專利名稱：檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種檢測方法，尤其涉及一種用于檢測LGA型IC插座連接器的檢測方法。
背景技術：
除了PGA(pin grid array，針腳柵格陣列)、BGA(ball grid array，球狀柵格陣列)型的IC外，現(xiàn)在出現(xiàn)了一種LGA(land grid array，平面柵格陣列)型的IC，這種IC的接觸端為導電墊圈狀，與之相配合的電連接器大致如圖1所示，包括絕緣本體1及若干容設于絕緣本體1中的端子2，該端子2的上接觸端3具有彈性，以與LGA型IC4彈性接觸。在安裝IC4時，該IC4上的導電墊圈5會壓迫端子2，使端子上接觸端3往右下方移動，在移動過程中可能會越出IC4上導電墊圈5區(qū)域，而導致IC4與電連接器接觸不良(如圖2所示)。因此，必須檢測出安裝IC后端子上接觸端的位置，而目前的檢測裝置只能檢測出安裝IC前端子上接觸端的位置，故無法滿足這種電連接器的需要。

發(fā)明內容本發(fā)明的目的在于提供一種檢測方法，以能檢測出被測物體在工作狀態(tài)時彈性體接觸點的位置。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明檢測方法包括以下步驟提供一透明體；提供一工作臺，將上述透明體放置在工作臺上；將被測物體放置于透明體上，該被測物體包括一能彈性變形的彈性體，該彈性部面向上述透明體；對被測物體施加一朝向透明體的力，使被測物體上彈性體抵緊透明體產生彈性變形，以大致處于工作狀態(tài)；通過一光學檢測系統(tǒng)來檢測出彈性體與透明體的接觸點的位置。
與現(xiàn)有技術相比，因為透明體抵緊被測物體上的彈性體使其彈性變形以大致處于工作狀態(tài)，故可檢測出該被測物體在工作狀態(tài)時彈性體接觸點的位置。

圖1為現(xiàn)有與LGA型IC配合的電連接器的剖視圖。
圖2為圖1所示電連接器端子在安裝IC前后的示意圖。
圖3為實施本發(fā)明檢測方法的透明體的立體圖。
圖4為本發(fā)明檢測方法的工作原理圖。
圖5為本發(fā)明檢測方法的另一實施例的工作原理圖具體實施方式請參閱圖3與圖4，本發(fā)明檢測方法系用來檢測安裝LGA型IC后電連接器10端子12上接觸端14的位置，其包括以下步驟1)提供一透明體20(如玻璃)，該透明體20包括主體22及位于主體22兩端的導引部24和安裝部26；2)提供一工作臺30，且將該透明體20安裝部26固定于工作臺30上；3)將電連接器10放置于透明體20上，該電連接器中央的通孔(未標示)穿過透明體20上的導引部24，且使電連接器端子12的上接觸端14面向透明體20；4)將一輔助件40壓迫于電連接器10上，且對其施加一定的豎直向下的作用力F(或對透明體施加一豎直向上的力)，使其端子12和透明體20壓縮接觸，達到正常工作時所處的狀態(tài)；5)通過一光學檢測系統(tǒng)50來檢測出端子12與透明體20的接觸點16的位置。在本實施例中該光學檢測系統(tǒng)50包括CCD測試機52(也可為其它光學測試儀器)、一半反射鏡54和一反射鏡56以及一平行光源58。半反射鏡54為一既能反射光線又能讓光線透射的鏡子，且半反射鏡54和反射鏡56分別與水平面呈45度和135度夾角；5)通過判斷這些接觸點16位置是否在設定范圍內，來確定該電連接器是否合格。
測試時，首先從平行光源58發(fā)射出一組平行光，光線到達半反射鏡54后將被反射，由光線反射原理以及半反射鏡54的擺放位置，一部份光將被水平方向反射出去到達反射鏡56，之后按照同樣的原理光線將會垂直向上透過透明體20，然后碰到實物后被反射回來。因為端子12與透明體20的接觸點16會因擠壓形成一小平面，相當于一小反射鏡，故射到該處的光線會沿原路返回，然后再經(jīng)反射鏡56反射、半反射鏡54透射而到達CCD測試機52的鏡頭，而透過透明體20的光線到達除端子接觸點16外的其它部位時，因為這些部位不是鏡面，且大部分非水平，故經(jīng)反射后到達CCD鏡頭的光線較少，從而CCD測試機52可根據(jù)亮度的不同檢測出接觸點16的位置，再將其與設定范圍比較，可得出這些接觸點16是否落在設定范圍內，從而可判斷出該電連接器10是否合格。
因為透明體20的設置，該透明體仿真LGA型IC抵壓在端子上，故可檢測出該電連接器在工作狀態(tài)時端子接觸點的位置以及判斷出該電連接器是否合格。且因為上述光學檢測系統(tǒng)50的設置，使光線能垂直透過透明體，故可避免光線在透明體中產生折射而影響檢測的準確性。
圖5為本發(fā)明檢測方法的另一種實施例，與第一種實施例不同之處在于在本實施例中，光學檢測系統(tǒng)50’僅包括一平行光源58’和一CCD測試機52’，平行光源58’發(fā)出的光直接透過透明體20’后反射回來到達CCD測試機52’的鏡頭，同樣，因為端子接觸點處大致為鏡面，而其它部位則非鏡面，從而CCD測試機52’可由此分辨出端子接觸點的位置，并且可因此判斷出該被測電連接器是否合格。這種檢測方法結構簡單，成本低廉。當然也可在CCD測試機中設計一修正程序，以減少甚至消除因透明體折射所造成的誤差，提高檢測的準確性。
容易理解，本發(fā)明檢測方法并不局限于應用在與LGA型IC相配合的電連接器上，還可應用于其它工作時需壓縮的電子組件上。當然，如果一個CCD鏡頭分辨不出接觸點的位置，可以利用多個CCD鏡頭從不同方向檢測接觸點，來檢測出接觸點的準確位置。
權利要求
1.一種檢測方法，其特征在于該檢測方法包括以下步驟提供一透明體提供一工作臺，將上述透明體放置在工作臺上；將被測物體放置于透明體上，該被測物體包括一能彈性變形的彈性體，該彈性部面向上述透明體對被測物體或透明體施加一作用力，使被測物體上彈性體抵緊透明體產生彈性變形，以大致處于工作狀態(tài)通過一光學檢測系統(tǒng)來檢測出彈性體與透明體的接觸點的位置。
2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于該檢測方法進一步包括如下步驟通過判斷這些接觸點的位置是否在設定范圍內，來確定該被測物體是否合格。
3.如權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于該光學檢測系統(tǒng)包括光學測試儀器、一半反射鏡和一反射鏡以及一平行光源，且半反射鏡和反射鏡分別與水平面呈45度和135度夾角。
4.如權利要求3所述的檢測方法，其特征在于該光學測試儀器為CCD測試機。
5.如權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于該透明體包括主體及位于主體兩端的導引部和安裝部。
6.如權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于該被測物體為與LGA型IC相配合的電連接器，其能彈性變形的彈性體為端子。
7.如權利要求3所述的檢測方法，其特征在于該被測物體為與LGA型IC相配合的電連接器，其能彈性變形的彈性體為端子。
8.如權利要求5所述的檢測方法，其特征在于該被測物體為與LGA型IC相配合的電連接器，其能彈性變形的彈性體為端子。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種檢測方法包括以下步驟；提供一透明體；提供一工作臺，將上述透明體放置在工作臺上；將被測物體放置于透明體上，該被測物體包括一能彈性變形的彈性體，該彈性部面向上述透明體；對被測物體施加一朝向透明體的力，使被測物體上彈性體抵緊透明體產生彈性變形，以大致處于工作狀態(tài)；通過一光學檢測系統(tǒng)來檢測出彈性體與透明體的接觸點的位置。與現(xiàn)有技術相比，因為透明體抵緊被測物體上的彈性體使其彈性變形以大致處于工作狀態(tài)，故可檢測出該被測物體在工作狀態(tài)時彈性體接觸點的位置。
文檔編號G01R31/04GK1556415SQ200410015008
公開日2004年12月22日 申請日期2004年1月5日 優(yōu)先權日2004年1月5日
發(fā)明者朱德祥, 陳恭統(tǒng) 申請人:番禺得意精密電子工業(yè)有限公司