專利名稱：在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入被測件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于測量技術(shù)領(lǐng)域，涉及在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新被測件的方法，可用于石英晶體振蕩器的計量檢定、校準(zhǔn)、測量、測試、檢驗和生產(chǎn)。
背景技術(shù)：
石英晶體振蕩器按國家檢定規(guī)程所對應(yīng)的檢定對象分為兩大類普通晶振及高穩(wěn)晶振。普通晶振對應(yīng)的檢定規(guī)程為《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測量的主要參數(shù)有開機特性、日頻率波動、I秒頻率穩(wěn)定度、頻率復(fù)現(xiàn)性、頻率準(zhǔn)確度。 測量時間最少為3天；高穩(wěn)晶振對應(yīng)的檢定規(guī)程為《JJG181-2005石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程》，測量的主要參數(shù)有短期頻率穩(wěn)定度(lms、10ms、100ms、Is、10s)、日老化率、頻率準(zhǔn)確度。測量時間最少為8天。目前國內(nèi)的石英晶體振蕩器自動測試系統(tǒng)主要有兩類。一類是通過控制器及切換開關(guān)將測試數(shù)據(jù)打印出來，再輸入到計算機的相應(yīng)程序中進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到測量結(jié)果。此類系統(tǒng)不能做到數(shù)據(jù)的自動處理、被測件的自動加電及斷電。典型的設(shè)備是中國電子科技集團公司第二十研究所自行研制的“多路自動控制器”;另一類是通過計算機或其他高速處理器控制控制器及切換開關(guān)獲得測試數(shù)據(jù)，將測試數(shù)據(jù)存儲在存儲器中并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到測量結(jié)果。典型的設(shè)備是石家莊無線電四廠或西安宏泰時頻生產(chǎn)的“石英晶體振蕩器自動測試系統(tǒng)”。此類系統(tǒng)需要被測件積攢到一定數(shù)量后再進(jìn)行測量，只能做到一批被測件測量完成后，再新加一批測量。這樣就造成如果測試通道有閑置，有新被測件送來而不能及時測量，只能等到前一批測量完成后再開始測量新被測件，測量效率極低，不能做到被測件的隨到隨測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對上述已有技術(shù)的不足，提出一種在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入被測件的方法，以提高測量效率。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明給出如下兩種技術(shù)方案技術(shù)方案1，在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，包括如下步驟(I)將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測量的時間間隔均設(shè)置為I小時，石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，按每隔I小時的時間間隔測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數(shù)據(jù)；(2)在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的普通晶振被測件(2a)在I小時時間間隔內(nèi)，當(dāng)有新的普通晶振被測件加入時，首先判斷原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的普通晶振被測件，提示內(nèi)容包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)、被測件預(yù)熱時間；(2b)在下一個測量時刻到達(dá)后，先按順序測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，然后再按新的普通晶振被測件加入順序依次對其加電；(3)依據(jù)《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測量新的普通晶振被測件的性能(3a)新的普通晶振被測件在加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，每隔I小時測量I組，每組連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結(jié)果，共測25組，得到25個測量數(shù)據(jù)；將測量數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的開機特性及日頻率波動，并根據(jù)日頻率波動測量結(jié)果給出新的普通晶振被測件的頻率準(zhǔn)確度，該頻率準(zhǔn)確度比日頻率波動低一個數(shù)量級；(3b) 25個測量數(shù)據(jù)測量完成后，將新的普通晶振被測件斷電，同時取25個測量數(shù) 據(jù)中的第25個測量數(shù)據(jù)作為第一次測量結(jié)果，再對新的普通晶振被測件持續(xù)斷電24小時；斷電24小時后，給新的普通晶振被測件再次加電，加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為第二次測量結(jié)果；將兩次測量結(jié)果數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的頻率復(fù)現(xiàn)性；(3c)在新的普通晶振被測件再次加電到2小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后將測量新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間選為ls，并連續(xù)測得101個相對平均頻率偏差，再將101個相對平均頻率偏差代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的Is頻率穩(wěn)定度；(4)重復(fù)步驟(2) (3)，對后續(xù)的新普通晶振被測件繼續(xù)進(jìn)行測量。所述步驟⑵及(3)中的相對平均頻率偏差測量，是先通過測量儀器測量在取樣時間τ內(nèi)的新的普通晶振被測件的頻率實際值的平均值fx;然后，代入到公式y(tǒng)(O = (fx-f0)/f0中，計算出新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差y( τ)，式中&為新的普通晶振被測件的頻率標(biāo)稱值；所述測量儀器是指頻率計、計數(shù)器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標(biāo)比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種。技術(shù)方案2，在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入高穩(wěn)晶振被測件的方法，包括如下步驟I)將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測量的時間間隔均設(shè)置為I小時，石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，按每隔I小時的時間間隔測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數(shù)據(jù)；2)在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的高穩(wěn)晶振被測件2a)在I小時時間間隔內(nèi)，當(dāng)有新的高穩(wěn)晶振被測件加入時，首先判斷原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的高穩(wěn)晶振被測件，提示內(nèi)容包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)、被測件預(yù)熱時間；2b)在下一個測量時刻到達(dá)后，先按順序測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，然后再按新的高穩(wěn)晶振被測件加入順序依次對其加電；
3)依據(jù)《JJG181-2005石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程》，測量新的高穩(wěn)晶振被測件的 生倉泛3a)新的高穩(wěn)晶振被測件在加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，每隔I小時測量I組，每組連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結(jié)果，共測T+168組，得到T+168個測量數(shù)據(jù)Ci,其相對應(yīng)的測量時刻為i小時，i取I到T+168，T為新的高穩(wěn)晶振被測件日老化率測量的預(yù)熱時間數(shù)值，單位為小時； 3b)從測量數(shù)據(jù)Ci中提取有效測量數(shù)據(jù)Bj, j取I到15，T小時及其后每隔12小時的15個測量數(shù)據(jù)為有效測量數(shù)據(jù)出」=(^+(」_1)><12]，其相對應(yīng)的測量時刻t」=T+(j-l) X12 ；3c)根據(jù)有效測量數(shù)據(jù)B」對應(yīng)的測量時刻與測量數(shù)據(jù)Ci對應(yīng)的測量時刻存在T+U-l) X12=i的關(guān)系，得到T+U-l) X12=iXl，其中“X12”代表新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔為12小時，“ X I”代表新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔為I小時，使新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔由12小時縮短到I小時；3d)將有效測量數(shù)據(jù)及其相對應(yīng)的測量時刻代入到所述JJG181-2005檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的擬合直線斜率、相關(guān)系數(shù)、殘差均方根、日老化率及頻率準(zhǔn)確度；3e)在新的高穩(wěn)晶振被測件加電到T+169小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后將測量新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間分別選擇為lms、10ms、100ms、Is及10s，并連續(xù)測得5組相對平均頻率偏差，其中前4組分別連續(xù)測得101個相對平均頻率偏差，第5組連續(xù)測得51個相對平均頻率偏差，再將5組測量數(shù)據(jù)分別代入到所述JJG181-2005檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的lms、10ms、100ms、Is及IOs的短期頻率穩(wěn)定度；4)重復(fù)步驟2) 3)，對后續(xù)的新高穩(wěn)晶振被測件繼續(xù)進(jìn)行測量。所述步驟2)及3)中的相對平均頻率偏差測量，是先通過測量儀器測量在取樣時間τ內(nèi)的新的高穩(wěn)晶振被測件的頻率實際值的平均值fx;然后，代入到公式y(tǒng)(O = (fx-f0)/f0中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差y( τ)，式中&為新的高穩(wěn)晶振被測件的頻率標(biāo)稱值；所述測量儀器是指頻率計、計數(shù)器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標(biāo)比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種。本發(fā)明與原有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點I.本發(fā)明在石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，將測量被測件的相對平均頻率偏差的時間間隔均設(shè)置為I小時，并在I小時時間間隔內(nèi)，先測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，由于測量完成后，離下一測量時刻還有時間，故可以利用剩余時間加入新的被測件;2.本發(fā)明由于在石英晶振自動測試系統(tǒng)相鄰兩個測量時刻的空閑時間可加入新的被測件，故只要石英晶振自動測試系統(tǒng)有閑置的測量通道，可以做到新的被測件在最短時間內(nèi)的隨到隨測，縮短測量周期，提高測量效率；3.本發(fā)明通過對新加入高穩(wěn)晶振被測件的測量數(shù)據(jù)提取有效測量數(shù)據(jù)的方式，將新加入高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔由12小時縮短到與新加入普通晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔相同的I小時，從而實現(xiàn)新加入普通晶振被測件與新加入高穩(wěn)晶振被測件的同時測量。


圖I是本發(fā)明在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入普通晶振被測件的流程圖；圖2是本發(fā)明在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入高穩(wěn)晶振被測件的流程圖。
具體實施例方式按國家檢定規(guī)程對應(yīng)的檢定對象，石英晶振可分為普通晶振及高穩(wěn)晶振兩類，以 下分別就這兩種類型的晶振，說明在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入被測件的方法。參照圖1，本發(fā)明在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，包括如下步驟步驟一將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測量的時間間隔均設(shè)置為I小時，石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，按每隔I小時的時間間隔測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數(shù)據(jù)。步驟二 在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的普通晶振被測件。目前的自動測試系統(tǒng)，大多數(shù)都采用數(shù)據(jù)庫來存儲被測件信息、測量數(shù)據(jù)、測量通道狀態(tài)標(biāo)識、被測件測量依據(jù)標(biāo)識及測量結(jié)果，其中被測件信息包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)及被測件預(yù)熱時間。為了實現(xiàn)石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的普通晶振被測件功能，定義兩種標(biāo)識，一種為“加入新被測件狀態(tài)標(biāo)識”，另一種為“被測件測量依據(jù)標(biāo)識”。其中“加入新被測件狀態(tài)標(biāo)識”共有三個狀態(tài)一是用數(shù)字“O”表示測量通道未加入被測件，二是用數(shù)字“ I ”表示測量通道已加入新被測件，且新被測件未加電工作，三是用數(shù)字“ 2 ”表示測量通道已加入新被測件，且新被測件已加電工作；“被測件測量依據(jù)標(biāo)識”共有兩個狀態(tài)，一是用數(shù)字“3”表示新普通晶振被測件依據(jù)《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》測量其性能，二是用數(shù)字“4”表示新高穩(wěn)晶振被測件依據(jù)《JJG181-2005石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程》測量其性能。以上所述內(nèi)容，是在編制控制程序中需要使用的各種被測件信息及測量過程中的各種控制狀態(tài)。由控制程序控制，在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中按如下步驟加入新的普通晶振被測件(2a)在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中，按每隔I小時的時間間隔先測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，再利用剩余的時間，加入新的普通晶振被測件；(2b)當(dāng)有新的普通晶振被測件加入時，首先判斷原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的普通晶振被測件，提示內(nèi)容包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)、被測件預(yù)熱時間；(2c)將新的普通晶振被測件的相應(yīng)測量通道的“加入新被測件狀態(tài)標(biāo)識”由“O”改為“ I ”，“O”表示測量通道未加入被測件，“ I ”表示測量通道已加入新被測件，且新被測件未加電工作；同時將相應(yīng)測量通道的“被測件測量依據(jù)標(biāo)識”置為“3”，“3”表示新普通晶振被測件依據(jù)《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》測量其性能；(2d)在下一個測量時刻到達(dá)后，首先測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，原來已經(jīng)加入的被測件相對應(yīng)測量通道的“加入新被測件狀態(tài)標(biāo)識”為“2”，然后再按新的普通晶振被測件加入順序依次對其加電，但不測量其相對平均頻率偏差，只是將相應(yīng)測量通道的“加入新被測件狀態(tài)標(biāo)識”由“I”改為“2”，“2”表示測量通道已加入新被測件，且新被測件已加電工作；步驟三依據(jù)《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測量新 的普通晶振被測件的性能。(3a)測量新的普通晶振被測件的開機特性、日頻率波動及頻率準(zhǔn)確度(3al)新的普通晶振被測件在加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，每隔I小時測量I組，每組連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，即先通過測量儀器測量在取樣時間τ內(nèi)的新的普通晶振被測件的頻率實際值的平均值fx;然后，將該頻率實際值的平均值fx代入到公式y(tǒng)( τ ) = (&-&)/%中，計算出新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差y( τ )，式中&為新的普通晶振被測件的頻率標(biāo)稱值；所述測量儀器是指頻率計、計數(shù)器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標(biāo)比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種；(3a2)取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結(jié)果，共測25組，得到25個測量數(shù)據(jù)；用前8個測量數(shù)據(jù)中的最大值減去最小值，即可得到新的普通晶振被測件的開機特性；用25個測量數(shù)據(jù)中的最大值減去最小值，即可得到新的普通晶振被測件的日頻率波動；根據(jù)日頻率波動測量結(jié)果給出新的普通晶振被測件的頻率準(zhǔn)確度，該頻率準(zhǔn)確度比日頻率波動低一個數(shù)量級；(3b)測量新的普通晶振被測件的頻率復(fù)現(xiàn)性(3bl)在25個測量數(shù)據(jù)測量完成后，將新的普通晶振被測件斷電，同時取25個測量數(shù)據(jù)中的第25個測量數(shù)據(jù)作為第一次測量結(jié)果，再對新的普通晶振被測件持續(xù)斷電24小時；(3b2)斷電24小時后，給新的普通晶振被測件再次加電，加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為第二次測量結(jié)果；兩次測量結(jié)果的差值的絕對值即為新的普通晶振被測件的頻率復(fù)現(xiàn)性；(3c)測量新的普通晶振被測件的Is頻率穩(wěn)定度(3cl)在新的普通晶振被測件再次加電到2小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后測量新的普通晶振被測件的Is頻率穩(wěn)定度；(3c2)將測量新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間選為ls，并連續(xù)測得101個相對平均頻率偏差yi ( τ )，i取I到101，再計算新的普通晶振被測件的Is頻率穩(wěn)定度Cy(T):
權(quán)利要求
1.一種在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，包括如下步驟 (1)將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測量的時間間隔均設(shè)置為I小時，石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，按每隔I小時的時間間隔測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數(shù)據(jù)； (2)在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的普通晶振被測件 (2a)在I小時時間間隔內(nèi)，當(dāng)有新的普通晶振被測件加入時，首先判斷原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的普通晶振被測件，提示內(nèi)容包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)、被測件預(yù)熱時間； (2b)在下一個測量時刻到達(dá)后，先按順序測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，然后再按新的普通晶振被測件加入順序依次對其加電； (3)依據(jù)《JJG180-2002電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》，測量新的普通晶振被測件的性能 (3a)新的普通晶振被測件在加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，每隔I小時測量I組，每組連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結(jié)果，共測25組，得到25個測量數(shù)據(jù)；將測量數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的開機特性及日頻率波動，并根據(jù)日頻率波動測量結(jié)果給出新的普通晶振被測件的頻率準(zhǔn)確度，該頻率準(zhǔn)確度比日頻率波動低一個數(shù)量級； (3b) 25個測量數(shù)據(jù)測量完成后，將新的普通晶振被測件斷電，同時取25個測量數(shù)據(jù)中的第25個測量數(shù)據(jù)作為第一次測量結(jié)果，再對新的普通晶振被測件持續(xù)斷電24小時；斷電24小時后，給新的普通晶振被測件再次加電，加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為10s，連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為第二次測量結(jié)果；將兩次測量結(jié)果數(shù)據(jù)代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的頻率復(fù)現(xiàn)性； (3c)在新的普通晶振被測件再次加電到2小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后將測量新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間選為ls，并連續(xù)測得101個相對平均頻率偏差，再將101個相對平均頻率偏差代入到所述JJG180-2002檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的普通晶振被測件的Is頻率穩(wěn)定度； (4)重復(fù)步驟(2) (3)，對后續(xù)的新普通晶振被測件繼續(xù)進(jìn)行測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入普通晶振被測件的方法，所述步驟(2)及(3)中的相對平均頻率偏差測量，是先通過測量儀器測量在取樣時間τ內(nèi)的新的普通晶振被測件的頻率實際值的平均值fx;然后，代入到公式y(tǒng)(O = (fx-f0)/f0中，計算出新的普通晶振被測件的相對平均頻率偏差y( τ )，式中&為新的普通晶振被測件的頻率標(biāo)稱值； 所述測量儀器是指頻率計、計數(shù)器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標(biāo)比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種。
3.一種在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入高穩(wěn)晶振被測件的方法，包括如下步驟 1)將石英晶振輸出頻率的原始數(shù)據(jù)測量的時間間隔均設(shè)置為I小時，石英晶振自動測試系統(tǒng)啟動后，按每隔I小時的時間間隔測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，作為原始測量數(shù)據(jù)； 2)在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中加入新的高穩(wěn)晶振被測件 2a)在I小時時間間隔內(nèi)，當(dāng)有新的高穩(wěn)晶振被測件加入時，首先判斷原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若沒有完成，則繼續(xù)等待；若已完成，則根據(jù)提示內(nèi)容加入新的高穩(wěn)晶振被測件，提示內(nèi)容包括送測單位、被測件名稱、被測件型號、被測件編號、被測件生產(chǎn)商、被測件的頻率標(biāo)稱值、被測件的測量依據(jù)、被測件預(yù)熱時間； 2b)在下一個測量時刻到達(dá)后，先按順序測量原來已經(jīng)加入的被測件的相對平均頻率偏差，然后再按新的高穩(wěn)晶振被測件加入順序依次對其加電； 3)依據(jù)《JJG181-2005石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)檢定規(guī)程》，測量新的高穩(wěn)晶振被測件的性倉泛 3a)新的高穩(wěn)晶振被測件在加電I小時后，將測量相對平均頻率偏差的取樣時間選為IOs,每隔I小時測量I組，每組連續(xù)測得3個相對平均頻率偏差，取3個相對平均頻率偏差的平均值作為每組的測量結(jié)果，共測T+168組，得到T+168個測量數(shù)據(jù)Ci,其相對應(yīng)的測量時刻為i小時，i取I到T+168，T為新的高穩(wěn)晶振被測件日老化率測量的預(yù)熱時間數(shù)值，單位為小時； 3b)從測量數(shù)據(jù)Ci中提取有效測量數(shù)據(jù)Bj, j取I到15，T小時及其后每隔12小時的15個測量數(shù)據(jù)為有效測量數(shù)據(jù)=Bj=Cn^1)X12]，其相對應(yīng)的測量時刻t」=T+(j-l) X12 ； 3c)根據(jù)有效測量數(shù)據(jù)h對應(yīng)的測量時刻與測量數(shù)據(jù)Ci對應(yīng)的測量時刻存在T+(j-l) X12=i的關(guān)系，得到T+(j-l) X12=iXl，其中“X12”代表新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔為12小時，“ X I”代表新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔為I小時，使新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的測量時間間隔由12小時縮短到I小時； 3d)將有效測量數(shù)據(jù)及其相對應(yīng)的測量時刻代入到所述JJG181-2005檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的擬合直線斜率、相關(guān)系數(shù)、殘差均方根、日老化率及頻率準(zhǔn)確度； 3e)在新的高穩(wěn)晶振被測件加電到T+169小時時，先測量其它測量通道上的被測件的相對平均頻率偏差，然后將測量新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差的取樣時間分別選擇為1ms、10ms、100ms、Is及10s，并連續(xù)測得5組相對平均頻率偏差，其中前4組分別連續(xù)測得101個相對平均頻率偏差，第5組連續(xù)測得51個相對平均頻率偏差，再將5組測量數(shù)據(jù)分別代入到所述JJG181-2005檢定規(guī)程的相應(yīng)公式中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的lms、10ms、100ms、Is及IOs的短期頻率穩(wěn)定度； 4)重復(fù)步驟2) 3)，對后續(xù)的新高穩(wěn)晶振被測件繼續(xù)進(jìn)行測量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入高穩(wěn)晶振被測件的方法，所述步驟2)及3)中的相對平均頻率偏差測量，是先通過測量儀器測量在取樣時間τ內(nèi)的新的高穩(wěn)晶振被測件的頻率實際值的平均值fx;然后，代入到公式y(tǒng)(O = (fx-f0)/f0中，計算出新的高穩(wěn)晶振被測件的相對平均頻率偏差y( τ )，式中&為新的高穩(wěn)晶振被測件的頻率標(biāo)稱值； 所述測量儀器是指頻率計、計數(shù)器、比相儀、時間間隔測量儀、頻標(biāo)比對器、頻差倍增器和雙混頻時差測量儀中的任何一種?！?br> 全文摘要
本發(fā)明公開了一種在石英晶振自動測試系統(tǒng)運行中測量新加入被測件的方法，主要解決現(xiàn)有系統(tǒng)測量效率極低問題。其實現(xiàn)步驟是①系統(tǒng)啟動后，按每隔1小時時間先測量原有被測件的相對平均頻率偏差，再利用剩余時間，加入新被測件；②有新被測件加入時，先判斷原有被測件的相對平均頻率偏差測量是否完成，若未完成，則繼續(xù)等待；否則，根據(jù)提示內(nèi)容加入新被測件；③下一個測量時刻到達(dá)后，先測量原有被測件的相對平均頻率偏差，再按新被測件加入順序依次對其加電；④根據(jù)新被測件類型，依據(jù)國家相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)測量新被測件性能；⑤重復(fù)步驟②～④，對后續(xù)的新被測件繼續(xù)進(jìn)行測量。本發(fā)明具有測量周期短，測量效率高的優(yōu)點，可用于測量不同類型新加入被測件。
文檔編號G01R31/01GK102928692SQ20121038833
公開日2013年2月13日 申請日期2012年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月12日
發(fā)明者黃河 申請人:中國電子科技集團公司第二十研究所