專利名稱：全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種雜質(zhì)檢測(cè)裝置，特別涉及一種對(duì)金屬中氧化膜等夾渣的檢測(cè)
機(jī)器。
背景技術(shù)：
金屬在生產(chǎn)鑄件過(guò)程的高溫高壓環(huán)境中會(huì)產(chǎn)生很多不純物夾渣，尤其金屬液面易 氧化形成氧化膜而巻入鑄件中，氧化膜會(huì)對(duì)合金產(chǎn)生不良影響，例如金屬液面氧化膜對(duì)金 屬鑄件品質(zhì)的影響。所以在金屬生產(chǎn)工藝中檢測(cè)金屬氧化膜等夾渣可以確認(rèn)合金錠的品質(zhì) 以達(dá)到提高合金錠的品質(zhì)的目的。 目前產(chǎn)業(yè)界檢測(cè)這些氧化膜等不純物夾渣的辦法是以電子顯微鏡觀察金屬中氧
化膜的晶相，藉此明確檢測(cè)到這些夾渣，但是這個(gè)檢測(cè)過(guò)程比較復(fù)雜時(shí)間長(zhǎng)，操作人員的專
業(yè)水平要求較高，而且對(duì)電子顯微鏡設(shè)備操作技術(shù)、維護(hù)費(fèi)用和檢測(cè)成本較高。 在專利申請(qǐng)?zhí)枮?00810018787. 9的專利申請(qǐng)中公開(kāi)了一種鎂合金中氧化物及
夾渣的檢測(cè)方法，本實(shí)用新型可以作為該方法中的檢測(cè)裝置使用。 由上述鎂合金中氧化物及夾渣的檢測(cè)方法，同理可應(yīng)用于有色金屬系列，例如鎂 系列、鋁系列、鋅系列、銅系列、鈦系列以及其它有色金屬，亦可使用本實(shí)用新型進(jìn)行金屬中 氧化膜等夾渣的檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型為了克服上述缺點(diǎn)，提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可以快速檢測(cè)且準(zhǔn)確率高 的全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置。 本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置，包括機(jī)臺(tái)，機(jī)臺(tái)上設(shè)有 金屬磨拋機(jī)、金屬拋光機(jī)以及多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系統(tǒng)，所述多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系 統(tǒng)至少包括2個(gè)檢測(cè)倉(cāng)。 所述金屬磨拋機(jī)固定于機(jī)臺(tái)側(cè)面上，所述金屬拋光機(jī)設(shè)于機(jī)臺(tái)上表面，金屬磨拋 機(jī)以及金屬拋光機(jī)下方通過(guò)管道連接有吸塵器，金屬磨拋機(jī)、金屬拋光機(jī)以及吸塵器均由 開(kāi)關(guān)面板控制。 所述多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系統(tǒng)的的檢測(cè)倉(cāng)里設(shè)有容器，其中機(jī)臺(tái)上設(shè)有溶劑進(jìn) 口閥和溶劑出口閥，其中溶劑出口閥和容器連通，容器配套有可揭開(kāi)的容器蓋，超聲波震蕩 機(jī)由開(kāi)關(guān)面板控制。 使用本實(shí)用新型的對(duì)金屬試片進(jìn)行研磨拋光處理，之后再放入本實(shí)用新型的超聲 波檢測(cè)艙的容器內(nèi)，然后施以超聲波處理，本實(shí)用新型設(shè)有多個(gè)檢測(cè)倉(cāng)，可以在每個(gè)檢測(cè)倉(cāng) 里設(shè)定不同的超聲波頻率進(jìn)行不同金屬試片的處理，金屬試片進(jìn)行超聲波處理時(shí)，夾雜物 會(huì)首先發(fā)生裂痕，進(jìn)而裂痕延伸而連接在一起，最后自金屬基質(zhì)上剝離下來(lái)，因此在試片表 面生成霧狀的破損痕跡。使用本實(shí)用新型裝置通過(guò)上述操作步驟，可以快速，準(zhǔn)確的診斷出 金屬氧化膜的形態(tài)、分布、尺寸、位置及數(shù)量，進(jìn)而確認(rèn)其組成，本實(shí)用新型還具有成本低，可以在生產(chǎn)線上做爐前樣品檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為圖1的俯視圖。 其中1、金屬磨拋機(jī)，2、拋光機(jī)，3、1號(hào)超聲波檢測(cè)倉(cāng)，4、容器，5、溶劑，6、容器蓋， 7、2號(hào)超聲波檢測(cè)倉(cāng)，8、溶劑進(jìn)口閥，9、溶劑出口閥，10、控制開(kāi)關(guān)，11、控制開(kāi)關(guān)，12、吸塵 器，13、機(jī)臺(tái)，14、試片，15、溶劑出口 。
具體實(shí)施方式為進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的內(nèi)容及凸顯其結(jié)構(gòu)上的優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)以具體實(shí)施方式
配合 附圖詳細(xì)闡述如下。 如圖1、圖2所示本設(shè)實(shí)施例中機(jī)臺(tái)13上部設(shè)有金屬磨拋機(jī)1，金屬磨拋機(jī)1轉(zhuǎn)盤(pán) 罩殼的底盤(pán)下方通過(guò)管道連接有吸塵器12，機(jī)臺(tái)13側(cè)邊上的拋光機(jī)2轉(zhuǎn)盤(pán)罩殼的底盤(pán)下方 通過(guò)管道連接有吸塵器12，用以吸取金屬試片14磨拋過(guò)程中產(chǎn)生的金屬或夾雜物碎屑，金 屬磨拋機(jī)1及拋光機(jī)2和吸塵器均由控制開(kāi)關(guān)10控制。 在機(jī)臺(tái)13另一側(cè)裝有雙檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波裝置，其中超聲波檢測(cè)倉(cāng)3內(nèi)裝行容器4， 超聲波裝置里還設(shè)有另一個(gè)超聲波檢測(cè)倉(cāng)7 (構(gòu)造與1號(hào)超聲波檢測(cè)倉(cāng)相同)，金屬試片14 在進(jìn)行磨拋處理后，放入容器4內(nèi)，通過(guò)溶劑進(jìn)口閥8注入溶劑5，其中溶劑進(jìn)口閥8可以轉(zhuǎn) 動(dòng)，由控制開(kāi)關(guān)11開(kāi)啟超聲波檢測(cè)倉(cāng)3或超聲波檢測(cè)倉(cāng)7，超聲波裝置對(duì)金屬試片進(jìn)行超聲 波震蕩處理，溶劑可以是蒸餾水，處理結(jié)束后，溶劑經(jīng)溶劑出口 15由溶劑出口閥9排除。 利用本實(shí)用新型進(jìn)行雜質(zhì)檢測(cè)的具體方法為可適用于不同的金屬試片，例如鎂 基材、鋁基材、鋅基材、銅基材等等。 以下以鎂基材、鋁基材為例進(jìn)行說(shuō)明 將打磨拋光后的鋁基材金屬試片用夾具放入1號(hào)超聲波檢測(cè)倉(cāng)容器3內(nèi)，內(nèi)裝 300ml 3000ml蒸餾水或?qū)Ｓ萌軇?，以頻率20 100kHz，震蕩處理10 15分鐘。浸泡震 蕩處理后的試片，用夾具取出，拋光面噴灑酒精并以熱風(fēng)吹干。 將打磨拋光后的鎂基材金屬試片用夾具放入2號(hào)超聲波檢測(cè)倉(cāng)容器7內(nèi)，內(nèi)裝 300ml 2000ml蒸餾水或?qū)Ｓ萌軇?，以頻率38 128kHz，震蕩處理3 6分鐘。浸泡震蕩 處理后的試片，用夾具取出，拋光面噴灑酒精并以熱風(fēng)吹干。 鎂基材、鋁基材試片在震蕩期間，會(huì)產(chǎn)生白色霧狀區(qū)域以團(tuán)狀、片狀或條狀斑痕出 現(xiàn)在拋光面上，并且會(huì)隨震蕩時(shí)間增加而變多，金屬試片生震蕩期間因液體中空泡爆破產(chǎn) 生高強(qiáng)度的微噴流及沖擊波作用在氧化膜上，于是造成金屬基地上質(zhì)脆的氧化膜發(fā)生沖蝕 破壞，最后自金屬試片上剝離下來(lái)，形成空泡沖蝕的表面。剝離的面積愈大，試品表面被沖 蝕的痕跡愈大，表示金屬試片的氧化夾雜愈多。 上述測(cè)試試片，以目視判斷或用掃描式電子顯微鏡(SEM)觀察霧狀痕跡的位置， 配合電子微探儀(EPMA)進(jìn)行氧化膜的圖像(Mapping)分析以確認(rèn)其組成。
權(quán)利要求一種全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置，包括機(jī)臺(tái)，其特征是機(jī)臺(tái)上設(shè)有金屬磨拋機(jī)，金屬拋光機(jī)以及以及多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系統(tǒng)，所述多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系統(tǒng)至少包括2個(gè)檢測(cè)倉(cāng)。
2. 如權(quán)利要求1所述的全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置，其特征是所述金屬磨拋機(jī)固定于機(jī) 臺(tái)側(cè)面上，所述金屬拋光機(jī)設(shè)于機(jī)臺(tái)上表面，金屬磨拋機(jī)以及金屬拋光機(jī)下方通過(guò)管道連 接有吸塵器，金屬磨拋機(jī)、金屬拋光機(jī)以及吸塵器均由開(kāi)關(guān)面板控制。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置，其特征是所述多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲 波檢測(cè)系統(tǒng)的的檢測(cè)倉(cāng)里設(shè)有容器，其中機(jī)臺(tái)上設(shè)有溶劑進(jìn)口閥和溶劑出口閥，其中溶劑 出口閥和容器連通，容器配套有可揭開(kāi)的容器蓋，超聲波震蕩機(jī)由開(kāi)關(guān)面板控制。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種全能型金屬雜質(zhì)檢測(cè)裝置，機(jī)臺(tái)上設(shè)有金屬磨拋，拋光機(jī)系統(tǒng)以及多檢測(cè)倉(cāng)槽超聲波檢測(cè)系統(tǒng)，設(shè)有多個(gè)檢測(cè)倉(cāng)，可以在每個(gè)檢測(cè)倉(cāng)里設(shè)定不同的超聲波頻率進(jìn)行不同金屬試片的處理，金屬試片在本裝置上經(jīng)過(guò)研磨和超聲波震蕩處理后在試片表面生成霧狀的破損痕跡，通過(guò)破損痕跡可以快速、準(zhǔn)確的診斷出金屬氧化膜的形態(tài)、分布、尺寸、位置及數(shù)量，進(jìn)以確認(rèn)其組成，本實(shí)用新型還具有成本低，可以在生產(chǎn)線上在線檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N1/32GK201449348SQ20092004431
公開(kāi)日2010年5月5日 申請(qǐng)日期2009年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月8日
發(fā)明者張俊仁 申請(qǐng)人:常熟新發(fā)鎂業(yè)有限公司