本發(fā)明屬于電子核心產業(yè)中敏感元件及傳感器制造領域,具體涉及一種壓電mems聲學器件及其制造方法。
背景技術:
1、壓電mems聲學器件是一種將壓電效應應用于微機電系統(mems,micro-electro-mechanical?system)的聲學傳感器,通過利用壓電薄膜與硅基板形成的復合結構的彎曲振動,實現電能與機械能的轉換,并通過與周圍的流體介質的機械能量傳遞,實現聲波的發(fā)射和接收。目前壓電mems聲學器件廣泛應用于智能設備、音響設備、醫(yī)療設備等領域。與傳統的聲學器件相比,壓電mems聲學器件具有結構緊湊、優(yōu)形狀可調、不需要直流電壓、易與電路集成、響應速度快、不受電磁干擾等優(yōu)勢。
2、目前關于壓電mems聲學器件采用的結構多為懸臂梁或隔板結構,具有可靠的穩(wěn)定性、防塵性與防潮性。上述的壓電mems聲學器件主要存在發(fā)射和接收靈敏度的不高的問題,盡管可以通過優(yōu)化設計方案來提高靈敏度,但提升的幅度十分有限。因此,期望一種新的結構,能夠有效提升器件的靈敏度。
技術實現思路
1、針對現有壓電mems聲學器件領域中存在的靈敏度問題,本發(fā)明提供了一種基于雙壓電層的壓電mems聲學換能器結構及其制造方法;本發(fā)明主要思路以雙壓電層結構為主,壓電層還可以根據需要進一步增加,更多的壓電層結構與本發(fā)明設計思路相似;具體地:
2、一種壓電mems聲學器件,該器件結構從下至上依次為:襯底、絕緣層、硅基板、多層復合膜結構、保護層;其中,多層復合膜結構由電極層與壓電層交替生長形成,且多層復合膜的第一層和最后一層均為電極層;多層復合膜結構上設置有焊盤;保護層覆蓋在器件上表面;襯底與絕緣層中部設有懸空的背腔結構;硅基板、多層復合膜結構、保護層通過一個與背腔連通的開孔連接。
3、優(yōu)選地,壓電mems聲學器件還包括梁結構,梁結構均勻分布在器件開孔周圍,并以器件開孔為中心點對稱;
4、進一步地,梁結構采用斷開梁結構,即梁與多層復合膜結構斷開。
5、一種壓電mems聲學器件的制造方法,該方法包括:
6、s1、在soi片或高阻硅片上生長多層復合薄膜;
7、s2、對多層復合薄膜進行光刻和刻蝕,將多層復合薄膜圖形化;
8、s3、在圖形化后的復合薄膜上生長保護層;
9、s4、對保護層進行光刻和刻蝕,將保護層圖形化;
10、s5、在圖形化后的保護層的預留區(qū)域上生長焊盤;
11、s6、對s5得到的器件進行背腔加工,形成可以振動的懸空振膜結構。
12、本發(fā)明的有益效果有:
13、本發(fā)明通過引入多層復合膜結構,增加了壓電材料的體積,有效提高了結構的能量轉換效率,進而解決了壓電mems聲學傳感器靈敏度相對較低的問題,特別是發(fā)射靈敏度方面;通過引入一種中心對稱的梁結構,有效解決了振膜振動位移分布失衡的問題;通過引入一種與多層復合膜斷開的梁結構,有效消除了振動反相區(qū)對結構靈敏度的影響;為提高壓電mems聲學傳感器的靈敏度提供了設計思路。
1.一種壓電mems聲學器件,其特征在于,該器件結構從下至上依次為:襯底、絕緣層、硅基板、多層復合膜結構、保護層;其中,多層復合膜結構由電極層與壓電層交替生長形成,且多層復合膜的第一層和最后一層均為電極層;多層復合膜結構上設置有焊盤;保護層覆蓋在器件上表面;襯底與絕緣層中部設有懸空的背腔結構;硅基板、多層復合膜結構、保護層通過一個與背腔連通的開孔連接。
2.根據權利要求1所述的壓電mems聲學器件,其特征在于,還包括梁結構,梁結構均勻分布在器件開孔周圍,并以器件開孔為中心點對稱。
3.根據權利要求2所述的壓電mems聲學器件,其特征在于,梁結構采用斷開梁結構,即梁與多層復合膜結構斷開。
4.根據權利要求1所述的壓電mems聲學器件,其特征在于,開孔位于復合膜結構中心,從下至上由窄至寬。
5.根據權利要求1所述的壓電mems聲學器件,其特征在于,電極層厚度為200~400nm,壓電層厚度為1~3μm。
6.根據權利要求1所述的一種壓電mems聲學器件,其特征在于,電極層材料為au、pt、mo、al、ti、ag、cu、ni中的任意一種;壓電層材料為aln、pzt、alscn、knn、pvdf、ln、pmn-pt、zno中的任意一種;保護層和絕緣層的材料為aln、sio2、si3ni4中的任意一種;焊盤材料為au、pt、mo、al、ti、ag、cu、ni中的任意一種;基板為si、sic、sio2、金屬材料中的任意一種;襯底材料為si、sic、sio2、金屬材料中的任意一種。
7.一種壓電mems聲學器件的制造方法,該方法用于制造權利要求1~6中任一項所述的壓電mems聲學器件,其特征在于,包括:
8.如權利要求7所述的一種多壓電層的壓電mems聲學換能器的制造方法,其特征在于,圖形化的形狀為圓形結構。