專利名稱：在通過微波測(cè)溫的核磁共振檢查中的特定吸收率估計(jì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于確定檢查對(duì)象在核磁共振斷層成像設(shè)備中的發(fā)熱的方法和裝置。
背景技術(shù)：
例如，在專利申請(qǐng)DE102008023467中描述磁共振斷層成像設(shè)備。在核磁檢查中，檢查對(duì)象通過以無線電波(40MHz至500MHz)的照射被加熱。該加熱(=SAR)被監(jiān)測(cè)，以不出現(xiàn)對(duì)于檢查對(duì)象的組織的損害。特別地，在TX陣列系統(tǒng)(帶有多個(gè)HF發(fā)射天線的系統(tǒng))中，可能在檢查對(duì)象內(nèi)出現(xiàn)帶有升高的SAR(熱點(diǎn))的區(qū)域。這些熱點(diǎn)也被稱為局部SAR。而全局SAR則意味著相對(duì)于被照射的身體質(zhì)量的全部HF功率。 局部SAR可明顯高于全局SAR。已知的是，通過全局HF功率吸收來估計(jì)SAR (特定吸收率)。這例如通過對(duì)于組織內(nèi)的電磁場(chǎng)根據(jù)檢查對(duì)象的電磁參數(shù)的合適的體素模型的有限元仿真來進(jìn)行。以此，可確定HF功率極限值?？墒褂肏F功率檢測(cè)器來監(jiān)測(cè)該全局極限值。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的任務(wù)是優(yōu)化成像MRT系統(tǒng)內(nèi)的SAR監(jiān)測(cè)。該任務(wù)分別通過獨(dú)立專利權(quán)利要求的特征解決。有利的擴(kuò)展在從屬權(quán)利要求中給出。微波測(cè)量(使用微波測(cè)溫(T)以借助于微波測(cè)量檢查對(duì)象的溫度)從根本上與目前通常用于在成像核磁共振斷層成像設(shè)備(MRT)內(nèi)的SAR監(jiān)測(cè)的估計(jì)不同。


本發(fā)明的可能的構(gòu)造的另外的特征和優(yōu)點(diǎn)從從屬權(quán)利要求中以及如下根據(jù)附圖對(duì)于實(shí)施例的描述中得到，附圖中圖1按照縱截面示意性地示出了用于以微波測(cè)溫進(jìn)行SAR測(cè)量的根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備，圖2按照橫截面示意性地示出了用于以微波測(cè)溫進(jìn)行SAR測(cè)量的根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備，圖3示意性地示出了用于以微波測(cè)溫測(cè)量進(jìn)行SAR確定的使用HF脈沖的熱激勵(lì)函數(shù)的時(shí)間歷程和檢查對(duì)象的熱響應(yīng)函數(shù)的時(shí)間歷程，和圖4作為概略圖示出了 MRT的示意性部件。
具體實(shí)施例方式圖4作為概略圖示出了在法拉第籠F (例如，絕緣空間)內(nèi)的帶有全身磁線圈2的磁共振設(shè)備MRT 1，該全身磁線圈具有在此為管形的空間3，可以將帶有檢查對(duì)象5(例如， 模體測(cè)量體或身體)和局部線圈設(shè)備6的患者臥榻在箭頭ζ的方向上駛?cè)朐摽臻g中，以便產(chǎn)生對(duì)檢查對(duì)象5的拍攝。在此，在檢查對(duì)象5上設(shè)置了局部線圈裝置6 (帶有天線66和多個(gè)局部線圈6a、6b、6c、6d)，使用該局部線圈裝置可進(jìn)行局部區(qū)域(也稱為視場(chǎng))的拍攝。 局部線圈裝置的信號(hào)可由通過同軸電纜或通過無線電連接到局部線圈裝置6上的MRT 1的分析裝置(19、67、66、15、17等)進(jìn)行分析(例如，轉(zhuǎn)化為圖像和/或存儲(chǔ)和/或顯示)。為了使用磁共振設(shè)備MRT 1在檢查對(duì)象5上進(jìn)行磁共振成像，將在其時(shí)間和空間特征上相互嚴(yán)格地協(xié)調(diào)的不同的磁場(chǎng)照射到檢查對(duì)象上。強(qiáng)磁體(例如帶有在此為隧道形開口 3的測(cè)量柜內(nèi)的低溫磁體7)產(chǎn)生靜態(tài)的強(qiáng)主磁場(chǎng)Btl，后者例如為0. 2特斯拉至3特斯拉或更高。檢查對(duì)象5支承在患者臥榻4上，被送入在照射區(qū)域“視場(chǎng)”內(nèi)磁體7的主磁場(chǎng)的均勻的區(qū)域內(nèi)。磁共振設(shè)備1具有梯度線圈12x、12y、12z，使用所述梯度線圈在檢查對(duì)象的MRT測(cè)量時(shí)照射磁梯度場(chǎng)B1U, y, z)，用于選擇地層激勵(lì)并且用于測(cè)量信號(hào)的位置編碼。梯度線圈12x、12y、12z由梯度線圈控制單元14控制，該梯度線圈控制單元14以及脈沖生成單元 19與控制單元10連接。通過磁高頻激勵(lì)脈沖B1 (x, y, z,t)進(jìn)行對(duì)檢查對(duì)象5的原子核的核自旋激勵(lì)，該磁高頻激勵(lì)脈沖通過(至少)一個(gè)在此作為帶有體線圈部分8a、8b、8c的體線圈8的很粗略地簡(jiǎn)化圖示的高頻激勵(lì)天線發(fā)射。體線圈部分8a、8b、8c的高頻激勵(lì)脈沖通過由脈沖序列控制單元10控制的脈沖生產(chǎn)單元9產(chǎn)生。在通過高頻放大器11放大后，所述高頻激勵(lì)脈沖被引導(dǎo)向高頻天線8。僅示意性地示出了在此所示的高頻系統(tǒng)。通常，在磁共振設(shè)備內(nèi)安裝有多于一個(gè)脈沖生產(chǎn)單元9，多于一個(gè)高頻放大器11和多個(gè)高頻天線或帶有不同的多個(gè)高頻天線元件8a、8b、8c的多部分的(在此很粗略地簡(jiǎn)化地圖示)的高頻天線(例如，具有所謂的鳥籠形式)。圖示為體線圈8的高頻天線可包括分別發(fā)射輻射高頻激勵(lì)脈沖的多個(gè)發(fā)射通道 8a、8b、8c?？倛?chǎng)B1O^y, ζ)或非靜止的(=無Β0)的總場(chǎng)在原則上也可能夠按照局部線圈6 的發(fā)射通道6a、6b、6c、6d的高頻激勵(lì)脈沖的形式發(fā)射。非靜止的總場(chǎng)B1 (x，y，ζ)的部分能夠以梯度場(chǎng)的形式也由梯度線圈通道12x、12y、12z的產(chǎn)生。由受激核自旋發(fā)出的信號(hào)由體線圈8和/或局部線圈6a、6b、6c、6d接收，通過相關(guān)聯(lián)的高頻預(yù)放大器15、16放大，并且由接收單元17進(jìn)一步處理并數(shù)字化。所記錄的測(cè)量數(shù)據(jù)被數(shù)字化并且作為復(fù)數(shù)值被存儲(chǔ)在k空間矩陣內(nèi)。由填入數(shù)值的k空間矩陣通過多維傅立葉變換重建出所屬的MR圖像。在例如體線圈8的可在發(fā)射模式以及接收模式中運(yùn)行的線圈的情況下，通過前接的發(fā)射-接收轉(zhuǎn)換器18調(diào)節(jié)正確的信號(hào)傳遞。圖像處理單元19從測(cè)量數(shù)據(jù)中產(chǎn)生圖像， 該圖像通過操作臺(tái)20被顯示給使用者，和/或被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元21內(nèi)。中央計(jì)算機(jī)單元 22控制各個(gè)設(shè)備部件。使用本發(fā)明并非對(duì)身體進(jìn)行診斷。而是使用微波測(cè)溫和分析可在假體或人體或動(dòng)物上確定在一定的HF脈沖下何處出現(xiàn)熱點(diǎn)，和/或確定熱點(diǎn)的SAR吸收的絕對(duì)大小或相對(duì)于其環(huán)境或身體的相對(duì)大小。圖1至圖3描述了本發(fā)明的實(shí)施例。圖1示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的用于通過微波測(cè)溫溫度傳感器T在MRT 1內(nèi)的檢查對(duì)象5上進(jìn)行SAR測(cè)量設(shè)備的縱截面。
圖2示意性地示出了布置在環(huán)形支架設(shè)備R(例如，在線圈8a、8b、8c之間或之內(nèi)或之外)上的溫度傳感器T的橫截面。圖3在其上部區(qū)域內(nèi)示意性地示出了來自作用在MRT 1內(nèi)的檢查對(duì)象5上的HF 脈沖HF-P的熱激勵(lì)函數(shù)M的時(shí)間歷程，并且圖3示出了(通過微波測(cè)溫)以一個(gè)或多個(gè)溫度傳感器所采集的熱響應(yīng)函數(shù)Temp (例如，檢查對(duì)象5在多個(gè)溫度傳感器上的熱輻射)。為了進(jìn)行SAR測(cè)量，將利用多個(gè)溫度傳感器T分別測(cè)量的響應(yīng)函數(shù)進(jìn)行分析，以便確定在檢查對(duì)象5內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)上的溫度歷程和/或確定在檢查對(duì)象5內(nèi)的熱點(diǎn)(檢查對(duì)象內(nèi)的比其環(huán)境更熱的點(diǎn))。圖示的檢查對(duì)象5的溫度歷程Temp相對(duì)于導(dǎo)致此溫度升高的HF脈沖HF-P在時(shí)間上延遲時(shí)間D。以至少一個(gè)溫度傳感器T確定的溫度歷程Temp在分辨性上在HF脈沖HF-P 的(推定)的包絡(luò)線M上比在每個(gè)單獨(dú)的HF脈沖HF-P上更好地可識(shí)別。溫度歷程Temp 示出了在脈沖序列開始m后的(延遲了 D的)上升Sl (斜坡)，和在脈沖序列m結(jié)束后的 (延遲了 D的)下降S2。如下描述的方法使用了對(duì)檢查對(duì)象在(預(yù)掃描和/或成像)MR測(cè)量期間借助于微波測(cè)溫的非侵入溫度測(cè)量。微波測(cè)溫的優(yōu)點(diǎn)是可也在檢查對(duì)象的位于更深處的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行非侵入的溫度測(cè)量，例如，在不具體地針對(duì)MRT成像的情況下參看文章http//www. iop. org/EJ/abstract/0031-9155/46/7/311http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp ？ tp = &arnumber = 840087&isnumber = 18170 http://www. springerlink. com/content/6357747n7842g277/http : / / www. ingentaconnect. com / content / tandf/ tres/1999/00000020/00000011/art00005http://www. loma. com/lo_tempmeas_guide. shtml在MRT檢查中潛在地出現(xiàn)的熱點(diǎn)更可能處于被檢查的檢查對(duì)象的位于更深處的檢查對(duì)象區(qū)域內(nèi)，并且可以通過微波測(cè)溫采集。作為實(shí)施例，建議了根據(jù)圖1和圖2的測(cè)量結(jié)構(gòu)例如使用了陣列結(jié)構(gòu)，即多個(gè)微波溫度傳感器T的布置。例如投影方法的斷層分析方法可用于提高靈敏度以及熱分布的位置分辨率。優(yōu)選地，溫度傳感器T根據(jù)圖2布置為包圍了測(cè)量體積(例如，F(xiàn)oV)，例如作為MRT 內(nèi)的環(huán)形支架R上的環(huán)形布置(在此，作為MRT的HF線圈8a至8c之內(nèi)或之外的環(huán))。為將外部干擾源最小化，在此MR柜的HF籠F (在圖4中)設(shè)計(jì)為使得所述HF籠 F也屏蔽微波干擾源。另外的微波屏蔽件U可補(bǔ)充地或替代地也安裝在MR設(shè)備1上，例如用于通過屏蔽件屏蔽的電子組件。檢查對(duì)象5的發(fā)熱由于HF能量產(chǎn)生，所述HF能量(特別地)通過在(例如測(cè)量前的微波測(cè)溫預(yù)掃描)MR檢查中使用的MR發(fā)射線圈8a至8c輻射并且在檢查對(duì)象5內(nèi)被吸收。合適的是，對(duì)于(至少也)包括通過微波測(cè)溫對(duì)在此形成的發(fā)熱的測(cè)量的預(yù)掃描 MR檢查，施加計(jì)劃用于隨后的成像拍攝的HF脈沖形式。由此在檢查對(duì)象5內(nèi)形成了局部熱點(diǎn)，所述局部熱點(diǎn)是對(duì)于線圈和HF脈沖特定的，并且現(xiàn)在利用溫度傳感器T可檢測(cè)的。測(cè)量方法在此使用了例如LockHn技術(shù)，所述Lock-In技術(shù)的基礎(chǔ)是將待測(cè)的信號(hào)通過物理效應(yīng)限定地時(shí)間調(diào)制并且以交叉相關(guān)來解調(diào)，使得物理效應(yīng)被濾出并且抑制干擾信號(hào)(噪聲)。以此可大幅度增強(qiáng)信噪比并且使得測(cè)量很靈敏。在本發(fā)明中，要將檢查對(duì)象內(nèi)的溫度分布時(shí)間調(diào)制，這通過在第一 MR檢查中將HF 脈沖在長(zhǎng)度和間歇和幅度不同的包內(nèi)發(fā)射來進(jìn)行。該模式在此是特別地適合于交叉相關(guān)的偽隨機(jī)序列(見圖3)。除了交叉相關(guān)外還可考慮這樣的傳遞函數(shù)，該傳遞函數(shù)考慮了溫度升高或溫度降低的延遲(延遲D)和/或上升沿和/或下降沿(斜坡S1、S》。在此，如圖3中示出，在調(diào)制曲線M的調(diào)制脈沖N中將相同或類似的HF脈沖HF-P打包，如它們?cè)陔S后的MRT成像拍攝中計(jì)劃作為脈沖序列那樣。通過傳感器的陣列布置，可例如通過投影重建在分析裝置(計(jì)算機(jī))A內(nèi)例如計(jì)算出溫度分布的2D/3D圖像，并且在檢查對(duì)象5內(nèi)確定熱點(diǎn)Pl的位置。通過將熱點(diǎn)SAR強(qiáng)度相對(duì)于背景進(jìn)行比較，可確定“局部SAR比全局SAR”的因數(shù)。全局SAR可根據(jù)常規(guī)方法相對(duì)精確地通過對(duì)全局吸收HF功率的測(cè)量來確定。通過所確定的局部SAR比全局SAR的因數(shù)，可進(jìn)行局部SAR的估計(jì)。該SAR估計(jì)可作為“SAR 判定”(在預(yù)掃描MRT測(cè)量中)在每個(gè)成像MRT測(cè)量之前進(jìn)行，或者也在成像MRT測(cè)量進(jìn)行期間在線地進(jìn)行?？赡艿膬?yōu)點(diǎn)是-特定于患者的SAR估計(jì)-更精確的SAR估計(jì)，更小的錯(cuò)誤公差-特定于線圈的SAR估計(jì)-特定于脈沖序列的SAR估計(jì)-被動(dòng)的(無微波發(fā)射)非侵入的方法-微波頻率測(cè)量允許對(duì)位于更深處區(qū)域的測(cè)量對(duì)于(微波)溫度傳感器(但也可具有最不同地另外地使用，對(duì)此專業(yè)人員可從互聯(lián)網(wǎng)上尋找)的可能的示例例如從Loma公司(http //www. loma. co. uk/lo_ temperature_measurement. shtml)的可用于食品溫度監(jiān)測(cè)中的產(chǎn)品得到，這些產(chǎn)品采用了可使用的微波溫度傳感器。
權(quán)利要求
1.一種用于確定(T，A)磁共振斷層成像設(shè)備(1)內(nèi)的檢查對(duì)象(5)的發(fā)熱(Temp)的方法，其中，該磁共振斷層成像設(shè)備(1)發(fā)射(8a、8b、8c)高頻脈沖(HF-P)，其中，使用溫度傳感器(T)確定檢查對(duì)象(5)的發(fā)熱(Temp)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，使用多個(gè)微波溫度傳感器(T)來測(cè)量微波輻射。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，使用如下的溫度傳感器(T)，所述溫度傳感器(T)被布置為包圍(R)檢查對(duì)象(5)內(nèi)的測(cè)量體積(FoV)。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，使用溫度傳感器(T)也測(cè)量由檢查對(duì)象(5)的表面下方的區(qū)域(P1，P2)發(fā)射的微波。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，確定檢查對(duì)象(5)的表面下方的多個(gè)區(qū)域(P1，P2)的發(fā)熱(Temp) 0
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，確定整個(gè)檢查對(duì)象(5)內(nèi)的多個(gè)區(qū)域(P1，P2)的最大發(fā)熱(Max)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，在考慮利用溫度傳感器(T)測(cè)量的和由成像系統(tǒng)⑴以脈沖(HF-P)輻射的能量和/或能量分布的條件下，確定㈧在檢查對(duì)象內(nèi)的特定吸收率(SAR)的空間(P1，P2)分布。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，檢查對(duì)象(5)的發(fā)熱由從至少一個(gè) MR發(fā)射線圈輻射的HF脈沖(HF-P)產(chǎn)生。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，為了測(cè)量檢查對(duì)象( 內(nèi)的SAR空間分布，在對(duì)檢查對(duì)象(5)的成像MRT拍攝前也施加為隨后的成像MRT拍攝而計(jì)劃的HF脈沖 (HF-P)形式。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，在對(duì)檢查對(duì)象(5)的成像MRT拍攝期間進(jìn)行使用溫度傳感器(T)的微波熱測(cè)量，并且確定在檢查對(duì)象(5)內(nèi)的區(qū)域(Pl，P2) 的發(fā)熱(Temp)。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，使用不同的在此由成像系統(tǒng)所使用的線圈和/或HF脈沖(HF-P)進(jìn)行在檢查對(duì)象(5)上的微波熱測(cè)量，并存儲(chǔ)由此導(dǎo)致的結(jié)果，并且其中，根據(jù)在此所使用的線圈和/或HF脈沖考慮所述結(jié)果，以便確定期待的區(qū)域 (PLP2)的發(fā)熱和/或規(guī)定在隨后的檢查對(duì)象(5)的成像拍攝中的脈沖幅度。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，檢查對(duì)象(5)內(nèi)的溫度分布被時(shí)間調(diào)制，這通過在不同長(zhǎng)度和/或間歇和/或幅度的包內(nèi)輻射HF脈沖(HF-P)來進(jìn)行。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所輻射的HF脈沖(HF-P)的模式 (M)是優(yōu)選地適合于交叉相關(guān)的偽隨機(jī)序列。
14.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，為了確定檢查對(duì)象(5)內(nèi)的SAR的空間分布，考慮溫度升高和/或溫度降低的延遲(D)，和/或考慮上升沿和/或下降沿(Si， S2)的形式。
15.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，借助于投影重建，計(jì)算檢查對(duì)象 (5)內(nèi)的溫度的空間分布，并且確定檢查對(duì)象(5)內(nèi)的熱點(diǎn)的位置(P1，P2)。
16.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，通過熱點(diǎn)強(qiáng)度相對(duì)于背景的比較， 確定熱點(diǎn)上的局部SAR與檢查對(duì)象(5)內(nèi)的全局SAR的比率。
17.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，通過對(duì)整個(gè)檢查對(duì)象(5)內(nèi)吸收的HF功率的測(cè)量來確定檢查對(duì)象(5)內(nèi)的全局SAR。
18.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，確定檢查對(duì)象內(nèi)的SAR的至少一個(gè)最大值，并且為了規(guī)定隨后的檢查對(duì)象(5)的成像拍攝中的脈沖而考慮所述最大值。
19.一種用于通過磁共振斷層成像設(shè)備(1)的脈沖(HF-P)確定(T，A)檢查對(duì)象(5)內(nèi)的發(fā)熱(Temp)的設(shè)備，其中，該設(shè)備包括溫度傳感器(T)。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的設(shè)備，其中，提供了多個(gè)微波溫度傳感器(T)。
21.根據(jù)權(quán)利要求19至20中一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，溫度傳感器(T)被布置為包圍磁共振斷層設(shè)備(1)內(nèi)的測(cè)量體積(FoV)，特別地布置為環(huán)形布置(R)。
22.根據(jù)權(quán)利要求19至21中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，提供了成像系統(tǒng)(1)的HF籠 (F)以屏蔽該HF籠(F)外部的微波。
23.根據(jù)權(quán)利要求19至22中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，在磁共振斷層設(shè)備(1)內(nèi)安裝了微波屏蔽件(U)，特別地作為成像系統(tǒng)⑴的電子組件(A，10)上的屏蔽。
24.根據(jù)權(quán)利要求19至23中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備被設(shè)計(jì)為使用用于在檢查對(duì)象(5)內(nèi)確定溫度空間分布和/或SAR空間分布的裝置(10)，在檢查對(duì)象(5)的成像拍攝前也施加對(duì)于隨后的成像拍攝所計(jì)劃的HF脈沖(HF-P)的形式。
25.根據(jù)權(quán)利要求19至M中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備被設(shè)計(jì)為也使用微波溫度傳感器(T)測(cè)量由檢查對(duì)象(5)的表面下方的位置(P1，P》發(fā)射的微波。
26.根據(jù)權(quán)利要求19至25中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有用于確定檢查對(duì)象(5)的多個(gè)區(qū)域(P1，P2)的發(fā)熱(Temp)的裝置(A)。
27.根據(jù)權(quán)利要求19至沈中一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有用于確定檢查對(duì)象 (5)內(nèi)的多個(gè)區(qū)域(P1，P2)內(nèi)的SAR的裝置(A)。
28.根據(jù)權(quán)利要求19至27中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有用于確定檢查對(duì)象內(nèi)的特定吸收率(SAR)的空間分布的裝置(A)，在所述確定中考慮到以微波溫度傳感器 ⑴測(cè)量的溫度輻射并且考慮到成像系統(tǒng)⑴以脈沖(HF-P)輻射的能量和/或能量分布。
29.根據(jù)權(quán)利要求19至觀中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有用于使用微波傳感器(T)進(jìn)行微波測(cè)溫測(cè)量并且確定在檢查對(duì)象( 的成像MRT拍攝期間檢查對(duì)象(5)的發(fā)熱(Temp)的設(shè)備(A，10)。
30.根據(jù)權(quán)利要求19至四中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有用于考慮在成像拍攝前的微波測(cè)溫測(cè)量的結(jié)果的設(shè)備(A，10)，以便用于規(guī)定在檢查對(duì)象(5)的成像拍攝期間的脈沖(HF-P)形式和/或幅度，特別地根據(jù)在此所使用的線圈和/或HF脈沖來規(guī)定。
31.根據(jù)權(quán)利要求19至30中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有將檢查對(duì)象(5) 內(nèi)的溫度分布時(shí)間調(diào)制的裝置(A)，所述時(shí)間調(diào)制通過在長(zhǎng)度和/或間歇和/或幅度不同的包內(nèi)輻射脈沖(HF-P)來進(jìn)行。
32.根據(jù)權(quán)利要求19至31中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有如下的裝置(A) 通過該裝置為了確定檢查對(duì)象(5)內(nèi)的SAR空間分布也能考慮溫度升高和/或溫度下降的延遲(D)，和/或發(fā)熱(Temp)的上升沿和/或下降沿(Si，S2)。
33.根據(jù)權(quán)利要求19至32中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有如下的裝置(A) 通過該裝置借助于投影重建能計(jì)算檢查對(duì)象(5)內(nèi)的溫度的空間分布，并且能確定檢查對(duì)象(5)內(nèi)的熱點(diǎn)的位置(P1，P2)。
34.根據(jù)權(quán)利要求19至33中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有如下的裝置(A) 用于通過熱點(diǎn)位置(Pl)上的溫度測(cè)量值(Temp)相對(duì)于環(huán)境(P2)的比較來確定熱點(diǎn)位置 (Pl)上的局部SAR與檢查對(duì)象(5)內(nèi)的全局SAR的比率。
35.根據(jù)權(quán)利要求19至34中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備具有如下的裝置(A) 用于確定檢查對(duì)象內(nèi)的SAR的至少一個(gè)最大值，并且為了規(guī)定在隨后的檢查對(duì)象(5)的成像拍攝中的脈沖(HF-P)的形式和/或幅度而考慮所述最大值。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于測(cè)量磁共振斷層成像設(shè)備(1)內(nèi)的檢查對(duì)象(5)的溫度空間分布以及SAR空間分布的方法和設(shè)備，其中，提供了用于借助于微波測(cè)量溫度的微波溫度傳感器(T)。
文檔編號(hào)G01J5/00GK102232832SQ20111008144
公開日2011年11月9日 申請(qǐng)日期2011年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月23日
發(fā)明者喬格.U.方蒂厄斯 申請(qǐng)人:西門子公司