專利名稱：質(zhì)譜儀中混合的離子布居的獲取與分析的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及質(zhì)譜法，具體地涉及用于獲取和分析包括前體離子與碎片離子或反應(yīng)產(chǎn)物離子的混合物的離子布居(ion populations)的方法。
背景技術(shù)：
通常，質(zhì)譜儀包括用于從待分析的分子生成離子的離子源和用于將離子引導(dǎo)至質(zhì)量分析器的離子光學(xué)器件。串聯(lián)質(zhì)譜儀還包括第二質(zhì)量分析器。在串聯(lián)質(zhì)譜法中，通過以下方式實(shí)施離子化分子的結(jié)構(gòu)分析收集質(zhì)譜，然后使用第一質(zhì)量分析器從質(zhì)譜中選擇期望的前體離子，使所選前體離子裂解，然后使用第二質(zhì)量分析器實(shí)施碎片離子的質(zhì)量分析。 通常，對(duì)于第二質(zhì)量分析器，具有精確質(zhì)量能力的質(zhì)量分析器是優(yōu)選的。經(jīng)常期望使用精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器(精確質(zhì)量的MQ獲得前體離子的質(zhì)譜，即在未裂解的情況下將前體離子的樣本傳送至精確質(zhì)量的MS?？梢詳U(kuò)展此方法以提供進(jìn)一步的一級(jí)或更多級(jí)裂解(即碎片離子的裂解等)。這通常稱作MSn，上標(biāo)η表示離子代數(shù)。因此，MS2與串聯(lián)質(zhì)譜法相對(duì)應(yīng)。為了正確地闡釋可能從串聯(lián)質(zhì)譜分析法實(shí)驗(yàn)中獲得的分子和組分信息，期望能夠生成具有各種尺寸的碎片，以將每個(gè)碎片都匹配至生成該碎片的特定前體離子，和以高質(zhì)量精度(百萬分率，PPm)和高分辨率(即IO5分之一或更好的質(zhì)量分辨率)來測(cè)量碎片質(zhì)量。通過上述的MSn方法或通過在實(shí)驗(yàn)性供給的能量的不同級(jí)別處實(shí)施分離的裂解過程 (對(duì)于類似的前體)，可以生成各種尺寸的碎片。通常通過分離接著用于裂解的每個(gè)前體和對(duì)每個(gè)前體所生成的碎片進(jìn)行單獨(dú)的質(zhì)量分析，進(jìn)行碎片和前體間的匹配。通常通過使用脈沖精確質(zhì)量MS裝置，例如TOF分析器、FT ICR分析器、和諸如Orbitrap質(zhì)量分析器和靜電阱分析器的靜電阱(EST)分析器，獲得高分辨率。上面列出的精確質(zhì)量的MS裝置的大部分具有短注入周期，跟隨著長(zhǎng)的質(zhì)量分析階段，尤其是以高分辨率運(yùn)行時(shí)。如果多組碎片的每組都需要單獨(dú)的質(zhì)量分析掃描，這些時(shí)間需求可能增加數(shù)倍，每個(gè)這樣的組都從不同的前體產(chǎn)生。經(jīng)常地，所關(guān)注的被分析物是化學(xué)復(fù)雜分子，例如從生物樣本得到的肽或蛋白質(zhì)，需要多次裂解和用于清楚地識(shí)別或辨別的相關(guān)分析。令人遺憾地，諸如高性能液相色譜法(HPLC)的新型色譜分析技術(shù)的被分析物的分辨率非常好，單個(gè)該被分析物的完整洗脫圖可能從頭到尾僅持續(xù)幾秒鐘，因此嚴(yán)格地限制了對(duì)前體離子和碎片或產(chǎn)物離子進(jìn)行期望地詳細(xì)分析可利用的時(shí)間。根據(jù)以上的討論，顯然經(jīng)常需要在緊迫的時(shí)間限制內(nèi)對(duì)來自不同前體和在不同能量級(jí)產(chǎn)生的多組肽碎片進(jìn)行精確和高分辨率的分析。因此將期望以允許前體-碎片相關(guān)和保持質(zhì)量分辨率和精度的方式，能夠同時(shí)對(duì)作為混合物的所有的這些前體和碎片進(jìn)行質(zhì)量分析。本發(fā)明解決這種需求。

發(fā)明內(nèi)容
本教導(dǎo)設(shè)想使用精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器系統(tǒng)的多填充更高碰撞能量解離(HCD)
4單元(或彎曲的四極阱，稱為C阱單元)的功能，以避免實(shí)施單獨(dú)的全掃描MS事件，和使用同時(shí)檢測(cè)源自高和低碰撞能填充的全部離子的掃描事件來替代全掃描MS事件。此同時(shí)分析技術(shù)使所有離子MS2實(shí)驗(yàn)的執(zhí)行明顯快于以規(guī)定的碰撞能量獲取離散譜的情況。所提出的順序從以高能和低能(例如碰撞能量)生成或獲取的離子的全掃描多填充質(zhì)譜開始，在一些實(shí)施例中包括關(guān)于進(jìn)入精確質(zhì)量MS儀器的全部離子的HCD MS/MS，或者在一些實(shí)施例中可以包括傳統(tǒng)的碰撞誘導(dǎo)解離(CID)單元。對(duì)于使用HCD裂解的那些實(shí)施方式，以規(guī)定的歸一化碰撞能量對(duì)兩個(gè)或更多離子填充執(zhí)行裂解。為了保證在譜中分子離子的存在，需要以最低的相對(duì)碰撞能量，0%歸一化(normalized)能量，來進(jìn)行第一這樣的填充。根據(jù)本發(fā)明，從實(shí)驗(yàn)程序中省略了一次傳統(tǒng)的全掃描明顯地減少了實(shí)驗(yàn)周期時(shí)間。 可以在后面使母子離子對(duì)相關(guān)聯(lián)，因?yàn)樗鼈兙哂邢嗤南疵搱D。此外，如果以每隔一次掃描乃至更低頻率(可以基于混合物的復(fù)雜度和LC峰的寬度手動(dòng)設(shè)置頻率)的方式調(diào)制高能和低能填充的離子布居，那么根據(jù)相鄰掃描(其中至少一個(gè)掃描包括0%歸一化能量離子填充，以保留分產(chǎn)物離子)的母離子的相對(duì)豐度變化可用作證實(shí)具有母子標(biāo)識(shí)(identification)。在產(chǎn)生相同的中性丟失(NL)的多個(gè)前體情況下，如上面生成的譜將包含多對(duì)分子離子和由NL產(chǎn)生的它們的產(chǎn)物離子。它們還將與碎片離子混合，因?yàn)橄嗤闹行詠G失可以歸因于多于一個(gè)的前體。為了區(qū)分分子離子-NL對(duì)與碎片離子-NL對(duì)，可使碎片和母離子中的強(qiáng)度的變化相關(guān)。在碎片與它們的母離子之間，洗脫圖將是相同的。相應(yīng)地，在第一方面中，提供了獲取和分析包括至少兩種組分(components)的樣本的色譜和質(zhì)譜的方法，其特征在于a)設(shè)置第一能量級(jí)的當(dāng)前值(即當(dāng)前使用的值)和第二能量級(jí)的當(dāng)前值；b)使用色譜柱分離樣本的組分；c)使分離后的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；d)將前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；e)將前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第二能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；f)將第一離子子布居和第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；g)使用質(zhì)量分析器產(chǎn)生第一和第二離子子布居的混合物的離子的質(zhì)荷分析；h)從質(zhì)量分析器排出第一和第二離子子布居；i)根據(jù)能量的預(yù)定的周期性變化改變第一和第二能量級(jí)的至少一個(gè)的當(dāng)前值；j)重復(fù)步驟c)至步驟g)；以及j)產(chǎn)生質(zhì)荷分析的時(shí)間變化分析，其可用于匹配前體離子和碎片離子。在第二方面中，提供了獲取和分析包括至少兩種組分的樣本的色譜/質(zhì)譜的方法，其特征在于a)設(shè)置離子的第一比例的當(dāng)前值和離子的第二比例的當(dāng)前值;b)使用色譜柱分離樣本的組分；C)使分離后的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；d)將前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一能量級(jí)和第一比例對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；e)將前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第二能量級(jí)和第二比例對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；f)將第一離子子布居和第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；g)使用質(zhì)量分析器產(chǎn)生第一和第二離子子布居的混合物的離子質(zhì)荷分析；h)從質(zhì)量分析器排出第一和第二離子子布居；i)根據(jù)比例的預(yù)定的周期性變化改變第一和第二比例的至少一個(gè)的當(dāng)前值；j)重復(fù)步驟c)至步驟g)；以及k)產(chǎn)生質(zhì)荷分析的時(shí)間變化分析，其可用于匹配前體離子和碎片離子。在第三方面中，提供了獲取和分析包括至少兩種組分的樣本的色譜/質(zhì)譜的方法，其特征在于c)使分離后的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；b)將前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一裂解法對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；C)將前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第二裂解法對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；d)將第一離子子布居和第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；e)使用質(zhì)量分析器產(chǎn)生第一和第二離子子布居的混合物的離子質(zhì)荷分析；f)從質(zhì)量分析器排出第一和第二離子子布居；j)重復(fù)步驟a)至步驟e)；以及h)基于質(zhì)荷分析的時(shí)間變化匹配前體離子和碎片或產(chǎn)物離子。


根據(jù)僅通過實(shí)施例并且參照未按比例繪制的附圖給出的以下描述，本發(fā)明的上述方面和各個(gè)其它方面將變得顯而易見，在附圖中圖IA是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)譜儀系統(tǒng)的第一實(shí)施例的示意圖；圖IB是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的特定質(zhì)譜儀系統(tǒng)的示意圖，該系統(tǒng)包括靜電阱質(zhì)量分析器；圖2A是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)譜儀系統(tǒng)的第二實(shí)施例的示意圖；圖2B是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的另一特定質(zhì)譜儀系統(tǒng)的示意圖，該系統(tǒng)包括靜電阱質(zhì)量分析器；圖3A是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)譜儀系統(tǒng)的第三實(shí)施例的示意圖；圖IBB是本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的又一特定質(zhì)譜儀系統(tǒng)的示意圖，該系統(tǒng)包括靜電阱質(zhì)量分析器；圖4是在色譜/質(zhì)譜分析裝置中洗脫被分析物期間，如可以由質(zhì)譜儀的多次掃描測(cè)量的全部前體粒子的相對(duì)豐度的測(cè)量值的分布圖(profile)的示意性表示；圖5A是圖4所示的全部前體離子豐度的分布圖的一部分的放大圖；圖5B是根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施方式在質(zhì)譜儀器的碰撞或反應(yīng)單元中生成一組混合的離子布居的示意性圖解說明，其中每個(gè)混合離子布居的高能子布居的供給能量以周期性方式在布居之間變化；圖5C是響應(yīng)圖5B所示的動(dòng)能變化，在質(zhì)譜儀掃描之間的前體離子和碎片離子的一些比例的期望變化的示例性圖解說明；圖6A是根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施方式在質(zhì)譜儀器的碰撞或反應(yīng)單元中生成一組混合的離子布居的示意性圖解說明，其中高能子布居和低能子布居的相對(duì)比例以周期性方式在布居之間變化；圖6B是響應(yīng)圖6A所示的變化，離子的高能和低能子布居之間的離子豐度的差值在質(zhì)譜儀掃描之間的期望變化的示意性圖解說明；圖7是在色譜/質(zhì)譜分析裝置或系統(tǒng)中共同洗脫被分析物期間，如可以由質(zhì)譜儀測(cè)量的離子豐度測(cè)量值的分布圖的示意性說明；圖8A是根據(jù)本發(fā)明用于在質(zhì)譜儀中獲取和分析混合離子布居的第一示例性方法的流程圖；以及圖8B是根據(jù)本發(fā)明用于在質(zhì)譜儀中獲取和分析混合離子布居的第二示例性方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明描述了用于在質(zhì)譜儀中獲取和分析混合的離子布居的方法。給出以下描述使得本領(lǐng)域的任意技術(shù)人員都能夠做出并使用本發(fā)明，而且下面描述是在具體應(yīng)用及其要求的情況下提供的。對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言對(duì)所描述的實(shí)施方式的各種修改都是顯而易見的，而且本文的一般原則可用于其他實(shí)施方式。因此，本發(fā)明不是旨在限于所示的實(shí)施方式和實(shí)施例，而是根據(jù)所示和所述的特征和原理獲得盡可能大的范圍。參考附圖IA至圖7B并結(jié)合下面討論，更具體地描述了本發(fā)明的特征。在圖IA中示出了本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)譜儀系統(tǒng)100的第一實(shí)施例。被分析物材料105被提供給脈沖或連續(xù)的離子源110，以生成離子115。使離子進(jìn)入具有質(zhì)量分析和質(zhì)量選擇功能的第一質(zhì)量分析器(MS-I) 120，并且任選地可以在第一質(zhì)量分析器120中實(shí)施裂解。例如，第一質(zhì)量分析器MS-I可以包括離子阱。離子源110可以是 MALDI源、電噴霧源或其它任何類型的離子源。此外，可以使用多個(gè)離子源。并且，在質(zhì)量分析器MS-I 120之前可以有任何數(shù)量其它階段的質(zhì)量分析和/或離子操作。應(yīng)當(dāng)注意，在圖IA的系統(tǒng)中以及后續(xù)附圖所示的其它系統(tǒng)中，經(jīng)由離子光學(xué)器件 (例如RF多極)將離子從一個(gè)部件傳送至下一個(gè)部件，離子光學(xué)元件在一些情況下沒有明確地示出。此外，附圖沒有示出各個(gè)元件的電極，該電極用于在這些元件中引導(dǎo)和/或捕獲 1 子?？稍谫|(zhì)譜儀系統(tǒng)100 (例如參見圖1A)中提供自動(dòng)增益控制(AGC)檢測(cè)器130，以為了控制在隨后的離子布居中的離子數(shù)量，來定量地測(cè)量或采樣離子流或離子數(shù)。任何已知的AGC方法都可用于確定最佳電離時(shí)間以用于下游的中間離子存儲(chǔ)器140和精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器MS-2 170的填充。相應(yīng)地，離開MS-I的離子的一部分可沿路徑125c被轉(zhuǎn)移到 AGC檢測(cè)器130中。否則，離子沿路徑12 從MS-I被傳送到中間離子存儲(chǔ)器140中。自動(dòng)增益控制(AGC)是利用進(jìn)來的離子流的信息調(diào)節(jié)進(jìn)入質(zhì)量分析器的離子數(shù)量的通用名稱。此信息還可用作基于光譜信息選擇質(zhì)量范圍。在本申請(qǐng)中，將AGC以最常規(guī)的方式解釋為基于采樣一組離子確定最佳填充時(shí)間的方法。因此，它不僅包括基于來自預(yù)掃描或先前掃描的信息的方法，而且包括以下的其它方法諸如(優(yōu)選均勻地)攔截離子束的電流檢測(cè)網(wǎng)(current sensing grid)的測(cè)定離子數(shù)量的方法；檢測(cè)感生電流的方法；檢測(cè)散射離子的方法，例如關(guān)于孔徑；檢測(cè)次級(jí)電子的方法；以及使用由第一質(zhì)量分析器120 獲得的先前分析掃描的方法。在第5，107，109號(hào)和第6，987，261號(hào)美國(guó)專利中更加詳細(xì)地描述了自動(dòng)增益控制技術(shù)。已描述的測(cè)量初始離子豐度的不同變型，包括使用先前譜中的總離子電流(US5，559，325)、使用將離子通過阱傳向檢測(cè)器的短預(yù)掃描(W003/019614)、 以及在FT-ICR之前測(cè)量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器多極(storage multipole)中的離子的一部分 (US6, 555，814)。仍參照?qǐng)DIA所示的系統(tǒng)100，所選的離子從第一質(zhì)量分析器120沿路徑12 被傳送到中間離子存儲(chǔ)器140，離子在中間離子存儲(chǔ)器140中被俘獲和捕獲。中間離子存儲(chǔ)器140例如可包括離子阱裝置。將從中間離子存儲(chǔ)器140釋放的離子沿路徑155傳送至精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器(MSD170中。精確質(zhì)量的MS可以接收未裂解的前體離子、由單個(gè)所選前體離子的裂解形成的一組離子、或多組離子的混合物以進(jìn)行分析，每一個(gè)這種組都是通過不同的各自前體離子裂解而形成的。參照本文中示出的系統(tǒng)，使用最佳電離時(shí)間產(chǎn)生的離子可以在第一質(zhì)量分析器120或單獨(dú)的反應(yīng)單元中裂解，例如通過碰撞誘導(dǎo)解離。精確質(zhì)量的MS具有足夠高的m/z分辨率，以分辨該混合離子布居中的大部分或全部的種類。合適的精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器的實(shí)施例是離子回旋共振質(zhì)譜儀和靜電阱質(zhì)譜儀，諸如Orbitrap 質(zhì)量分析器?？刂破?60可包括通用計(jì)算機(jī)或可能包括專用電子邏輯器件，控制器160沿電子控制線路175電耦合至其它部件。電子控制線路175可將來自控制器160的控制信號(hào)發(fā)送至質(zhì)譜儀、中間離子存儲(chǔ)器、離子源、各個(gè)離子光學(xué)器件等，以控制這些部件的協(xié)同工作。例如，控制器可以發(fā)送信號(hào)以在各個(gè)適當(dāng)?shù)臅r(shí)間設(shè)置各個(gè)部件的電極上的電位。電子控制線路175還可以將信號(hào)從系統(tǒng)100的一個(gè)或多個(gè)部件傳回控制器160中。例如，控制器160 可接收來自AGC檢測(cè)器130和精確質(zhì)量MS 170的信號(hào)，該信號(hào)與檢測(cè)的離子數(shù)有關(guān)。圖IB示出了包括諸如Orbitrap質(zhì)量分析器171的靜電阱質(zhì)量分析器的質(zhì)譜儀系統(tǒng)190的實(shí)施例。在所示的系統(tǒng)中，中間離子存儲(chǔ)器包括彎曲的四極阱141 (也稱為C阱)， 在內(nèi)電極143中具有縫(slot) 144。在離子注入前，可以通過升高端電極146和147上的電壓使離子沿彎曲的四極阱141的軸被擠壓(squeeze)。眾所周知的，為了將離子注入到 Orbitrap質(zhì)量分析器171中，需要切斷彎曲的四極阱141上的RF電壓。將脈沖施加到電極143和148上以及施加到彎曲的離子光學(xué)器件185的電極上，從而橫向電場(chǎng)使離子加速進(jìn)入彎曲的離子光學(xué)器件185中。所產(chǎn)生的會(huì)聚離子束通過注入縫172進(jìn)入Orbitrap質(zhì)量分析器171。離子束通過中心電極173上的增加電壓朝向軸被擠壓。因?yàn)樽⑷肟p172處的時(shí)空聚焦，離子開始相干軸向振蕩。這些振蕩產(chǎn)生了被放大和被處理的像電流。離子通過離子光學(xué)組件183在部件之間進(jìn)行傳送。在國(guó)際申請(qǐng)公開W002/078046、第5，886，346號(hào)美國(guó)專利和第6，872，938號(hào)美國(guó)專利中描述了靜電阱裝置171的更多細(xì)節(jié)。將整個(gè)裝置裝入在系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)抽成真空的殼體181中。在圖IB所示的系統(tǒng)190中，質(zhì)量分析器MS-I表示為具有檢測(cè)器123的多極離子阱121。還可包括單獨(dú)的AGC檢測(cè)器(未示出)。還可以通過檢測(cè)器123來使用AGC?？梢栽诙鄻O離子阱121或彎曲的四極阱141或二者中，實(shí)施裂解或離子反應(yīng)。例如，多極離子阱 121可以用作傳統(tǒng)的CID單元，而彎曲的四極阱141可以用作HCD單元。在圖2A中示出了本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)譜儀系統(tǒng)200的第二實(shí)施例。圖2A所示的系統(tǒng)200包括如參照質(zhì)譜儀系統(tǒng)100 (圖1A)所描述的所有的部件，因此具有與圖IA所用標(biāo)號(hào)相同參考標(biāo)號(hào)。參照?qǐng)D2A，但是應(yīng)當(dāng)注意，雖然質(zhì)譜儀系統(tǒng)200的大部分部件放置在縱向“軸” 107(以點(diǎn)劃線示出)上，但是精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器MS-2偏離此軸放置。此外，用于裂解離子的反應(yīng)單元沿軸107設(shè)置在中間離子存儲(chǔ)器的與MS-I相反的一側(cè)。雖然將曲線107示為直線并且稱作“軸”，但是應(yīng)當(dāng)注意，在實(shí)踐中此曲線的至少一部分實(shí)際上可以不是直線。圖2A所示的系統(tǒng)200(以及圖3A示出的系統(tǒng)300)在第一質(zhì)量分析器MS-I與精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器MS-2 170之間提供了兩種類型的離子通道，其對(duì)應(yīng)于兩種各自的運(yùn)行模式。在第一運(yùn)行模式中，所選離子沿通道12 從MS-I被傳送到中間離子存儲(chǔ)器140， 在中間離子存儲(chǔ)器140中離子被捕獲。一旦已經(jīng)過適當(dāng)?shù)臅r(shí)間延遲，控制器160就將離子傳送至反應(yīng)單元150。在可選的第二運(yùn)行模式中，中間離子存儲(chǔ)器140僅用作離子導(dǎo)向裝置 (“傳輸模式”)，使得離子沿通道12 (實(shí)際上可與路徑12 重合，但是為了清楚起見，以與該通道偏離的方式示出)從MS-I被傳送至反應(yīng)單元150。中間離子存儲(chǔ)器140可以填充有氣體，因此當(dāng)離子通過中間離子存儲(chǔ)器并進(jìn)入反應(yīng)單元150時(shí)，通過碰撞冷卻降低離子的能量。前體離子可以在反應(yīng)單元150中裂解?？梢酝ㄟ^任意的適當(dāng)?shù)牧呀饧夹g(shù)來實(shí)現(xiàn)離子裂解，例如碰撞誘導(dǎo)解離(CID)、電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)、電子捕獲解離(ECD)或紅外多光子解離(IRMPD)。然后以反方向，將生成的碎片離子(如果有的話)或前體離子(如果有的話)沿路徑12 向后從反應(yīng)單元傳送至中間離子存儲(chǔ)器140。在中間離子存儲(chǔ)器140中存儲(chǔ)適當(dāng)?shù)臅r(shí)間后，這些碎片離子沿通道巧5被傳送到用于分析的精確質(zhì)量MS 170中。可以在反應(yīng)單元150中使用不同的各自處理技術(shù)(例如高能裂解VS低能裂解)來形成精確質(zhì)量MS170的多個(gè)填充物。由這些各種運(yùn)行選擇所提供的靈活性提供了使用精確質(zhì)量MS進(jìn)行前體離子和碎片離子分析的能力。圖2B示出了包括諸如Orbitrap質(zhì)量分析器的靜電阱質(zhì)量分析器的質(zhì)譜儀系統(tǒng)的第二實(shí)施例。除了系統(tǒng)290還包括反應(yīng)單元151之外，圖2B所示的系統(tǒng)290基本與圖IB所示的系統(tǒng)190相同，反應(yīng)單元151可包括碰撞單元(例如八極)，碰撞單元裝入氣密罩153 并與彎曲的四極阱141對(duì)齊，如圖2B所示。當(dāng)反應(yīng)單元153用作碰撞單元時(shí)，反應(yīng)單元153 可被施加有DC偏移可變的RF電壓?？梢愿浇优鲎矚怏w管路(未示出)，以及用氮?dú)?或任意氣體)對(duì)該單元加壓。如下所述，在系統(tǒng)290中可發(fā)生更高能量碰撞(HCD)所選質(zhì)量或不是所選質(zhì)量的確定數(shù)量的離子從多極離子阱121 (MS-I)被傳送至彎曲的四極阱141。彎曲的四極阱保持在地電位。對(duì)于HCD，通過設(shè)置阱透鏡(trap lens)上的電壓使離子從彎曲的四極阱141發(fā)射到反應(yīng)單元151的八極。離子以實(shí)驗(yàn)性的可變能量與反應(yīng)單元151中的氣體碰撞，該可變能量可以表示為基于離子質(zhì)量、電荷以及碰撞氣體性質(zhì)的相對(duì)能量(即歸一化的碰撞能量)。此后，通過升高八極的電位將產(chǎn)物離子從反應(yīng)單元傳送回彎曲的四極阱。使用短的時(shí)間延遲(例如30ms)以確保所有的離子被傳送。在最后步驟中，將離子從彎曲的四極阱141 噴射到Orbitrap分析器171中，如之前所描述的。HCD可用于生成作為更高能量裂解過程的典型的一系列離子。該過程的凈輸出是一些診斷離子(diagnostic ion)的觀測(cè)結(jié)果，在傳統(tǒng)的CID裂解中通?？床坏竭@些診斷離子，例如，磷酸酪氨酸特有的亞胺離子。如下所述，可以在系統(tǒng)290中進(jìn)行多個(gè)填充實(shí)驗(yàn)將來自多極離子阱121的離子多次注入到彎曲的四極阱141中。來自多極離子阱121的離子可以具有相同的類型或者它們可以是不同的，即質(zhì)量離析(mass isolated)、碰撞活化、更高階碰撞活化等。通過在離子阱中的每個(gè)單獨(dú)填充后將離子從多極離子阱121傳送至反應(yīng)單元151，以不同的碰撞能量偏移進(jìn)行多個(gè)能量HCD實(shí)驗(yàn)。將來自反應(yīng)單元中所有填充物的碎片離子的總和傳送到彎曲的四極阱141，然后在彎曲的四極阱141中將它們噴射到Orbitrap分析器171中。同樣地，可以通過來自多極離子阱121的多個(gè)填充在彎曲的四極阱141中建立離子布居，然后將離子布居發(fā)送到反應(yīng)單元151中或可替代地直接發(fā)送到Orbitrap分析器171中。
如上所述的每個(gè)填充可對(duì)應(yīng)于所選前體離子碰撞活化的不同的能量或者甚至方法。每個(gè)填充都能對(duì)應(yīng)于活化或碰撞能量中遞增變化，使得最終的離子布居對(duì)應(yīng)于整個(gè)活化/碰撞能量范圍。此方法允許在質(zhì)量分析器的單個(gè)譜中獲得“碰撞能量掃描”和使序列覆蓋最大化。此外，對(duì)于一些填充可以使用其它的裂解方法，例如紅外多光子解離、電子轉(zhuǎn)移解離、電子俘獲解離等。電子俘獲解離可以設(shè)置在第一質(zhì)量分析器MS-I、離子光學(xué)器件或彎曲的四極阱或其它中間離子存儲(chǔ)器內(nèi)。通過提供結(jié)構(gòu)信息的其它規(guī)格，這些方法可與多個(gè)填充結(jié)合使用，以作為用于肽和蛋白質(zhì)重新排序的強(qiáng)大工具。在圖3A中示出了本發(fā)明根據(jù)一些方面可以實(shí)施的廣義質(zhì)量譜儀系統(tǒng)300的第三實(shí)施例。除了系統(tǒng)300不包括第一質(zhì)譜儀MS-I之外，質(zhì)譜儀系統(tǒng)300與圖2A中示出的系統(tǒng) 200相似。因此，在系統(tǒng)300中，離子源110將沒有根據(jù)其m/z進(jìn)行預(yù)先選擇或預(yù)先分離的離子的流或脈沖傳送給中間離子存儲(chǔ)設(shè)備140和反應(yīng)單元150之一或二者。如圖:3B中的系統(tǒng)390示出沒有第一質(zhì)譜儀(MS-I)的系統(tǒng)的具體實(shí)施例。除了缺少多極離子阱121(即 MS-1)之外，系統(tǒng)390的部件與圖2中所示出的部件類似。圖4中的圖表(graph) 400是在具有精確質(zhì)量的MS分析儀器的色譜/質(zhì)譜分析裝置(例如GC-MS或LC-MS裝置)中洗脫被分析物期間，總的前體離子布居的測(cè)量的分布圖的示意表示。相應(yīng)地，虛曲線(或峰)401是假想的連續(xù)曲線，該連續(xù)曲線表示當(dāng)洗脫的被分析物被傳送到離子源時(shí)，質(zhì)譜儀的離子源在任何時(shí)刻所產(chǎn)生的離子的總數(shù)。如曲線401 所示的由離子源產(chǎn)生的離子的數(shù)量被假設(shè)為在任何時(shí)刻與洗脫的被分析物的質(zhì)量成比例。雖然離子實(shí)質(zhì)上連續(xù)地從離子源被傳送至精確質(zhì)量的MS分析器，精確質(zhì)量的MS 只分析離子流的離散樣本，每個(gè)這種分析需要有限的時(shí)間區(qū)間以進(jìn)行分析。為了便于討論， 由質(zhì)量分析器進(jìn)行的每個(gè)離散分析在本文中稱作“掃描”或“質(zhì)量掃描”。但是，應(yīng)當(dāng)記住， 即便使用該術(shù)語，但是許多精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器在就其自身而言沒有實(shí)際地連續(xù)掃描離子質(zhì)量的情況下就產(chǎn)生了關(guān)于離子質(zhì)量或質(zhì)荷成分的信息。圖4中的豎線表示由離子源產(chǎn)生的前體離子的假想離散樣本(sample)，選擇其中的六個(gè)，標(biāo)為樣本3、6、9、12、15和18。這些豎線中的每一個(gè)都可以認(rèn)為是洗脫曲線401的樣本。圖4和本文其它附圖中的豎線之間的間隔(不按比例)通常表示獲得掃描測(cè)量所需要的時(shí)間段。在正在進(jìn)行每次掃描的時(shí)間內(nèi)，精確質(zhì)量的MS通常不能接收其它離子。在該時(shí)間內(nèi)，進(jìn)入的離子(即來自離子源)可暫時(shí)存儲(chǔ)在例如圖IA或圖2A的第一質(zhì)量分析器(MS-I) 120中、圖IB或圖2B的多極離子阱121中、圖3A的中間離子存儲(chǔ)器140中或者圖3B的彎曲的四極阱141中。一旦精確質(zhì)量的MS已經(jīng)完成掃描，其所包含的離子被噴射或中和，然后所存儲(chǔ)的離子的一部分或全部進(jìn)入精確質(zhì)量的MS中并且開始新的掃描。為了討論，每條實(shí)豎線，例如樣本3、6、9、12、15、18，都可被認(rèn)為表示在對(duì)如由離子源產(chǎn)生的離子的樣本(也就是說，未經(jīng)裂解或其它反應(yīng)的離子樣本)掃描中將被測(cè)量到的前體離子的假想相對(duì)豐度。但是，應(yīng)當(dāng)想到，通?？梢詫?duì)前體離子、碎片離子、前體和碎片的混合物、或者以高能和低能產(chǎn)生的碎片的混合物進(jìn)行掃描。因此，基于使用的反應(yīng)或裂解類型、樣本性質(zhì)和各種實(shí)驗(yàn)條件，在任意單次掃描中所測(cè)量的離子數(shù)可以小于、等于或者大于實(shí)豎線的高度所表示的值。圖5A所示的圖表402是圖4中圖表400的一部分的擴(kuò)大版，示出了特定的假想樣本3、6、9、12、15和18。圖5B所示的圖表404是與這些樣本對(duì)應(yīng)的各個(gè)子布居(sub-population)的示意圖，其中，根據(jù)本發(fā)明的多個(gè)實(shí)施方式，每個(gè)子布居與碰撞或反應(yīng)單元所提供的離子相對(duì)應(yīng)。短劃線表示在碰撞或反應(yīng)單元中在較高能量條件(例如高碰撞能量規(guī)制)下生成的子布居；點(diǎn)線表示在較低能量條件下生成的子布居?？梢栽诜磻?yīng)或碰撞單元中分別生成子布居，然后使預(yù)定數(shù)量的子布居(例如，子布居對(duì))進(jìn)入精確質(zhì)量的MS 中以及在精確質(zhì)量的MS中一起被掃描，如本文之前所描述的。例如，如圖5A-5B所示，前體樣本3大致與子布居1和2對(duì)應(yīng)，前體樣本6大致與子布居4和5對(duì)應(yīng)，前體樣本9大致與子布居7和8對(duì)應(yīng)，前體樣本12大致與子布居10和11對(duì)應(yīng)，前體樣本15大致與子布居13 和14對(duì)應(yīng)，前體樣本18大致與子布居16和17對(duì)應(yīng)。在此實(shí)施例中，子布居1和2作為混合的離子布居進(jìn)入質(zhì)量分析器中和在質(zhì)量分析器中一起被掃描。同樣地，每個(gè)連續(xù)的子布居對(duì)(例如，子布居4和5、子布居7和8等)在質(zhì)量分析器中混合和作為混合離子布居一起被掃描。在此討論的上下文中，以相對(duì)語義使用的術(shù)語“高能子布居”指以相對(duì)更高能量 (相對(duì)于低能掃描)在反應(yīng)單元或碰撞單元中生成的離子，從而加速反應(yīng)單元中前體離子的裂解或反應(yīng)。類似地以相對(duì)語義使用術(shù)語“低能子布居”，除了至少一個(gè)該低能子布居應(yīng)與很少或沒有前體離子進(jìn)行裂解或反應(yīng)的情況相對(duì)應(yīng)以外。反應(yīng)單元可包括圖2A和圖3A 的反應(yīng)單元150或者圖2B和圖;3B的反應(yīng)單元151。可替代地，在一些裝置中，第一質(zhì)量分析器MS-I 120(圖IA和圖2A)、多極離子阱123(圖IB和圖2B)或彎曲的四極阱141 (圖 1B)可用作反應(yīng)單元，如本領(lǐng)域中所公知的。對(duì)高能和低能掃描可使用單獨(dú)的各自的反應(yīng)單元。圖5B表示根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施方式的掃描的一種可能的調(diào)制形式。在圖5B所示的實(shí)施例中，精確質(zhì)量的MS的每次掃描都與一個(gè)高能子布居和一個(gè)低能子布居之間的混合物相對(duì)應(yīng)，其中(a)每個(gè)低能子布居的能量非常低，使得很少或沒有前體離子被裂解或反應(yīng)；以及(b)高能子布居的能量周期性地變化。圖5B中的線403描繪出此變化或調(diào)制的包絡(luò)，在此實(shí)施例中僅用于高能掃描。應(yīng)當(dāng)注意，高能掃描和低能掃描不必一對(duì)一地交替，如圖5B所示，并且可以使用可能包含每一循環(huán)中不同掃描數(shù)量的各個(gè)替代性調(diào)制方式。因?yàn)樵谂鲎矄卧信鲎不蚍磻?yīng)能量的變化通常引起裂解或反應(yīng)的程度和機(jī)制的變化，前體離子與碎片或產(chǎn)物離子的相對(duì)比例通常在掃描之間變化，并且此變化將呈現(xiàn)出與所施加的掃描調(diào)制的相關(guān)性。例如，圖5C以示意圖的方式示出了被測(cè)的碎片離子的布居 (曲線407)與被測(cè)的前體離子的布居(曲線405)之間的對(duì)立變化(或負(fù)面相關(guān)行為)的實(shí)施例，當(dāng)高能裂解或反應(yīng)超出特定閾值能量時(shí)，發(fā)生該對(duì)立變化。在此實(shí)施例中，在碎片或產(chǎn)物離子布居中的最大值和在前體離子布居中的相關(guān)最小值，與樣本9(圖5A)有關(guān)的時(shí)間附近發(fā)生的調(diào)制曲線403(圖5B)中的最大值有關(guān)。因?yàn)檎{(diào)制曲線403是周期性的，所以在洗脫圖(圖4的圖表400)的其它部分處將觀察到前體離子與碎片或產(chǎn)物離子之間的類似的對(duì)立變化。因?yàn)橹虚g碎片離子或產(chǎn)物在進(jìn)一步裂解或反應(yīng)時(shí)可以產(chǎn)生二次碎片或產(chǎn)物，所以在該中間和二次離子種類的被測(cè)的量之間可以觀察到類似的關(guān)系?？梢酝ㄟ^將信號(hào)處理技術(shù)運(yùn)用到所收集的數(shù)據(jù)組來確定此各種關(guān)系的存在和程度。圖6A是通過調(diào)制進(jìn)入碰撞或反應(yīng)單元以生成每個(gè)子布居的離子的數(shù)量，在質(zhì)譜儀器的碰撞或反應(yīng)單元中分析一組混合離子布居的示意性圖解說明。例如，參照?qǐng)D2A，中間離子存儲(chǔ)器140與反應(yīng)單元150之間的離子光學(xué)器件或離子門(未示出)可被配置為使一定數(shù)量的離子進(jìn)入反應(yīng)單元150以進(jìn)行高能碰撞解離或反應(yīng)、和使一定不同數(shù)量的離子進(jìn)入反應(yīng)單元150以進(jìn)行低能碰撞解離或反應(yīng)?？梢允褂们笆龅娜魏蜛GC方法來確定適當(dāng)數(shù)量的離子進(jìn)入所需要的時(shí)間。此外，離子門可被打開以用于改變時(shí)間周期，使得進(jìn)入以進(jìn)行高能和低能碰撞解離或其它反應(yīng)的離子的相對(duì)比例周期性地改變。圖6A示出了該變化的一個(gè)實(shí)施例，其中豎直短劃線和豎直點(diǎn)線的高度分別表示進(jìn)入碰撞或反應(yīng)單元以進(jìn)行高能和低能裂解或反應(yīng)的前體離子的相對(duì)比例。前體子布居21和22大致與樣本3對(duì)應(yīng)，前體子布居M和25大致與樣本6對(duì)應(yīng)，前體子布居27和28大致與樣本9對(duì)應(yīng)，前體子布居 30和31大致與樣本12對(duì)應(yīng)，前體子布居33和34大致與樣本15對(duì)應(yīng)，前體子布居36和 37大致與樣本18對(duì)應(yīng)。每對(duì)前體子布居之間的相對(duì)比例的差值Δ A可以通過圖表410(圖6B)的調(diào)制包絡(luò)線409和通過圖6A中線對(duì)的相對(duì)高度示出的周期性方式改變。因此例如，對(duì)比前體子布居21和22，可以看出多于一半的與樣本3大致對(duì)應(yīng)的前體離子進(jìn)入碰撞或者反應(yīng)單元以進(jìn)行高能裂解。反之例如，對(duì)比前體子布居27和觀，可以看出少于一半的與樣本9大致對(duì)應(yīng)的前體離子進(jìn)入以進(jìn)行高能裂解或反應(yīng)。在此實(shí)施例中，使源自每對(duì)前體子布居的離子碎片或產(chǎn)物離子一起進(jìn)入精確質(zhì)量的MS并一起被掃描。因此，對(duì)混合的離子布居進(jìn)行精確質(zhì)量掃描，在該混合的離子布居中，前體離子與碎片離子或產(chǎn)物離子的比將以異相方式變化為調(diào)制曲線409。在此方式中，將前體離子可與產(chǎn)物離子或碎片離子區(qū)分開。圖7是在色譜/質(zhì)譜分析裝置中共同洗脫被分析物期間，如可以由質(zhì)譜儀測(cè)量的離子豐度測(cè)量數(shù)據(jù)的分布圖的示意性表示。在圖7的圖表420中，曲線4M表示第一被分析物的假設(shè)洗脫圖，以及曲線4 表示與第一被分析物部分地共同洗脫的第二被分析物的假設(shè)洗脫圖。曲線422是兩個(gè)洗脫曲線似4和426的疊加，并且表示例如在總離子色譜中、 在所選離子色譜中、或在由沒有質(zhì)量分析能力的裝置或系統(tǒng)得到的任意色譜實(shí)驗(yàn)結(jié)果中， 將被觀察到的洗脫圖。在本發(fā)明的上下文中，可通過包括如圖IA-圖;3B的任一個(gè)所示的精確質(zhì)量的MS 裝置的質(zhì)譜儀系統(tǒng)使用本發(fā)明所描述的方法獲得洗脫圖422(圖7)。當(dāng)利用這樣的方式獲得測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí)，那么，如前所述，將使用質(zhì)譜儀掃描的有限集對(duì)洗脫曲線422進(jìn)行采樣，其中，對(duì)混合離子布居實(shí)施每次掃描以及在掃描期間(across scans)或掃描之間調(diào)制至少一個(gè)布居的特性?？商娲?，掃描順序可以包括前體或碎片離子的全掃描，該全掃描與HCD單元所產(chǎn)生碎片的掃描、與由低能裂解所產(chǎn)生碎片的掃描、或與包含前體離子和碎片離子的混合離子布居的掃描交替。前體和碎片的其它各種結(jié)合也是允許的。如前所述，這些方法能夠識(shí)別前體離子和碎片離子或產(chǎn)物離子以及前體離子與它們的相關(guān)碎片或產(chǎn)物離子的相關(guān)性。特別地，當(dāng)部分共同洗脫的被分析物(如在圖7中)產(chǎn)生碎片或反應(yīng)產(chǎn)物的不同布居時(shí)，該分析可被擴(kuò)展，以基于作為時(shí)間的函數(shù)的洗脫圖將這些碎片或反應(yīng)產(chǎn)物布居匹配至共同洗脫的被分析物的特定一個(gè)(或消除作為候選者匹配的被分析物的一個(gè)或多個(gè))。 參照?qǐng)D7，例如，期望用于前體、碎片或者反應(yīng)產(chǎn)物的特定被分析物布居的作為時(shí)間函數(shù)的洗脫圖遵循曲線4M或曲線426的形式。如果來自交替掃描的質(zhì)量在相同的保留時(shí)間處示出相同的洗脫圖，那么它們可能是彼此相關(guān)的。根據(jù)上面的討論，圖8A是根據(jù)本發(fā)明用于在質(zhì)譜儀中獲取和分析混合離子布居
12的第一示例性方法的流程圖。在圖8A所示方法500的第一步中，步驟502中，在低能條件下在碰撞或反應(yīng)單元中生成或收集離子。在下一步中，步驟504中，在高能條件下在碰撞或反應(yīng)單元中生成或收集碎片離子或產(chǎn)物離子。在步驟504中使用的碰撞或反應(yīng)單元可以與步驟502中使用的碰撞或反應(yīng)單元相同或者不同。在步驟506中，將生成或獲取的離子從碰撞或反應(yīng)單元傳送到精確質(zhì)量的質(zhì)量分析器，以及在步驟508中，通過精確質(zhì)量的MS分析生成或獲取的離子。在下一步中，方法500的步驟510中，根據(jù)預(yù)定的周期性變化，將用于隨后高能裂解或反應(yīng)步驟的高能級(jí)設(shè)置為新的值。如果在判斷步驟512中還沒有完成實(shí)驗(yàn)，那么返回步驟502進(jìn)行方法的執(zhí)行，在步驟502中，生成或獲取與另一個(gè)樣本對(duì)應(yīng)的離子。否則，方法的執(zhí)行轉(zhuǎn)到步驟514，在步驟514中，分析所測(cè)離子豐度對(duì)時(shí)間的變化以識(shí)別所測(cè)豐度中的相關(guān)性或反相關(guān)性(anti-correlations)。最后，在步驟516中，用分析結(jié)果將前體離子匹配至碎片離子或產(chǎn)物離子，或者將前體離子、碎片離子或子離子離子匹配至特定的被分析物。圖8B是根據(jù)本發(fā)明用于在質(zhì)譜儀中獲取和分析混合離子布居的第二示例性方法的流程圖。在第一步中，圖8B所示方法550的步驟502中，根據(jù)第一比例在低能條件下在碰撞或反應(yīng)單元中生成或收集離子。接著，在步驟5M中，根據(jù)第二比例在高能條件下在碰撞或反應(yīng)單元中生成或收集離子。在步驟554中使用的碰撞或反應(yīng)單元可以與步驟552中使用的碰撞或反應(yīng)單元相同或者不同。在步驟556中，將生成或獲取的離子從碰撞或反應(yīng)單元傳送到精確質(zhì)量的MS,以及在步驟508中，通過精確質(zhì)量的MS分析所生成或獲取的離子。在下一步中，方法550的步驟560中，將第一或第二比例重新設(shè)置為新的值，以用于隨后的高能和低能裂解或反應(yīng)步驟，其中根據(jù)預(yù)定的周期性變化重新設(shè)置第一和第二比例。如果在判斷步驟562中還沒有完成實(shí)驗(yàn)，那么返回步驟552進(jìn)行方法的執(zhí)行，在步驟552中， 生成或獲取與另一個(gè)樣本對(duì)應(yīng)的離子。否則，方法的執(zhí)行轉(zhuǎn)到步驟564，在步驟564中，分析所測(cè)離子豐度對(duì)時(shí)間的變化以識(shí)別所測(cè)豐度中的相關(guān)性或反相關(guān)性。最后，在步驟516 中，用分析結(jié)果將前體離子匹配至碎片離子或產(chǎn)物離子，或者將前體離子、碎片離子或產(chǎn)物離子匹配至特定的被分析物。本申請(qǐng)中包含的討論旨在作為基本描述。雖然已經(jīng)根據(jù)所示出和所描述的各種實(shí)施方式描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將容易認(rèn)識(shí)到，可以對(duì)實(shí)施方式進(jìn)行多種改變，而且這些改變將落入本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)。讀者應(yīng)該知道，具體討論可能沒有明確說明所有可能的實(shí)施方式；許多替代的實(shí)施方式是隱含的。因此，在不脫離本發(fā)明的精神、 范圍和本質(zhì)的情況下，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以進(jìn)行許多修改。描述和術(shù)語都不旨在限制本發(fā)明的范圍。在本文中所參照的任何或全部出版物通過引用整體并入本文中。
權(quán)利要求
1.獲取和分析包括至少兩種組分的樣本的色譜/質(zhì)譜的方法，其特征在于a)設(shè)置第一能量級(jí)的當(dāng)前值和第二能量級(jí)的當(dāng)前值；b)使用色譜柱分離所述樣本的組分；c)使所分離的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；d)將所述前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與所述第一能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；e)將所述前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與所述第二能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；f)將所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；g)使用所述質(zhì)量分析器產(chǎn)生所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物的離子的質(zhì)荷分析；h)從所述質(zhì)量分析器排出所述第一離子子布居和所述第二離子子布居；i)根據(jù)能量的預(yù)定的周期性變化改變所述第一能量級(jí)和所述第二能量級(jí)中的至少一個(gè)的當(dāng)前值；j)重復(fù)步驟c)至步驟g)；以及k)產(chǎn)生質(zhì)荷分析的時(shí)間變化分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述質(zhì)量分析器選自離子回旋共振質(zhì)量分析器或靜電阱質(zhì)量分析器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征還在于1)基于所述時(shí)間變化分析使前體離子與碎片或產(chǎn)物離子匹配。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征還在于1)基于所述時(shí)間變化分析將前體離子、碎片離子或產(chǎn)物離子匹配至被分析物。
5.獲取和分析包括至少兩種組分的樣本的色譜/質(zhì)譜的方法，其特征在于a)設(shè)置離子的第一比例的當(dāng)前值和離子的第二比例的當(dāng)前值；b)使用色譜柱分離所述樣本的組分；c)使所分離的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；d)將所述前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一能量級(jí)和所述第一比例對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；e)將所述前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第二能量級(jí)和所述第二比例對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；f)將所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；g)使用所述質(zhì)量分析器產(chǎn)生所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物的離子的質(zhì)荷分析；h)從所述質(zhì)量分析器排出所述第一離子子布居和所述第二離子子布居；i)根據(jù)比例的預(yù)定的周期性變化改變所述第一比例和所述第二比例中的至少一個(gè)的當(dāng)前值；j)重復(fù)步驟c)至步驟g)；以及k)產(chǎn)生所述質(zhì)荷分析的時(shí)間變化分析。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述質(zhì)量分析器選自離子回旋共振質(zhì)量分析器或靜電阱質(zhì)量分析器。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征還在于1)基于所述時(shí)間變化分析使前體離子與碎片或產(chǎn)物離子匹配。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征還在于1)基于所述時(shí)間變化分析將前體離子、碎片離子或產(chǎn)物離子匹配至被分析物。
9.獲取和分析包括至少兩種組分的樣本的色譜/質(zhì)譜的方法，其特征在于a)使分離的組分的一部分離子化，以產(chǎn)生前體離子；b)將所述前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一裂解法對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；c)將所述前體離子的第二部分引入相同的或不同的碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第二裂解法對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；d)將所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；e)使用所述質(zhì)量分析器產(chǎn)生所述第一離子子布居和所述第二離子子布居的混合物的離子的質(zhì)荷分析；f)從所述質(zhì)量分析器排出所述第一離子子布居和所述第二離子子布居； j)重復(fù)步驟a)至步驟e)；以及h)基于所述質(zhì)荷分析的時(shí)間變化使前體離子與碎片或產(chǎn)物離子匹配。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述質(zhì)量分析器選自離子回旋共振質(zhì)量分析器或靜電阱質(zhì)量分析器。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征還在于i)基于所述質(zhì)荷分析的時(shí)間變化將前體離子、碎片離子或產(chǎn)物離子匹配至被分析物。
全文摘要
一種獲取和分析包括多個(gè)組分的樣本的質(zhì)譜的方法，其特征在于設(shè)置第一能量級(jí)和第二能量級(jí)的值；色譜地分離組分；使所分離的組分的一部分離子化以產(chǎn)生前體離子；將前體離子的第一部分引入碰撞或反應(yīng)單元中，以生成與第一能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第一離子子布居；將前體離子的第二部分引入單元中，以生成與第二能量級(jí)對(duì)應(yīng)的第二離子子布居；將第一和第二離子子布居的混合物傳送到質(zhì)量分析器中；產(chǎn)生混合物的離子分析；根據(jù)預(yù)定的周期性變化改變第一和第二能量級(jí)中的至少一個(gè)的值；重復(fù)上述各個(gè)步驟；以及分析上述分析的時(shí)間變化。
文檔編號(hào)B01D59/44GK102413907SQ201080019680
公開日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2010年3月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月13日
發(fā)明者弗拉迪米爾·扎布勞斯科夫, 斯科特·T·凱爾姆拜, 邁克爾·W·森克 申請(qǐng)人:薩莫芬尼根有限責(zé)任公司