專利名稱：可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)電能表拉合閘功能的自動(dòng)測(cè)試電路，特別是一種可集成于校表臺(tái)或檢測(cè)臺(tái)中的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路。
背景技術(shù)：
隨著電能表的大批量的生產(chǎn)活動(dòng)，以往的手工測(cè)試模式已經(jīng)不能夠很好的達(dá)到生產(chǎn)要求，手工測(cè)試往往會(huì)導(dǎo)致誤測(cè)、漏測(cè)，而且導(dǎo)致無(wú)法跟蹤產(chǎn)品質(zhì)量，無(wú)法提高生產(chǎn)線的生產(chǎn)效率，減少人工操作和判斷，提高產(chǎn)品質(zhì)量。所以我們必須從以往的手工測(cè)試模式向自動(dòng)化模式去轉(zhuǎn)變，需要更高效率的檢測(cè)電能表的拉合閘功能，包括單相表和三相表的拉合閘，這樣能夠更加快速的并發(fā)的對(duì)多路電能表的拉合閘功能進(jìn)行檢測(cè)。一直以來(lái)，電能表的測(cè)試都停留在人工測(cè)試階段，通過(guò)檢測(cè)人員手工測(cè)試棒對(duì)準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)，每測(cè)試一個(gè)項(xiàng)目更換不同的測(cè)試點(diǎn)，并且檢測(cè)人員帶強(qiáng)電操作，極易造成觸電事故。

發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有的電能表測(cè)試停留在人工測(cè)試階段，檢測(cè)人員的勞動(dòng)強(qiáng)度大、誤判率高，且人工帶電操作、極易造成觸電事故的缺點(diǎn)，本發(fā)明提供了一種可集成于自動(dòng)校表臺(tái)中、自動(dòng)化檢測(cè)電能表拉合閘功能，勞動(dòng)強(qiáng)度低，誤判率低，無(wú)需人工帶電操作，安全性高的可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路?？杉捎谛１砼_(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路，包括與電能表的拉合閘模塊連接的光耦，與光耦連接、以檢測(cè)電能表處于拉閘或合閘狀態(tài)的CPU，和將CPU獲取的電能表狀態(tài)上傳至上位機(jī)的通訊模塊；所述的光耦的輸入端與電能表的拉合間模塊連接，所述的光耦的輸出端與CPU連接，所述的光耦與所述的CPU之間設(shè)有繼電器。所述的通訊模塊為485通訊模塊。本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思是上位機(jī)對(duì)電能表發(fā)出拉閘或合閘指令，此時(shí)繼電器閉合。 當(dāng)電能表合閘時(shí)，光耦的發(fā)光器被點(diǎn)亮，光耦的受光器感應(yīng)到光信號(hào)后將電能表合閘狀態(tài)傳遞至CPU;當(dāng)電能表拉閘時(shí)，光耦的發(fā)光器熄滅，光耦的受光器無(wú)法感應(yīng)到光線、則認(rèn)為電能表處于拉間狀態(tài)，并將該拉間狀態(tài)信號(hào)傳遞至CPU ；CPU通過(guò)通訊傳輸至上位機(jī)，上位機(jī)將CPU回傳的狀態(tài)信號(hào)與其發(fā)出的指令比對(duì)，若回傳的狀態(tài)信號(hào)與上位機(jī)發(fā)出的指令相符，則認(rèn)為電能表的拉合閘模塊正常工作。在光耦和CPU之間設(shè)置繼電器，當(dāng)上位機(jī)不發(fā)送拉合閘指令時(shí)，即檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)不對(duì)電能表拉合閘進(jìn)行測(cè)試時(shí)，繼電器斷開，光耦和CPU的斷開，本發(fā)明不工作，光耦不會(huì)對(duì)檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)造成電流損耗，保障檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)的精確度。本發(fā)明具有可集成于自動(dòng)校表臺(tái)中、自動(dòng)化檢測(cè)電能表拉合閘功能，勞動(dòng)強(qiáng)度低， 誤判率低，無(wú)需人工帶電操作，安全性高的優(yōu)點(diǎn)。


圖1是本發(fā)明的總體架構(gòu)圖。圖2是本發(fā)明的組裝示意圖。
具體實(shí)施例方式參照附圖，進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路，包括與電能表的拉合閘模塊連接的光耦，與光耦連接、以檢測(cè)電能表處于拉閘或合閘狀態(tài)的CPU，和將CPU獲取的電能表狀態(tài)上傳至上位機(jī)的通訊模塊；所述的光耦的輸入端與電能表的拉合閘模塊連接，所述的光耦的輸出端與CPU連接，所述的光耦與所述的CPU之間設(shè)有繼電器。所述的通訊模塊為485通訊模塊。本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思是上位機(jī)對(duì)電能表發(fā)出拉閘或合閘指令，此時(shí)繼電器閉合。 當(dāng)電能表合閘時(shí)，光耦的發(fā)光器被點(diǎn)亮，光耦的受光器感應(yīng)到光信號(hào)后將電能表合閘狀態(tài)傳遞至CPU;當(dāng)電能表拉閘時(shí)，光耦的發(fā)光器熄滅，光耦的受光器無(wú)法感應(yīng)到光線、則認(rèn)為電能表處于拉間狀態(tài)，并將該拉間狀態(tài)信號(hào)傳遞至CPU ；CPU通過(guò)通訊傳輸至上位機(jī)，上位機(jī)將CPU回傳的狀態(tài)信號(hào)與其發(fā)出的指令比對(duì)，若回傳的狀態(tài)信號(hào)與上位機(jī)發(fā)出的指令相符，則認(rèn)為電能表的拉合閘模塊正常工作。在光耦和CPU之間設(shè)置繼電器，當(dāng)上位機(jī)不發(fā)送拉合閘指令時(shí)，即檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)不對(duì)電能表拉合閘進(jìn)行測(cè)試時(shí)，繼電器斷開，光耦和CPU的斷開，本發(fā)明不工作，光耦不會(huì)對(duì)檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)造成電流損耗，保障檢測(cè)臺(tái)或校表臺(tái)的精確度。本發(fā)明具有可集成于自動(dòng)校表臺(tái)中、自動(dòng)化檢測(cè)電能表拉合閘功能，勞動(dòng)強(qiáng)度低， 誤判率低，無(wú)需人工帶電操作，安全性高的優(yōu)點(diǎn)。本說(shuō)明書實(shí)施例所述的內(nèi)容僅僅是對(duì)發(fā)明構(gòu)思的實(shí)現(xiàn)形式的列舉，本發(fā)明的保護(hù)范圍不應(yīng)當(dāng)被視為僅限于實(shí)施例所陳述的具體形式，本發(fā)明的保護(hù)范圍也及于本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思所能夠想到的等同技術(shù)手段。
權(quán)利要求
1.可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路，其特征在于包括與電能表的拉合閘模塊連接的光耦，與光耦連接、以檢測(cè)電能表處于拉閘或合閘狀態(tài)的CPU，和將CPU獲取的電能表狀態(tài)上傳至上位機(jī)的通訊模塊；所述的光耦的輸入端與電能表的拉合間模塊連接，所述的光耦的輸出端與CPU連接， 所述的光耦與所述的CPU之間設(shè)有繼電器。
2.如權(quán)利要求1所述的可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路，其特征在于 所述的通訊模塊為485通訊模塊。
全文摘要
可集成于校表臺(tái)的電能表拉合閘自動(dòng)測(cè)試電路，包括與電能表的拉合閘模塊連接的光耦，與光耦連接、以檢測(cè)電能表處于拉閘或合閘狀態(tài)的CPU，和將CPU獲取的電能表狀態(tài)上傳至上位機(jī)的通訊模塊；所述的光耦的輸入端與電能表的拉合閘模塊連接，所述的光耦的輸出端與CPU連接，所述的光耦與所述的CPU之間設(shè)有繼電器。本發(fā)明具有可集成于自動(dòng)校表臺(tái)中、自動(dòng)化檢測(cè)電能表拉合閘功能，勞動(dòng)強(qiáng)度低，誤判率低，無(wú)需人工帶電操作，安全性高的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R35/04GK102338864SQ20111016472
公開日2012年2月1日 申請(qǐng)日期2011年6月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月17日
發(fā)明者劉崢嶸, 張喜春, 郭援越, 陳文芳, 高宜華 申請(qǐng)人:杭州炬華科技股份有限公司