本發(fā)明涉及分析裝置以及分析方法。本發(fā)明特別涉及對(duì)于可能采取多個(gè)晶型的多晶型的分析對(duì)象能夠預(yù)測(cè)晶型的種類(lèi)的分析裝置以及分析方法。

背景技術(shù)：

1、在分析對(duì)象為可能采取多個(gè)晶型的多晶型的物質(zhì)的情況下，溶解度等特性根據(jù)晶型而不同，因此期望能夠預(yù)測(cè)要析出的晶型。作為現(xiàn)有技術(shù)，存在通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)來(lái)推定與晶體結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的能量的信息的方法。

2、在專(zhuān)利文獻(xiàn)1中，進(jìn)行如下這樣的機(jī)器學(xué)習(xí)：通過(guò)第一原理計(jì)算來(lái)求出從多個(gè)晶體結(jié)構(gòu)候選中選擇的選擇晶體結(jié)構(gòu)候選各自所涉及的能量的信息，將表示晶體結(jié)構(gòu)候選的結(jié)構(gòu)記述信息中的與選擇晶體結(jié)構(gòu)候選對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)記述信息作為輸入信息，將選擇晶體結(jié)構(gòu)候選所涉及的能量的信息作為教師信息，推定與結(jié)構(gòu)記述信息對(duì)應(yīng)的能量的信息。還公開(kāi)了進(jìn)行處理的裝置，該處理是由通過(guò)該機(jī)器學(xué)習(xí)單元得到的機(jī)器學(xué)習(xí)的結(jié)果推定與由結(jié)構(gòu)記述信息確定的晶體結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的能量的信息。

3、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

4、專(zhuān)利文獻(xiàn)

5、專(zhuān)利文獻(xiàn)1：日本特開(kāi)2020-166706號(hào)公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、發(fā)明所要解決的課題

2、然而，晶體的生成過(guò)程是復(fù)合且復(fù)雜的物理化學(xué)現(xiàn)象。因此，難以與使晶體析出時(shí)的干燥條件、溫度條件等晶體的生成過(guò)程中的各種條件對(duì)應(yīng)地通過(guò)計(jì)算來(lái)預(yù)測(cè)晶型。另外，晶型特別容易相對(duì)于要析出時(shí)的時(shí)間變動(dòng)而變化。因此，反映這樣的條件地進(jìn)行計(jì)算等而預(yù)測(cè)晶體結(jié)構(gòu)本身不僅需要大量的時(shí)間以及成本，而且非常困難。

3、本發(fā)明的目的在于，提供對(duì)于采取多晶型的分析對(duì)象能夠預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)和各個(gè)晶型的析出條件的分析裝置以及分析方法。

4、用于解決課題的技術(shù)方案

5、為了解決上述課題，本發(fā)明提供一種分析裝置，具備：接受部，其接受對(duì)成為分析多晶型的對(duì)象的分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的參數(shù)；預(yù)測(cè)部，其基于所接受的結(jié)構(gòu)式以及參數(shù)，來(lái)預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)；評(píng)價(jià)部，其基于參數(shù)對(duì)分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的程度即影響度，來(lái)評(píng)價(jià)要析出的晶型的種類(lèi)與參數(shù)的關(guān)聯(lián)；以及提供部，其將要析出的晶型的種類(lèi)以及析出條件作為要析出的晶體的晶型的信息提供給用戶(hù)。

6、另外，本發(fā)明提供一種分析方法，接受對(duì)分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的參數(shù)，基于接受到的所述參數(shù)來(lái)預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)，基于參數(shù)對(duì)所述分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的程度即影響度來(lái)評(píng)價(jià)要析出的晶型的種類(lèi)與所述參數(shù)的關(guān)聯(lián)，將要析出的晶型的種類(lèi)以及析出條件作為要析出的晶體的晶型的信息提供給用戶(hù)。

7、發(fā)明效果

8、能夠提供對(duì)于采取多晶型的分析對(duì)象能夠預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)和各個(gè)晶型的析出條件的分析裝置以及分析方法。

技術(shù)特征：

1.一種分析裝置，具備：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置，其中，所述預(yù)測(cè)部基于具有所述晶型的所述分析對(duì)象的溶解度曲線(xiàn)，來(lái)預(yù)測(cè)要析出的所述晶型。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分析裝置，其中，所述預(yù)測(cè)部使用基于傾向預(yù)測(cè)而推定出的所述溶解度曲線(xiàn)，所述傾向預(yù)測(cè)是被預(yù)想為要析出的所述晶型的傾向。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置，其中，在所述參數(shù)中包括使晶體析出時(shí)所使用的紅外線(xiàn)的波長(zhǎng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的分析裝置，其中，所述紅外線(xiàn)的波長(zhǎng)選擇具有預(yù)想為要析出的所述晶型的所述分析對(duì)象吸收的波長(zhǎng)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置，其中，所述評(píng)價(jià)部基于由所述預(yù)測(cè)部預(yù)測(cè)為要析出的晶型，針對(duì)各個(gè)所述參數(shù)求出所述影響度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的分析裝置，其中，所述評(píng)價(jià)部基于所述影響度和所述參數(shù)的貢獻(xiàn)率進(jìn)行評(píng)分，根據(jù)所述評(píng)分的結(jié)果預(yù)測(cè)要析出的晶型，評(píng)價(jià)要析出的晶型的種類(lèi)與所述參數(shù)的關(guān)聯(lián)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的分析裝置，其中，所述評(píng)價(jià)部將根據(jù)所述評(píng)分的結(jié)果預(yù)測(cè)為要析出的晶型與實(shí)際析出了的晶型進(jìn)行比較，探索所述貢獻(xiàn)率。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的分析裝置，其中，所述評(píng)價(jià)部基于根據(jù)所述評(píng)分的結(jié)果預(yù)測(cè)為要析出的晶型與實(shí)際析出了的晶型的匹配性來(lái)探索所述貢獻(xiàn)率。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分析裝置，其中，所述預(yù)測(cè)部針對(duì)新的晶型進(jìn)一步進(jìn)行預(yù)測(cè)。

11.一種分析方法，其中，

12.一種分析方法，其中，

技術(shù)總結(jié)
一種分析裝置（10），具備：接受部（11），其接受對(duì)分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的參數(shù)；預(yù)測(cè)部（13），其基于所接受的參數(shù)，來(lái)預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)；評(píng)價(jià)部（14），其基于參數(shù)對(duì)分析對(duì)象的晶體的析出造成影響的程度即影響度，來(lái)評(píng)價(jià)要析出的晶型的種類(lèi)與參數(shù)的關(guān)聯(lián)；以及提供部（15），其將要析出的晶型的種類(lèi)以及析出條件作為析出的晶體的晶型信息提供給用戶(hù)。由此，提供對(duì)于采取多晶型的分析對(duì)象能夠預(yù)測(cè)要析出的晶型的種類(lèi)和各個(gè)晶型的析出條件的分析裝置以及分析方法。

技術(shù)研發(fā)人員：近藤良夫,山田和成
受保護(hù)的技術(shù)使用者：日本礙子株式會(huì)社
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10