本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板測試系統(tǒng)及顯示面板的測試方法。

背景技術(shù)：

隨著顯示技術(shù)的發(fā)展，液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)及有機(jī)發(fā)光二極管顯示器(Organic Light Emitting Display，OLED)等平面顯示裝置因具有高畫質(zhì)、省電、機(jī)身薄及應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)，而被廣泛的應(yīng)用于手機(jī)、電視、個人數(shù)字助理、數(shù)字相機(jī)、筆記本電腦、臺式計算機(jī)等各種消費(fèi)性電子產(chǎn)品，成為顯示裝置中的主流。

通常在顯示面板的在生產(chǎn)過程中會設(shè)置多個測試環(huán)節(jié)，來保證顯示面板的品質(zhì)，提升生產(chǎn)效率，其中，在顯示面板成盒(Cell)后，會對顯示面板進(jìn)行點(diǎn)亮測試，通過顯示簡單的畫面來檢測顯示面板的顯示品質(zhì)。目前，為了方便檢測，顯示面板的玻璃上會設(shè)計有一系列的測試點(diǎn)(Test Pad)，在這些測試點(diǎn)上輸入對應(yīng)的測試信號就可以產(chǎn)生簡單的畫面，以進(jìn)行點(diǎn)亮測試。

現(xiàn)有技術(shù)中，點(diǎn)亮測試過程通常包括：先將顯示面板固定到顯示面板固定臺(JIG)上，然后將帶有探針的壓頭壓合到顯示面板上，使得探針與測試點(diǎn)接觸，進(jìn)而將測試信號一一接觸輸入到顯示面板內(nèi)部的。

其中，壓頭在壓合時，需要將探針、及探針對應(yīng)的測試點(diǎn)準(zhǔn)確對位到一起，以實(shí)現(xiàn)測試信號的傳輸，目前，探針與測試點(diǎn)的是通過測試人員肉眼進(jìn)行對位的，極易出現(xiàn)對位不準(zhǔn)的情況，短路情況經(jīng)常發(fā)生，大大影響了產(chǎn)品開發(fā)的效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

本發(fā)明的目的還在于提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板、對應(yīng)所述顯示面板設(shè)置的壓頭、以及與所述壓頭電性連接的轉(zhuǎn)接板；

所述壓頭上依次排列的有一第一對位探針、數(shù)個測試信號探針、一第二對位探針；

所述顯示面板上設(shè)有對應(yīng)所述第一對位探針設(shè)置的第一對位點(diǎn)、對應(yīng)所述第二對位探針設(shè)置的第二對位點(diǎn)、以及數(shù)個與所述測試信號探針一一對應(yīng)的測試點(diǎn)，所述第一對位點(diǎn)與所述第二對位點(diǎn)設(shè)于所述顯示面板上的走線電性連接；

所述轉(zhuǎn)接板內(nèi)設(shè)有信號轉(zhuǎn)接電路，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括：一電阻、以及數(shù)個薄膜晶體管，所述測試信號探針的數(shù)量與薄膜晶體管的數(shù)量相同；

所述電阻一端接入薄膜晶體管關(guān)閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點(diǎn)電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管的柵極均電性連接第一節(jié)點(diǎn)，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針；所述第二對位探針經(jīng)由轉(zhuǎn)接板接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關(guān)閉信號的電位相反；

測試時，將所述壓頭壓合到顯示面板上，使得所述第一對位探針與所述第一對位點(diǎn)對位接觸，第二對位探針與所述第二對位點(diǎn)對位接觸，數(shù)個測試信號探針分別與數(shù)個測試點(diǎn)一一對位接觸，所述薄膜晶體管開啟信號經(jīng)由走線傳輸?shù)降谝还?jié)點(diǎn)，各個薄膜晶體管均打開，測試信號寫入顯示面板顯示測試畫面。

所述壓頭上設(shè)有4個測試信號探針，所述顯示面板設(shè)有4個測試點(diǎn)，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管；

所述4個薄膜晶體管的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號、低電位點(diǎn)亮信號、恒壓高電位信號、以及恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為N型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管關(guān)閉信號為恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為P型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管關(guān)閉信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓低電位信號。

還包括：顯示面板固定臺，測試時，所述顯示面板固定于所述顯示面板固定臺上。

本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，包括如下步驟：

步驟S1、提供一顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板、對應(yīng)所述顯示面板設(shè)置的壓頭、以及與所述壓頭電性連接的轉(zhuǎn)接板；

所述壓頭上依次排列有一第一對位探針、數(shù)個測試信號探針、以及一第二對位探針；

所述顯示面板上設(shè)有對應(yīng)所述第一對位探針設(shè)置的第一對位點(diǎn)、對應(yīng)所述第二對位探針設(shè)置的第二對位點(diǎn)、以及數(shù)個與所述測試信號探針的一一對應(yīng)的測試點(diǎn)，所述第一對位點(diǎn)與所述第二對位點(diǎn)設(shè)于所述顯示面板上的走線電性連接；

所述轉(zhuǎn)接板內(nèi)設(shè)有信號轉(zhuǎn)接電路，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括：一電阻、以及數(shù)個薄膜晶體管，所述測試信號探針的數(shù)量與薄膜晶體管的數(shù)量相同；

所述電阻一端接入薄膜晶體管關(guān)閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點(diǎn)電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管的柵極均電性連接第一節(jié)點(diǎn)，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針；所述第二對位探針經(jīng)由轉(zhuǎn)接板接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關(guān)閉信號的電位相反；

步驟S2、將所述壓頭壓合到顯示面板，使得所述第一對位探針與所述第一對位點(diǎn)對位接觸，第二對位探針與所述第二對位點(diǎn)對位接觸，數(shù)個測試信號探針分別與數(shù)個測試點(diǎn)一一對位接觸；

步驟S3、點(diǎn)亮所述顯示面板，根據(jù)所述顯示面板的點(diǎn)亮情況判斷是否存在對位偏差；

若顯示面板點(diǎn)亮異常，則判定存在對位偏差，并返回步驟2S重新對位；

若顯示面板點(diǎn)亮正常，則判定對位準(zhǔn)確，進(jìn)行步驟S4；

步驟S4、根據(jù)顯示面板點(diǎn)亮后顯示的測試畫面確定顯示面板的品質(zhì)。

所述壓頭上設(shè)有4個測試信號探針，所述顯示面板設(shè)有4個測試點(diǎn)，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管；

所述4個薄膜晶體管的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號、低電位點(diǎn)亮信號、恒壓高電位信號、恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為N型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管關(guān)閉信號為恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為P型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管關(guān)閉信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓低電位信號。

所述步驟S2還包括：提供一顯示面板固定臺，并將所述顯示面板固定于所述顯示面板固定臺上。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括轉(zhuǎn)接板、壓頭、以及顯示面板，所述顯示面板中增設(shè)有第一對位點(diǎn)和以及與第一對位點(diǎn)電性連接的第二對位點(diǎn)，壓頭上增設(shè)有與第一對位點(diǎn)對應(yīng)的第一對位探針和與第二對位點(diǎn)對應(yīng)的第二對位探針，轉(zhuǎn)接板內(nèi)設(shè)有薄膜晶體管用于控制測試信號的傳輸，當(dāng)?shù)谝粚ξ稽c(diǎn)和第二對位點(diǎn)對位準(zhǔn)確時，轉(zhuǎn)接板內(nèi)的薄膜晶體管將會開啟，測試信號才能傳輸?shù)斤@示面板中，而第一對位點(diǎn)和第二對位點(diǎn)對位不準(zhǔn)時，轉(zhuǎn)接板內(nèi)的薄膜晶體管將保持截止，測試信號不會傳輸?shù)斤@示面板中，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

附圖說明

為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的第一實(shí)施例的信號轉(zhuǎn)接電路的電路圖；

圖3為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的第二實(shí)施例的信號轉(zhuǎn)接電路的電路圖；

圖4為本發(fā)明的顯示面板的測試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。

請參閱圖1，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板1、對應(yīng)所述顯示面板1設(shè)置的壓頭2、以及與所述壓頭電性連接的轉(zhuǎn)接板3。

具體地，所述壓頭2上依次排列有一第一對位探針21、數(shù)個測試信號探針23、以及一第二對位探針22；所述顯示面板1上設(shè)有對應(yīng)所述第一對位探針21設(shè)置的第一對位點(diǎn)TP1、對應(yīng)所述第二對位探針22設(shè)置的第二對位點(diǎn)TP2、以及數(shù)個與所述測試信號探針23的一一對應(yīng)的測試點(diǎn)CT，所述第一對位點(diǎn)TP1與所述第二對位點(diǎn)TP2設(shè)于所述顯示面板1上的走線11電性連接。

需要說明的是，所述轉(zhuǎn)接板3內(nèi)設(shè)有信號轉(zhuǎn)接電路，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括：一電阻R、以及數(shù)個薄膜晶體管T，所述測試信號探針23的數(shù)量與薄膜晶體管T的數(shù)量相同；所述電阻R一端接入薄膜晶體管關(guān)閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點(diǎn)A電性連接第一對位探針21；所述數(shù)個薄膜晶體管T的柵極均電性連接第一節(jié)點(diǎn)A，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針23；所述第二對位探針22經(jīng)由轉(zhuǎn)接板3接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關(guān)閉信號的電位相反。

進(jìn)一步地，所述測試信號由外部信號源提供。所述顯示面板測試系統(tǒng)還包括：顯示面板固定臺4，測試時，所述顯示面板1固定于所述顯示面板固定臺4上，所述壓頭2與所述顯示面板固定臺4可以集成在一起，形成一測試機(jī)臺。

如圖2所示，在本發(fā)明的第一實(shí)施例的中，所述壓頭2上設(shè)有4個測試信號探針，所述顯示面板1設(shè)有4個測試點(diǎn)CT，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為P型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管關(guān)閉信號和薄膜晶體管的開啟信號，用于在對位不準(zhǔn)時，關(guān)閉薄膜晶體管T，在對位準(zhǔn)確時，打開薄膜晶體管T。

如圖3所示，在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，所述壓頭2上設(shè)有4個測試信號探針，所述顯示面板1設(shè)有4個測試點(diǎn)CT，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為N型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管開啟信號和薄膜晶體管的關(guān)閉信號，用于在對位不準(zhǔn)時，關(guān)閉薄膜晶體管T，在對位準(zhǔn)確時，打開薄膜晶體管T。

可以理解的是，雖然本發(fā)明的第一和第二實(shí)施例中均采用了4個薄膜晶體管T、4個測試信號探針23、4個測試點(diǎn)CT、以及4個不同的測試信號的技術(shù)方案，但本發(fā)明還可以根據(jù)需要增加或減少薄膜晶體管、測試信號探針、測試點(diǎn)、以及測試信號的數(shù)量，本發(fā)明對此不做限制。

進(jìn)一步地，所述壓頭2上通常還會設(shè)置不與轉(zhuǎn)接板3電性連接的非轉(zhuǎn)接測試探針，該些非轉(zhuǎn)接測試探針直接接入對應(yīng)的測試信號，并通過與顯示面板1上設(shè)置的對應(yīng)的測試點(diǎn)接觸將相應(yīng)的測試信號寫入測試面板，這些測試信號通常是不會產(chǎn)生較大電流，不需要進(jìn)行短路保護(hù)的測試信號，而會產(chǎn)生較大電流的測試信號則需要經(jīng)由轉(zhuǎn)接板3接入，以進(jìn)行短路保護(hù)。

具體地，以第一實(shí)施例為例，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)的工作原理為：先將所述壓頭2壓合到顯示面板1，進(jìn)行初步對位，使得所述第一對位探針21與所述第一對位點(diǎn)TP1對位接觸，第二對位探針22與所述第二對位點(diǎn)TP2對位接觸，數(shù)個測試信號探針23分別與數(shù)個測試點(diǎn)CT一一對位接觸，若此時對位準(zhǔn)確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)傳輸?shù)降诙ξ稽c(diǎn)TP2，再經(jīng)由走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點(diǎn)A，拉低第一節(jié)點(diǎn)A的電位，使得各個薄膜晶體管T打開，高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL寫入顯示面板1，顯示面板1正常顯示測試畫面，若此時對位不準(zhǔn)確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)不能經(jīng)由第二對位點(diǎn)TP2和走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點(diǎn)A，第一節(jié)點(diǎn)A將在薄膜晶體管關(guān)閉信號(恒壓高電位信號VGH)的影響下持續(xù)保持高電位，各個薄膜晶體管T均保持關(guān)閉，高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL均無法寫入顯示面板1，顯示面板1無法正常顯示測試畫面，此時測試人員觀察到顯示面板1點(diǎn)亮異常之后，重新調(diào)整對位，直至顯示面板1能夠正常顯示測試畫面，在調(diào)整的過程中，由于對位不準(zhǔn)時，薄膜晶體管T就不會開啟，各個測試信號也不會寫入顯示面板1，從而有效避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

請參閱圖4，本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，包括如下步驟：

步驟S1、提供一顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板1、對應(yīng)所述顯示面板1設(shè)置的壓頭2、以及與所述壓頭2電性連接的轉(zhuǎn)接板3；

所述壓頭2上依次排列有一第一對位探針21、數(shù)個測試信號探針23、以及、一第二對位探針；

所述顯示面板1上設(shè)有對應(yīng)所述第一對位探針21設(shè)置的第一對位點(diǎn)TP1、對應(yīng)所述第二對位探針22設(shè)置的第二對位點(diǎn)TP2、以及數(shù)個與所述測試信號探針23的一一對應(yīng)的測試點(diǎn)CT，所述第一對位點(diǎn)TP1與所述第二對位點(diǎn)TP2設(shè)于所述顯示面板1上的走線11電性連接；

所述轉(zhuǎn)接板3內(nèi)設(shè)有信號轉(zhuǎn)接電路，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括：一電阻R、以及數(shù)個薄膜晶體管T，所述測試信號探針23的數(shù)量與薄膜晶體管T的數(shù)量相同；

所述電阻R一端接入薄膜晶體管關(guān)閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點(diǎn)A電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管T的柵極均電性連接第一節(jié)點(diǎn)A，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針23；所述第二對位探針經(jīng)由轉(zhuǎn)接板3接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關(guān)閉信號的電位相反。

可選地，如圖2所示，在本發(fā)明的第一實(shí)施例的中，所述壓頭2上設(shè)有4個測試信號探針23，所述顯示面板1設(shè)有4個測試點(diǎn)，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為P型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管關(guān)閉信號和薄膜晶體管的開啟信號，用于在對位不準(zhǔn)時，關(guān)閉薄膜晶體管T，在對位準(zhǔn)確時，打開薄膜晶體管T。

可選地，如圖3所示，在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，所述壓頭2上設(shè)有4個測試信號探針23，所述顯示面板1設(shè)有4個測試點(diǎn)，所述信號轉(zhuǎn)接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為N型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管開啟信號和薄膜晶體管的關(guān)閉信號，用于在對位不準(zhǔn)時，關(guān)閉薄膜晶體管T，在對位準(zhǔn)確時，打開薄膜晶體管T。

進(jìn)一步地，所述測試信號由外部信號源提供。所述顯示面板測試系統(tǒng)還包括：顯示面板固定臺4，測試時，所述顯示面板1固定于所述顯示面板固定臺4上，所述壓頭2與所述顯示面板固定臺4可以集成在一起，形成一測試機(jī)臺。

可以理解的是，雖然本發(fā)明的第一和第二實(shí)施例中均采用了4個薄膜晶體管T、4個測試信號探針、4個測試點(diǎn)、以及4個不同的測試信號的技術(shù)方案，但本發(fā)明還可以根據(jù)需要增加或減少薄膜晶體管、測試信號探針、測試點(diǎn)、以及測試信號的數(shù)量，本發(fā)明對此不做限制。

此外，所述壓頭2上通常還會設(shè)置不與轉(zhuǎn)接板3電性連接的非轉(zhuǎn)接測試探針，該些非轉(zhuǎn)接測試探針直接接入對應(yīng)的測試信號，并通過與顯示面板1上設(shè)置的對應(yīng)的測試點(diǎn)接觸將相應(yīng)的測試信號寫入測試面板，這些測試信號通常是不會產(chǎn)生較大電流，不需要進(jìn)行短路保護(hù)的測試信號，而會產(chǎn)生較大電流的測試信號則需要經(jīng)由轉(zhuǎn)接板3接入，以進(jìn)行短路保護(hù)。

步驟S2、將所述壓頭2壓合到顯示面板1，使得所述第一對位探針21與所述第一對位點(diǎn)TP1對位接觸，第二對位探針22與所述第二對位點(diǎn)TP2對位接觸，數(shù)個測試信號探針23分別與數(shù)個測試點(diǎn)CT一一對位接觸。

具體地，所述步驟S2中的對位為初步對位，還需要根據(jù)步驟S3的點(diǎn)亮情況來判定對位是否準(zhǔn)確。

步驟S3、點(diǎn)亮所述顯示面板1，根據(jù)所述顯示面板1的點(diǎn)亮情況判斷是否存在對位偏差；

若顯示面板1點(diǎn)亮異常，則判定存在對位偏差，并返回步驟S2重新對位；

若顯示面板1點(diǎn)亮正常，則判定對位準(zhǔn)確，進(jìn)行步驟S4。

具體地，以第一實(shí)施例為例，對所述步驟S3的具體工作過程進(jìn)行說明：若此時對位準(zhǔn)確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)會傳輸?shù)降诙ξ稽c(diǎn)TP2，再經(jīng)由走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點(diǎn)A，拉低第一節(jié)點(diǎn)A的電位，使得各個薄膜晶體管T打開，高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL寫入顯示面板1，顯示面板1正常顯示測試畫面，若此時對位不準(zhǔn)確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)不能經(jīng)由第二對位點(diǎn)TP2和走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點(diǎn)A，第一節(jié)點(diǎn)A將在薄膜晶體管關(guān)閉信號(恒壓高電位信號VGH)的影響下持續(xù)保持高電位，各個薄膜晶體管T均保持關(guān)閉，高電位點(diǎn)亮信號ELH、低電位點(diǎn)亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL均無法寫入顯示面板1，顯示面板1無法正常顯示測試畫面，此時測試人員觀察到顯示面板1點(diǎn)亮異常之后，重新調(diào)整對位，直至顯示面板1能夠正常顯示測試畫面，在調(diào)整的過程中，由于對位不準(zhǔn)時，薄膜晶體管T就不會開啟，各個測試信號也不會寫入顯示面板1，從而有效避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

步驟S4、根據(jù)顯示面板1點(diǎn)亮后顯示的測試畫面確定顯示面板1的品質(zhì)。

綜上所述，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括轉(zhuǎn)接板、壓頭、以及顯示面板，所述顯示面板中增設(shè)有第一對位點(diǎn)和以及與第一對位點(diǎn)電性連接的第二對位點(diǎn)，壓頭上增設(shè)有與第一對位點(diǎn)對應(yīng)的第一對位探針和與第二對位點(diǎn)對應(yīng)的第二對位探針，轉(zhuǎn)接板內(nèi)設(shè)有薄膜晶體管用于控制測試信號的傳輸，當(dāng)?shù)谝粚ξ稽c(diǎn)和第二對位點(diǎn)對位準(zhǔn)確時，轉(zhuǎn)接板內(nèi)的薄膜晶體管將會開啟，測試信號才能傳輸?shù)斤@示面板中，而第一對位點(diǎn)和第二對位點(diǎn)對位不準(zhǔn)時，轉(zhuǎn)接板內(nèi)的薄膜晶體管將保持截止，測試信號不會傳輸?shù)斤@示面板中，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點(diǎn)亮測試中因壓頭對位不準(zhǔn)導(dǎo)致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

以上所述，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。