專利名稱：可測試電子電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子電路，具體涉及一種包括多個(gè)時(shí)鐘域的可測 試集成電路。本發(fā)明還涉及一種用于對(duì)這種電子電路進(jìn)行測試的方法 以及用于對(duì)這種電子電路進(jìn)行測試的測試器裝置。
背景技術(shù)：
美國專利號(hào)6， 131， 173公開了一種包括多個(gè)時(shí)鐘域的可測試集 成電路。隨著當(dāng)今集成電路大小的增大，將集成電路的功能電路分成 不同的時(shí)鐘域己經(jīng)變得必要。在正常操作期間，這種集成電路使用多 個(gè)部分上或全部獨(dú)立的時(shí)鐘信號(hào)，以控制不同時(shí)鐘域內(nèi)的電路操作。 典型地，集成電路包括多個(gè)內(nèi)部時(shí)鐘電路，以便在內(nèi)部產(chǎn)生大部分的 不同時(shí)鐘信號(hào)。例如，典型的時(shí)鐘電路可以包括振蕩器電路或PLL電 路，以便產(chǎn)生例如鎖定到基準(zhǔn)信號(hào)的時(shí)鐘信號(hào)。不同時(shí)鐘域的使用使得對(duì)集成電路的測試更加困難。不同時(shí)鐘信 號(hào)(尤其是內(nèi)部產(chǎn)生的時(shí)鐘信號(hào))的同時(shí)操作可以導(dǎo)致不可預(yù)知的相 對(duì)時(shí)序，而這又會(huì)導(dǎo)致不可預(yù)知的測試結(jié)果。針對(duì)這個(gè)問題，已經(jīng)設(shè)計(jì)出多種解決方案。例如，US 6， 131， 173公開了如何使用時(shí)鐘域隔離電路將不同時(shí)鐘域的功能電路相互隔 離，以避免不可預(yù)知的測試結(jié)果。其他解決方案包括在整個(gè)電路中 使用測試模式下的特殊測試時(shí)鐘信號(hào)，或者使用不同時(shí)鐘域之間的特 殊接口，以實(shí)現(xiàn)可預(yù)知的時(shí)序等。這種解決方案實(shí)現(xiàn)了可預(yù)知的測試結(jié)果，但經(jīng)常是以測試中的電 路的相當(dāng)大的電路開銷為代價(jià)。這些解決方案使得難以執(zhí)行有區(qū)別的 "全速(at speed)"測試，該測試用于確定不同的電路部分是否能夠
使數(shù)據(jù)在各個(gè)不同的延遲間隔內(nèi)可用。 發(fā)明內(nèi)容其中，本發(fā)明的目的是減少對(duì)包括多個(gè)時(shí)鐘域的電子電路進(jìn)行測 試所需的電路開銷量。其中，本發(fā)明的目的是增大對(duì)測試中的電子電路中的時(shí)鐘信號(hào)的 控制度。在權(quán)利要求1中，請(qǐng)求保護(hù)根據(jù)本發(fā)明的集成電路。根據(jù)本發(fā)明， 當(dāng)集成電路在測試期間捕獲測試結(jié)果時(shí)，暫時(shí)將用于移入測試數(shù)據(jù)的 集成電路的外部端子重新用于向測試結(jié)果的時(shí)間捕獲提供時(shí)鐘信號(hào)。 典型地，在測試期間，各個(gè)外部端子用于向電路的部分提供時(shí)鐘信號(hào)， 該電路的部分通常由各個(gè)內(nèi)部時(shí)鐘電路來提供時(shí)鐘。當(dāng)移入測試數(shù)據(jù) 時(shí)，優(yōu)選地使用單一測試時(shí)鐘來向所有這些電路提供時(shí)鐘信號(hào)，以移入測試數(shù)據(jù)。按照這種方式，在測試的時(shí)序關(guān)鍵(timing critical)部 分期間，對(duì)不同時(shí)鐘信號(hào)的完全的外部控制是可用的，不需要大量附 加的外部端子來提供時(shí)鐘信號(hào)。


通過參考以下附圖，并使用非限制性示例，對(duì)本發(fā)明的這些和其 他目的以及有利方面進(jìn)行描述。 圖1示出了可測試電路。 圖2示出了時(shí)鐘切換電路。 圖3示出了測試系統(tǒng)。 圖4示出了測試信號(hào)。
具體實(shí)施方式
圖1示出了可測試電路，該可測試電路包括功能電路10、觸發(fā)器 組12a-c、邊界掃描單元13a-f、時(shí)鐘電路14a-c、第一時(shí)鐘切換電路 15a-c、測試控制電路16以及第二時(shí)鐘切換電路18。優(yōu)選地，可測試 電路的元件集成到集成電路中。在典型的實(shí)施例中，在正常(非測試) 操作期間，觸發(fā)器12a-c與功能電路10—同操作，功能電路10只包 括組合邏輯電路(沒有觸發(fā)器)。可以認(rèn)為可測試電路包括數(shù)據(jù)流部分、時(shí)鐘流部分以及測試控制 部分。數(shù)據(jù)流部分具有輸入端lla-c和輸出端19a-c (典型地都是集成 電路的外部輸入連接)。每個(gè)輸入端lla-c連接到各自的邊界掃描輸入 單元13a-c，而邊界掃描輸入單元13a-c又連接到各自的觸發(fā)器組12a-c 的輸入端。每個(gè)觸發(fā)器組12a-c的輸出端連接到各自的輸出邊界掃描 單元13d-f，而輸出邊界掃描單元13d-f又連接到各自的輸出端19a-c。在時(shí)鐘流部分，觸發(fā)器組12a-c從各自的第一時(shí)鐘切換電路15a-c 接收各自的時(shí)鐘信號(hào)。第一時(shí)鐘切換電路15a-c中的每一個(gè)的第一輸 入端都與各自的時(shí)鐘電路14a-c連接，且第二輸入端與第二時(shí)鐘切換 電路18連接。第二時(shí)鐘切換電路18的第一時(shí)鐘輸入端連接到測試接 口 17的測試時(shí)鐘輸入端17a，且第二時(shí)鐘輸入端連接到各自的輸入端 lla陽c。測試控制部分的測試接口 17 (典型地為集成電路的外部輸入連 接)連接到測試控制電路16。例如，該測試接口可以是傳統(tǒng)的掃描控 制接口，包括用于測試時(shí)鐘的TCK連接，用于測試輸入數(shù)據(jù)的TDI 連接、用于測試輸出數(shù)據(jù)的TDO連接、用于測試控制的TDS連接以 及用于復(fù)位的RST連接。測試控制電路16的輸出端連接到第一時(shí)鐘 切換電路15a-c的控制輸入端、連接到觸發(fā)器組12a-c的控制輸入端、 連接到第二時(shí)鐘切換電路18以及邊界掃描單元13a-f。在正常的功能操作中，將測試控制電路18切換到功能狀態(tài)，其 中測試控制電路18使觸發(fā)器組12a-c中的各個(gè)觸發(fā)器(未示出)能夠 向功能電路10提供數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，同時(shí)從功能電路10捕獲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。可 測試電路的這種類型的功能操作本身是已知的，因此不進(jìn)行詳細(xì)描述。在這個(gè)正常的功能操作期間，由各個(gè)時(shí)鐘電路14a-c來控制對(duì)各 個(gè)觸發(fā)器組12a-c的觸發(fā)器進(jìn)行捕獲和/或提供的時(shí)序。首先，每個(gè)時(shí) 鐘切換電路14a-c被設(shè)置為，可選擇地傳遞來自各個(gè)時(shí)鐘電路14a-c 的時(shí)鐘信號(hào)或來自第二時(shí)鐘切換電路18的時(shí)鐘信號(hào)。在正常功能操作期間，測試控制電路16向第一時(shí)鐘切換電路
15a-c提供控制信號(hào)，以把來自時(shí)鐘電路14a-c的時(shí)鐘信號(hào)傳遞到觸發(fā) 器組12a-c的觸發(fā)器。為此，例如每個(gè)第一時(shí)鐘切換電路15a-c都包含 多路復(fù)用電路，該電路的多路復(fù)用輸入端連接至?xí)r鐘電路15a-c和第 二時(shí)鐘切換電路1S，且該電路的控制輸入端連接到測試控制電路16。 作為示例，已經(jīng)示出外部輸入端lla-c和輸出端19a-c只連接到觸 發(fā)器組12a-c，因此在正常功能操作期間，特定的單個(gè)觸發(fā)器(未示出) 與外部輸出端19a-c和/或輸出端19a-c進(jìn)行數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的提供和/或捕 獲。然而，在正常功能操作期間，功能電路10還可以直接連接到外部 輸入端11a-c禾口/或輸出端19a-c，以接收和/或提供數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。為了清 楚起見，附圖中省略了這種類型的連接，但應(yīng)理解，這種類型的連接 是可以存在的。在測試接口的控制下，可測試電路可被切換到測試模式。在測試 模式下，測試控制電路18支持測試移位狀態(tài)和測試正常狀態(tài)。這些類 型的狀態(tài)，以及對(duì)這些狀態(tài)之間的切換的控制本身是已知的，因此不 進(jìn)行詳細(xì)描述。例如，在一個(gè)實(shí)施例中，測試控制電路18包括能夠采 取(assume)不同狀態(tài)并在每個(gè)狀態(tài)中提供適當(dāng)?shù)目刂菩盘?hào)的狀態(tài)機(jī)， 來自接口 17的控制信號(hào)控制狀態(tài)機(jī)是否以及何時(shí)從一個(gè)狀態(tài)切換到 另一個(gè)狀態(tài)。在測試移位狀態(tài)中，測試控制電路1S(見圖2)控制觸發(fā)器組12a-c 中的觸發(fā)器，因此觸發(fā)器組12a-c中的每一組都用作各自的串行移位 寄存器。觸發(fā)器組12a-c中的電路設(shè)置支持這種操作本身是己知的， 因此不進(jìn)行詳細(xì)描述。在移位狀態(tài)下，測試控制電路18控制第二時(shí)鐘 切換電路18向所有第一時(shí)鐘切換電路15a-c提供相同的測試時(shí)鐘信 號(hào)，并且測試控制電路18控制第一時(shí)鐘切換電路15a-c將這個(gè)測試時(shí) 鐘信號(hào)提供給組12a-c中的觸發(fā)器，以控制串行移位的時(shí)序。測試移位狀態(tài)用于在能夠把測試數(shù)據(jù)施加到功能電路IO之前， 把測試數(shù)據(jù)通過觸發(fā)器組12a-c從輸入端lla-c移入；以及把測試結(jié)果 通過觸發(fā)器組12a-c向輸出端19a-c移出。在實(shí)施例中，可以在觸發(fā)器 組12a-c和輸出端19a-c之間添加簽名計(jì)算電路(未示出)，因此只需 要輸出簽名數(shù)據(jù)。 在測試正常狀態(tài)下，測試控制電路18控制觸發(fā)器組12a-c中的觸 發(fā)器，因此觸發(fā)器并行地從功能電路10中捕獲數(shù)據(jù)信號(hào)。由時(shí)鐘信號(hào) 來控制捕獲時(shí)間。在測試正常狀態(tài)下，測試控制電路控制第二時(shí)鐘切 換電路18把來自輸入端lla-c的信號(hào)提供給第一時(shí)鐘切換電路15a-c， 而且測試控制電路18控制第一時(shí)鐘切換電路15a-c將這些信號(hào)中的各 個(gè)信號(hào)提供給各個(gè)組12a-c中的觸發(fā)器，以控制捕獲時(shí)間。圖2示出了第二時(shí)鐘切換電路18的實(shí)施例。在這個(gè)實(shí)施例中， 第二時(shí)鐘切換電路18包括多個(gè)多路復(fù)用電路20a-c，多路復(fù)用電路 20a-c的第一多路復(fù)用輸入端連接到連接17a以接收測試時(shí)鐘信號(hào)，而 第二多路復(fù)用輸入端連接到輸入端lla-c。多路復(fù)用電路20a-c的輸出 端28a-d連接到各個(gè)第一時(shí)鐘切換電路(未示出)的輸入端。多路復(fù) 用電路20a-c的公共控制輸入端22連接到測試控制電路(未示出)。 在測試移位狀態(tài)下，測試控制電路控制多路復(fù)用電路20a-c把來自時(shí) 鐘輸入端17a的測試時(shí)鐘信號(hào)傳遞到第一多路復(fù)用電路。在測試正常 狀態(tài)下，測試控制電路控制多路復(fù)用電路20a-c把來自輸入端lla-c 的信號(hào)傳遞到第一多路復(fù)用電路。圖3示出了典型的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括測試中的電路30、測試 信號(hào)提供設(shè)備32、以及測試信號(hào)選擇設(shè)備34。測試中的電路是例如圖 l中所示的可測試電路。在操作中，測試中的電路30的輸入端、輸出 端和測試接口都連接到測試信號(hào)提供設(shè)備32。測試信號(hào)提供設(shè)備32 向測試中的電路30提供測試數(shù)據(jù)和控制信號(hào)，并收回測試結(jié)果(例如， 從功能電路10中捕獲的數(shù)據(jù)或從該數(shù)據(jù)中計(jì)算出的簽名)，對(duì)該測試 結(jié)果進(jìn)行估計(jì)，以確定該電路是否包含故障。在測試之前，測試信號(hào) 選擇設(shè)備34接收對(duì)測試中的電路的描述，并產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)圖樣 (pattern)的集合，從而在測試結(jié)果中示出相關(guān)錯(cuò)誤的特定分類。測 試信號(hào)選擇設(shè)備34向測試信號(hào)提供設(shè)備提供關(guān)于所選擇的圖樣的信 息，以及在無錯(cuò)電路的情況下產(chǎn)生的期望的測試結(jié)果。測試信號(hào)提供設(shè)備32將測試圖樣提供給輸入端lla-c，并向測試 接口 17提供控制信號(hào)，以使觸發(fā)器組12a-c將測試圖樣通過觸發(fā)器進(jìn) 行移位。接下來，測試信號(hào)提供設(shè)備32提供控制信號(hào)，以便將測試控 制電路切換到測試正常狀態(tài)。此時(shí)，使第二時(shí)鐘切換電路18將信號(hào)從輸入端lla-c傳遞到觸發(fā)器組12a-c以控制時(shí)鐘。按照這種方式，在捕 獲期間，對(duì)測試信號(hào)提供設(shè)備32進(jìn)行完全的時(shí)序控制。測試信號(hào)提供 設(shè)備32在輸入端lla-c處提供具有根據(jù)所需測試而選擇的時(shí)序的時(shí)鐘 脈沖，以確定功能電路的特定部分是否以所需要的速度作出反應(yīng)。圖4示出了測試期間所使用的信號(hào)。示出了三個(gè)時(shí)間間隔40a、 42、 40b。在第一和第三時(shí)間間隔40a、 b期間，測試控制電路處于測 試移位狀態(tài)，而在中間的捕獲間隔42期間，測試控制電路處于測試正 常狀態(tài)。示出了組中的各個(gè)時(shí)鐘信號(hào)44a-c。這些時(shí)鐘信號(hào)在集成電路 內(nèi)部產(chǎn)生，部分來自內(nèi)部信號(hào)，部分來自外部信號(hào)。在第一和第三時(shí) 間間隔40a、b期間，當(dāng)測試控制電路處于移位狀態(tài)時(shí)，由一個(gè)測試時(shí) 鐘信號(hào)來定義時(shí)鐘信號(hào)44a-c的時(shí)鐘脈沖，因此時(shí)鐘信號(hào)44a-c實(shí)質(zhì)上 是相同的。在測試以外的正常功能操作期間，這些時(shí)鐘信號(hào)當(dāng)然可以 不同，因?yàn)樵谡９δ懿僮髌陂g，這些時(shí)鐘信號(hào)由不同的時(shí)鐘電路 15a-c所提供。在測試中的捕獲間隔42期間，當(dāng)測試控制電路處于測試正常狀 態(tài)時(shí)，從輸入端11a-c處的信號(hào)獲得時(shí)鐘信號(hào)44a-c，因此每個(gè)時(shí)鐘信 號(hào)44a-c可以由測試信號(hào)提供設(shè)備單獨(dú)定義。輸入信號(hào)46a-c示出了輸 入端lla-c處的信號(hào)的示例。在第一和第三時(shí)間間隔40a、 b期間，輸 入信號(hào)46a-c包括沒有傳遞給時(shí)鐘信號(hào)44a-c的測試數(shù)據(jù)(由陰影線表 示)。在捕獲間隔42中，輸入信號(hào)46a-c包括傳遞給時(shí)鐘信號(hào)44a、 c 的時(shí)鐘脈沖47、 48。輸入信號(hào)46a-c中的不同信號(hào)可以相互不同或可 以由測試信號(hào)提供設(shè)備32控制下的時(shí)鐘脈沖進(jìn)行不同的定時(shí)，因此不 同的時(shí)鐘信號(hào)44a-c還可以在捕獲間隔42中相互不同。在圖4的示例中，向每個(gè)觸發(fā)器組12a-c施加兩個(gè)時(shí)鐘脈沖47、 48。脈沖48使相應(yīng)組中的觸發(fā)器捕獲數(shù)據(jù)。第一脈沖47可以用于在 功能電路10的輸入端處產(chǎn)生信號(hào)轉(zhuǎn)變。在典型的電路中，可以將觸發(fā) 器對(duì)用于這個(gè)目的，其中該觸發(fā)器對(duì)中的第一觸發(fā)器的輸入端具有與 該觸發(fā)器對(duì)中的第二觸發(fā)器的輸出端的功能連接。在測試移位期間， 將相互相反的測試數(shù)據(jù)值加載到該觸發(fā)器對(duì)的觸發(fā)器中。最初(在第一脈沖47之前)，第一觸發(fā)器向功能電路10提供第一測試數(shù)據(jù)值。響 應(yīng)第一時(shí)鐘脈沖47，包括該觸發(fā)器對(duì)中的第一觸發(fā)器的觸發(fā)器加載數(shù) 據(jù)。由此，該觸發(fā)器對(duì)中的第一觸發(fā)器從第二觸發(fā)器加載數(shù)據(jù)，這使 得從第一觸發(fā)器到功能電路的輸出信號(hào)改變了數(shù)值。在某個(gè)時(shí)間延遲 之后，第二脈沖48使觸發(fā)器再一次捕獲數(shù)據(jù)，因此另一個(gè)觸發(fā)器將從 功能電路10中捕獲結(jié)果信號(hào)，此結(jié)果信號(hào)受到來自該觸發(fā)器對(duì)中的第 一觸發(fā)器的信號(hào)的影響。典型地，所捕獲的結(jié)果信號(hào)將通過輸出端 19a-c移出以進(jìn)行檢查。檢查所捕獲的結(jié)果信號(hào)，以確定該功能電路是 否在由時(shí)鐘脈沖定義的時(shí)間間隔中正確地作出反應(yīng)。可以理解的是，這只是關(guān)于如果使用外部時(shí)鐘脈沖的一個(gè)示例。 在其他示例中，可以執(zhí)行包括更多定時(shí)捕獲操作的更復(fù)雜的測試。在 這種情況下，在測試正常模式期間，可以從外部端子施加多于兩個(gè)時(shí) 鐘脈沖47、 48的時(shí)鐘脈沖。可以使用其他技術(shù)來代替通過加載相互相 反的測試數(shù)據(jù)來建立轉(zhuǎn)變，諸如在測試正常模式下使用處于反復(fù)電路 (toggle)配置的觸發(fā)器，或者使用由觸發(fā)器輸出端處的第一時(shí)鐘脈 沖47所激活的反相電路。按照這種方式，可以使用任意期望的時(shí)序關(guān)系在每個(gè)觸發(fā)器組中 捕獲數(shù)據(jù)。例如，在圖4的示例中，可以將不同的觸發(fā)器組12a-c設(shè) 置為在相互不同的時(shí)鐘頻率上操作，比如10MHz、16.6MHz和50MHz， 以及可以將測試信號(hào)提供設(shè)備設(shè)置為以與這些頻率相對(duì)應(yīng)的時(shí)間距 離、或者以最大或最小的可接受時(shí)間距離，將時(shí)鐘脈沖提供給輸入端 lla-c。雖然已經(jīng)根據(jù)特定實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，應(yīng)理解，本發(fā)明 并不局限于這個(gè)實(shí)施例。例如，雖然已經(jīng)結(jié)合邊界掃描測試電路對(duì)本 發(fā)明進(jìn)行了描述，應(yīng)理解的是，本發(fā)明可以與邊界掃描分開應(yīng)用。作 為另一個(gè)示例，雖然已經(jīng)描述使用輸入端lla-c來臨時(shí)提供時(shí)鐘信號(hào)， 應(yīng)理解的是，在正常功能操作期間可以用作輸入端和輸出端的一個(gè)或 更多個(gè)端子可以在測試期間用于臨時(shí)提供時(shí)鐘信號(hào)。使用一些附加的 三態(tài)電路，甚至可以將在功能操作期間只作為輸出端的端子29a-c用 于提供時(shí)鐘信號(hào)。關(guān)鍵在于，用于這個(gè)目的的端子，無論其正常功能 是什么，在捕獲期間，當(dāng)電路暫時(shí)不處于掃描移位狀態(tài)時(shí)，這些端子 都不需要接收或提供其他信號(hào)。此外，雖然已經(jīng)示出了三個(gè)觸發(fā)器組12a-c、三個(gè)輸入端lla-c以及三個(gè)輸出端19a-c，應(yīng)理解的是，可以使 用任意數(shù)量的觸發(fā)器12a-c、輸入端lla-c以及輸出端19a-c?？梢蕴?供來自任意輸入端或其他端子的時(shí)鐘信號(hào)，來代替來自任意時(shí)鐘電路 14a-c的時(shí)鐘信號(hào)，用于向特定觸發(fā)器組12a-c提供數(shù)據(jù)的輸入端lla-c 不必向相同的組提供時(shí)鐘信號(hào)。雖然把時(shí)鐘電路14a-c作為獨(dú)立單元示出，應(yīng)理解的是，在時(shí)鐘 電路之間可能存在聯(lián)系，例如，由于把其中的一些或全部設(shè)置為鎖定 到公共時(shí)鐘源。此外，雖然所有時(shí)鐘電路優(yōu)選地集成于相同的集成電 路中，應(yīng)理解的是，備選地，可以通過外部端子將一個(gè)或更多個(gè)時(shí)鐘 電路連接到集成電路。此外，雖然示出了實(shí)施例，其中每個(gè)輸入端1 la-c 都連接到各個(gè)預(yù)定觸發(fā)器組12a-c的時(shí)鐘輸入端，應(yīng)理解的是，備選 地，可以提供切換電路，從而把輸入端lla-c連接到可選的觸發(fā)器組 12a-c，觸發(fā)器組12a-c由測試控制電路16來選擇，例如根據(jù)測試控制 電路16所接收到的控制命令來選擇。此外，雖然示出來自第二時(shí)鐘切換電路18的時(shí)鐘信號(hào)作為針對(duì) 來自各個(gè)時(shí)鐘電路14a-c的時(shí)鐘信號(hào)的代替，應(yīng)理解的是，不需要這 樣的一對(duì)一關(guān)系。在一個(gè)實(shí)施例中，可以由來自輸入端lla-c的兩個(gè) 或更多個(gè)不同的時(shí)鐘信號(hào)代替來自特定時(shí)鐘電路15a-c的時(shí)鐘信號(hào)， 這些時(shí)鐘信號(hào)被施加到不同的觸發(fā)器子組。在另一個(gè)實(shí)施例中，來自 多個(gè)時(shí)鐘電路14a-c的時(shí)鐘信號(hào)，例如來自該時(shí)鐘電路14a-c中兩個(gè)時(shí) 鐘電路的時(shí)鐘信號(hào)，可以全部由來自輸入端lla-c之一的相同時(shí)鐘信 號(hào)代替。在測試正常狀態(tài)下，使用不同的輸入端lla-c向電路的不同 部分提供不同的時(shí)鐘信號(hào)具有如下優(yōu)點(diǎn)可以并行地對(duì)多個(gè)電路部分 進(jìn)行測試，其中每個(gè)電路部分都具有其自有的時(shí)序，但是可以使用公 共時(shí)鐘信號(hào)對(duì)需要相同時(shí)序的部分進(jìn)行測試。即使不同的觸發(fā)器組 12a-c在正常功能操作期間接收相同的時(shí)鐘信號(hào)，使用來自不同輸入端 lla-c的時(shí)鐘信號(hào)來測試這些組也是有利的，因?yàn)檫@可以用于示出附加
的錯(cuò)誤。此外，雖然已經(jīng)示出了電路，其中將一個(gè)測試時(shí)鐘信號(hào)用于控制所有觸發(fā)器組12a-c中的移位，應(yīng)理解的是，備選地，可以使用多個(gè) 不同的測試時(shí)鐘信號(hào)來控制組12a-c的不同子組。在捕獲期間，這些 測試時(shí)鐘信號(hào)由來自輸入端lla-c的信號(hào)所代替，從而可以使用更多 不同的時(shí)鐘信號(hào)，或使用具有更加自由的可選時(shí)序?qū)傩缘臅r(shí)鐘信號(hào)。在現(xiàn)有技術(shù)中，給定測試中的電路的電路結(jié)構(gòu)規(guī)范，已經(jīng)開發(fā)出 強(qiáng)有力的方法來選擇測試圖樣，該測試圖樣能夠有效地示出電路的故 障。測試信號(hào)選擇設(shè)備34可以被設(shè)置為提供這種現(xiàn)有技術(shù)的方法。然 而，在這種情況下可能產(chǎn)生問題，因?yàn)檫@些方法沒有考慮在測試期間 端子可以暫時(shí)變成時(shí)鐘端的事實(shí)。處理這種問題的一個(gè)方法是提供 具有虛電路結(jié)構(gòu)規(guī)范的測試信號(hào)選擇設(shè)備34，該測試信號(hào)選擇設(shè)備34 具有針對(duì)時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)的單獨(dú)的輸入端。隨后，通過"合并"數(shù)據(jù) 和時(shí)鐘端，即通過選擇只包含數(shù)據(jù)端信號(hào)的測試圖樣，并在虛電路處 于測試正常模式的幾乎整個(gè)時(shí)間間隔內(nèi)，從虛電路的測試圖樣中拷貝 數(shù)據(jù)端的信號(hào)，從而把這個(gè)虛電路的測試圖樣編譯為實(shí)際電路的測試 圖樣。在虛電路的測試正常模式期間，把來自測試圖樣的時(shí)鐘信號(hào)拷 貝到實(shí)際電路的數(shù)據(jù)端的測試圖樣。在實(shí)施例中，在用于提供時(shí)鐘信號(hào)的外部數(shù)據(jù)端lla-c與從這些 數(shù)據(jù)端接收信號(hào)的內(nèi)部電路之間提供了保持電路。保持電路連接到測 試控制電路，以接收控制信號(hào)。當(dāng)該電路進(jìn)入測試正常狀態(tài)時(shí)，測試 控制電路控制這些保持電路向內(nèi)部電路提供在進(jìn)入測試正常狀態(tài)之前 所接收到的最后的輸入信號(hào)。當(dāng)該電路離開測試正常狀態(tài)時(shí)，測試控 制電路控制保持電路恢復(fù)對(duì)其輸入信號(hào)的傳遞。按照這種方式，在測 試正常狀態(tài)下施加到端子的時(shí)鐘信號(hào)不會(huì)通過正常電路路徑(path) 到達(dá)內(nèi)部電路。使用針對(duì)測試時(shí)鐘脈沖的數(shù)據(jù)端的缺點(diǎn)是當(dāng)數(shù)據(jù)端不可用于在測試正常模式下施加測試信號(hào)時(shí)，測試覆蓋范圍可能減小。優(yōu)選地， 提供支持時(shí)鐘測試模式和數(shù)據(jù)測試模式的電路。在實(shí)施例中，測試控 制電路被設(shè)置為響應(yīng)測試命令以切換到時(shí)鐘測試模式或數(shù)據(jù)測試模
式。在時(shí)鐘測試模式下，如前所述，測試控制電路使時(shí)鐘切換信號(hào)把來自端子lla-c的時(shí)鐘信號(hào)提供給測試正常模式下的時(shí)鐘輸入端。優(yōu)選地，如前所述，控制電路控制保持電路以將數(shù)據(jù)保持在該模式下。 在數(shù)據(jù)測試模式下，測試控制電路使時(shí)鐘切換信號(hào)把測試時(shí)鐘信號(hào)提 供給測試正常模式下的時(shí)鐘輸入端。如果使用保持電路，則當(dāng)處于數(shù) 據(jù)測試模式下時(shí)，控制電路控制這些保持電路以在測試正常模式下傳 遞數(shù)據(jù)。按照這種方式，可以在測試控制電路的控制下執(zhí)行正常測試 以及使用外部信號(hào)的測試。
權(quán)利要求
1.一種可測試電子電路，包括-多個(gè)數(shù)據(jù)端(11a-c)；-功能電路(10)；-多個(gè)觸發(fā)器組(12a-c)，連接到數(shù)據(jù)端(11a-c)以及功能電路(10)，每個(gè)觸發(fā)器組具有用于向該組(12a-c)的觸發(fā)器提供時(shí)鐘的時(shí)鐘輸入端，每個(gè)組可在移位配置和功能配置之間進(jìn)行切換，以從數(shù)據(jù)端(11a-c)串行地移入測試數(shù)據(jù)，而且并行地用于分別將信號(hào)提供給功能電路(10)和/或分別從功能電路(10)接收信號(hào)；-測試控制電路(16)，可以在功能模式、測試移位模式和測試正常模式之間切換，所述測試控制電路(11)連接到觸發(fā)器組(12a-c)，以在功能模式下將所述組切換到功能配置，以及在測試移位模式下將所述組切換到移位配置；-時(shí)鐘多路復(fù)用電路(15a-c、18)，具有連接到數(shù)據(jù)端(11a-c)的輸入端，以及連接到組(12a-c)的時(shí)鐘輸入端的輸出端，根據(jù)測試控制電路(16)所采取的模式，連接所述測試控制電路(16)以控制時(shí)鐘多路復(fù)用電路(15a-c、18)，時(shí)鐘多路復(fù)用電路(15a-c、18)被設(shè)置為在測試正常模式下，在各個(gè)組(12a-c)的時(shí)鐘輸入端處，暫時(shí)代入來自各個(gè)數(shù)據(jù)端(11a-c)的時(shí)鐘信號(hào)。
2. 如權(quán)利要求1所述的可測試電子電路，包括連接到時(shí)鐘多路復(fù) 用電路(15a-c、 18)的測試時(shí)鐘端(17a)，時(shí)鐘多路復(fù)用電路(15a-c、 18)被設(shè)置為在測試移位模式下，把來自測試時(shí)鐘端(17a)的測試 時(shí)鐘信號(hào)提供給組(12a-c)的時(shí)鐘輸入端。
3. 如權(quán)利要求2所述的可測試電子電路，包括連接到時(shí)鐘多路復(fù) 用電路(15a-c、 18)的多個(gè)時(shí)鐘電路(14a-c)，時(shí)鐘多路復(fù)用電路(15a-c、 18)被設(shè)置為在功能模式下，把來自各個(gè)時(shí)鐘電路(14a-c)的時(shí)鐘 信號(hào)提供給各個(gè)組(12a-c)的時(shí)鐘輸入端。
4. 一種測試電子電路的方法，所述方法包括 -將電子電路切換到測試模式；-通過電子電路的多個(gè)數(shù)據(jù)端(lla-c)移入測試數(shù)據(jù)；-通過多個(gè)觸發(fā)器組(12a-c)，串行地將測試數(shù)據(jù)進(jìn)行移位；-把來自測試時(shí)鐘的測試時(shí)鐘信號(hào)路由到觸發(fā)器組(12a-c)的時(shí)序控制輸入端，以控制所述移位的時(shí)序；-在測試正常時(shí)間間隔期間，改變時(shí)鐘路由，以將各個(gè)數(shù)據(jù)端 (lla-c)連接到各個(gè)組(12a-c)的時(shí)序控制輸入端；-在時(shí)鐘路由已經(jīng)改變時(shí)，向數(shù)據(jù)端(lla-c)提供時(shí)鐘脈沖； -使用在來自數(shù)據(jù)端的時(shí)鐘脈沖的時(shí)序的控制下的時(shí)序，捕獲觸發(fā)器組(12a-c)中的測試結(jié)果。
5. 如權(quán)利要求4所述的測試方法，其中，當(dāng)時(shí)鐘路由已經(jīng)改變時(shí)， 數(shù)據(jù)端(lla-c)中至少兩個(gè)端子上的時(shí)鐘脈沖具有互不相同的時(shí)序圖 樣。
6. 如權(quán)利要求4所述的測試方法，其中，-將第一測試數(shù)據(jù)值從組(12a-c)移位到第一觸發(fā)器，將不同于 第一測試數(shù)據(jù)值的第二測試數(shù)據(jù)至從組(12a-c)移位到第二觸發(fā)器；-當(dāng)時(shí)鐘路由已經(jīng)改變時(shí)，將至少第一和第二時(shí)鐘脈沖施加到數(shù) 據(jù)端(lla-c)中至少一個(gè)，第一時(shí)鐘脈沖時(shí)序?qū)⒌诙y試數(shù)據(jù)值從第 二觸發(fā)器拷貝到第一觸發(fā)器，而且第二時(shí)鐘脈沖時(shí)序?qū)⒐δ茈娐穼?duì)第 一觸發(fā)器的輸出信號(hào)的響應(yīng)加載到另一個(gè)觸發(fā)器中。
7. 如權(quán)利要求4所述的測試方法，其中，所述電子電路被設(shè)置為， 在正常功能操作期間，將時(shí)鐘信號(hào)從各個(gè)時(shí)鐘電路(14a-c)路由到各 個(gè)組(12a-c)，所述方法包括改變時(shí)鐘路由，以在進(jìn)入測試移位模式 之前將測試時(shí)鐘信號(hào)饋入所述組。 、
8. 如權(quán)利要求7所述的測試方法，其中，在測試移位模式下，組 (12a-c)中的每一個(gè)接收相同的測試時(shí)鐘信號(hào)。
9. 一種包括如權(quán)利要求1所述的電子電路以及與該電子電路(30) 的數(shù)據(jù)端(lla-c)相連的測試圖樣提供設(shè)備(32)的測試系統(tǒng)，其中， 測試提供設(shè)備(32)被編程為當(dāng)測試控制電路(16)已經(jīng)進(jìn)入捕獲 模式時(shí)，向數(shù)據(jù)端(lla-c)提供具有已編程的時(shí)序圖樣的脈沖。
10.—種測試器(32)，包括用于向測試中的電子電路(30)提供 測試數(shù)據(jù)的輸出端，所述測試器(32)被設(shè)置為向數(shù)據(jù)端(lla-c)提 供可編程地定義的測試數(shù)據(jù)，而且在使測試中的電子電路(30)進(jìn)入 用于捕獲測試結(jié)果圖樣的測試正常狀態(tài)后，向數(shù)據(jù)端(lla-c)提供具 有可編程地定義的時(shí)序圖樣的各個(gè)時(shí)鐘脈沖。
全文摘要
一種電子電路，包括連接到電路的數(shù)據(jù)端(11a-c)、以及連接到功能電路(10)的觸發(fā)器組(12a-c)。每一個(gè)組(12a-c)都具有用于對(duì)該組中的觸發(fā)器提供時(shí)鐘的時(shí)鐘輸入端。每一個(gè)組(12a-c)都可以在移位配置和功能配置之間切換，以便串行地從數(shù)據(jù)端移入測試數(shù)據(jù)，而且并行地用于分別將信號(hào)提供給功能電路(10)和/或分別從功能電路(10)接收信號(hào)。測試控制電路(16)可以在功能模式、測試移位模式和測試正常模式之間切換。測試控制電路(16)連接到觸發(fā)器組(12a-c)，以在功能模式下將該組切換到功能配置，以及在測試移位模式下將該組切換到移位配置。
文檔編號(hào)G01R31/317GK101163978SQ200680003809
公開日2008年4月16日 申請(qǐng)日期2006年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月1日
發(fā)明者埃爾韋·弗勒里, 讓-馬克·延努 申請(qǐng)人:Nxp股份有限公司