專利名稱：一種翻蓋式電子芯片檢測治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種翻蓋式電子芯片檢測治具。
背景技術(shù)：
90年代隨著集成技術(shù)的進步、設(shè)備的改進和深亞微米技術(shù)的使用，LSI、VLSI、ULSI相繼出現(xiàn)，電子芯片集成度不斷提高，對集成電路封裝要求更加嚴(yán)格，I/O引腳數(shù)急劇增加，功耗也隨之増大。為滿足發(fā)展的需要，在原有封裝品種基礎(chǔ)上，電子芯片又增添了新的品
種--球柵陣列封裝，簡稱BGA(Ball GridArray Package。目前各種電子芯片廣泛應(yīng)運電
子領(lǐng)域的各行業(yè)電腦、手機、電腦南北橋、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印機、通訊終端、エ控主板、顯卡、數(shù)碼相機、機頂盒等。
電子芯片通常在出廠質(zhì)檢、回收品檢查、使用性能檢測等情況選都需對電子芯片進行檢測，通常情況下，檢測治具包括設(shè)置檢測電路的治具底板，治具底板上固定檢測底座，治具底板上設(shè)置連接檢測電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測探針；檢測時，將電子芯片放置在檢測底座，檢測探針對應(yīng)接觸到相應(yīng)電子芯片的檢測點，一般情況下，電子芯片的上端簡單的壓塊壓住芯片或有時候?qū)⑿酒附釉跈z測底座上，讓芯片貼緊檢測探針進行檢測，然而電子芯片在檢測底座上容易錯位，在電子芯片上端的受力不足容易造成某些部分不能與檢測探針接觸，導(dǎo)致檢測結(jié)果不準(zhǔn)確，另外焊接固定的方式エ藝復(fù)雜，容易導(dǎo)致電子芯片及檢測底座的損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明在于針對目前電子芯片檢測治具存在的不足，而提供一種解決以上問題的翻蓋式電子芯片檢測治具。為達到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種翻蓋式電子芯片檢測治具，包括設(shè)置檢測電路的治具底板，所述治具底板上設(shè)置檢測電子芯片的芯片容置腔，芯片容置腔內(nèi)設(shè)置連接檢測電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測探針，容置腔上方設(shè)置翻蓋壓板，翻蓋壓板的一邊絞接設(shè)置在治具底板上，翻蓋壓板上與鉸接邊相対的一邊設(shè)置能與治具底板扣接的扳扣，翻蓋壓板上設(shè)置旋壓裝置，旋壓裝置的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊。較佳的，所述治具底板上設(shè)置“回”字形的固定安裝座，固定安裝座的一邊設(shè)置與翻蓋壓板鉸接的鉸接凸位，固定安裝座上與鉸接凸位相對的ー邊設(shè)置與扳扣相配合的扣位。較佳的，所述治具底板設(shè)置固定檢測探針的針盤及護板。較佳的，所述旋壓裝置包括一設(shè)置旋鈕的螺柱，螺柱穿設(shè)過翻蓋壓板上設(shè)置的與螺柱配合的螺孔，螺柱的底端連接芯片壓塊。較佳的，所述螺柱的底端設(shè)置推力軸承連接芯片壓塊。較佳的，所述芯片壓塊上設(shè)置穿設(shè)在翻蓋壓板上的行程導(dǎo)柱。
本發(fā)明的有益效果在于本發(fā)明的翻蓋式電子芯片檢測治具，包括設(shè)置檢測電路的治具底板，所述治具底板上固定檢測底座，所述治具底板上設(shè)置檢測電子芯片的芯片容置腔，芯片容置腔內(nèi)設(shè)置連接檢測電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測探針，容置腔上方設(shè)置翻蓋壓板，翻蓋壓板的一邊絞接設(shè)置在治具底板上，翻蓋壓板上與鉸接邊相対的ー邊設(shè)置能與治具底板扣接的扳扣，翻蓋壓板上設(shè)置旋壓裝置，旋壓裝置的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊；檢測治具使用時，將電子芯片放置在芯片容置腔內(nèi)，芯片容置腔對電子芯片起到管位的作用，不會導(dǎo)致錯位現(xiàn)象的產(chǎn)生；將鉸接在治具底板的翻蓋壓板蓋向電子芯片，并通過扳扣扣接在治具底板上，然后旋動旋壓裝置將芯片壓塊平整的壓向電子芯片，電子芯片上端均勻受力，電子芯片檢測部分與檢測探針充分接觸，檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠，本檢測治具還具有操作簡單，使用方便，使用壽命長的優(yōu)點。


圖I、本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意2、本發(fā)明的剖面結(jié)構(gòu)示意3、本發(fā)明的分解結(jié)構(gòu)示意圖
具體實施例方式下面結(jié)合附圖1-3對本發(fā)明做進ー步的闡述一種翻蓋式電子芯片檢測治具，包括設(shè)置檢測電路的治具底板1，所述治具底板I上設(shè)置檢測電子芯片的芯片容置腔2，芯片容置腔2內(nèi)設(shè)置連接檢測電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測探針3，容置腔2上方設(shè)置翻蓋壓板4，翻蓋壓板4的一邊絞接設(shè)置在治具底板I上，翻蓋壓板4上與鉸接邊相対的一邊設(shè)置能與治具底板I扣接的扳扣41，翻蓋壓板4上設(shè)置旋壓裝置5，旋壓裝置5的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊6。為了更好的固定翻蓋壓板4，在治具底板I上設(shè)置“回”字形的固定安裝座7，固定安裝座7的一邊設(shè)置與翻蓋壓板4鉸接的鉸接凸位71，通過連接柱73將固定安裝座7鉸接在鉸接凸位71上，固定安裝座7上與鉸接凸位71相対的一邊設(shè)置與扳扣41相配合的凹陷扣位72，通過固定安裝座7使翻蓋壓板4與治具底板I間接的作用一起，便于安裝和加工設(shè)計。本發(fā)明的檢測治具中，治具底板I設(shè)置固定檢測探針3的針盤31及護板32，用以安裝固定檢測探針3，并便于維護、檢測或更換檢測探針3，這種情況下，將芯片容置腔2設(shè)置在護板32上，治具底板I上設(shè)置針盤容放腔11，這樣可以延長檢測治具的使用壽命，降低治具維護成本。本發(fā)明的旋壓裝置5本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)基本常識，可以設(shè)計成很多方案，本實施例中，旋壓裝置5包括ー設(shè)置旋鈕51的螺柱52，螺柱52穿設(shè)過翻蓋壓板4上設(shè)置的與螺柱52配合的螺孔42，螺柱52的底端連接芯片壓塊6，當(dāng)翻蓋壓板4扣接后，旋轉(zhuǎn)旋鈕51，螺柱52在螺孔42內(nèi)向下運動，并帶動芯片壓塊6壓向電子芯片，使電子芯片緊貼檢測探針3。為了使作用在芯片壓塊6上的作用カ更加均勻，螺柱52的底端設(shè)置推力軸承7連接芯片壓塊6。
本發(fā)明的檢測治具中，為了使芯片壓塊6平穩(wěn)運動，在芯片壓塊6上設(shè)置穿設(shè)在翻蓋壓板4上的行程導(dǎo)柱8。當(dāng)然，以上所述僅是本發(fā)明的較佳實施例，故凡依本發(fā)明專利申請范圍所述的構(gòu) 造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本發(fā)明專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種翻蓋式電子芯片檢測治具，包括設(shè)置檢測電路的治具底板(1)，其特征在干所述治具底板(I)上設(shè)置檢測電子芯片的芯片容置腔(2)，芯片容置腔(2)內(nèi)設(shè)置連接檢測電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測探針(3)，容置腔(2)上方設(shè)置翻蓋壓板(4)，翻蓋壓板(4)的一邊絞接設(shè)置在治具底板(I)上，翻蓋壓板(4)上與鉸接邊相対的一邊設(shè)置能與治具底板(I)扣接的扳扣(41)，翻蓋壓板(4)上設(shè)置旋壓裝置(5)，旋壓裝置(5)的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種翻蓋式電子芯片檢測治具，其特征在于所述治具底板(I)上設(shè)置“回”字形的固定安裝座(7)，固定安裝座(7)的一邊設(shè)置與翻蓋壓板(4)鉸接的鉸接凸位(71)，固定安裝座(7)上與鉸接凸位(71)相対的一邊設(shè)置與扳扣(41)相配合的扣位(72)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種翻蓋式電子芯片檢測治具，其特征在于所述治具底板(I)設(shè)置固定檢測探針⑶的針盤(31)及護板(32)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種翻蓋式電子芯片檢測治具，其特征在于所述旋壓裝置(5)包括ー設(shè)置旋鈕(51)的螺柱(52)，螺柱(52)穿設(shè)過翻蓋壓板(4)上設(shè)置的與螺柱(52)配合的螺孔(42)，螺柱(52)的底端連接芯片壓塊(6)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ー種翻蓋式電子芯片檢測治具，其特征在干所述螺柱(52)的底端設(shè)置推力軸承(7)連接芯片壓塊(6)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任意項所述的一種翻蓋式電子芯片檢測治具，其特征在于所述芯片壓塊(6)上設(shè)置穿設(shè)在翻蓋壓板(4)上的行程導(dǎo)柱(8)。
全文摘要
本發(fā)明涉及電子檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種翻蓋式電子芯片檢測治具；本發(fā)明的翻蓋式電子芯片檢測治具，在治具底板上設(shè)置檢測電子芯片的芯片容置腔，容置腔上方設(shè)置翻蓋壓板，翻蓋壓板上的旋壓裝置的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊；檢測治具使用時，將電子芯片放置在芯片容置腔內(nèi)，芯片容置腔對電子芯片起到管位的作用，不會導(dǎo)致錯位現(xiàn)象的產(chǎn)生；將鉸接在治具底板的翻蓋壓板蓋向電子芯片，并通過扳扣扣接在治具底板上，然后旋動旋壓裝置將芯片壓塊平整的壓向電子芯片，電子芯片上端均勻受力，電子芯片檢測部分與檢測探針充分接觸，檢測結(jié)果準(zhǔn)確可靠，本檢測治具還具有操作簡單，使用方便，使用壽命長的優(yōu)點。
文檔編號G01R31/28GK102830340SQ201210277679
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月3日
發(fā)明者周傲雪, 姚彩虹 申請人:東莞光韻達光電科技有限公司