技術(shù)編號：31875
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。專利摘要本實用新型公開了一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測電路。包括由繼電器通道單元陣列而成M行×N列的被檢陣列；同行的繼電器通道單元的檢測信號輸入端串聯(lián)連接后作為行檢測端，各個行檢測端分別各自連接到串入并出移位寄存器的M路輸出端上，控制器的逐行掃描信號輸入到串入并出移位寄存器中；同列的繼電器通道單元的檢測信號輸出端串聯(lián)連接作為列檢測端，各個列檢測端分別各自連接到并入串出移位寄存器的N路輸入端上，并入串出移位寄存器的反饋信號連接到控制器。本實用新型采用陣列式繼電器狀態(tài)檢測方式，與傳統(tǒng)檢測方式相比，功耗小，...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。