箔片206a、206b、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號(hào)路徑，此信號(hào)路徑由檢測(cè)裝置22a檢測(cè)；導(dǎo)電箔片206b、206c、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號(hào)路徑，此信號(hào)路徑由檢測(cè)裝置22b檢測(cè)；導(dǎo)電箔片206a、206c、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號(hào)路徑，此信號(hào)路徑由檢測(cè)裝置22c檢測(cè)。而此任一信號(hào)路徑即可提供測(cè)試本實(shí)施例觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽效果。然而，在實(shí)際應(yīng)用上，亦可如第I圖中實(shí)施例所示的僅以一臺(tái)檢測(cè)裝置來(lái)分時(shí)測(cè)試不同的信號(hào)路徑，在此并非為本發(fā)明所限制。
[0066]在本實(shí)施例的架構(gòu)下，判斷裝置對(duì)于檢測(cè)裝置22a、22b及22c所測(cè)得的三組回路阻值可以用來(lái)設(shè)計(jì)出不同的判斷標(biāo)準(zhǔn)。在一實(shí)施例中，必須當(dāng)三組回路阻值皆小于或等于標(biāo)準(zhǔn)組值時(shí)，判斷裝置才會(huì)判定觸控面板20的屏蔽層202的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)。換句話說(shuō)，當(dāng)有任一組回路阻值大于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，判斷裝置即可判斷觸控面板20的屏蔽層202可能隨時(shí)會(huì)失去屏蔽干擾信號(hào)的功能，在這之中，若有任一組回路阻值為一無(wú)窮大值時(shí)，判斷裝置則判定觸控面板20的屏蔽層202完全失去屏蔽信號(hào)干擾的功能。
[0067]在另一實(shí)施例中，判斷裝置可設(shè)計(jì)用來(lái)判斷三組回路阻值中，在沒(méi)有出現(xiàn)無(wú)窮大值的情況下，只要有兩組回路阻值小于或等于標(biāo)準(zhǔn)阻值，判斷裝置即可判定觸控面板20的屏蔽層202的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)，否則在其他的情況下，判斷裝置都會(huì)判定屏蔽層202的屏蔽性能不符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0068]附帶一提的是，在前述實(shí)施例中，屏蔽層102(202)可例如是由透明的導(dǎo)電材料所制成，材質(zhì)可選自氧化銦錫(indium tin oxide, ITO)、氧化銦鋅(indium zincoxide, IZ0)、氧化鎘錫(cadmium tin oxide, CTO)、氧化招鋒(aluminum zinc oxide, ΑΖ0)、氧化銦鋒錫(indium tin zinc oxide, ΙΤΖ0)、氧化錫(tin oxide)、氧化鋒(zinc oxide)、氧化鎘(cadmium oxide)、氧化給(hafnium oxide, HfO)、氧化銦嫁招(indium galliumaluminum oxide, InGaAlO)、納米碳管(Carbon Nano Tube, CNT)、納米銀(Nano Silver)等及上述透明導(dǎo)電材質(zhì)與金屬或非金屬的合成物群組。此外，屏蔽層102(202)的結(jié)構(gòu)可以依應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)為平坦層結(jié)構(gòu)或者網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。而導(dǎo)電箔片106a(206a)、106b (206b)及206c可例如是由導(dǎo)電金屬材料或金屬合成物所制制成，材質(zhì)可選自銅、銀、鑰鋁鑰等及金屬合成物的群組。
[0069]綜上所述，本發(fā)明通過(guò)觸控面板的架構(gòu)改良設(shè)計(jì)，在測(cè)試觸控面板的屏蔽性能時(shí)，檢測(cè)裝置是與屏蔽層構(gòu)成閉合回路而得以直接測(cè)試屏蔽層的直流特性，藉以有效地篩選出屏蔽性能不良的觸控面板，讓生產(chǎn)出的觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。此外，由于本發(fā)明的觸控面板在架構(gòu)上，屏蔽層仍可與感測(cè)電極層形成耦合電容，因此檢測(cè)裝置仍可通過(guò)任一導(dǎo)電箔片來(lái)提供一定頻率的信號(hào)至屏蔽層，以測(cè)試屏蔽層的交流特性。
[0070]雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此項(xiàng)技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)力要求范圍所界定者為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種觸控面板,包括: 一觸控傳感器； 一屏蔽層，絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上；以及 復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片，通過(guò)一異方性導(dǎo)電膠來(lái)間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面； 其中，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號(hào)路徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10-15 μ m。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片的面積大小相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述屏蔽層是網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述觸控傳感器包含: 一基板；以及 一感測(cè)電極層，形成于所述基板鄰近所述屏蔽層的一表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控面板，其特征在于，進(jìn)一步包含一絕緣層，設(shè)置于所述感測(cè)電極層及所述屏蔽層之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸控面板，其特征在于，所述絕緣層為一膠體。
10.一種觸控面板的測(cè)試方法，其步驟包括: 提供一包含一觸控傳感器、一屏蔽層及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片的觸控面板，其中所述屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，所述導(dǎo)電箔片通過(guò)一異方性導(dǎo)電膠來(lái)間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面； 通過(guò)任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成的一信號(hào)路徑來(lái)傳遞一測(cè)試信號(hào)；以及 計(jì)算所述測(cè)試信號(hào)經(jīng)過(guò)所述信號(hào)路徑所產(chǎn)生的一電氣特性。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸控面板，其特征在于，所述電氣特性為一回路阻值。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于，所述回路阻值和任一所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層的一面阻值呈正向相關(guān)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的觸控面板，其特征在于，所述回路阻值和任一所述導(dǎo)電箔片電性接觸所述異方性導(dǎo)電膠、所述異方性導(dǎo)電膠電性接觸所述屏蔽層的一接口阻值呈正向相關(guān)。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸控面板，其特征在于，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10-15 μ m。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片的面積大小相同。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸控面板，其特征在于，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
【文檔編號(hào)】G01R27/00GK104345926SQ201310313434
【公開(kāi)日】2015年2月11日 申請(qǐng)日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
【發(fā)明者】葉惠林, 黃仕游, 張專元, 邱宗科 申請(qǐng)人:宸鴻科技(廈門(mén))有限公司