專利名稱：電路板性能測試輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于電路板測試的輔助裝置，尤其是一種包括固定架和測試架，測試架包括底座，底座上設(shè)置支撐支柱和與被測電路對應(yīng)的探針，探針上連有數(shù)據(jù)線的裝置。
背景技術(shù)：
制造電路板后，為保證其質(zhì)量，通常都要通過探針連接到檢測設(shè)備上對其進(jìn)行測試。對于簡單的電路板，常用的一種方式是手工將一個(gè)個(gè)探針連接到電路板上來測試，這種方式效率較低，對測試點(diǎn)與測試設(shè)備的連接麻煩。而對于較復(fù)雜的電路板，一般生產(chǎn)電路板的工廠都采用相關(guān)的裝置進(jìn)行測試，如專利號(hào)為“CN97122407.2”中的檢測電路板的設(shè)備，以提高檢測效果。但是該測試電路板的裝置還有較多不足之處，它采用了柵板接觸結(jié)構(gòu)，無法保證需要測試的接觸點(diǎn)的接觸位置，檢測特別大或者特別小的焊接點(diǎn)容易產(chǎn)生誤差，并且沒辦法保證被測試電路板和測試板能保持良好的接觸，尤其是在電路板表面制造不是非常精細(xì)的情況下容易接觸不良。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種電路板性能測試輔助裝置，操作簡便，可快速將探針與被測電路板測試連接點(diǎn)連接，并保證在測試過程中探針和測試點(diǎn)接觸良好。
為達(dá)到以上目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案所述電路板性能測試輔助裝置包括電路板固定架和測試架，所述測試架包括底座，底座上設(shè)置有若干電路板定位柱和與電路板測試連接點(diǎn)對應(yīng)的探針，所述探針連接有用以和測試裝置連接的數(shù)據(jù)線接口，測試架中部設(shè)有探針固定板。
所述固定架包括底座、操作桿、連桿以及前端設(shè)有壓塊的L型壓桿，L形壓桿的底端及連桿一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接在底座上，操作桿的中前部與連桿另一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接，操作桿的前端則活絡(luò)轉(zhuǎn)接在L型壓桿的轉(zhuǎn)角上。
作為該實(shí)用新型的一種優(yōu)選方案，在對于帶安裝孔的電路板進(jìn)行測試時(shí)，采用頂端設(shè)有與電路板安裝孔相匹配的支柱的定位柱，而對于無定位孔的電路板進(jìn)行測試時(shí)采用頂端設(shè)有用于限定電路板四角位置的定位槽的定位柱。
改進(jìn)的，所述底座上的探針固定板上設(shè)有網(wǎng)格狀排列的探針插孔，用以調(diào)整探針位置，以增加其通用性，盡可能滿足更多類型電路板的性能測試。
本實(shí)用新型由于采用了上述技術(shù)方案，測試時(shí)，先將電路板在測試架上定位，然后壓下操作桿，通過L形壓桿上的壓塊壓牢電路板，保證探針與電路板接觸良好，壓桿上的壓塊和電路板對應(yīng)，檢測時(shí)不會(huì)損傷電路板上元件，測試完后，只要拉起操作桿，取出電路板即可。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，測試連接快速穩(wěn)定可靠，提高了測試效率。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)地說明

圖1為電路板性能測試輔助裝置的立體圖。
圖2為測試架的主視圖。
圖3為支撐柱上設(shè)置定位槽的測試架立體圖。
具體實(shí)施方式
如圖1、2、3所示，本實(shí)用新型包括固定架1和測試架2，測試架2包括底座21，底座21上設(shè)置有若干電路板支撐柱22和與電路板5測試連接點(diǎn)對應(yīng)的探針3，探針3連接有用以和測試裝置連接的數(shù)據(jù)線接口4，測試架2中部設(shè)有探針測試板23。所述固定架1包括底座10、操作桿11、連桿14以及前端設(shè)有壓塊13的L型壓桿12，L形壓桿12的底端及連桿14一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接在底座10上，操作桿11的中前部與連桿12另一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接，操作桿11的前端則活絡(luò)轉(zhuǎn)接在L型壓桿12的轉(zhuǎn)角上。支撐柱22的設(shè)置按需要設(shè)置，對于有定位孔的電路板5選用設(shè)有定位柱51的支撐柱22，對于沒有定位孔的電路板5選用設(shè)有定位槽52的支撐柱22。如圖3所示，在測試架2中間的探針固定板23上可設(shè)有眾多網(wǎng)格狀排布的探針孔24，在可測試的不同電路板或者相同電路板的不同點(diǎn)時(shí)，可以直接在對應(yīng)待測點(diǎn)的孔內(nèi)插入探針3來轉(zhuǎn)化，既保證測試位置準(zhǔn)確，又滿足不同電路板的不同情況。
如圖1所示，測試時(shí)按下固定架的操作桿11，操作桿11帶動(dòng)固定架壓桿12，操作桿11隨著連桿14運(yùn)動(dòng)，固定架壓桿12在操作桿11的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)，帶動(dòng)壓塊13壓在電路板5上。壓塊13是和電路板相配的軟性壓塊，因此接觸面不會(huì)壓到易損器件，，不會(huì)對電路板5造成傷害。在固定架1的作用下，使得探針3和電路板5上的待測點(diǎn)良好接觸，保證測試的順利進(jìn)行。
權(quán)利要求1.電路板性能測試輔助裝置，其特征在于包括固定架(1)和測試架(2)，測試架(2)包括底座(21)，底座(21)上設(shè)置有若干電路板支撐柱(22)，中間層(23)以及與電路板(5)待測試點(diǎn)對應(yīng)的探針(3)，探針(3)連接有用以和測試裝置連接的數(shù)據(jù)線接口(4)，測試架中部設(shè)有探針固定板(23)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板性能測試輔助裝置，其特征在于所述固定架(1)包括底座(10)、操作桿(11)、連桿(14)以及前端設(shè)有壓塊(13)的L型壓桿(12)，L形壓桿(12)的底端及連桿(14)一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接在底座(10)上，操作桿(11)的中前部與連桿(12)另一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接，操作桿(11)的前端則活絡(luò)轉(zhuǎn)接在L型壓桿(12)的轉(zhuǎn)角上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板性能測試輔助裝置，其特征在于所述電路板支撐柱(22)頂端設(shè)有與電路板定位孔相匹配的定位柱(51)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板性能測試輔助裝置，其特征在于所述電路板支撐柱(22)頂端設(shè)有用于限定電路板四角位置的定位槽(52)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板性能測試輔助裝置，其特征在于所述探針固定板上設(shè)有網(wǎng)格狀排列的探針插孔(24)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電路板性能測試輔助裝置，包括固定架和測試架，測試架包括底座，底座上設(shè)置有若干線路板支撐柱和與電路板測試連接點(diǎn)對應(yīng)的探針，探針連接有用以和測試裝置連接的數(shù)據(jù)線接口，測試架中部設(shè)有探針固定板。所述固定架包括底座、操作桿、連桿以及前端設(shè)有壓塊的L型壓桿，L形壓桿的底端及連桿一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接在底座上，操作桿的中前部與連桿另一端活絡(luò)轉(zhuǎn)接，操作桿的前端則活絡(luò)轉(zhuǎn)接在L型壓桿的轉(zhuǎn)角上。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，操作簡便，可快速將探針與被測電路板測試連接點(diǎn)連接，并保證在測試過程中探針和測試點(diǎn)接觸良好。
文檔編號(hào)G01R31/28GK2888452SQ200620102519
公開日2007年4月11日 申請日期2006年4月10日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月10日
發(fā)明者魏洪臣, 武世轉(zhuǎn) 申請人:許曉華