專(zhuān)利名稱(chēng)：基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置及方法，通過(guò)精確測(cè)
量相位調(diào)制器的半波電壓，有效抑制諧振式光學(xué)陀螺中的背向散射噪聲，提高諧振式光學(xué) 陀螺的精度。
背景技術(shù)：
諧振式光學(xué)陀螺(RFOG -Resonator Fiber-Optic Gyroscope)是一種基于Sagnac 效應(yīng)實(shí)現(xiàn)角速度檢測(cè)的高精度慣性傳感器，它通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)中順逆時(shí)針傳播光產(chǎn)生的諧振 頻差得到物體的旋轉(zhuǎn)角速度。相比于干涉式光學(xué)陀螺，諧振式光學(xué)陀螺在小型化和集成化 上具有較大優(yōu)勢(shì)。 利用正弦波相位調(diào)制技術(shù)的諧振式光學(xué)陀螺具有實(shí)現(xiàn)方式簡(jiǎn)單和檢測(cè)精度高等 優(yōu)點(diǎn)。但系統(tǒng)中的背向散射噪聲、偏振噪聲、克爾噪聲會(huì)大大降低陀螺輸出的信噪比，且在 這幾種噪聲中影響最大的為背向散射噪聲。背向散射噪聲分為兩類(lèi)，一類(lèi)由反射光本身引 起，另一類(lèi)由反射光與信號(hào)光相干引起。如何有效降低背散射噪聲是目前諧振式光學(xué)陀螺 最為關(guān)心的問(wèn)題。通過(guò)對(duì)順時(shí)針和逆時(shí)針光路的相位調(diào)制器采用不同調(diào)制頻率的正弦波， 克服由反射本身引入的噪聲，但仍存在兩路中同時(shí)未被調(diào)制的載波信號(hào)。根據(jù)未被調(diào)制的 載波信號(hào)大小，得到受背向散射噪聲影響下的陀螺精度大小；載波抑制越大，陀螺的精度越 高。如能有效地抑制順逆時(shí)針中的載波信號(hào)，減小陀螺系統(tǒng)中的背散射噪聲，便可提高陀螺 系統(tǒng)的精度，這對(duì)諧振式光學(xué)陀螺的發(fā)展具有重要的科學(xué)意義和實(shí)用價(jià)值。
對(duì)于采用正弦波相位調(diào)制的諧振式光學(xué)陀螺，通過(guò)改變調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)到 2. 405可達(dá)到較好的載波抑制。而要想精確得到調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)，必須精確得到相位調(diào) 制器的半波電壓。目前存在的相位調(diào)制器半波電壓測(cè)量方法主要包括馬赫曾德(M-Z)干涉 法和干涉式陀螺中的方波調(diào)制測(cè)量方法等。M-Z干涉法利用兩個(gè)50%耦合器構(gòu)成M-Z干涉 儀結(jié)構(gòu)，通過(guò)測(cè)干涉光強(qiáng)半波個(gè)數(shù)來(lái)獲得半波電壓大小，該方法的測(cè)量精度較差，不能滿足 幾十到幾百ppm的測(cè)量精度。干涉式陀螺中利用方波調(diào)制，通過(guò)觀察輸出方波電平大小，能 達(dá)到較高的精度，但該方法只適用于方波調(diào)制的干涉式陀螺系統(tǒng)中，且實(shí)現(xiàn)相對(duì)復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半 波電壓裝置及方法。 基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置包括激光器、第一 50%耦合器、相位 調(diào)制器、聲光移頻器、第二50%耦合器、光電探測(cè)器、矢量分析儀、第一信號(hào)發(fā)生器、第二信 號(hào)發(fā)生器；激光器與第一 50%耦合器、相位調(diào)制器、第二 50%耦合器、光電探測(cè)器、矢量分 析儀依次相連，第一50%耦合器與聲光移頻器、第二50%耦合器依次相連，相位調(diào)制器與 第一信號(hào)發(fā)生器相連，聲光移頻器與第二信號(hào)發(fā)生器相連。 所述的相位調(diào)制器包括直波導(dǎo)、一對(duì)電極、輸入光纖和輸出光纖；在直波導(dǎo)兩側(cè)設(shè)
3有一對(duì)電極，在直波導(dǎo)兩端設(shè)有輸入光纖和輸出光纖。 基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓的方法激光器輸出的激光經(jīng)過(guò)第一 50%耦合器后分成兩路一路經(jīng)相位調(diào)制器調(diào)相，相位調(diào)制器上施加由第一信號(hào)發(fā)生器產(chǎn) 生的調(diào)制頻率為fi，調(diào)制電壓為V的正弦信號(hào)，將光頻的相位改變了 Msin(2 Ji f^) ， M為調(diào) 制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)，與外加調(diào)制電壓和相位調(diào)制器的半波電壓有關(guān)，另一路經(jīng)聲光移頻器 移頻，聲光移頻器上施加由第二信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的頻率為f2的正弦信號(hào)，將光頻的頻率搬 移了 &，兩路經(jīng)調(diào)制的激光通過(guò)第二 50%耦合器合光到光電探測(cè)器后，用矢量分析儀分析 輸出信號(hào)中頻率分量為f2的功率Power_f2，經(jīng)理論推導(dǎo)，按如下公式計(jì)算Power_f2值
<formula>formula see original document page 4</formula>
當(dāng)施加在相位調(diào)制器上正弦信號(hào)的調(diào)制系數(shù)M為2.405時(shí)，J。(M)無(wú)限接近于零， P0Wer_f2得到最小值；根據(jù)矢量分析儀采樣分析Power—f2的最小值，得到此時(shí)對(duì)應(yīng)的由第 一信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生正弦信號(hào)的調(diào)制電壓V及調(diào)制系數(shù)2. 405，按如下公式計(jì)算相位調(diào)制器 的半波電壓L :
<formula>formula see original document page 4</formula>
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果 1)本發(fā)明提供的相位調(diào)制器半波電壓測(cè)試方法和裝置測(cè)試精度高，理論上可達(dá)到 幾十ppm的測(cè)試精度，雖然由于激光器、接頭、PD和信號(hào)發(fā)生器等背景噪聲的影響，最終的 測(cè)試精度為幾百個(gè)PPm，該精度仍滿足諧振式光學(xué)陀螺系統(tǒng)的背向散射噪聲抑制要求；
2)本發(fā)明提供的相位調(diào)制器半波電壓測(cè)試方法和裝置可與諧振式光學(xué)陀螺的背 向散射噪聲抑制相結(jié)合。通過(guò)測(cè)試得到的半波電壓值，選擇適當(dāng)?shù)恼{(diào)制系數(shù)，即調(diào)制系數(shù)為 2.405，達(dá)到載波抑制的目的。理論上該系統(tǒng)的載波抑制程度可達(dá)到100dB，由于激光器、接 頭、PD和信號(hào)發(fā)生器等背景噪聲的影B向，實(shí)際載波抑制比為50dB。由于背向散射噪聲的大 小與光學(xué)陀螺順逆時(shí)針兩路的載波抑制相關(guān)。單路50dB的載波抑制，可達(dá)到兩路100dB的 載波抑制，完全可以將系統(tǒng)的背向散射噪聲降低到其他噪聲以下的量級(jí)。


圖1是基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置； 圖2是波導(dǎo)相位調(diào)制器的基本結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3是50%耦合器的基本結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4(a)是調(diào)制系數(shù)M為1時(shí)光電探測(cè)器PD輸出頻譜圖； 圖4(b)是調(diào)制系數(shù)M為2.405時(shí)光電探測(cè)器PD輸出頻譜圖； 圖5是理論和實(shí)驗(yàn)上調(diào)制系數(shù)與載波抑制情況的示意圖。實(shí)線為理論結(jié)果，點(diǎn)為
實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果； 圖中激光器1、第一50%的耦合器2、相位調(diào)制器3、聲光移頻器4、第二50%耦 合器5、光電探測(cè)器6、矢量分析儀7、第一信號(hào)發(fā)生器8、第二信號(hào)發(fā)生器9、直波導(dǎo)11、電極 12、輸入光纖13和輸出光纖14。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示，基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置包括激光器1 、第一 50 %耦合器2、相位調(diào)制器3、聲光移頻器4、第二 50%耦合器5、光電探測(cè)器6、矢量分析儀7、第 一信號(hào)發(fā)生器8、第二信號(hào)發(fā)生器9;激光器1與第一50%耦合器2、相位調(diào)制器3、第二50% 耦合器5、光電探測(cè)器6、矢量分析儀7依次相連，第一 50%耦合器2與聲光移頻器4、第二 50%耦合器5依次相連，相位調(diào)制器3與第一信號(hào)發(fā)生器8相連，聲光移頻器4與第二信號(hào) 發(fā)生器9相連。 如圖2所示，相位調(diào)制器3包括直波導(dǎo)11、一對(duì)電極12、輸入光纖13和輸出光纖 14 ;在直波導(dǎo)11兩側(cè)設(shè)有一對(duì)電極12，在直波導(dǎo)11兩端設(shè)有輸入光纖13和輸出光纖14。 當(dāng)在電極12上施加電壓V(t)時(shí)，從輸出光纖14的輸出光波相位小(t)將發(fā)生改變，并且 改變量和外加電壓V(t)成正比，可表示為 (1) 式中Vn為相位調(diào)制器的半波電壓，取決于相位調(diào)制本身的材料和結(jié)構(gòu)參數(shù)，與外 加電壓無(wú)關(guān)。M為調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)，與外加信號(hào)大小和半波電壓有關(guān)。在基于調(diào)相譜 技術(shù)的諧振式光學(xué)陀螺中，相位調(diào)制器上施加正弦調(diào)制信號(hào)，利用后級(jí)信號(hào)處理電路解調(diào) 信號(hào)，獲取順逆時(shí)針兩路諧振頻率偏差信息。在該系統(tǒng)中，背向散射噪聲是最主要的光學(xué)噪 聲，極大地影響陀螺性能的提高。背向散射噪聲分為兩類(lèi)，一類(lèi)由反射光本身引起，另一類(lèi) 由反射光與信號(hào)光相干產(chǎn)生。通過(guò)對(duì)順逆時(shí)針的光路采用不同的調(diào)制信號(hào)頻率的方法，可 以克服由反射本身引起的噪聲，而由反射光與信號(hào)光相干產(chǎn)生的噪聲則只能通過(guò)抑制兩路 光的載波比，即在調(diào)相譜技術(shù)中使正弦信號(hào)的調(diào)制系數(shù)M接近2. 405，從而使信號(hào)的載波項(xiàng) 接近于零。 50%耦合器的結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示輸入光纖a和b，輸出光纖c和d。對(duì)于輸 入端a來(lái)說(shuō)，c是直通端，而d是耦合端，它們之間存在90。的相移。且50%耦合器的輸 入端口與輸出端口是互易的。假設(shè)輸入到耦合器a端的光場(chǎng)為E。，則c端口的輸出光場(chǎng)為 7(L-k)(L-")￡0 ， d端口的輸出為/VT^feE。，其中k為耦合器的耦合系數(shù)，對(duì)于50%耦合器 來(lái)說(shuō)，k為50X， a為光場(chǎng)的插入損耗。 基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓的方法激光器1輸出的激光經(jīng)過(guò)第 一 50 %耦合器2后分成兩路一路經(jīng)過(guò)相位調(diào)制器3調(diào)相，相位調(diào)制器3上施加由第 一信號(hào)發(fā)生器8產(chǎn)生的調(diào)制頻率為f"調(diào)制電壓為V的正弦信號(hào)，將光頻的相位改變了 Msin(2Ji^t)，M為調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)，與外加調(diào)制電壓和相位調(diào)制器3的半波電壓有關(guān)， 另一路經(jīng)過(guò)聲光移頻器4移頻，聲光移頻器4上施加由第二信號(hào)發(fā)生器9產(chǎn)生的頻率f2的 正弦信號(hào)，將光頻的頻率搬移了 &，兩路經(jīng)調(diào)制的激光通過(guò)第二 50%耦合器5合光到光電 探測(cè)器6后，用矢量分析儀7分析輸出信號(hào)中頻率分量為f2的功率Power_f2，經(jīng)理論推導(dǎo)， 按如下公式計(jì)算Power_f2值
<formula>formula see original document page 5</formula> 當(dāng)施加在相位調(diào)制器3上正弦信號(hào)的調(diào)制系數(shù)M為2. 405時(shí)，J。(M)無(wú)限接近于 零，Power—f2得到最小值；根據(jù)矢量分析儀7采樣分析Power—f2的最小值，得到此時(shí)對(duì)應(yīng)的 由第一信號(hào)發(fā)生器8產(chǎn)生正弦信號(hào)的調(diào)制電壓V及調(diào)制系數(shù)2. 405，按如下公式計(jì)算相位調(diào) 制器3的半波電壓V.:
V = Ji V/M。
基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓的方法，可根據(jù)公式尸ower—/2 =| 10 lg|V02 (M)] I 得到不同調(diào)制系數(shù)M下的P0Wer_f2值，即對(duì)應(yīng)不同調(diào)制系數(shù)下的載波抑制比；根 據(jù)載波抑制比，可評(píng)估在相位調(diào)制器3作為關(guān)鍵器件的諧振式光學(xué)陀螺系統(tǒng)中的背向散射 噪聲大小。
窄線寬的半導(dǎo)體激光器輸出光場(chǎng)可簡(jiǎn)化表示為
EFL—。ut (t) = E。exp j (2 Ji f0t) (2) 其中E。表示激光器輸出光場(chǎng)的幅度，f。 = "。/2 表示激光器的固有中心頻率。 第一 50%耦合器的a端為輸入，c和d端為輸出，分別輸入到相位調(diào)制器PM和聲光移頻器 AOM : c端口輸出的信號(hào)經(jīng)過(guò)相位調(diào)制器，其中調(diào)制信號(hào)為Msin(c^t):￡fM—。u( = ￡。
[exP/(2"/。0].exPsin^V) (3 ) 其中、為第一50%耦合器的耦合系數(shù)，ad為第一50X耦合器的插入損耗，a PM 是相位調(diào)制器的插入損耗。 d端口輸出的信號(hào)經(jīng)過(guò)AOM，其中移頻量為"2: =/五。^^(1 ——A服)'[exp/(2;r/oO]expy'(cy力 (4) 其中a皿是聲光移頻器的插入損耗。 第二 50%耦合器的c和d端分別為相位調(diào)制器PM和聲光移頻器AOM的輸入，a端 為輸出 a端口的輸出光場(chǎng)為
￡。"，=V(1 - & )(l _ "c2 )+/VA2 (1 _ "c2 )五裂做,
=五。[exp _/ (2;r/力]- "cl)(l - A)(l - " )(l - &)(l - "c2) exp y'(M sin( 5 ) —五o [exp _/ (2;r/0/)] , (1 - "cl )(l -"廟(1 - "c2) exp _/(w2/) 其中k2為第二 50%耦合器的耦合系數(shù)，a 。2為第二 50%耦合器的插入損耗。設(shè)
fl = ￡0 [exp / (2"/力]V(1 — "ci )(l — & )(l — )(l —毛)(l — "c2) _
6 =五。[exp _/ (2冗/00] V(1 — "cl )(l — )d — ) 那么 EOTt = aexpj (M sinc^t)-bexpj (co2t) (6) 光波強(qiáng)度正比于光波場(chǎng)標(biāo)量的時(shí)間平均，因此可得到光電探測(cè)器PD后總的輸出 光強(qiáng)為
6
G-。w =會(huì)"。A^加.￡二 《，
=會(huì)ce。A^{a2 + &2 一 2afe cos[M sin(w'0 — < 2/]} 1 7 7
(7) (7)式中的前兩項(xiàng)為PD輸出的直流項(xiàng)，只需把第三項(xiàng)進(jìn)行頻譜分析得到PD的頻譜
分量，將第三項(xiàng)展開(kāi)得到
cos[M sin(叫)]cos(w/) + sin[M sin(fi^)] sin(w/)
^ ^ (8)
=[J。 (M) + W cos(2柳力]cosO力+[2丄《/2 +1 (M) sin(2 w + 1鄉(xiāng)]sin(6J20
n=l n=0 其中
cos(M sin印)= /。 (M) + 2^] J2 (M) cos(2嗎0 n=1
sin(M sin印)=J2"+t (M) sin(2w +
n=0 根據(jù)(8)式可知經(jīng)過(guò)PD后的的頻譜是"2+nc^(n = 0，1，2......)，其對(duì)應(yīng)的幅
度大小Jn(M)。在矢量分析儀上觀察"2處的功率大小和載波抑制的J。(M)的關(guān)系為
尸ower _ /2 =| 10 lg(V。2 (M)] I ( 9 ) 根據(jù)頻譜儀上功率的變化，得到在不同調(diào)制電壓下PoWer_f2的最大和最小值。PM 上不加調(diào)制時(shí)，即M = O，得到f2處的功率值P0Wer_f2_maX。根據(jù)最佳調(diào)制情況下，即M = Mb，得到f2處的功率值Power—f2jiiin。用最大功率減去最小功率，得到根據(jù)(9)式得到對(duì)于 該相位調(diào)制器的最佳載波抑制比J。(Mh):
J0(Mb) = 10(—Ap/20) (10) A P (dB) = Power_f2 (dBm) _max-Power_f2_min (dBm) (11) 根據(jù)分析，可知在諧振式光學(xué)陀螺中最主要的噪聲為背向散射噪聲。背向散射噪
聲的影響大小與載波抑制大小成反比，載波抑制越大，背向散射的影響越小。因此在背向
散射噪聲占主導(dǎo)的系統(tǒng)中，可根據(jù)諧振式光學(xué)陀螺的最終開(kāi)環(huán)輸出計(jì)算系統(tǒng)的載波抑制程
度；也可以得到在我們期望系統(tǒng)精度的前提下，需將背散射噪聲抑制到何種水平。 圖4(a)是調(diào)制系數(shù)M為1時(shí)光電探測(cè)器PD輸出頻譜圖；圖4(b)是調(diào)制系數(shù)M為
2.405時(shí)光電探測(cè)器PD輸出頻譜圖；其中= 9MHz， "2 = 40MHz。圖4說(shuō)明不同的調(diào)制
系數(shù)下可得到不同的載波信號(hào)，通過(guò)選取載波抑制最大的情況下的調(diào)制信號(hào)電壓根據(jù)(1)
式計(jì)算半波電壓的大小。最關(guān)鍵的因素還在于在調(diào)制系數(shù)為2. 405附近，載波的改變并不
影響陀螺輸出信號(hào)大小，因此可以通過(guò)這種方法大大增加系統(tǒng)的信噪比。 圖5是理論和實(shí)驗(yàn)上調(diào)制系數(shù)與載波抑制情況的示意圖。實(shí)線為理論結(jié)果，點(diǎn)為
實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。理論上該系統(tǒng)的半波電壓可達(dá)到幾十ppm的測(cè)試精度，載波抑制程度可達(dá)
到100dB。由于激光器、接頭、PD和和信號(hào)發(fā)生器等背景噪聲的影B向，實(shí)際半波電壓測(cè)試精度為幾百個(gè)ppm，載波抑制比為50dB。由于背向散射噪聲的大小與光學(xué)陀螺順逆時(shí)針兩路 的載波抑制相關(guān)。單路50dB的載波抑制，可達(dá)到兩路100dB的載波抑制，完全可將系統(tǒng)的背 向散射噪聲降低到其他噪聲以下的量級(jí)。滿足諧振式光學(xué)陀螺背向散射噪聲抑制的目的。
權(quán)利要求
一種基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置，其特征在于包括激光器(1)、第一50％耦合器(2)、相位調(diào)制器(3)、聲光移頻器(4)、第二50％耦合器(5)、光電探測(cè)器(6)、矢量分析儀(7)、第一信號(hào)發(fā)生器(8)、第二信號(hào)發(fā)生器(9)；激光器(1)與第一50％耦合器(2)、相位調(diào)制器(3)、第二50％耦合器(5)、光電探測(cè)器(6)、矢量分析儀(7)依次相連，第一50％耦合器(2)與聲光移頻器(4)、第二50％耦合器(5)依次相連，相位調(diào)制器(3)與第一信號(hào)發(fā)生器(8)相連，聲光移頻器(4)與第二信號(hào)發(fā)生器(9)相連。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置，其特征 在于所述的相位調(diào)制器(3)包括直波導(dǎo)(11)、一對(duì)電極(12)、輸入光纖(13)和輸出光纖 (14);在直波導(dǎo)(11)兩側(cè)設(shè)有一對(duì)電極(12)，在直波導(dǎo)(11)兩端設(shè)有輸入光纖(13)和輸 出光纖(14)。
3. —種使用如權(quán)利要求1所述裝置的基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓的方法， 其特征在于激光器(1)輸出的激光經(jīng)過(guò)第一 50%耦合器(2)后分成兩路一路經(jīng)相位調(diào) 制器(3)調(diào)相，相位調(diào)制器(3)上施加由第一信號(hào)發(fā)生器(8)產(chǎn)生的調(diào)制頻率為f"調(diào)制 電壓為V的正弦信號(hào)，將光頻的相位改變了 Msin(2 Ji f^) ， M為調(diào)制信號(hào)的調(diào)制系數(shù)，與外 加調(diào)制電壓和相位調(diào)制器(3)的半波電壓有關(guān)，另一路經(jīng)聲光移頻器(4)移頻，聲光移頻器(4) 上施加由第二信號(hào)發(fā)生器(9)產(chǎn)生的頻率為f2的正弦信號(hào)，將光頻的頻率搬移了 &，兩 路經(jīng)調(diào)制的激光通過(guò)第二50%耦合器(5)合光到光電探測(cè)器(6)后，用矢量分析儀(7)分 析輸出信號(hào)中頻率分量為f2的功率Power_f2，按如下公式計(jì)算Power_f2值尸,w —/2—101g[《(M)]1當(dāng)施加在相位調(diào)制器(3)上正弦信號(hào)的調(diào)制系數(shù)M為2. 405時(shí)，J。(M)無(wú)限接近于零， P0Wer_f2得到最小值；根據(jù)矢量分析儀(7)采樣分析Power—f2的最小值，得到此時(shí)對(duì)應(yīng)的 由第一信號(hào)發(fā)生器(8)產(chǎn)生正弦信號(hào)的調(diào)制電壓V及調(diào)制系數(shù)2. 405，按如下公式計(jì)算相位 調(diào)制器(3)的半波電壓V.:V = Ji V/M。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于外差技術(shù)測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓裝置及方法。它包括激光器、第一50％耦合器、相位調(diào)制器、聲光移頻器、第二50％耦合器、光電探測(cè)器、矢量分析儀、第一信號(hào)發(fā)生器、第二信號(hào)發(fā)生器；激光器與第一50％耦合器、相位調(diào)制器、第二50％耦合器、光電探測(cè)器、矢量分析儀依次相連，第一50％耦合器與聲光移頻器、第二50％耦合器依次相連，相位調(diào)制器與第一信號(hào)發(fā)生器相連，聲光移頻器與第二信號(hào)發(fā)生器相連。本發(fā)明提供了一種精確測(cè)試相位調(diào)制器半波電壓的方法，利用測(cè)試得到的半波電壓能有效抑制相位調(diào)制中的載波分量，降低諧振式光學(xué)陀螺中的背向散射噪聲，為諧振式光學(xué)陀螺的精度提高提供了一種切實(shí)可行的方法，具有重要的科學(xué)意義與應(yīng)用價(jià)值。
文檔編號(hào)G01C19/64GK101713701SQ200910153859
公開(kāi)日2010年5月26日 申請(qǐng)日期2009年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月16日
發(fā)明者彭博, 金仲和, 陳妍, 馬慧蓮 申請(qǐng)人:浙江大學(xué)