專利名稱:一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種無損檢測(cè)方法及裝置,特別是涉及一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法。
背景技術(shù):
鐵路道岔尖軌的特點(diǎn)是斷面寬度逐漸變窄,所受壓力不均勻,斷面寬度越窄所受壓力越大,道岔尖軌在役時(shí)極易出現(xiàn)疲勞斷面裂紋,通常會(huì)從尖軌垂直側(cè)面底部開始出現(xiàn)斷面裂紋,如不及時(shí)發(fā)現(xiàn),斷面裂紋進(jìn)一步向上擴(kuò)大,將可能發(fā)生尖軌斷裂火車脫軌的重大安全事故。目前多采用超聲探傷方法進(jìn)行人工檢測(cè),由于尖軌的垂直側(cè)面與主軌閉合時(shí)的間隙只有Imm左右,無法直接檢測(cè),需要搬開尖軌或從尖軌的弧形側(cè)面檢測(cè),檢測(cè)難度較大,效率較低,還容易出現(xiàn)缺陷漏檢的情況。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目 的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足,提供一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法,該設(shè)計(jì)基于電磁無損檢測(cè)原理,采用卡片式電磁檢測(cè)傳感器直接貼著尖軌的垂直側(cè)面檢測(cè),不僅可以檢測(cè)出尖軌的斷面裂紋,而且可以檢測(cè)出斷面裂紋的高度,以此評(píng)估斷面裂紋的嚴(yán)重程度,檢測(cè)過程中無需搬動(dòng)道岔尖軌,方法簡單,效率高,檢測(cè)成本較低,實(shí)現(xiàn)在役道岔尖軌原位的快速檢測(cè)。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器,傳感器包括彈性非金屬薄片、多個(gè)檢測(cè)線圈、兩個(gè)磁鐵薄片。所述多個(gè)檢測(cè)線圈嵌入固定在彈性非金屬薄片內(nèi),其中每兩個(gè)檢測(cè)線圈橫向排列、反相連接組成一個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組,多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組縱向排列,差動(dòng)檢測(cè)線圈組對(duì)斷面裂紋等突變傷靈敏度高,縱向排列的多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組可以檢測(cè)出斷面裂紋的高度,以此來評(píng)估斷面裂紋缺陷的嚴(yán)重程度;所述兩個(gè)磁鐵薄片分別嵌入固定在差動(dòng)檢測(cè)線圈組兩側(cè)的彈性非金屬薄片的檢測(cè)面上,磁鐵薄片可以使卡片式電磁檢測(cè)傳感器緊貼在尖軌垂直側(cè)面上移動(dòng),減少了提離和晃動(dòng)所產(chǎn)生的干擾信號(hào)。所述彈性非金屬薄片的厚度小于道岔尖軌與主軌閉合時(shí)的間隙。一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器的檢測(cè)方法,卡片式電磁檢測(cè)傳感器通過線纜與電磁檢測(cè)儀連接,檢測(cè)人員將卡片式電磁檢測(cè)傳感器貼在道岔尖軌的垂直側(cè)面勻速移動(dòng)掃查,當(dāng)?shù)啦砑廛壍拇怪眰?cè)面底部有斷面裂紋缺陷時(shí),檢測(cè)范圍覆蓋到斷面裂紋缺陷的差動(dòng)檢測(cè)線圈組將裂紋缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀中顯示并報(bào)警輸出,卡片式電磁檢測(cè)傳感器中縱向排列著多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組,檢測(cè)范圍沒有覆蓋到斷面裂紋缺陷的差動(dòng)檢測(cè)線圈組沒有缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀,以此可以計(jì)算出斷面裂紋缺陷的高度,評(píng)估其嚴(yán)重程度。本發(fā)明的有益效果是,一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法,基于電磁無損檢測(cè)原理,采用卡片式電磁檢測(cè)傳感器直接貼著尖軌的垂直側(cè)面檢測(cè),不僅可以檢測(cè)出尖軌底部的斷面裂紋,而且可以檢測(cè)出斷面裂紋的高度,以此評(píng)估斷面裂紋的嚴(yán)重程度,檢測(cè)過程中無需搬動(dòng)道岔尖軌,方法簡單,效率高,檢測(cè)成本較低,適用于在役道岔尖軌原位快速檢測(cè)工作。以下結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明,但本發(fā)明的一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法不局限于實(shí)施例。
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。圖1是本發(fā)明實(shí)施例的傳感器示意圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施例的道岔尖軌檢測(cè)三維示意圖。圖3是本發(fā)明實(shí)施例的道岔尖軌底部斷面裂紋檢測(cè)示意圖。圖中,1.彈性非金屬薄片,2.檢測(cè)線圈,3.磁鐵薄片,4.差動(dòng)檢測(cè)線圈組,5.道岔尖軌,6.主軌,7.尖軌底部斷面裂紋缺陷。
具體實(shí)施例方式圖1所示的實(shí)施例中,一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器,傳感器包括彈性非金屬薄片1、多個(gè)檢測(cè)線圈2、兩個(gè)磁鐵薄片3。所述多個(gè)檢測(cè)線圈2嵌入固定在彈性非金屬薄片I內(nèi),其中每兩個(gè)檢測(cè)線圈2橫向排列、反相連接組成一個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組4,多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組4縱向排列;所述兩個(gè)磁鐵薄片3分別嵌入固定在差動(dòng)檢測(cè)線圈組4兩側(cè)的彈性非金屬薄片I的檢測(cè)面上。所述彈性非金屬薄片I的厚度小于道岔尖軌5與主軌6閉合時(shí)的間隙。圖2、圖3所示的檢測(cè)實(shí)施例中,一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器的檢測(cè)方法,卡片式電磁檢測(cè)傳感器通過線纜與電磁檢測(cè)儀連接,檢測(cè)人員將卡片式電磁檢測(cè)傳感器貼在道岔尖軌5的垂直側(cè)面勻速移動(dòng)掃查,當(dāng)?shù)啦砑廛?的垂直側(cè)面底部有斷面裂紋缺陷7時(shí),檢測(cè)范圍覆蓋到斷面裂紋缺陷7的差動(dòng)檢測(cè)線圈組4將裂紋缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀中顯示并報(bào)警輸出,卡片式電磁檢測(cè)傳感器中縱向排列著多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組4,檢測(cè)范圍沒有覆蓋到斷面裂紋缺陷7的差動(dòng)檢測(cè)線圈組4沒有缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀,以此可以計(jì)算出斷面裂紋缺陷的高度,評(píng)估其嚴(yán)重程度。上述實(shí)施例僅用來進(jìn)一步說明 本發(fā)明的一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法,但發(fā)明并不局限于實(shí)施例,凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均落入本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器,傳感器包括彈性非金屬薄片、多個(gè)檢測(cè)線圈、兩個(gè)磁鐵薄片,其特征在于:所述多個(gè)檢測(cè)線圈嵌入固定在彈性非金屬薄片內(nèi),其中每兩個(gè)檢測(cè)線圈橫向排列、反相連接組成一個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組,多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組縱向排列;所述兩個(gè)磁鐵薄片分別嵌入固定在差動(dòng)檢測(cè)線圈組兩側(cè)的彈性非金屬薄片的檢測(cè)面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器,其特征在于:所述彈性非金屬薄片的厚度小于道岔尖軌與主軌閉合時(shí)的間隙。
3.—種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器的檢測(cè)方法,其特征在于:卡片式電磁檢測(cè)傳感器通過線纜與電磁檢測(cè)儀連接,檢測(cè)人員將卡片式電磁檢測(cè)傳感器貼在道岔尖軌的垂直側(cè)面勻速移動(dòng)掃查,當(dāng)?shù)啦砑廛壍拇怪眰?cè)面底部有斷面裂紋缺陷時(shí),檢測(cè)范圍覆蓋到斷面裂紋缺陷的差動(dòng)檢測(cè)線圈組將裂紋缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀中顯示并報(bào)警輸出,卡片式電磁檢測(cè)傳感器中縱向排列著多個(gè)差動(dòng)檢測(cè)線圈組,檢測(cè)范圍沒有覆蓋到斷面裂紋缺陷的差動(dòng)檢測(cè)線圈組沒有缺陷信號(hào)發(fā)送到電磁檢測(cè)儀,以此可以計(jì)算出斷面裂紋缺陷的高度,并評(píng)估其嚴(yán)重程度。`
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢測(cè)在役道岔尖軌的卡片式電磁傳感器及檢測(cè)方法,傳感器包括彈性非金屬薄片、兩個(gè)磁鐵薄片、多個(gè)檢測(cè)線圈,基于電磁無損檢測(cè)原理,采用卡片式電磁檢測(cè)傳感器直接貼著尖軌的垂直側(cè)面檢測(cè),不僅可以檢測(cè)出尖軌底部的斷面裂紋,而且可以檢測(cè)出斷面裂紋的高度,以此評(píng)估斷面裂紋的嚴(yán)重程度,檢測(cè)過程中無需搬動(dòng)道岔尖軌,方法簡單,效率高,檢測(cè)成本較低,適用于在役道岔尖軌原位快速檢測(cè)工作。
文檔編號(hào)G01N27/82GK103235033SQ20131015191
公開日2013年8月7日 申請(qǐng)日期2013年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月27日
發(fā)明者林俊明 申請(qǐng)人:愛德森(廈門)電子有限公司