專利名稱：短路測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于電子裝置的測試裝置，尤其涉及一種短路測試裝置。
背景技術(shù)：
在手機(jī)、電腦等電子裝置的印刷電路板中集成有很多電子元件，例如常見的電容、 三極管等，這些電子元件常?？赡苡捎诤附硬划?dāng)或異物阻塞等原因而導(dǎo)致發(fā)生短路的情況，從而使得印刷電路板不能正常工作。此時(shí)，則需要通過測試判斷哪些電子元件發(fā)生了短路，然后將其更換或者對電路進(jìn)行修復(fù)，以使印刷電路板能正常工作。當(dāng)電路板線路中存在多個(gè)并聯(lián)的電子元件時(shí)，無論這些并聯(lián)的電子元件中的任何一個(gè)發(fā)生短路，都會(huì)在電路板線路上形成直流通路。此時(shí)電路板線路中的電阻阻值極小，使用萬用表去測量線路上各個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí)，所測得的阻值均基本相同，難以精確地查找發(fā)生短路的位置。在這種情況下，一般只能從電路板上依次取下可能發(fā)生短路的電子元件，然后用萬用表測量取下該電子元件后的電路板上的線路阻抗是否正常，若恢復(fù)正常，則說明短路是由該被取下的電子元件引起的；若電路板阻抗仍不正常，則還需要再取下其它被懷疑電子元件進(jìn)行測試，如此逐個(gè)測試直到短路情況消除。顯然，上述的短路測試方法花費(fèi)時(shí)間較長，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種能快速準(zhǔn)確地測試多個(gè)電子元件并聯(lián)電路的短路情況及查找短路點(diǎn)位置的短路測試裝置。一種短路測試裝置，用于測試一被測電路的短路情況，所述被測電路包括多個(gè)并聯(lián)的電子元件，所述短路測試裝置包括一用于判斷該被測電路是否存在短路情況的判斷電路及一用于查找該被測電路中的具體短路電子元件的查找電路，該判斷電路電性連接至所述被測電路的任一電子元件的電源輸入端，該查找電路電性連接至該被測電路的其中二電子元件的電源輸入端，通過測試所述二電子元件的電源輸入端之間是否存在電位差來判斷該被測電路是否存在短路情況。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的短路測試裝置通過所述判斷電路能快速準(zhǔn)確地判斷被測電路是否具有短路情況存在，同時(shí)通過所述查找電路可以直接測試各電子元件之間的電位差而快速地查找出短路的電子元件，明顯提高了測試效率。


圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式短路測試裝置及一由多個(gè)電子元件并聯(lián)而成的待測電路的電路圖。圖2為本發(fā)明較佳實(shí)施方式短路測試裝置的判斷電路的電路圖。圖3為本發(fā)明較佳實(shí)施方式短路測試裝置的查找電路的電路圖。主要元件符號說明
短路測試裝置100
判斷電路10
第一開關(guān)11
第一運(yùn)算放大器Ull
發(fā)光二極管Dll
限流電阻Rll
電阻R13、R15、R31、
R32、R33、R34、
R35、R36
測試夾Pl
查找電路30
第二運(yùn)算放大器U31
第二開關(guān)31
探針P2、P3
報(bào)警器B31
被測電路200
電子元件Χ1、Χ2· . . Xn
Xl-1, X2-1. . · Xn
測試端Xl-2, X2-2. · · Xn
具體實(shí)施例方式請參閱圖1，本發(fā)明較佳實(shí)施方式的短路測試裝置100適用于測試一由多個(gè)電子元件并聯(lián)而成的被測電路200的短路情況。該短路測試裝置100包括一判斷電路10與一查找電路20。請參閱圖1，一被測電路200為一由N個(gè)電子元件Xl至fti (η為大于1的整數(shù))并聯(lián)而成的并聯(lián)電路，在本實(shí)施例中，電子元件Xl至紐通稱為Xi (i = 1 η)。其中，所述電子元件Xi為電容、三級管及MOS型場效應(yīng)晶體管等電阻阻值較大的電子元件。每一電子元件Xi均具有兩測試端，即Xi-I及Xi-2，其中，Xl-1，X2-1. . . Xn-I電性連接于一起，X1-2， X2-2. . . Xn-2電性連接于一起并接地。所述短路測試裝置100包括一判斷電路10及一查找電路30。所述判斷電路10用于判斷被測電路200是否存在短路情況；所述查找電路30用于查找該被測電路200中發(fā)生短路的具體電子元件。請參閱圖2，所述判斷電路10包括一第一運(yùn)算放大器U11、一第一開關(guān)11、一發(fā)光二極管D11、一限流電阻R11、二電阻R13、R15及一測試夾P1。所述第一開關(guān)11包括一第一控制端，一第一連接端及一第二連接端。當(dāng)?shù)谝豢刂贫双@得高電平時(shí)，可以驅(qū)動(dòng)第一連接端與第二連接端相互導(dǎo)通；當(dāng)?shù)谝豢刂贫双@得低電平時(shí)，第一開關(guān)11處于截止?fàn)顟B(tài)，第一連接端與第二連接端之間無法導(dǎo)通。所述第一開關(guān)11可以為三極管或MOS型場效應(yīng)晶體管，在本實(shí)施例中，所述第一開關(guān)11為一 N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管。該N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管Qll的柵極、源極及漏極分別對應(yīng)該第一控制端、第一連接端及第二連接端。
所述第一運(yùn)算放大器Ul 1的正相輸入端及反向輸入端分別連接至一電源VCC及所述測試夾P1，且該正相輸入端及反向輸入端之間通過所述限流電阻Rll相互串接，該第一運(yùn)算放大器Ull的輸出端通過電阻R13電性連接至所述第一開關(guān)11的第一控制端。該第一開關(guān)11的第一連接端接地，第二連接端電性連接至該發(fā)光二極管Dll的陰極。該發(fā)光二極管Dll的陽極通過所述電阻R15電性連接至電源VCC。另外，所述第一開關(guān)11也可以為一 NPN型三極管，該NPN型三極管的基極、發(fā)射極和集電極分別對應(yīng)該第一開關(guān)11的第一控制端、第一連接端和第二連接端。請參閱圖3，所述查找電路30包括一第二運(yùn)算放大器U31、一 第二開關(guān)31、一報(bào)警器B31、電阻R31 R36及二探針P2、P3。所述第二開關(guān)31包括一第二控制端、一第三連接端及一第四連接端。當(dāng)?shù)诙刂贫双@得高電平時(shí)，可以驅(qū)動(dòng)第三連接端與第四連接端相互導(dǎo)通；當(dāng)?shù)诙刂贫双@得低電平時(shí)，第二開關(guān)31處于截止?fàn)顟B(tài)，第三連接端與第四連接端之間無法導(dǎo)通。該第二開關(guān)31可以為三極管或者M(jìn)OS型場效應(yīng)晶體管，在本實(shí)施例中，所述第二開關(guān)31為一 NPN型三極管。該NPN型三極管Q31的基極、發(fā)射極和集電極分別對應(yīng)該第二開關(guān)31的第二控制端、第三連接端和第四連接端。該第二運(yùn)算放大器U31的正向輸入端通過所述電阻R31電性連接至探針P2，該第二運(yùn)算放大器U31的反向輸入端通過所述電阻R32電性連接至探針P3，該第二運(yùn)算放大器 U31的輸出端通過所述電阻R35電性連接至所述第二開關(guān)31的第二控制端。所述第二開關(guān) 31的第四連接端電性連接至所述報(bào)警器B31 —端，該第二開關(guān)31的第三連接端接地。所述報(bào)警器B31的另一端通過所述電阻R36電性連接至電源VCC。所述電阻R33 —端電性連接至該第二運(yùn)算放大器U31的反向輸入端與電阻R32之間，另一端接地。所述電阻R34—端電性連接至第二運(yùn)算放大器U31的正向輸入端與電阻R31之間；另一端電性連接至該第二運(yùn)算放大器U31的輸出端與電阻R35之間。若探針P2及P3之間電位相等或基本相等，即探針P2及P3之間沒有電位差或電位差極小，則第二運(yùn)算放大器U31的輸出端向第二開關(guān)31的第二控制端輸出低電平，第二開關(guān)31保持截止，沒有電流經(jīng)過報(bào)警器B31，不會(huì)啟動(dòng)報(bào)警器B31發(fā)聲；若探針P2及P3之間電位不相等，則探針P2及P3之間存在較大的電位差，會(huì)使得第二運(yùn)算放大器U31的輸出端向第二開關(guān)31的第二控制端輸出高電平，驅(qū)動(dòng)第二開關(guān)31的第三連接端與第四連接端之間相互導(dǎo)通，有電流經(jīng)過報(bào)警器B31，可以啟動(dòng)B31發(fā)聲報(bào)警。所述第二開關(guān)31也可以為一 N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管，該N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管的柵極、源極和漏極分別對應(yīng)該第二開關(guān)31的第二控制端、第三連接端和第四連接端。使用所述短路測試裝置100對被測電路200進(jìn)行短路測試時(shí)，首先使用所述判斷電路10測試被測電路200是否存在短路情況。將所述測試夾Pl電性連接至被測電路200 的電子元件Xl-I Xn-I中任一點(diǎn)，若該被測電路200的某一個(gè)電子元件Xi存在短路情況， 則判斷電路10的電源VCC通過限流電阻Rll與該短路的電子元件Xi到地存在一個(gè)電流通路，因此在所述限流電阻Rll上有電流流過，即在限流電阻Rll上有電壓降，此時(shí)第一運(yùn)算放大器Ull向第一開關(guān)11的第一控制端輸出高電平，驅(qū)動(dòng)第一開關(guān)11的第一連接端與第二連接端之間相互導(dǎo)通，有電流通過發(fā)光二極管Dl 1驅(qū)動(dòng)其發(fā)光；若該被測電路200沒有存在短路情況，則所述限流電阻Rll上沒有電流流過，即在限流電阻Rll上沒有電壓降，此時(shí)第一運(yùn)算放大器Ul 1輸出低電平，第一開關(guān)11截止，發(fā)光二極管Dl 1中沒有電流通過，不能發(fā)光。由此，可根據(jù)發(fā)光二極管Dll的發(fā)光情況判斷該被測電路200是否存在短路情況。若由所述判斷電路10判斷出該被測電路200存在短路情況，則使用所述查找電路 30查找出短路的電子元件Xi，將所述測試夾Pl及探針P3分別電性連接至被測電路200的 Xl-I點(diǎn)及Xn-I點(diǎn)，即以該Xn-I點(diǎn)作為參考低電位點(diǎn)，然后將所述探針P2電性連接至所述 Xl-I點(diǎn)及Xn-I點(diǎn)之間的任一點(diǎn)，例如為Xl-I點(diǎn)及Xn-I點(diǎn)之中間點(diǎn)X(n/2)_1點(diǎn)，即以該 X(n/2)-l點(diǎn)作為參考高電位點(diǎn)。根據(jù)前述原理，若此時(shí)報(bào)警器B 31不發(fā)聲，則說明該X(n/2)-l點(diǎn)與該Xn_l點(diǎn)之間沒有電位差，則說明由判斷電路10的電源VCC產(chǎn)生的電流沒有流過該X (η/2)-1點(diǎn)與該 Xn-I點(diǎn)之間，由此可判斷短路的電子元件Xi存在 于電子元件Xl Χη/2 (不包括Χη/2)之中，然后再以上述的分段查找方法在電子元件Xl Χη/2(不包括Χη/2)之中進(jìn)行測試，經(jīng)過比逐一查找方法明顯較少的查找次數(shù)即可找出具體的短路的電子元件Xi。若此時(shí)報(bào)警器B31發(fā)聲，則該X(n/2)-l點(diǎn)與該Xn_l點(diǎn)之間存在電位差，則說明由判斷電路10的電源VCC產(chǎn)生的電流經(jīng)由該X(n/2)-l點(diǎn)流過該電子元件Χη/2 Xn之間某一電子元件，由此可判斷短路的電子元件Xi存在于Χη/2 Xn之中，將所述探針Ρ2電性連接至被測電路200的Χ(η/2-1)-1點(diǎn)，若此時(shí)報(bào)警器Β31不發(fā)聲，則說明由判斷電路10的電源VCC產(chǎn)生的電流沒有流過X (η/2-1)-1點(diǎn)，即可判斷該電子元件Χη/2為短路的電子元件。 若報(bào)警器Β31發(fā)聲報(bào)警，則說明有電流流過Χ(η/2-1)-1點(diǎn)，由此可判斷短路的電子元件Xi 存在于Χ(η/2-1) Xn之中，然后按上述分段查找方法在Χ(η/2-1) Xn之中進(jìn)行測試即可找出具體的短路的電子元件Xi。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的短路測試裝置100通過所述判斷電路10能快速準(zhǔn)確地判斷被測電路200是否具有短路情況存在，同時(shí)通過所述查找電路30的二探針P31及P32可以直接測試各電子元件Xl至Xn之間的電位差而簡單快速地查找出短路的電子元件，明顯提高了測試效率。
權(quán)利要求
1.一種短路測試裝置，用于測試一被測電路的短路情況，所述被測電路包括多個(gè)并聯(lián)的電子元件，其特征在于所述短路測試裝置包括一用于判斷該被測電路是否存在短路情況的判斷電路及一用于查找該被測電路中的具體短路電子元件的查找電路，該判斷電路電性連接至所述被測電路的任一電子元件的電源輸入端，該查找電路電性連接至該被測電路的其中二電子元件的電源輸入端，通過測試所述二電子元件的電源輸入端之間是否存在電位差來判斷該被測電路是否存在短路情況。
2.如權(quán)利要求1所述的短路測試裝置，其特征在于所述判斷電路包括一第一運(yùn)算放大器、一第一開關(guān)、一限流電阻、一發(fā)光二極管及一測試夾，該第一開關(guān)包括一第一控制端、 一第一連接端及一第二連接端，該第一運(yùn)算放大器的正向輸入端及反向輸入端分別連接至一電源及所述測試夾，且該正向輸入端與反向輸入端之間通過所述限流電阻相互串接，該第一運(yùn)算放大器的輸出端連接至該第一開關(guān)的第一控制端，該第一開關(guān)的第一連接端接地，該第一開關(guān)的第二連接端電性連接至該發(fā)光二極管的陰極，該發(fā)光二極管的陽極電性連接至所述電源。
3.如權(quán)利要求2所述的短路測試裝置，其特征在于所述第一運(yùn)算放大器的輸出端通過一電阻電性連接至所述第一開關(guān)的控制端，所述發(fā)光二極管的陽極通過一電阻電性連接至所述電源。
4.如權(quán)利要求2所述的短路測試裝置，其特征在于所述第一開關(guān)為一N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管或一 NPN型三極管。
5.如權(quán)利要求2至4任一項(xiàng)所述的短路測試裝置，其特征在于所述測試夾電性連接至所述被測電路，當(dāng)所述被測電路存在短路情況時(shí)，該限流電阻上產(chǎn)生一電壓降，該第一運(yùn)算放大器輸出一高電平至該第一開關(guān)的控制端，該第一開關(guān)導(dǎo)通，該發(fā)光二極管發(fā)光。
6.如權(quán)利要求1所述的短路測試裝置，其特征在于所述查找電路包括一第二運(yùn)算放大器、一第二開關(guān)、一報(bào)警器及二探針，所述第二開關(guān)包括一第二控制端、一第三連接端及一第四連接端，該第二運(yùn)算放大器的正向輸入端及反向輸入端分別電性連接至一探針，該第二運(yùn)算放大器的輸出端電性連接至所述第二開關(guān)的第二控制端，該第二開關(guān)的第三連接端接地，第四連接端電性連接至該報(bào)警器的一端，該報(bào)警器的另一端電性連接至一電源。
7.如權(quán)利要求6所述的短路測試裝置，其特征在于所述第二運(yùn)算放大器的正向輸入端及反向輸入端與該二探針之間分別串接一電阻，該正向輸入端與輸出端之間串接一電阻，且該反向.輸入端與其相連接的電阻之間連接一電阻至接地點(diǎn)。
8.如權(quán)利要求6所述的短路測試裝置，其特征在于所述報(bào)警器的一端與電源之間串接一電阻。
9.如權(quán)利要求6所述的短路測試裝置，其特征在于所述第二開關(guān)為一N溝道MOS型場效應(yīng)晶體管或一 NPN型三極管。
10.如權(quán)利要求6至9任一項(xiàng)所述的短路測試裝置，其特征在于所述二探針分別電性連接至該被測電路的其中二電子元件的電源輸入端，當(dāng)所述二探針之間存在電位差，該第二運(yùn)算放大器的輸出端輸出高電平至所述第二開關(guān)的第二控制端，該第二開關(guān)導(dǎo)通，驅(qū)動(dòng)該報(bào)警器報(bào)警。
全文摘要
本發(fā)明提供一種短路測試裝置，用于測試一被測電路的短路情況，所述被測電路包括多個(gè)并聯(lián)的電子元件，所述短路測試裝置包括一用于判斷該被測電路是否存在短路情況的判斷電路及一用于查找該被測電路中的具體短路電子元件的查找電路，該判斷電路電性連接至所述被測電路的任一電子元件的電源輸入端，該查找電路電性連接至該被測電路的其中二電子元件的電源輸入端，通過測試所述二電子元件的電源輸入端之間是否存在電位差來判斷該被測電路是否存在短路情況。
文檔編號G01R1/067GK102221656SQ20101015018
公開日2011年10月19日 申請日期2010年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月19日
發(fā)明者熊金良 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司