專利名稱:一種邊界掃描鏈測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域,由其涉及一種基于ICT(In-Circuit-Test)的多鏈邊界掃描測(cè)試方法。
背景技術(shù):
邊界掃描測(cè)試(BST-Boundary Scan Test)技術(shù),也就是JTAG技術(shù),是指通過存在于器件輸入輸出管腳與內(nèi)核電路之間的BSC(邊界掃描單元)對(duì)器件及其外圍電路進(jìn)行測(cè)試。利用邊界掃描測(cè)試技術(shù)可以有效地降低單板成本,提高測(cè)試質(zhì)量,縮短產(chǎn)品研發(fā)周期。1990年,美國(guó)電氣與電子工程師學(xué)會(huì)(IEEE)將JTAG標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)補(bǔ)充和修訂以后,命名為IEEE1149.1。IEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)大大地推動(dòng)了邊界掃描測(cè)試技術(shù)的發(fā)展和廣泛應(yīng)用。迄今為止,邊界掃描技術(shù)已成為最成熟的DFT技術(shù),它已成為DFT的主要手段,對(duì)DFT技術(shù)的發(fā)展具有深遠(yuǎn)的影響。近年來,由于許多芯片制造商都接受了IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn),越來越多的芯片具有邊界掃描功能,在單板的DFT設(shè)計(jì)時(shí)會(huì)將這些邊界掃描器件按一定的要求連成一條或多條的邊界掃描菊花鏈。
基于ICT(In-Circuit-Test)的邊界掃描測(cè)試是指,ICT測(cè)試儀通過ICT針床對(duì)被測(cè)單板上的邊界掃描器件激勵(lì)測(cè)量信號(hào),通過接收測(cè)試結(jié)果來進(jìn)行故障診斷和故障定位。
多鏈測(cè)試是指分別要對(duì)兩個(gè)或兩個(gè)以上的邊界掃描菊花鏈進(jìn)行測(cè)試。
目前邊界掃描測(cè)試方法都是通過分析單鏈上邊界掃描器件和周邊器件的拓?fù)潢P(guān)系,產(chǎn)生邊界掃描測(cè)試向量和故障診斷文件,所以每條邊界掃描鏈都有各自獨(dú)立的診斷文件。測(cè)試工具測(cè)試的時(shí)候要將單鏈的診斷文件放到指定的測(cè)試目錄下,才能實(shí)現(xiàn)對(duì)邊界掃描單鏈的故障診斷和故障定位。如果將不同鏈的診斷文件同時(shí)拷到測(cè)試目錄下,就會(huì)出錯(cuò)。由于不同邊界掃描量鏈的診斷文件之間不能自動(dòng)切換,所以測(cè)試工具測(cè)試單板的時(shí)候不能實(shí)現(xiàn)多鏈測(cè)試的診斷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是為了解決測(cè)試軟件只能對(duì)單條邊界掃描鏈測(cè)試進(jìn)行診斷的局限性。提出一種可以實(shí)現(xiàn)任意多條邊界掃描鏈的測(cè)試方法,為此本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種邊界掃描鏈測(cè)試方法,適用于多條邊界掃描鏈測(cè)試,其特征在于包括以下步驟A、為測(cè)試的邊界掃描鏈設(shè)置切換程序,該切換程序?qū)⒅付y(cè)試路徑轉(zhuǎn)換為當(dāng)前邊界掃描鏈;B、判斷待測(cè)試鏈?zhǔn)欠駷檫吔鐠呙桄?,如果是,進(jìn)入步驟C,如果否,采用其他測(cè)試方式測(cè)試,結(jié)束本流程;C、調(diào)用切換程序,清空當(dāng)前測(cè)試目錄,并將待測(cè)試邊界掃描鏈目錄下的診斷文件拷貝到當(dāng)前測(cè)試目錄下;D、對(duì)待測(cè)試邊界掃描鏈進(jìn)行向量測(cè)試,產(chǎn)生測(cè)試文件;E、判斷是否還有待測(cè)邊界掃描鏈,如果有,返回步驟B;如果沒有,則結(jié)束流程。
所述的步驟A,是為每個(gè)邊界掃描鏈設(shè)置一個(gè)切換程序。
所述的步驟A中,所述的切換程序選用常用編程語言編寫。
本發(fā)明在單鏈測(cè)試前通過調(diào)用切換程序?qū)⒈炬湹脑\斷文件拷貝到指定的測(cè)試目錄下,從而實(shí)現(xiàn)了多鏈的測(cè)試診斷。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中邊界掃描鏈測(cè)試的流程圖;圖2是本發(fā)明多鏈邊界掃描測(cè)試的流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合說明書附圖來說明本發(fā)明的具體實(shí)施方式
。本發(fā)明以測(cè)試軟件Spectrum為例,說明多鏈邊界掃描測(cè)試方式。
圖1是發(fā)明前的測(cè)試流程圖,由于測(cè)試軟件Spectrum是根據(jù)指定目錄下的診斷文件進(jìn)行分析的,所以無法實(shí)現(xiàn)多鏈測(cè)試的診斷,無法進(jìn)行故障分析。
圖2是發(fā)明后的測(cè)試流程圖,測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)了任意多條邊界掃描鏈的診斷分析,極大方便了生產(chǎn)人員進(jìn)行單板維修。其首先要為每條邊界掃描鏈建立一個(gè)工作目錄,將相關(guān)的文件拷貝到目錄下,定義好每條鏈上器件連接的先后順序,選好邊界掃描測(cè)試類型,運(yùn)行邊界掃描測(cè)試軟件Victory,產(chǎn)生該鏈的串行測(cè)試向量庫(kù)文件,然后在Spectrum里輸入該文件,產(chǎn)生并行向量測(cè)試頁以及在工作目錄下生成診斷文件。
本方案中為測(cè)試的邊界掃描鏈設(shè)置切換程序,該切換程序?qū)⒅付y(cè)試路徑轉(zhuǎn)換為當(dāng)前邊界掃描鏈;在具體測(cè)試過程中,首先要判斷待測(cè)試鏈?zhǔn)欠駷檫吔鐠呙桄?,如果是,按照本發(fā)明的技術(shù)方案繼續(xù)進(jìn)行,如果不是,則采用其他測(cè)試方式測(cè)試,比如一些傳統(tǒng)的測(cè)試方案,同時(shí)結(jié)束本發(fā)明下面的流程處理。
在確認(rèn)了采用本發(fā)明的技術(shù)方案后,則需要調(diào)用前面產(chǎn)生的切換程序,先清空當(dāng)前測(cè)試目錄,再將本鏈目錄下的診斷文件拷貝到指定測(cè)試目錄下,當(dāng)測(cè)試失敗的時(shí)候,Spectrum就會(huì)顯示測(cè)試失敗的網(wǎng)絡(luò)名,相關(guān)器件的管腳和測(cè)試針號(hào)。
對(duì)待測(cè)試邊界掃描鏈進(jìn)行向量測(cè)試,產(chǎn)生測(cè)試文件。
對(duì)于多鏈邊界掃描測(cè)試,需要測(cè)試多個(gè)邊界掃描鏈,因此,流程執(zhí)行到此,并沒有結(jié)束,需要看是否還有其它待測(cè)的邊界掃描鏈,如果有,則再重新走上述流程,如果沒有,則結(jié)束測(cè)試。
本發(fā)明中調(diào)用的程序可以是任何編程語言編寫成的,應(yīng)用的測(cè)試平臺(tái)包括所有的ICT測(cè)試軟件平臺(tái)。
本發(fā)明的在單鏈測(cè)試前通過調(diào)用程序?qū)⒈炬湹脑\斷文件拷貝到指定的測(cè)試目錄下,從而實(shí)現(xiàn)了多鏈的測(cè)試診斷。
本發(fā)明已經(jīng)成功地運(yùn)用于諸多產(chǎn)品單板上的邊界掃描測(cè)試中。
權(quán)利要求
1.一種邊界掃描鏈測(cè)試方法,適用于多條邊界掃描鏈測(cè)試,其特征在于包括以下步驟A、為測(cè)試的邊界掃描鏈設(shè)置切換程序,該切換程序?qū)⒅付y(cè)試路徑轉(zhuǎn)換為當(dāng)前邊界掃描鏈;B、判斷待測(cè)試鏈?zhǔn)欠駷檫吔鐠呙桄湥绻?,進(jìn)入步驟C,如果否,結(jié)束本流程;C、調(diào)用切換程序,清空當(dāng)前測(cè)試目錄,并將待測(cè)試邊界掃描鏈目錄下的診斷文件拷貝到當(dāng)前測(cè)試目錄下;D、對(duì)待測(cè)試邊界掃描鏈進(jìn)行向量測(cè)試,產(chǎn)生測(cè)試文件;E、判斷是否還有待測(cè)邊界掃描鏈,如果有,返回步驟B;如果沒有,則結(jié)束流程。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于所述的步驟A,是為每個(gè)邊界掃描鏈設(shè)置一個(gè)切換程序。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于所述的步驟A中,所述的切換程序選用常用編程語言編寫。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種邊界掃描鏈測(cè)試方法,適用于多條邊界掃描鏈測(cè)試,其特征在于包括以下步驟A.為測(cè)試的邊界掃描鏈設(shè)置切換程序,該切換程序?qū)⒅付y(cè)試路徑轉(zhuǎn)換為當(dāng)前邊界掃描鏈;B.判斷待測(cè)試鏈?zhǔn)欠駷檫吔鐠呙桄?,如果是,進(jìn)入步驟C,如果否,采用其他測(cè)試方式測(cè)試,結(jié)束本流程;C.調(diào)用切換程序,清空當(dāng)前測(cè)試目錄,并將待測(cè)試邊界掃描鏈目錄下的診斷文件拷貝到當(dāng)前測(cè)試目錄下;D.對(duì)待測(cè)試邊界掃描鏈進(jìn)行向量測(cè)試,產(chǎn)生測(cè)試文件;E.判斷是否還有待測(cè)邊界掃描鏈,如果有,返回步驟B;如果沒有,則結(jié)束流程。本發(fā)明在單鏈測(cè)試前通過調(diào)用切換程序?qū)⒈炬湹脑\斷文件拷貝到指定的測(cè)試目錄下,從而實(shí)現(xiàn)了多鏈的測(cè)試診斷。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1725028SQ20041006958
公開日2006年1月25日 申請(qǐng)日期2004年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月20日
發(fā)明者徐臻, 楊遠(yuǎn)志, 陳定邦 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司