專利名稱:一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路。包括由繼電器通道單元陣列而成M行×N列的被檢陣列；同行的繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端串聯(lián)連接后作為行檢測(cè)端，各個(gè)行檢測(cè)端分別各自連接到串入并出移位寄存器的M路輸出端上，控制器的逐行掃描信號(hào)輸入到串入并出移位寄存器中；同列的繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端串聯(lián)連接作為列檢測(cè)端，各個(gè)列檢測(cè)端分別各自連接到并入串出移位寄存器的N路輸入端上，并入串出移位寄存器的反饋信號(hào)連接到控制器。本實(shí)用新型采用陣列式繼電器狀態(tài)檢測(cè)方式，與傳統(tǒng)檢測(cè)方式相比，功耗小，布線簡(jiǎn)單，干擾小，可靠性高。
【專利說(shuō)明】一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種繼電器檢測(cè)電路，特別是涉及一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路。

【背景技術(shù)】
[0002]掃描開(kāi)關(guān)在計(jì)量測(cè)試行業(yè)應(yīng)用廣泛，尤其適用于對(duì)標(biāo)準(zhǔn)熱電偶和標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻、工作用熱電偶和熱電阻、直流小信號(hào)的測(cè)量轉(zhuǎn)換。其主要原理是通過(guò)控制信號(hào)控制繼電器的通斷，以達(dá)到切換測(cè)試通道的目的。繼電器動(dòng)作依賴驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)，但是在多路掃描開(kāi)關(guān)中由于需要驅(qū)動(dòng)的繼電器數(shù)量較多，在驅(qū)動(dòng)指定繼電器動(dòng)作時(shí)可能會(huì)引起其它繼電器的誤動(dòng)作，所以必須依靠繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路來(lái)確保繼電器動(dòng)作的準(zhǔn)確性。如圖1所示，當(dāng)前多路掃描開(kāi)關(guān)常用的磁保持式繼電器狀態(tài)檢測(cè)方式為:兩個(gè)繼電器為一組，同組的兩個(gè)繼電器的檢測(cè)通道相互并聯(lián)。當(dāng)繼電器組兩個(gè)繼電器均閉合時(shí)，發(fā)光二極管D1正常發(fā)光。當(dāng)繼電器組中任一繼電器斷開(kāi)時(shí)，發(fā)光二極管D1被短路，發(fā)光二極管D1F能正常發(fā)光。以雙通道16路四線掃描開(kāi)關(guān)為例，內(nèi)部包含128個(gè)磁保持式繼電器。如以圖1所示方式進(jìn)行檢測(cè)則一共需要64個(gè)發(fā)光二極管及其附屬的限流電阻等器件，導(dǎo)致布線復(fù)雜，電路工作效率較低。當(dāng)電源接通時(shí)，不管繼電器狀態(tài)如何都有電流流過(guò)限流電阻，所以工作電流較大，功耗偏高。此外，由于繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路與控制器等共用同一電源容易造成信號(hào)干擾，不利于系統(tǒng)穩(wěn)定工作。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]為解決上述電路功耗較大，連線復(fù)雜，信號(hào)易被干擾等不足，本實(shí)用新型提供了一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路。
[0004]本實(shí)用新型解決上述問(wèn)題所采取的技術(shù)方案為:
[0005]本實(shí)用新型包括由繼電器通道單元陣列而成M行XN列的被檢陣列、串入并出移位寄存器和并入串出移位寄存器；位于同一行的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端串聯(lián)連接后作為行檢測(cè)端，各個(gè)行檢測(cè)端分別各自連接到串入并出移位寄存器的M路輸出端上，控制器輸出端的逐行掃描信號(hào)輸入到串入并出移位寄存器的輸入端中；位于同一列的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端串聯(lián)連接作為列檢測(cè)端，各個(gè)列檢測(cè)端分別各自連接到并入串出移位寄存器的N路輸入端上，并入串出移位寄存器輸出端輸出的反饋信號(hào)連接到控制器輸入端。
[0006]所述的繼電器通道單元是由至少一個(gè)繼電器組成的。
[0007]所述的繼電器通道單元由一個(gè)繼電器組成:繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸入端，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸出端；或者是，繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸出端，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸入端。
[0008]所述的繼電器通道單元由包含有至少兩個(gè)的多個(gè)繼電器組成，多個(gè)繼電器的待檢測(cè)通道依次串聯(lián)，位于其中一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸入端，位于另一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端作為檢測(cè)信號(hào)輸出端，繼電器的繞組高端、繞組低端作為繼電器動(dòng)作控制端。
[0009]所述的繼電器是常開(kāi)型、常閉型或者轉(zhuǎn)換型的普通電磁繼電器或磁保持式繼電器。
[0010]所述的串入并出寄存器與并入串出寄存器為CMOS型或TTL型。
[0011]所述的控制器與串入并出移位寄存器采用不同電源進(jìn)行供電，串入并出移位寄存器和并入串出移位寄存器采用相同電源進(jìn)行供電。
[0012]所述的串入并出寄存器與控制器之間、并入串出寄存器與控制器之間各串接有一個(gè)隔離光耦。
[0013]本實(shí)用新型其有益效果為:
[0014]采用本實(shí)用新型，對(duì)于檢測(cè)多個(gè)數(shù)量的磁保持式繼電器只需要一串入并出移位寄存器和一并入串出移位寄存器，大大減少成本與布線難度。
[0015]本實(shí)用新型在繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路工作時(shí)，工作電流小，功耗低。在繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路不工作時(shí)，可將繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源關(guān)閉，實(shí)現(xiàn)較低功耗與零干擾。
[0016]本實(shí)用新型通過(guò)光耦實(shí)現(xiàn)控制器與繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路間的電氣隔離，增加系統(tǒng)穩(wěn)定性。

【附圖說(shuō)明】

[0017]圖1為傳統(tǒng)現(xiàn)有掃描開(kāi)關(guān)磁保持式繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖2為本實(shí)用新型繼電器通道單元由普通電磁繼電器構(gòu)成的連接示意圖。
[0019]圖3為本實(shí)用新型繼電器通道單元由磁保持式繼電器構(gòu)成的連接示意圖。
[0020]圖4為本實(shí)用新型電路的連接結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例繼電器通道單元陣列結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022]圖中:1、控制器，2、隔離光耦，3、串入并出移位寄存器，4、行檢測(cè)端，5、被檢陣列，6、列檢測(cè)端，7、并出串入移位寄存器，8、繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源，9、控制器電源，10、檢測(cè)信號(hào)輸入端，11、檢測(cè)信號(hào)輸出端，12、動(dòng)觸點(diǎn)引出端，13、靜觸點(diǎn)引出端。

【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0024]如圖4所示，本實(shí)用新型包括由繼電器通道單元陣列而成M行XN列的被檢陣列5、串入并出移位寄存器3和并入串出移位寄存器7 ;位于同一行的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端10串聯(lián)連接后作為行檢測(cè)端4，位于不同行的繼電器通道單元的各個(gè)行檢測(cè)端4分別各自連接到串入并出移位寄存器3的M路輸出端上，控制器I輸出端產(chǎn)生的逐行掃描信號(hào)輸入到串入并出移位寄存器3的輸入端中；位于同一列的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端11串聯(lián)連接作為列檢測(cè)端6，位于不同列的繼電器通道單元的各個(gè)列檢測(cè)端6分別各自連接到并入串出移位寄存器7的N路輸入端上，并入串出移位寄存器7輸出端輸出的反饋信號(hào)連接到控制器I輸入端。
[0025]如圖4所示，若干個(gè)繼電器通道單元按陣列方式排列組成M行XN列型陣列5，其中第I行(1=〈I〈=M)的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端10連接至位于同一行的第I行檢測(cè)端4 ;第J列(1=〈J〈=N)的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端11連接至位于同一列的第J列檢測(cè)端6?？刂破鱅產(chǎn)生的逐行掃描信號(hào)與串入并出移位寄存器3相連，串入并出移位寄存器3的M路輸出端與被檢陣列5的M路行檢測(cè)端4 對(duì)應(yīng)相連，被檢陣列5的N路列檢測(cè)端6的反饋信號(hào)與并入串出移位寄存器7的N路輸入端一一對(duì)應(yīng)相連，并入串出移位寄存器7的反饋信號(hào)輸出端與控制器I相連。
[0026]上述繼電器通道單元是由一個(gè)或者多個(gè)繼電器組成的。
[0027]繼電器通道單元可由一個(gè)繼電器組成:繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端12作為檢測(cè)信號(hào)輸入端10，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端12同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸出端11 ;或者是，繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端12作為檢測(cè)信號(hào)輸出端11，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端12同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸入端10。
[0028]繼電器通道單元也可由包含有至少兩個(gè)的多個(gè)繼電器組成，多個(gè)繼電器以信號(hào)通道的方式依次串聯(lián)，位于其中一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸入端10，位于另一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸出端11，繼電器的繞組高端、繞組低端作為繼電器動(dòng)作控制端。
[0029]例如圖2或者圖3所示，優(yōu)選的繼電器通道單元由兩個(gè)繼電器組成，兩個(gè)繼電器的動(dòng)觸點(diǎn)引出端12串聯(lián)，其中一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸入端10，另一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端13作為檢測(cè)信號(hào)輸出端11，圖2是兩個(gè)普通電磁繼電器構(gòu)成的繼電器通道單元，圖3是兩個(gè)磁保持式繼電器構(gòu)成的繼電器通道單元。
[0030]繼電器是常開(kāi)型、常閉型或者轉(zhuǎn)換型的普通電磁繼電器或磁保持式繼電器。
[0031]串入并出寄存器3與并入串出寄存器7為CMOS型或TTL型。
[0032]控制器I與串入并出移位寄存器3采用不同電源進(jìn)行供電，串入并出移位寄存器3和并入串出移位寄存器7采用相同電源進(jìn)行供電。繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源8為串入并出移位寄存器3和并入串出移位寄存器7供電，控制器電源9為控制器I供電，控制器電源9與繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源8相互獨(dú)立，繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源8可單獨(dú)關(guān)閉。
[0033]串入并出寄存器3與控制器I之間、并入串出寄存器7與控制器I之間各串接有一個(gè)隔離光親2，以減少電氣干擾。
[0034]本實(shí)用新型的工作原理如下:
[0035]本實(shí)用新型采用陣列的方式將繼電器通道單元連接在一起，以逐行掃描的方式檢測(cè)繼電器狀態(tài)。以圖4中第一行繼電器狀態(tài)檢測(cè)為例，控制器產(chǎn)生串行逐行掃描信號(hào)，經(jīng)過(guò)串入并出移位寄存器之后，轉(zhuǎn)換成并行信號(hào)。此時(shí)第I行檢測(cè)端上為邏輯信號(hào)“1”，其他行檢測(cè)端上為邏輯信號(hào)“O”。若第一行繼電器中某一繼電器通道單元的兩個(gè)繼電器同時(shí)閉合，那么該繼電器通道單元對(duì)應(yīng)的列檢測(cè)端輸出邏輯信號(hào)“1”，而同一行中其他繼電器通道單元對(duì)應(yīng)的列檢測(cè)端均輸出邏輯信號(hào)“O”。并入串出移位寄存器將各個(gè)列檢測(cè)端的信號(hào)轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)反饋給控制器，從而完成單行繼電器狀態(tài)檢測(cè)。同理，其他行的繼電器狀態(tài)檢測(cè)相類似。當(dāng)所有行的繼電器狀態(tài)檢測(cè)完畢之后，控制器根據(jù)之前得到的數(shù)據(jù)判斷繼電器是否有誤動(dòng)作。如果反饋結(jié)果與預(yù)期結(jié)果不一致，則需要復(fù)位所有繼電器，之后重新閉合對(duì)應(yīng)通道的繼電器，再次檢測(cè)，直至動(dòng)作結(jié)果正確為止。由此來(lái)確保通道切換的準(zhǔn)確性。此外控制器電源與繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源相互獨(dú)立，在繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路工作時(shí)，工作電流小，功耗低。在繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路不工作時(shí)，可將繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源關(guān)閉，實(shí)現(xiàn)較低功耗與零干擾。
[0036]本實(shí)用新型的實(shí)施例及其具體實(shí)施工作過(guò)程:
[0037]以雙通道16路四線掃描開(kāi)關(guān)為例，該掃描開(kāi)關(guān)包含控制器、隔離光耦、串入并出移位寄存器、并入串出移位寄存器、繼電器陣列與電源管理模塊。其中控制器選用STC公司生產(chǎn)的IAP15F2K61S2型單片機(jī)；繼電器選用日本松下公司生產(chǎn)的TX2-L2-5V型雙線圈磁保持式繼電器；串入并出移位寄存器選用TI公司生產(chǎn)的⑶74HC164高速CMOS邏輯8位串行輸入/并行輸出移位寄存器；并入串出移位寄存器選用TI公司生產(chǎn)的⑶74HC165高速CMOS邏輯8位并行輸入/串行輸出移位寄存器；隔離光耦選用日本東芝公司生產(chǎn)的TLP521-4型四路獨(dú)立光耦?？刂破麟娫垂芾硇酒c繼電器狀態(tài)檢測(cè)電路電源管理芯片均選用TI公司生產(chǎn)的TPS7A4901線性穩(wěn)壓器；掃描開(kāi)關(guān)采用6V直流電壓適配器供電。
[0038]掃描開(kāi)關(guān)擁有兩個(gè)輸出通道分別為通道A與通道B，16個(gè)輸入通道分別為通道1~通道16，每一個(gè)通道包含4條線程。以切換至Al通道為例，通過(guò)控制繼電器通斷，使得通道A與通道I的四條線程相互導(dǎo)通，而其他A路通道不導(dǎo)通。由于通道切換共有A1~A16，B1-B16共計(jì)32個(gè)選擇，所以需要128個(gè)磁保持式繼電器，每次繼電器動(dòng)作完畢后都需要檢測(cè)這128個(gè)繼電器的狀態(tài)。選用的雙線圈磁保持式繼電器內(nèi)部包含左右兩個(gè)獨(dú)立開(kāi)關(guān)，且兩個(gè)獨(dú)立開(kāi)關(guān)的動(dòng)作是同步的。所以將其中一路開(kāi)關(guān)作為掃描開(kāi)關(guān)的信號(hào)通道，另一路作為檢測(cè)通道。該掃描開(kāi)關(guān)中屬于同一通道的四個(gè)繼電器控制邏輯相同，這里將其中兩個(gè)接四線電阻電壓高低端的繼電器組成一個(gè)繼電器通道單元將另外兩個(gè)接四線電阻電流高低端的繼電器組成另一個(gè)繼電器通道單元。按照這種方式，128個(gè)繼電器共組成64個(gè)繼電器通道單元。以一個(gè)繼電器通道單元為最小單位，按圖5的方式排列成一個(gè)8行X8列的繼電器通道單元陣列。該8行X8列的繼電器單元陣列擁有8個(gè)行檢測(cè)端口，8個(gè)列檢測(cè)端
□O
[0039]繼電器具體檢測(cè)方式如下:以切換至Al通道為例，Al通道對(duì)應(yīng)的兩個(gè)繼電器單元分別連接至第I行檢測(cè)端、第I列控制端與第I行檢測(cè)端、第2列控制端。檢測(cè)時(shí)采用逐行掃描的形式進(jìn)行。首先對(duì)第一行繼電器通道單元進(jìn)行檢測(cè)，控制器輸出8位串行行檢測(cè)信號(hào)01111111，由于光耦對(duì)于邏輯電平的反向作用，使得串入并出移位寄存器的輸入信號(hào)為10000000。經(jīng)過(guò)串入并出移位寄存器后第I行檢測(cè)端上為邏輯信號(hào)“1”，其他行檢測(cè)端上為邏輯信號(hào)“O”。所以當(dāng)Al通道對(duì)應(yīng)的兩個(gè)繼電器單元均閉合時(shí)，將在第I列檢測(cè)端與第2列檢測(cè)端輸出邏輯信號(hào)“1”，而其他繼電器通道單元對(duì)應(yīng)的列檢測(cè)端均輸出邏輯信號(hào)“O”。并入串出移位寄存器將8個(gè)列檢測(cè)端的信號(hào)轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)11000000反饋給控制器，從而完成單行繼電器狀態(tài)檢測(cè)。同理，其他行的繼電器狀態(tài)檢測(cè)相類似。當(dāng)所有行的繼電器狀態(tài)檢測(cè)完畢之后，控制器根據(jù)之前得到的數(shù)據(jù)判斷繼電器是否有誤動(dòng)作。以切換至Al通道為例，繼電器動(dòng)作正確情況下反饋回的8組串行數(shù)據(jù)應(yīng)該分別是11000000、00000000、00000000、00000000、00000000、00000000、00000000、00000000。如果反饋結(jié)果與上述結(jié)果不一致，則需要復(fù)位所有繼電器，之后重新閉合對(duì)應(yīng)通道的繼電器，再次檢測(cè)，直至動(dòng)作結(jié)果正確為止。由此來(lái)確保通道切換的準(zhǔn)確性。
[0040]當(dāng)繼電器狀態(tài)檢測(cè)完畢后關(guān)閉狀態(tài)檢測(cè)電路電源，以減少能耗與干擾。實(shí)際測(cè)試得，雙通道16路四線掃描開(kāi)關(guān)的最大瞬時(shí)電流為0.5A，最大瞬時(shí)功耗為3.5W，檢測(cè)完畢后，儀器進(jìn)入待機(jī)模式，待機(jī)功耗0.4W。
[0041]由此，本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了雙通道16路四線掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部128個(gè)繼電器的檢測(cè)只需要一片串入并出移位寄存器和一片并入串出移位寄存器，大大減少成本與布線難度，工作電流小，功耗低，具有突出顯著的技術(shù)效果。
[0042]上述具體實(shí)施例用來(lái)解釋說(shuō)明本實(shí)用新型，而不是對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行限制，在本實(shí)用新型的精神和權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)，對(duì)本實(shí)用新型作出的任何修改和改變，都落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:包括由繼電器通道單元陣列而成M行XN列的被檢陣列(5)、串入并出移位寄存器(3)和并入串出移位寄存器(7)； 位于同一行的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端(10)串聯(lián)連接后作為行檢測(cè)端(4)，各個(gè)行檢測(cè)端(4)分別各自連接到串入并出移位寄存器(3)的M路輸出端上，控制器(I)輸出端的逐行掃描信號(hào)輸入到串入并出移位寄存器(3)的輸入端中；位于同一列的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端(11)串聯(lián)連接作為列檢測(cè)端(6)，各個(gè)列檢測(cè)端(6)分別各自連接到并入串出移位寄存器(7)的N路輸入端上，并入串出移位寄存器(7)輸出端輸出的反饋信號(hào)連接到控制器(I)輸入端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的繼電器通道單元是由至少一個(gè)繼電器組成的。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的繼電器通道單元由一個(gè)繼電器組成:繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端(12)作為檢測(cè)信號(hào)輸入端(10)，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端(12)同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端(13)作為檢測(cè)信號(hào)輸出端(11);或者是，繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端(12)作為檢測(cè)信號(hào)輸出端(11)，位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端(12)同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端(13)作為檢測(cè)信號(hào)輸入端(10)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的繼電器通道單元由包含有至少兩個(gè)的多個(gè)繼電器組成，多個(gè)繼電器的待檢測(cè)通道依次串聯(lián)，位于其中一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端(13)作為檢測(cè)信號(hào)輸入端(10)，位于另一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端(13)作為檢測(cè)信號(hào)輸出端(11)，繼電器的繞組高端、繞組低端作為繼電器動(dòng)作控制端。5.根據(jù)權(quán)利要求1?4任一所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的繼電器是常開(kāi)型、常閉型或者轉(zhuǎn)換型的普通電磁繼電器或磁保持式繼電器。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的串入并出寄存器(3)與并入串出寄存器(7)為CMOS型或TTL型。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的控制器(I)與串入并出移位寄存器(3 )采用不同電源進(jìn)行供電，串入并出移位寄存器(3 )和并入串出移位寄存器(7 )采用相同電源進(jìn)行供電。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開(kāi)關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于:所述的串入并出寄存器(3)與控制器(I)之間、并入串出寄存器(7)與控制器(I)之間各串接有一個(gè)隔離光耦(2)。
【文檔編號(hào)】G01R31-327GK204287414SQ201420731058
【發(fā)明者】錢(qián)璐帥, 富雅瓊, 王凱, 李正坤, 陳樂(lè) [申請(qǐng)人]中國(guó)計(jì)量學(xué)院