專利名稱：用于側(cè)向流動化驗測試條的校準系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于側(cè)向流動化驗測試條測量系統(tǒng)的校準系統(tǒng)。
技術背景使用側(cè)向流動化驗測試條時， 一個常見的問題是不同的測試條趨 于產(chǎn)生稍微不同的結(jié)果。不幸地是，即使測試條內(nèi)具有相同數(shù)量的試 劑，并且即使它們都暴露到相同數(shù)量的分析物中，也沒有兩個測試條 有完全相同的表現(xiàn)(即產(chǎn)生相同的檢測結(jié)果數(shù)值)。側(cè)向流動化驗檢測 結(jié)果中的這種差異如下解釋各測試條的物理性質(zhì)不同，沿著不同測 試條的流體流動路徑不同。因而，希望提供一種系統(tǒng)來減小或補償不 同測試條之間的性能不同。當由不同批次的材料制造測試條吋，不同測試條表現(xiàn)出稍微不同 的檢測結(jié)果的問題變得甚至更加顯著。這是由于不同批次的測試條材 料趨于具有稍微不同的物理性質(zhì)這一事實。這些材料性質(zhì)影響在測試 條內(nèi)變干的試劑的空間分布，因此影響了它們在流動液體內(nèi)重新組成 的效率。因此，希望提供一種系統(tǒng)，其補償了以下兩種情況下不同測試條 之間的性能區(qū)別(a)當測試條由相同批次的材料制成時，以及(b)當 測試條由不同批次的材料制成時。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供了一種校準系統(tǒng)，其調(diào)整在測試條上測量的最終反射 系數(shù)值，以補償在選擇的相似測試條之間表現(xiàn)出的結(jié)果變化。在一優(yōu) 選的方面，校準系統(tǒng)通過與均來自同一生產(chǎn)批次的其它測試條所展示 的檢測結(jié)果相比較而調(diào)整最終測量的反射系數(shù)值。在另一優(yōu)選的方面，校準系統(tǒng)選取用于執(zhí)行調(diào)整最終反射系數(shù)的特定方法。方法的選擇可以包括識別反射系數(shù)曲線以及相關的參數(shù) 值，這是給定生產(chǎn)批次的測試條的獨有特性。這種選擇用于調(diào)整來自 特定生產(chǎn)批次的測試條的最終反射系數(shù)值的特定方法的系統(tǒng)是特別 有益的，這是由于由不同生產(chǎn)批次的材料制造的每一個測試條都可以 不同地校準。在一優(yōu)選的方面，本發(fā)明提供了如下的用于調(diào)整在側(cè)向流動化驗 測試條上測量的最終信號值的方法識別測試條的預先確定的校準方 法，其中，被選擇的預先確定的校準方法代表了制造測試條的生產(chǎn)批 次。當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時，測量信號值；確定最終 信號值；并且隨后基于識別的用于測試條的預先選擇的校準方法來調(diào) 整最終信號值。對于特定生產(chǎn)批次的測試條，為測試條預先確定的校準方法包 括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應吋，測量信號值；確定最小 的信號值；測量中間信號值，其中，所述中間信號值是在測量最小信 號值后的預定時間段內(nèi)測量的；確定最終信號值；并且基于中間信號 值調(diào)整最終信號值?？蛇x地，可以使用多于一個的中間信號值，其中， 在不同的時間測量每一個中間信號值。同樣可選地，預定的時間段可 以為零。對于另一特定生產(chǎn)批次的測試條，為測試條預先確定的校準方法 包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時，測量信號值確定最小的信號值；確定測量最小信號值的時間，確定最終信號值；并且基 于最小信號值和/或測量最小信號值的時間來調(diào)整最終信號值。對于另一特定生產(chǎn)批次的測試條，為測試條預先確定的校準方法 包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時，測量信號值，確定低 于閾值的總信號；確定最終信號值；并且基于測量的低于閾值的總信 號來調(diào)整最終信號值。


圖1示出來自第一生產(chǎn)批次的材料的側(cè)向流動化驗測試條的代 表樣品的反射系數(shù)曲線。圖2示出來自第二生產(chǎn)批次的材料的側(cè)向流動化驗測試條的代 表樣品的反射系數(shù)曲線。圖3示出來自第三生產(chǎn)批次的材料的側(cè)向流動化驗測試條的代 表樣品的反射系數(shù)曲線。圖4示出來自第四生產(chǎn)批次的材料的側(cè)向流動化驗測試條的代 表樣品的反射系數(shù)曲線。圖5示出來自第五生產(chǎn)批次的材料的側(cè)向流動化驗測試條的代 表樣品的反射系數(shù)曲線。
具體實施方式
圖1-5中都示出用于多個側(cè)向流動化驗測試條的代表樣品的反 射系數(shù)曲線，示出測試條的檢測區(qū)的不同的動力學模式，其中圖l 所示的所有測試條由第一生產(chǎn)批次的材料制造；圖2所示的所有測試 條由第二生產(chǎn)批次的材料制造，等等。下面提供的例子涉及測試條的反射系數(shù)曲線。應當理解，本發(fā)明 不限制于此，其它的光學性質(zhì)，包括熒光性或發(fā)光性質(zhì)，可以作為替 代。也應當理解，其它的非光學性質(zhì)，包括電化學信號值和直接光透 射信號值，也可以來和本校準系統(tǒng)一起使用。根據(jù)本發(fā)明，提供特定的校準系統(tǒng)用于不同批次的測試條，它們 具有圖1-5所示的動力學性質(zhì)。例如，圖1所示批次的測試條均用 一種優(yōu)選方法校準。同樣，圖2所示的每一個測試條均用另一優(yōu)選 方法校準，對圖3-5所示的測試條進行類似操作。下面詳細解釋校準 測試條的具體方法及對圖1-5的每個測試條生產(chǎn)批次進行反射系數(shù) 值調(diào)整的具體方法。如上所指明的，本發(fā)明也提供了一種系統(tǒng)，用于就任何給定測試 條生產(chǎn)批次選擇將使用哪種特定的測試條校準方法。根據(jù)本發(fā)明，首 先確定哪種動力學模式(例如，如圖l-5所示)代表了特定生產(chǎn)批次的 測試條的性能。隨后，基于測試條的代表樣品的性能，根據(jù)相應于圖 1、 2、 3、 4或5的動力學模式校準選擇的生產(chǎn)批次的測試條。例如， 對于該批次中剩余的測試條，可以確定新測試條具有圖1所示的動力學模式(即該測試條由圖l的生產(chǎn)批次制造)。在這種情況下，根據(jù) 相應于圖1而示出的方法來調(diào)整最終的反射系數(shù)。類似地，如果確 定選擇的測試條具有圖2所示的動力學模式(即由圖2所示的生產(chǎn) 批次制造)，則根據(jù)相應于圖2所示的方法來校準最終的反射系數(shù)。圖1示出均來自第一生產(chǎn)批次的多個測試條的反射系數(shù)動力學 曲線。根據(jù)本發(fā)明，在盡可能一致的檢測條件下，測量測試條的代表 樣品的反射系數(shù)曲線(這里示為#1禾服2)。(這些一致的檢測條件要求 測試條內(nèi)相同數(shù)量的試劑暴露于流體樣品中相同數(shù)量的分析物中)。根據(jù)這兩端的反射系數(shù)分布(#1和#2)，確定平均的、中間的、希望的 或者是"理想的"示范性的測試條反射系數(shù)曲線(#3)。應當理解，用 多于兩個代表性測試條(#1和#2)的反射系數(shù)值來確定平均測試條反 射系數(shù)曲線#3。最典型地，25個或更多個獨立測試條的讀數(shù)(每一個 都落入極值曲線#1禾服2之間)被用于確定平均測試條反射系數(shù)曲線 #3。因此，僅僅是為了圖示清楚，僅顯示了兩個測試條反射系數(shù)曲線 (#1和#2)。而且，為了圖示清楚，示出的反射系數(shù)曲線#1和#2為極 值曲線(25個或更多個測試樣品的其它反射系數(shù)曲線中的每一個都落 入其間)。如可以看到的，由該第一批次的材料制造的每一個測試條的所測 量的反射系數(shù)曲線彼此的區(qū)別具有特性模式，從而產(chǎn)生了曲線"族"。 具體而言，在該特定的例子中，最終的反射系數(shù)值F將趨于隨最小 的反射系數(shù)值M變化。例如，測試條#1的反射系數(shù)在時間t一吋到達最小值M,，并 隨后在吋間tf時到達其最終的數(shù)值F,。類似地，湖i」試條#2的反射 系數(shù)在經(jīng)過相同的吋間tmin后到達最小值M2，并且在經(jīng)過相同的吋 間tf后到達其最終的數(shù)值F2。由于測試條#1和#2的反射系數(shù)曲線均在大約相同的時間Un到達它們的最小值M,和M2，則標稱(即；新選擇的)測試條#3的平均的反射系數(shù)曲線也將在時間tmin時到達 其最小值M3。如同樣可以看到的，對于測試條#1，其最終的反射系數(shù)值F, 和平均的或預期的最終反射系數(shù)值F3之間的差值將相應于最小的反射系數(shù)值M,和平均的最小反射系數(shù)值M3之間的差值而改變。在 某些示例的情況下，這種相互關系可以是線性的，但本發(fā)明不局限于 此。類似地，對于測試條#2，其最終的反射系數(shù)值F2和平均的最終反射系數(shù)值F3之間的差值將相應于最小的反射系數(shù)值M2和平均的最小反射系數(shù)值M3之間的差值而改變。在某些示例的情況下，這 種相互關系可以是線性的，但同樣本發(fā)明不局限于此。因此，可以為 圖1所示的生產(chǎn)批次定義具有相關參數(shù)值的校準公式。因此，由圖1所示的同一生產(chǎn)批次制造的其它(即新選擇的)測 試條之間的可變性可以通過如下所示的調(diào)整而被減輕，其利用了如上 為該示例的生產(chǎn)批次的測試條所確定的校準信息。示出了一另外的 (即新選擇的或"標稱的")測試條糾的反射系數(shù)曲線。測試條#4 的最終反射系數(shù)值的變化可以被減輕，這是通過簡單地測量其在時間 tmill時的最小反射系數(shù)值M4并且根據(jù)為該示例的生產(chǎn)批次的測試條 而確定的校準公式將其最終的反射系數(shù)值F4向下調(diào)整一個正比于M4和M3之間的差值的量(從F4到F3)。注意如果測試條糾的最小反射系數(shù)值不出現(xiàn)在tmin附近，貝U可能引發(fā)錯誤信息。圖2示出了第二生產(chǎn)批次的材料生產(chǎn)的多個測試條的反射系數(shù) 動力學曲線。根據(jù)本發(fā)明，在盡可能一致的條件下，測量測試條的代 表樣品(這里示為#1和#2)反射系數(shù)曲線。(如上， 一致的檢測條件需 要測試條內(nèi)相同數(shù)量的試劑被暴露于流體樣品內(nèi)相同數(shù)量的分析物 中)。從這兩個極值反射系數(shù)曲線(#1和#2)，確定了平均的、中間的、 預期的或"理想的"示范性測試條反射系數(shù)曲線(#3)。應當理解，優(yōu) 選地用多于兩個代表性測試條(#1和#2)的反射系數(shù)曲線確定平均的 測試條反射系數(shù)曲線#3。最典型地，來自25個或更多個單獨測試條 的讀數(shù)(每一個都落入極值曲線#1和#2之間)被用于確定平均的測試 條反射系數(shù)值#3。因此，僅僅是為了圖示清楚，僅顯示了兩個測試 條反射系數(shù)值(#1禾卩#2)。因此，反射系數(shù)曲線#3表示用于測試條的 平均的或者標準的或者預期的反射系數(shù)曲線，其由圖2所示的那批材 料制造。而且，為了圖示清楚，圖示的反射系數(shù)曲線#1和#2為極值曲線(25個或更多個檢測樣品的其它每一個反射系數(shù)曲線都落入其 中)。如可以看到的，由該第二批次的材料制造的每一個測試條的測量 反射系數(shù)曲線趨于在特性模式內(nèi)區(qū)別內(nèi)以相同的方式改變，從而產(chǎn)生 了曲線"族"。具體而言，在該特定的例子中，最終反射系數(shù)值F將趨于隨中間反射系數(shù)值I變化，所有最小反射系數(shù)值V基本上都相 同，并且都在基本相同的時間tmin時出現(xiàn)。例如，領lj試條#1和#2的反射系數(shù)均在大約相同的吋間t^到達相同的最小值(即M「M》。因此，平均測試條#3的反射系數(shù)也將在大約相同的時間t^到達其最小值M3。隨后，測試條#1的反射系數(shù)在時間tf時到達其最終值Fp并且測試條#2的反射系數(shù)也在時 間tf吋到達其最終的數(shù)值F2。如所看到的，當在中間時間段t巾間進 行測量時，測量的測試條#1和#2的反射系數(shù)將趨于彼此變化最大。此外，W問出現(xiàn)在t,咖后的一吋間延遲"At"處(即，在測量最小反射系數(shù)M,和M2后的一時間延遲At處)。在測試條#1所示的反射系數(shù)曲線中測量的測試條反射系數(shù)的情況下，最終反射系數(shù)值F,和平均的最終反射系數(shù)值F3之間的差值將相應于在t,^后預定的時間延遲"At"處測量的反射系數(shù)值I,和13之間的差值而改變(即，在測量最小反射系數(shù)M,后時間延遲At處)。例 如，最終反射系數(shù)值F,和平均最終反射系數(shù)值F3之間的差值直接正比于在時間t響測量的反射系數(shù)值I,和l3之間的差值。在某些示例的情況下，這種相互關系可以為線性的，但本發(fā)明不局限于此。類似地，在測試條#2所示的測量的測試條反射系數(shù)曲線的情況 下，最終反射系數(shù)值F2和平均最終反射系數(shù)值F3之間的差值將相應于在Uin后預定的時間延遲"At"處測纛的反射系數(shù)值12和13之間的差值而改變(即，在測量最小反射系數(shù)M2后的一時間延遲At時)。例如，最終反射系數(shù)值F2和平均最終反射系數(shù)值F3之間的差值直接正比于在時間t申間測量的位于F2和F3之間的反射系數(shù)值12和13 之間的差值。在某些特定的情況下，這種相互關系可以為線性的，但 本發(fā)明不局限于此。如上，可以因此定義圖2所示的生產(chǎn)批次的具有相關參數(shù)值的校準公式。因此，在由圖2所示的同一生產(chǎn)批次制造的其它(即新選擇的) 測試條中的可變性可以通過如下所示的調(diào)整而被減輕，其利用了如上 為該示例的生產(chǎn)批次的測試條確定的校準信息。示出了另外的(即 新選擇的)測試條#4的反射系數(shù)曲線。在測試條#4的最終反射系數(shù) 值中的變化可以被減輕，這是通過簡單地測量其中間的反射系數(shù)值 14，并且根據(jù)為該示例的生產(chǎn)批次的測試條所確定的校準公式，將其 最終的反射系數(shù)值F4向下調(diào)整一個正比于14和13之間的差值的量(從F4到F3)。圖3示出了第三生產(chǎn)批次的多個測試條的反射系數(shù)動力學曲線。 根據(jù)本發(fā)明，測量測試條的代表性樣品(示為#1和#2)的反射系數(shù)曲 線。從這兩個反射系數(shù)曲線(#1和#2)，產(chǎn)生該第三批次的材料的平 均的、中間的、預期的或"理想"的示范性測試條反射系數(shù)曲線(們)。 應當理解，優(yōu)選地用多于兩個的代表性測試條的反射系數(shù)曲線來產(chǎn)生 平均測試條反射系數(shù)曲線#3。最典型地，25個或更多個獨立測試條 的讀數(shù)(每一個都落入圖示的極值曲線#1和#2之間)用于產(chǎn)生平均 的測試條反射系數(shù)曲線#3。因此，為了圖示清楚，僅顯示了兩個測試 條反射系數(shù)曲線(#1和#2)。如所看到的，該第三批次材料的每一個測試條測遨的反射系數(shù)l出 線趨于在特征模式內(nèi)變化，從而產(chǎn)生曲線"族"。更具體地，在該特 定的例子中，最終的反射系數(shù)值F將趨于隨測量最小反射系數(shù)值的 時間U。而改變。例如，測試條#1的反射系數(shù)在吋間tmiw時達到最小值M,，并 且隨后在時間tf時到達其最終的數(shù)值F卜類似地，測試條#2的反射系數(shù)在其自身的特定時間Un2時達到其最小值M2。如所看到的, 平均測試條#3的反射系數(shù)也將因此在其自身的時間t幽3時達到其最小值M3。如所看到的，最終反射系數(shù)值F，或^和平均的最終反 射系數(shù)值F3之間的差值為達到tmilll或tmin2的時間的函數(shù)。因此，在第三批次的測試條的情況下(即在圖3中測量的批次), 最終反射系數(shù)值可以通過簡單地確定何時測量最小反射系數(shù)值以及應用正確的特定批次的校準公式和有關的參數(shù)值而準確地被調(diào)整。因此，圖3所示的同一生產(chǎn)批次的其它(即新選擇的)測試條中 的可變性可以通過如下所示的調(diào)整被減輕，使用如上為該示例的生產(chǎn) 批次的測試條所確定的校準信息。示出了另一(即新選擇的)測試條 #4的反射系數(shù)曲線。在測試條#4的最終反射系數(shù)值中的變化可以通 過簡單地測量到達其最小反射系數(shù)值M4的吋間t^4而被減輕。這樣， 根據(jù)為該示例的生產(chǎn)批次的測試條所確定的校準公式，將最終的反射 系數(shù)值F4向下調(diào)整一個正比于Un4和tmin3之間的時間差的量(從F4 到F3)。圖4示出了第四生產(chǎn)批次的多個測試條的反射系數(shù)動力學曲線。 根據(jù)本發(fā)明，觀lj量測試條的代表性樣品的反射系數(shù)曲線(被示為^和#2)。從這兩個反射系數(shù)曲線(#1禾,2)，產(chǎn)生一個平均的測試條反射 系數(shù)曲線(#3)。應當理解，優(yōu)選地用多于兩個的代表性測試條的反射 系數(shù)曲線產(chǎn)生平均測試條反射系數(shù)曲線#3。因此，為了圖示清楚，僅 顯示了兩個測試條反射系數(shù)曲線(#1和#2)。此外，為了圖示清楚， 圖示的反射系數(shù)曲線#1和#2為極值曲線(25個或更多個檢測樣品 的其它每一個反射系數(shù)曲線都落入其中)。如所看到的，該第四批次材料的每一個測試條的測量結(jié)果趨于在 特征模式內(nèi)變化，從而產(chǎn)生了曲線"族"。更具體地，在該特定的例 子中，最終的反射系數(shù)值F將趨于隨最小的反射系數(shù)值和測量這些 最小反射系數(shù)值的時間而改變。例如，領lj試條#1的反射系數(shù)在時間U,u時到達最小值M,,并 隨后在吋間tf時到達其最終的數(shù)值F,。類似地，測試條#2的反射系數(shù)在其自身的時間Un2時到達其自身的最小值M2。因此，平均的測試條#3的反射系數(shù)將在其自身的時間U^吋到達其最小值M3。 同樣也可以看到，當在中間時間段",間測量吋，所測量的測試條#1和#2的反射系數(shù)將趨于彼此改變最多。此外，t柳出現(xiàn)在tmin后的不同時間延遲Atn處。例如，I,出現(xiàn)在t柳(其中，在已經(jīng)測量了最小值M!后，在時間延遲At,時測量t中間)。類似地，12出現(xiàn)在t巾間(其中，在已經(jīng)測量最小值M2后，在時間延遲At2時測量t相)。因此，13將出現(xiàn)在t ',(其中, 在已經(jīng)測量最小值M3后，在吋間延遲At3時測量t中間)。因此，圖4所示的同一生產(chǎn)批次的其它(即新選擇的)測試條中的變化性可以通過如下所示的調(diào)整被減輕，使用如上為該示例的生產(chǎn)批次的測試條而確定的校準信息。圖示了另一(即新增加的)測試條#4的反射系數(shù)曲線。測試條#4的最終反射系數(shù)值的變化可以通過如下所示的調(diào)整最終反射系數(shù)值F4而被減輕，通過簡單地確定最小反射系數(shù)值和測量最小反射系數(shù)值的時間。例如，測試條糾將通過首先在吋間t，時測量中間的數(shù)值l4而 被校準(當其到達最小反射系數(shù)值M4后，在延遲At4時測量)。延遲仏 的長度取決于測量M4的時間tmi，lQ這樣，根據(jù)為該示例的生產(chǎn)批次的測試條確定的校準公式，將最終的反射系數(shù)值F4向下調(diào)整一個正比于中間的反射系數(shù)值14和13之間的差值的數(shù)量(從F4到F3)。總之，圖l-4中的每一個都示出了反射系數(shù)動力學的不同圖形， 每一個都是特定生產(chǎn)批次的測試條所特有的。在圖1所示批次的情況 下，僅僅通過對比最小檢測值M而調(diào)整最終反射系數(shù)值F。在圖2 所示批次的情況下，僅僅通過對比中間反射系數(shù)值I而調(diào)整最終的反 射系數(shù)值F(其中，在測量最小值M后，在預定吋間段At測量中間 數(shù)值1)。在圖3所示批次的情況下，僅僅通過將測量最小檢測值M 的時間U。進行比較而調(diào)整最終的反射系數(shù)值F。最后，在圖4所示 批次的情況下，通過將最小檢測值M和檢測這些最小檢測值M的 吋間t一進行比較而調(diào)整最終的反射系數(shù)值F。應當理解，在圖l-4中顯示的優(yōu)選校準的示例方面為示范性的， 而不是限定性的。例如，可用其它適當?shù)募夹g來確定或產(chǎn)生特定生產(chǎn) 批次的示例的或標稱的測試條示例的平均反射系數(shù)曲線(例如反射 系數(shù)曲線們)。因此，任何用于確定由特定生產(chǎn)批次的材料制造的平均測試條測 量示例的反射系數(shù)曲線(例如反射系數(shù)曲線M)的技術都包含在本發(fā) 明的范圍內(nèi)。因此，包括曲線擬合技術以及在許多不同的中間檢測點 測量每一測試條的技術的校準系統(tǒng)，都包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。在計算最好地代表了該特定生產(chǎn)批次測試條的"理想"或示例的典型測試 條的反射系數(shù)曲線#3吋，在這些不同的中間檢測點中的每一個所獲 得的數(shù)值可以具有相同的權重，或者它們可以具有彼此不同的權重。此外，表示出反射系數(shù)曲線#3并使用了中間值而不是平均值的系統(tǒng)也包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。所述方法可以是有益的，這是由于計算中 間值趨于更加有效地減少局外的影響。可選地，考慮了反射系數(shù)隨吋 間的變化率的方法也可以用于計算"理想的"或有代表性的示例性測試條的反射系數(shù)曲線#3。圖5示出了第五生產(chǎn)批次的多個測試條的反射系數(shù)動力學曲線。 根據(jù)本發(fā)明，觀懂測試條的代表性樣品的反射系數(shù)曲線(示為#1和 #2)。確定測試條#1在吋間tr時的最終反射系數(shù)值F1Q隨后，確定 低于給定的反射系數(shù)值R并高于線#1的面積(即,，"總信號")。(參 見標記為INTEG1的陰影區(qū)域)。類似地，確定測試條^2在吋間tr時 的最終反射系數(shù)值F2。隨后，確定低于最終的反射系數(shù)值R并高于 線#2的面積(即"總信號")。(參見標記為INTEG2的陰影區(qū)域)。從這兩個反射系數(shù)的總信號(INTEG 1和INTEG 2),產(chǎn)生圖5所 示那批測試條的平均測試條反射系總信號(INTEG 3)。應當理解，優(yōu) 選地用多于兩個代表性測試條的反射系數(shù)曲線產(chǎn)生平均測試條反射 系數(shù)曲線#3。這樣，為了圖示清楚，僅顯示了兩個測試條的反射系數(shù) 曲線(#1和#2)。注意在圖5所示的例子中，反射系數(shù)值R與最 終的反射系數(shù)值F3相同。這不需要在所有情況下都是真實的。實際 上，根據(jù)圖5所示的校準方法，可以使用其它的閾值反射系數(shù)值R。 與上述附圖類似，反射系數(shù)曲線#1和#2被示為端值。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，確定平均或理想測試條們在吋間tr 時的最終反射系數(shù)值F3P此外，也確定了低于最終的反射系數(shù)值F3 并高于線#3的面積(BIJ，"總信號")。(參見標記為INTEG 3的陰影 區(qū)域)。因此，在新選擇的第五批次測試條的情況下(即在圖5中所測 量的批次)，最終反射系數(shù)值可以通過簡單地確定特定新選擇的測試 條低于反射系數(shù)值R的總信號，并應用適當?shù)奶囟ㄅ蔚男使胶陀嘘P的參數(shù)值而精確地被調(diào)整。例如，在由圖5所示的生產(chǎn)批次制造的新測試條#4的情況下， 測試條#4可以通過簡單地測量面積INTEG 4并將INTEG 4的面積 和平均測試條的面積INTEG 3進行比較而被調(diào)整。這樣，根據(jù)為該 示例生產(chǎn)批次的測試條確定的校準公式，將最終的反射系數(shù)值F4向 下調(diào)整一個正比于INTEG 4和INTEG 3之間的尺寸差值的數(shù)量(從F4 到F3)。如在本文中所理解的，側(cè)向流動化驗測試條包括任何定量的側(cè)向 流動化驗系統(tǒng)，其基于流經(jīng)檢測區(qū)時捕獲產(chǎn)生信號的物質(zhì)。在優(yōu)選的 實施例中，當具有染色微粒的濃縮前部的樣品在其上通過時，可以在 測試條上的該位置測量反射系數(shù)值，并且其中，當捕獲微粒和清洗未 鍵合的微粒已經(jīng)發(fā)生后，在測試條上的該位置測量最終的反射系數(shù) 值。優(yōu)選地，在測試條上的相同位置測量所有的信號值。可以在幵始側(cè)向流動化驗反應后的預定時間段內(nèi)測量上述任何 --個最終的信號值F。根據(jù)本發(fā)明，當分析反射系數(shù)動力學曲線時，可以使用i接小信號 值。相比之下，當檢査熒光動力學曲線時，可以使用最大信號值。因 此，在目前的說明書和權利要求書中，術語"最大"可以代替術語"最 小"。此外，在目前的說明書和權利要求書中，術語"極值"可以被 用于包括"最大"或"最小"。同樣如本文所理解的那樣，"示例"測 試條(即在本文中指#3)可以包括計算的平均的、中間的或者平均的 測試條，其代表了來自一特定生產(chǎn)批次的測試條。同樣也根據(jù)本發(fā)明，可以通過讀取指示將使用哪個預定調(diào)整方法 的標識符，標識新選擇的特定測試條屬于該批次的生產(chǎn)批次的預定校 準方法。例如，來自圖1所示生產(chǎn)批次的測試條的一個測試條可以攜 帶有一個標識標簽，指明要使用的校準方法為在圖1中示出的那個， 并具有該測試條的生產(chǎn)批次所獨有的性能參數(shù)值，其中，所述標識標 簽可以被安裝到測試條本身上，或者被安裝到連接到測試條的組裝件 上。
權利要求
1、一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的方法，包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值；確定極值信號值；確定中間信號值，其中所述中間信號值是在測量所述極值信號值后的預定時間段內(nèi)測量的；確定最終信號值；以及基于所述中間信號值調(diào)整所述最終信號值。
2、 根據(jù)權利要求1的方法，其中所述信號值為反射系數(shù)值。
3、 根據(jù)權利要求1的方法，其中所述預定時間段是針對制造所 述測試條的生產(chǎn)批次而預先確定的。
4、 根據(jù)權利要求1的方法，其中基于所述中間信號值調(diào)整所述 最終信號值包括-預先確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述中間信號值和 所述最終信號值之間的關系；并且基于制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述中間信號值和所述 最終信號值之間預先確定的關系調(diào)整所述最終信號值。
5、 根據(jù)權利要求4的方法，其中預先確定制造所述測試條的所 述生產(chǎn)批次的多個測試條的所述中間信號值和所述最終信號值之間 的關系包括確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的所述中間 信號值和所述最終信號值之間的關系。
6、 根據(jù)權利要求1的方法，其中所述極值信號值為最小信號值。
7、 根據(jù)權利要求1的方法，還包括確定測量所述極值信號值的時間，其中，測量所述極值信號值后 的所述預定時間段為測量制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述極 值信號值的時間的函數(shù)。
8、 根據(jù)權利要求7的方法，其中基于所述中間信號值調(diào)整所述最終信號值包括預先確定測量同一生產(chǎn)批次的所述多個測試條的所述極值信號 值的時間和測量所述中間信號值的時間之間的關系；預先確定同一生產(chǎn)批次的所述多個測試條的所述中間信號值和所述最終信號值之間的關系；以及基于預先確定的制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述中間信 號值和所述最終信號值之間的關系調(diào)整所述最終信號值。
9、 根據(jù)權利要求8的方法，其中，預先確定測量同一生產(chǎn)批次 的所述多個測試條的所述極值信號值的時間和測量所述中間信號值 的時間之間的關系包括確定測量制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的所述 極值信號值的時間和測量所述中間信號值的時間之間的關系。
10、 根據(jù)權利要求8的方法，其中，預先確定同一生產(chǎn)批次的所 述多個測試條的所述中間信號值和所述最終信號值之間的關系包括-確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的所述中間 信號值和所述最終信號值之間的關系。
11、 一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的方 法，包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值； 確定極值信號值；確定測量所述極值信號值的吋間，確定最終信號值；以及基于測量所述極值信號值的時間調(diào)整所述最終信號值。
12、 根據(jù)權利要求11的方法，其中所述信號值為反射系數(shù)值。
13、 根據(jù)權利要求11的方法，其中，基于測量所述極值信號值 的時間調(diào)整所述最終信號值包括預先確定測量制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述極值信號 值的時間和所述最終信號值之間的關系；以及基于制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的預先確定的測量所述極 值信號值的吋間和所述最終信號值之間的關系調(diào)整所述最終信號值。
14、 根據(jù)權利要求13的方法，其中，預先確定測量制造所述測 試條的所述生產(chǎn)批次的所述極值信號值的時間和所述最終信號值之 間的關系包括-確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的測量所述 極值信號值的時間和所述最終信號值之間的關系。
15、 根據(jù)權利要求11的方法，其中，所述極值信號值為最小信 號值。
16、 一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的方 法，包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值，確定低于閾值的總信號；確定最終信號值；并且基于低于所述閾值的所述測量的總信號調(diào)整所述最終信號值。
17、 根據(jù)權利要求16的方法，其中所述信號值為反射系數(shù)值。
18、 根據(jù)權利要求17的方法，其中，基于低于所述閾值的所述測量的總信號調(diào)整所述最終信號值包括信號和所述最;信號值之間的關系:并且、、一一、、^基于制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的預先確定的低于所述閾 值的總信號之間的關系調(diào)整所述最終信號值。
19、 根據(jù)權利要求18的方法，其中預先確定制造所述測試條的 所述生產(chǎn)批次的低于所述閾值的總信號和所述最終信號值之間的關系包括確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的低于所述 閾值的總信號和所述最終信號值之間的關系。
20、 根據(jù)權利要求1的方法，還包括確定第二中間信號值，其中，所述第二中間信號值在測量所述極值信號值后的第二預定時間段內(nèi)測量；并且基于所述中間信號值和所述第二中間信號值調(diào)整所述最終信號值。
21、 根據(jù)權利要求20的方法，其中基于所述中間信號值和所述第二中間信號值調(diào)整所述最終信號值包括預先確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述中間信號值和所述最終信號值之間的關系；預先確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的所述第二中間信號 值和所述最終信號值之間的關系；并且基于制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的預先確定的所述中間信 號值和所述最終信號值以及所述第二中間信號值和所述最終信號值 之間的關系調(diào)整最終信號值。
22、 根據(jù)權利要求21的方法，其中預先確定制造所述測試條的 所述生產(chǎn)批次的所述中間信號值和所述最終信號值以及所述第二中間信號值和所述最終信號值之間的關系包括確定制造所述測試條的所述生產(chǎn)批次的示例測試條的所述中間 信號值和所述最終信號值以及所述第二中間信號值和所述最終信號 值之間的關系。
23、 一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的方法，包括標識用于所述測試條的預先確定的校準方法，其中，所述預先確定的校準方法對應于制造所述測試條的生產(chǎn)批次；當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值； 確定最終信號值；并且基于所述測試條的所述標識的預先選擇的校準方法調(diào)整所述最 終信號值。
24、 根據(jù)權利要求23的方法，其中所述測試條的預先確定的校 準方法包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值； 確定極值信號值；確定中間信號值，其中所述所述中間信號值在測量所述極值信號 值后的預定時間段內(nèi)測量； 確定最終的信號值；并且 基于所述中間信號值調(diào)整所述最終信號值。
25、 根據(jù)權利耍求23的方法，其中預先確定的用于所述測試條 的校準方法包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值；確定極值信號值；確定測量所述極值信號值的時間，確定最終信號值；并且基于測量所述極值信號值的時間調(diào)整最終信號值。
26、 根據(jù)權利要求23的方法，其中，預先確定的用于所述測試 條的校準方法包括當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信號值，確定低于閾值的總信號；確定最終的信號值；并且基于低于所述閾值的所述測量的總信號調(diào)整最終信號值。
27、 根據(jù)權利要求23的方法，其中，標識用于所述測試條的預 先確定的校準方法包括讀取指示所述預先確定的校準方法的標識符。
28、 根據(jù)權利要求27的方法，其中所述標識符設置在所述測試 條上。
29、 根據(jù)權利要求27的方法，其中所述標識符在連接到所述測 試條的組件內(nèi)接收。
30、 根據(jù)權利要求l的方法，其中所述信號值為電化學信號值。
31、 根據(jù)權利要求11的方法，其中所述信號值為電化學信號值。
32、 根據(jù)權利要求16的方法，其中所述信號值為電化學信號值。
33、 根據(jù)權利要求23的方法，其中所述信號值為電化學信號值。
34、 根據(jù)權利要求1的方法，其中所述信號值為直接光透射信號值。
35、 根據(jù)權利要求11的方法，其中所述信號值為直接光透射信 號值。
36、 根據(jù)權利要求16的方法，其中所述信號值為直接光透射信 號值。
37、 根據(jù)權利要求23的方法，其中所述信號值為直接光透射信 號值。
38、 一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的裝 置，包括標識符，包括用于測試條的預先確定的校準方法，其中，所述 預先確定的校準方法對應于制造所述測試條的生產(chǎn)批次；信號測量系統(tǒng)，用于在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時測量信 號值；以及校準系統(tǒng)，用于基于標識的用于所述測試條的預先選擇的校準方 法調(diào)整最終信號值。
39、 根據(jù)權利要求38的裝置，其中所述標識符設置在所述測試 條上。
40、 根據(jù)權利要求38的裝置，其中所述標識符設置在連接到所 述測試條的組件內(nèi)。
全文摘要
一種調(diào)整在側(cè)向流動化驗測試條上測量的最終信號值的方法，該方法包括識別測試條的預先確定的校準方法，其中，該預先確定的校準方法對應于制造測試條的生產(chǎn)批次；當在測試條上進行側(cè)向流動化驗反應時，測量信號值；確定最終信號值；并且基于識別的為該測試條預先選擇的校準方法而調(diào)整最終信號值。
文檔編號G01N33/53GK101238372SQ200680024435
公開日2008年8月6日 申請日期2006年7月3日 優(yōu)先權日2005年7月5日
發(fā)明者B·歐文 申請人:拜爾保健公司