專利名稱：一種縫隙檢驗(yàn)塞尺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及尺的設(shè)計(jì)和制作技術(shù)，特別涉及一種縫隙檢驗(yàn)塞尺。
技術(shù)背景目前，在測量、檢驗(yàn)電梯等縫隙指標(biāo)時(shí)，還是用傳統(tǒng)的塞尺進(jìn)行測量，這樣的測量 結(jié)果不直觀，由于塞尺大多只適用于小縫隙的測量，對大縫隙的測量存在著諸多不便，且由 于塞尺的單體過薄，幾何變形誤差太大等造成的測量數(shù)值誤差過大
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是克服上述不足問題，提供一種縫隙檢驗(yàn)塞尺，結(jié)構(gòu)簡單，檢測 直觀，易操作，精度高。本實(shí)用新型為實(shí)現(xiàn)上述目的所采用的技術(shù)方案是一種縫隙檢驗(yàn)塞尺，由尺板、尺 板上的橫向刻度及橫向刻度數(shù)值組成，其特征在于在尺板上有縱向刻度及縱向刻度數(shù)值， 并且尺板的每個(gè)縱向厚度都有相應(yīng)的縱向刻度數(shù)值與其對應(yīng)。本實(shí)用新型與傳統(tǒng)方法相比具有設(shè)計(jì)科學(xué)、應(yīng)用性高、結(jié)構(gòu)簡單，檢測直觀，易操 作，精度高等優(yōu)點(diǎn)。

圖1為本實(shí)用新型系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合實(shí)施例及附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明如圖1所示一種縫 隙檢驗(yàn)塞尺，由尺板1、尺板1上的橫向刻度2及橫向刻度數(shù)值3組成，在尺板上有縱向刻度 4及縱向刻度數(shù)值5，并且尺板的每個(gè)縱向厚度都有相應(yīng)的縱向刻度數(shù)值與其對應(yīng)。本實(shí)用 新型采用特種材質(zhì)，具有不易變形、機(jī)械誤差小等優(yōu)點(diǎn)。
權(quán)利要求1. 一種縫隙檢驗(yàn)塞尺，由尺板(1)、尺板(1)上的橫向刻度( 及橫向刻度數(shù)值(3)組 成，其特征在于在尺板(1)上有縱向刻度(4)及縱向刻度數(shù)值(5)，并且尺板(1)的每個(gè) 縱向厚度都有相應(yīng)的縱向刻度數(shù)值與其對應(yīng)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及尺的設(shè)計(jì)和制作技術(shù)，特別涉及一種縫隙檢驗(yàn)塞尺。本實(shí)用新型由尺板(1)、尺板(1)上的橫向刻度(2)及橫向刻度數(shù)值(3)組成，其特征在于在尺板(1)上有縱向刻度(4)及縱向刻度數(shù)值(5)，并且尺板(1)的每個(gè)縱向厚度都有相應(yīng)的縱向刻度數(shù)值與其對應(yīng)。具有結(jié)構(gòu)簡單，檢測直觀，易操作，精度高等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號G01B3/46GK201844771SQ20102059152
公開日2011年5月25日 申請日期2010年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月28日
發(fā)明者徐義鳴, 胡世章 申請人:胡世章