專利名稱：顆粒分離帶電量多因素分析儀的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及分析儀表，具體地，涉及顆粒分離帶電量多因素分析儀。
背景技術：
顆粒離開顆粒床表面會帶有正負電荷，因外界環(huán)境因素及顆粒物理參數(shù)、幾何參數(shù)的影響，使每個顆粒所帶的電荷量大小不同。然而，目前因沒有一種直接測量顆粒離開顆粒系統(tǒng)后帶電量的測量儀器，因此也無法測量顆粒直接離開顆粒床后的帶電量，更不能證實此種帶電機理，同時不能分析外界環(huán)境因素、顆粒物理參數(shù)及幾何參數(shù)對帶電量的影響。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于，針對上述問題，提出一種顆粒分離帶電量多因素分析儀，以實現(xiàn)測量顆粒離開顆粒床后所帶電荷量大小，并能夠分析外界環(huán)境因素、顆粒物理參數(shù)及幾何參數(shù)對帶電量的影響的優(yōu)點。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術方案是
顆粒分離帶電量多因素分析儀，包括透明密閉容器、支撐臺、顆粒分離帶電量測量儀、 裝料器、滑動裝置、平行極板、高壓直流電源、進氣閥門和出氣閥門，所述支撐臺固裝在透明密閉容器內，所述滑動裝置設置在支撐臺的下部，其頂部裝置有裝料器，所述顆粒分離帶電量測量儀固裝在支撐臺的上部，所述平行極板分為下極板和上極板，其分別設置在裝料器內和顆粒分離帶電量測量儀的底部，所述高壓直流電源兩極分別與兩平行極板電連接，所述進氣閥門和出氣閥門裝置在透明密閉容器的側壁上。進一步的，所述支撐臺包括底座、螺桿、軌道平板和載筒板，所述螺桿通過螺母固定在底座上，所述螺桿的下部固定有軌道平板，其上部固定有載筒板。進一步的，所述滑動裝置包括滑塊、減速電機和電機調速器，所述減速電機固裝在支撐臺的底座上，所述滑塊設置在支撐臺的軌道平板上，所述滑塊與減速電機嚙合在一起， 所述減速電機和電機調速器電連接在一起。進一步的，所述顆粒分離帶電量測量儀包括內筒、外筒、固定裝置、軸流風機和電荷儀，所述外筒固裝在支撐臺的載筒板上，所述固定裝置中間設置有通孔，所述內筒通過固定裝置與外筒和上極板固定在一起，所述軸流風機設置在外筒的頂部，所述電荷儀與外筒和內筒電連接在一起。進一步的，所述進氣閥門裝置在透明密閉容器靠近底部的側壁上，所述出氣閥門裝置在與進氣閥門相對的透明密閉容器側壁的上部。進一步的，所述外筒和內筒之間設置有絕緣墊圈，所述外筒與載筒板之間也設置有絕緣墊圈。進一步的，所述固定裝置包括中空的錐頭螺栓和扁平螺母，所述扁平螺母旋裝在錐頭螺栓上。進一步的，所述錐頭螺栓與外筒和平行極板之間設置有絕緣墊圈。
進一步的，所述扁平螺母與內筒之間設置有絕緣墊圈。進一步的，所述內筒和外筒的筒徑遠大于底部通孔直徑。本發(fā)明的技術方案是，設計一種顆粒分離帶電量多因素分析儀，通過在透明密閉容器模擬一種可控的環(huán)境因素，并通過內筒和外筒和電荷儀，測量處進入內筒的顆粒所帶的電荷量，測量出顆粒離開顆粒床后所帶的電荷量，并通過調節(jié)封閉的透明密閉容器內的環(huán)境變量，以分析外界環(huán)境因素、顆粒物理參數(shù)及幾何參數(shù)對帶電量的影響。本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在所寫的說明書、權利要求書、以及附圖中所特別指出的結構來實現(xiàn)和獲得。下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術方案做進一步的詳細描述。
附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發(fā)明的實施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明的限制。在附圖中
圖1為本發(fā)明所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀的結構示意圖； 圖2為本發(fā)明所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀中的雙層筒的結構示意圖； 圖3為本發(fā)明所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀中的錐頭螺栓結構示意圖。結合附圖，本發(fā)明實施例中附圖標記如下
1出氣閥門；2內筒；3錐頭螺栓；4絕緣墊圈；7導線；8電機軸；9平鍵；10齒輪；11減速電機；12底座；13高壓直流電源；14電荷儀；15電機調速器；16進氣閥門； 17墊圈；18螺母；19螺桿；20軌道平板；21滑塊；22裝料器；23下極板；對上極板 ；26扁平螺母；27外筒；觀載筒板；31軸流風機；32透明密閉容器。
具體實施例方式以下結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明提供了一種顆粒分離帶電量多因素分析儀，包括透明密閉容器32、支撐臺、 顆粒分離帶電量測量儀、裝料器22、滑動裝置、平行極板、高壓直流電源13、進氣閥門16和出氣閥門1，支撐臺固裝在透明密閉容器32內，滑動裝置設置在支撐臺的下部，其頂部裝置有裝料器22，顆粒分離帶電量測量儀固裝在支撐臺的上部，平行極板分為下極板和上極板， 其分別設置在裝料器22內和顆粒分離帶電量測量儀的底部，高壓直流電源13兩極分別通過導線與兩平行極板連接，進氣閥門16和出氣閥門1裝置在透明密閉容器32的側壁上。密閉透明容器該容器選用透明材料制成，便于實驗觀測和操作；容器內壁貼有鐵絲網(wǎng)，以屏蔽外電場；容器開用進氣閥門16和排氣閥門，以改變容器內部的環(huán)境，如濕度、空氣的成分等。顆粒分離帶電量的測量儀選用不銹鋼制成，筒徑遠大于底部通孔直徑，便于沙粒的吸入與在筒內的沉降；內筒2直徑、高度、底部通孔直徑都小于外筒27，通過三個絕緣墊圈4保持內外筒27之間絕緣且相對位置固定，內外筒皆有引線與電荷儀14相連，外筒27側壁開一小孔，方便內筒引線，雙層筒體是發(fā)拉第筒的改裝，通過實驗證明其作用與法拉第筒相同。實驗如下將標準發(fā)拉第筒和雙層筒體分別連接到兩臺同型號的電荷儀14上，將摩擦帶電的塑料放入標準發(fā)拉第筒中測量其帶電量后，立刻放入雙層筒體中測量其帶電量， 實驗結果如下
表1本發(fā)明裝置測量結果與法拉第筒測量結果的對比
權利要求
1.顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，包括透明密閉容器(32)、支撐臺、顆粒分離帶電量測量儀、裝料器(22)、滑動裝置、平行極板、高壓直流電源(13)、進氣閥門(16) 和出氣閥門(1)，所述支撐臺固裝在透明密閉容器(32)內，所述滑動裝置設置在支撐臺的下部，其頂部裝置有裝料器(22)，所述顆粒分離帶電量測量儀固裝在支撐臺的上部，所述平行極板分為下極板和上極板，其分別設置在裝料器(22)內和顆粒分離帶電量測量儀的底部，所述高壓直流電源(13)兩極分別與兩平行極板電連接，所述進氣閥門(16)和出氣閥門 (1)裝置在透明密閉容器(32)的側壁上。
2.根據(jù)權利要求1所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述支撐臺包括底座(12)、螺桿(19)、軌道平板(20)和載筒板(28)，所述螺桿(19)通過螺母固定在底座 (12)上，所述螺桿(19)的下部固定有軌道平板(20)，其上部固定有載筒板(28)。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述滑動裝置包括滑塊(21 )、減速電機(11)和電機調速器，所述減速電機(11)固裝在支撐臺的底座 (12)上，所述滑塊(21)設置在支撐臺的軌道平板(20)上，所述滑塊(21)與減速電機(11) 嚙合在一起，所述減速電機(11)和電機調速器電連接在一起。
4.根據(jù)權利要求1或2所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述顆粒分離帶電量測量儀包括內筒(2)、外筒(27)、固定裝置、軸流風機和電荷儀(14)，所述外筒 (27)固裝在支撐臺的載筒板(28)上，所述固定裝置中間設置有通孔，所述內筒(2)通過固定裝置與外筒(27)和上極板固定在一起，所述軸流風機設置在外筒(27)的頂部，所述電荷儀(14)與外筒(27)和內筒(2)電連接在一起。
5.根據(jù)權利要求1所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述進氣閥門 (16)裝置在透明密閉容器(32)靠近底部的側壁上，所述出氣閥門(1)裝置在與進氣閥門 (16)相對的透明密閉容器(32)側壁的上部。
6.根據(jù)權利要求4所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述外筒(27) 和內筒(2)之間設置有絕緣墊圈(4)，所述外筒(27)與載筒板(28)之間也設置有絕緣墊圈 (4)。
7.根據(jù)權利要求4所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述固定裝置包括中空的錐頭螺栓(3)和扁平螺母，所述扁平螺母旋裝在錐頭螺栓(3)上。
8.根據(jù)權利要求7所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述錐頭螺栓 (3)與外筒(27)和平行極板之間設置有絕緣墊圈(4)。
9.根據(jù)權利要求7所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述扁平螺母與內筒(2)之間設置有絕緣墊圈(4)。
10.根據(jù)權利要求4所述的顆粒分離帶電量多因素分析儀，其特征在于，所述內筒(2) 和外筒(27)的筒徑遠大于底部通孔直徑。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種顆粒分離帶電量多因素分析儀，包括透明密閉容器、支撐臺、顆粒分離帶電量測量儀、裝料器、滑動裝置、平行極板、高壓直流電源、進氣閥門和出氣閥門，所述支撐臺固裝在透明密閉容器內，所述滑動裝置設置在支撐臺的下部，其頂部裝置有裝料器，所述顆粒分離帶電量測量儀固裝在支撐臺的上部，所述平行極板分為下極板和上極板，其分別設置在裝料器內和顆粒分離帶電量測量儀的底部，所述高壓直流電源兩極分別與兩平行極板電連接，所述進氣閥門和出氣閥門裝置在透明密閉容器的側壁上。能夠測量出顆粒離開顆粒堆后所帶的電荷量，并通過調節(jié)封閉的透明密閉容器內的環(huán)境變量，以分析外界環(huán)境因素、顆粒物理參數(shù)及幾何參數(shù)對帶電量的影響。
文檔編號G01R29/24GK102360043SQ20111020235
公開日2012年2月22日 申請日期2011年7月19日 優(yōu)先權日2011年7月19日
發(fā)明者謝莉, 韓魁 申請人:蘭州大學