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在移動基片上用電子束蒸發(fā)制備立方織構(gòu)Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜的方法

文檔序號:3251576閱讀:147來源:國知局
專利名稱:在移動基片上用電子束蒸發(fā)制備立方織構(gòu)Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜的方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電子束蒸發(fā)方法制備氧化物薄膜的工藝。本發(fā)明屬于電子束蒸發(fā)技術(shù)領(lǐng)域和YBCO涂層導體緩沖層的制備。
技術(shù)背景在高溫超導材料中,YBCO涂層導體是重要的研究領(lǐng)域。該類材料制備的主 要特點是(l)以柔性金屬帶材為基底材料,主要是用軋制及再結(jié)晶熱處理方法 獲得的具有高立方織構(gòu)的鎳及鎳合金帶材;(2)在金屬基帶上沉積一層或多層氧 化物薄膜(緩沖層),緩沖層一方面阻止金屬氧化及向YBC0擴散,另一方面將金 屬基底的織構(gòu)傳遞給YBCO超導層,緩沖層材料要求晶格常數(shù)、熱膨脹系數(shù)與金 屬基底和YBCO相近,并且熱穩(wěn)定性好;(3)在緩沖層上沉積具有立方織構(gòu)的YBC0 涂層。在以上三個步驟中,第二步最關(guān)鍵。目前制備緩沖層的手段主要分為真空 法和非真空法。真空法主要有PLD、濺射、電子束蒸發(fā)、M0CVD等;非真空法主 要有溶膠-凝膠、電鍍、電泳沉積等。國內(nèi)外研究者大多采用真空法來制備緩沖 層,該方法沉積得到的薄膜致密、表面平整均勻、織構(gòu)度高。電子束蒸發(fā)是以電子束轟擊方式加熱鍍膜材料,使之蒸發(fā)或升華,飛至基 帶表面凝聚成膜的一種鍍膜方法。該方法是采用電子束蒸發(fā)器以e型電子槍為加 熱蒸發(fā)源(電子軌跡磁偏轉(zhuǎn)角27(T ),由電子發(fā)射源(直線狀螺旋鎢陰極)、電 子加速電源、坩堝(陽極,銅或鎢制成)、磁場線圈、冷卻水套等組成。鍍膜材 料放入水冷坩堝中,電子束自電子發(fā)射源發(fā)出,經(jīng)過磁場線圈產(chǎn)生的磁場時,電 子束聚集并偏轉(zhuǎn)270。,射入坩堝,不斷對膜料進行轟擊,其動能變成熱能使膜 料蒸發(fā),產(chǎn)生蒸發(fā)原子。蒸發(fā)原子到達基帶表面碰撞后一部分被反射,另一部分 被吸附。吸附原子在基帶表面發(fā)生表面擴散,并產(chǎn)生兩維碰撞,形成簇團,或者 在表面停留一段時間后發(fā)生再蒸發(fā)。原子簇團與擴散原子相碰撞,或吸附單原子, 或放出單原子,這種過程反復(fù)進行,當原子數(shù)超過某一臨界值時就變?yōu)榉€(wěn)定核, 再不斷吸附其他擴散原子而逐歩長大,最后與臨近穩(wěn)定核合并,進而變成穩(wěn)定膜。至此,鍍膜材料沉積于基帶上。氧化釔,化學符號Y2Cb,其密度為5.01g/cm3,熔點為2450'C,晶格常數(shù) 為1.06nm。它的結(jié)構(gòu)類似于Mm03,屬于立方晶系。^03高溫下很穩(wěn)定,是很 好的絕緣材料,用它作為YBCO涂層導體的緩沖層不僅可以減緩金屬的高溫氧 化及擴散,而且與YBCO有很好的晶格匹配和熱膨脹系數(shù)匹配,是YBCO涂層 導體較為理想的緩沖層材料。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供一種在移動基片上用電子束蒸發(fā)制備立方織構(gòu)YA薄 膜的方法。該方法沉積速度快、沉積面積大、工藝相對簡便。 為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取以下技術(shù)方案-一種電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)Y20,薄膜的方法,該方法包括以 下歩驟(1) 在Ni或Ni合金帶材上裁取所需基片;或直接選取(100)單晶基片;(2) 在腔體內(nèi),將基片粘貼或焊接在不銹鋼基帶上,然后抽腔體真空至小于3 X10—4Pa,隨后在10 40分鐘內(nèi)使基片溫度升至500°C 700°C,平衡10 30分 鐘,通入02或水氣,將腔體的氣壓調(diào)至4 7X10—' Pa,平衡5—15分鐘;(3) 在腔體內(nèi),采用電子束蒸發(fā)法,用電子槍電源,轟擊坩堝內(nèi)純釔金屬表面;(4) 將工藝參數(shù)穩(wěn)定在以下范圍工作氣壓5.0 9.0X1(T Pa, 02或水氣的分 壓2 5X10—1 Pa,膜料蒸發(fā)速率O. 1 0.5 nm/秒,并沿與膜料蒸發(fā)的垂直的方 向移動不銹鋼基帶,不銹鋼基帶移動速率0.2 2 mm/秒。(5) 待氣壓、束流、膜料蒸發(fā)速率及基帶移動速率穩(wěn)定后,移開設(shè)在基帶前面 的樣品擋板,開始沉積¥20:,緩沖層;(6) 在基帶上得到Y(jié)A緩沖層,結(jié)束沉積。在上述10:,緩沖層的制備方法中,所述的Ni或Ni合金帶材是經(jīng)過軋制和再 結(jié)晶退火處理的,使其具有強立方織構(gòu)。在上述Y力:,緩沖層的制備方法中,在所述的步驟(1)中,將基片先進行清 洗,具體過程是將基片放入酒精中進行超聲波清洗,除去表面的水分;然后放 入丙酮中進行超聲波清洗,除去表面的油污。在上述YA緩沖層的制備方法中,在所述的歩驟(2)的通入02或水氣至腔 體內(nèi)的過程中,是采用管路直接將02或水氣通向基片的沉積面。在上述Y必,緩沖層的制備方法中,步驟(2)中,開啟電子槍前,真空室內(nèi) 氣壓一般需保證〈7X1(T Pa,否則會對電子槍造成損壞。本發(fā)明的優(yōu)點是本發(fā)明提供了一種電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)Y2O3薄膜的工藝。 該方法由于沉積速度快、沉積面積大、工藝相對簡便,提高了薄膜制備的效率, 該方法得到具有強立方織構(gòu)的YA薄膜,該薄膜平整致密。該方法對YBCO涂層 導體的規(guī)模化制備有重要意義。


圖1是本發(fā)明所使用的設(shè)備示意圖。 圖2是本發(fā)明所使用的Ni合金基片的(111)極圖。 圖3是本發(fā)明所使用的Ni合金基片的SEM照片。圖4是本發(fā)明具體實施例1所制備的Y203緩沖層的x射線e -2 e掃描圖。 圖5是本發(fā)明具體實施例2所制備的Y203緩沖層的x射線8 —2 e掃描圖。 圖6是本發(fā)明具體實施例2所制備的Y2Cb緩沖層的SEM掃描圖。 圖7是本發(fā)明具體實施例3所制備的Y2Ch緩沖層的x射線O掃描圖。 圖8是本發(fā)明具體實施例3所制備的Y2Ch緩沖層的SEM掃描圖。
具體實施方式
如圖1所示,在腔體1內(nèi)設(shè)有坩鍋2,坩鍋2裝有蒸發(fā)源-純釔3,電子束 10不斷轟擊坩堝2內(nèi)的蒸發(fā)源。坩鍋2正上方設(shè)置有加熱燈4,在加熱燈4下方 設(shè)有基片5,基片5粘貼或焊接在不銹鋼基帶6上,不銹鋼基帶6的兩端分別纏 繞在纏帶輪7上,可使不銹鋼基帶6載著基片5在加熱燈4下方來回移動。在腔 體1上設(shè)有氣體進口8、連接分子泵、機械泵(圖中未示)等抽真空系統(tǒng)的抽真 空口9。在基片5前面設(shè)有可移動的樣品擋板(圖中未示)。如圖1所示,電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)Y203薄膜的方法,該方法包括以下步驟(1) 在Ni或Ni合金帶材上裁取所需基片5;或直接選取(100)單晶基片5。 其中,Ni或Ni合金帶材是經(jīng)過軋制和再結(jié)晶退火處理的,具有強立方織構(gòu)???以將基片5先進行清洗,具體過程是先將基片5放入酒精中進行超聲波清洗, 除去表面的水分;然后放入丙酮中進行超聲波清洗,除去表面的油污。(2) 在腔體1內(nèi),將基片5粘貼或焊接在不銹鋼基帶6上,然后通過抽真空口 9,抽腔體l真空至小于3X10^Pa,隨后開啟加熱燈4,在10 40分鐘內(nèi)將基片 溫度升至50(TC 70(TC,平衡10 30分鐘,通過氣體進口 8,通入Ch或水氣, 將腔體1的氣壓調(diào)至4 7X 10-3 Pa,平衡數(shù)分鐘。(3) 在腔體1內(nèi),開電子槍電源,轟擊坩堝2內(nèi)純釔金屬表面,所述的純釔3 為純度》99.9%的釔。調(diào)整電子束10的束流大小,直至坩堝2內(nèi)材料開始蒸發(fā), 調(diào)整時應(yīng)兼顧束流、功率和蒸發(fā)速率, 一般追求高的蒸發(fā)速率而又不使膜料四處 飛濺最為理想。(4) 將工藝參數(shù)穩(wěn)定在以下范圍工作氣壓5.0 9.0xl(T3 Pa, Ch或水氣的分
壓2 5X 10-3 Pa,膜料蒸發(fā)速率0. 1 0. 5 nm/秒,并通過纏帶輪7移動不銹鋼 基帶6,不銹鋼基帶6移動速率0. 2 2 mm/秒。(5) 待氣壓、束流、膜料蒸發(fā)速率及不銹鋼基帶6移動速率穩(wěn)定后,移開樣品 擋板(圖未示),膜料開始往基片5上沉積,從而得到Y(jié)2Ch緩沖層。(6) 結(jié)束沉積時,關(guān)樣品擋板、束流調(diào)回零、關(guān)閉高壓、掃描坐標X、 Y調(diào)為零 并關(guān)掃描,燈絲預(yù)熱調(diào)回零、關(guān)電子槍電源,然后關(guān)氣體、降溫、停分子泵、關(guān) 機械泵。在上述Y203緩沖層的制備方法中,歩驟(3)中,開啟電子槍的具體過程為 打開電子槍燈絲預(yù)置電流,使燈絲預(yù)熱數(shù)分鐘。開電子束掃描按鈕,調(diào)節(jié)掃描X、 Y坐標,使電子束束斑的掃描位置處于坩堝內(nèi)。選擇適當電子槍高壓,并啟動高 壓按鈕。此時發(fā)射源產(chǎn)生電子束,在坩堝內(nèi)純釔金屬表面形成束斑,開始轟擊純 釔金屬。選擇一定的電子束掃描波形,并調(diào)整掃描坐標X、 Y大小,使束斑在鉗 堝內(nèi)實現(xiàn)動態(tài)掃描。增加束流,直至柑堝內(nèi)材料開始蒸發(fā)。在上述Y203緩沖層的制備方法中,歩驟(4)中,氣體分壓由殘余氣體分析 儀測得,膜料蒸發(fā)速率由膜厚監(jiān)控儀測得,不銹鋼基帶移動速率由計算機帶速控 制軟件測得。 具體實施例1:用電子束蒸發(fā)制備Y2Cb緩沖層,99.9%的塊狀純釔金屬做蒸發(fā)源。取(100)鋁酸鑭(LaAlCb)單晶基片,大小為3X10mm。(必要時需對單 晶基片進行清洗,具體過程是先放入酒精中進行超聲波清洗,除去表面的水分; 然后放入丙酮中進行超聲波清洗,除去表面的油污。)如圖1所示,把準備好的LaA10:,基片5粘在不銹鋼基帶6上,抽腔體1真 空至2X10,a,隨后升溫至50(TC,平衡20分鐘左右,通入02(保持02分壓 約為4XK^Pa),并將總氣壓調(diào)至6X10-spa。平衡5分鐘,打開電子槍燈絲預(yù) 置電流,使燈絲預(yù)熱數(shù)分鐘。開電子束10的掃描按鈕,調(diào)節(jié)掃描X、 Y坐標,使 電子束10的束斑的掃描位置處于坩堝2內(nèi)。啟動電子槍高壓按鈕,電子束10 產(chǎn)生并在坩堝2內(nèi)純釔3表面形成束斑,進行轟擊。調(diào)整束流大小,直至坩堝2 內(nèi)材料丌始蒸發(fā),調(diào)整時應(yīng)兼顧束流、功率和蒸發(fā)速率, 一般追求高的功率密度 而又不使膜料飛濺最為理想。穩(wěn)定束流,使蒸發(fā)速率約為0.2 nm/秒,啟動纏帶輪7,使不銹鋼基帶6移 動速率=0.2 mm/秒。待束流、蒸發(fā)速率和不銹鋼基帶6移動速率穩(wěn)定后,移開 樣品擋板,膜料丌始往LaAlCb基片上沉積,得到Y(jié)203緩沖層。結(jié)束沉積時,關(guān)樣品擋板、停纏帶輪7、束流調(diào)回零、關(guān)閉高壓、掃描坐標 X、 Y調(diào)為零并關(guān)掃描,燈絲預(yù)熱調(diào)回零、關(guān)電子槍電源,然后關(guān)氣體、降溫、
停分子泵、關(guān)機械泵,整個制備過程結(jié)束。Y2Cb緩沖層的x射線e -2 e掃描見圖4,結(jié)果表明薄膜具有強C軸取向。具體實施例2:用電子束蒸發(fā)制備Y203緩沖層,99.9%的塊狀純釔金屬做蒸發(fā)源。把具有強立方織構(gòu)的Ni合金帶材(其(111)極圖如圖2所示,掃描電子顯微 鏡圖像如圖3所示),裁剪成大小為5 X 10mm基片。(必要時需對Ni合金基片進 行清洗,具體過程是先放入酒精中進行超聲波清洗2分鐘,除去表面的水分; 然后放入丙酮中進行超聲波清洗3分鐘,除去表面的油污。)如圖1所示,把準備好的Ni合金基片5粘在不銹鋼基帶6上,抽腔體l真 空至2X10"Pa,隨后升溫至60(TC,平衡20分鐘左右,通入Cb (保持Ch分壓 約為4Xl(^Pa),并將總氣壓調(diào)至6X10-3Pa。平衡5分鐘,打丌電子槍燈絲預(yù) 置電流,使燈絲預(yù)熱數(shù)分鐘。開電子束10的掃描按鈕,調(diào)節(jié)掃描X、 Y坐標,使 電子束10的束斑的掃描位置處于坩堝2內(nèi)。啟動電子槍高壓按鈕,電子束10 產(chǎn)生并在坩堝2內(nèi)純釔3表面形成束斑,進行轟擊。調(diào)整束流大小,直至坩堝2 內(nèi)材料開始蒸發(fā),調(diào)整時應(yīng)兼顧束流、功率和蒸發(fā)速率, 一般追求高的功率密度 而又不使膜料飛濺最為理想。穩(wěn)定束流,使蒸發(fā)速率約為0.2 nm/秒,啟動纏帶輪7,使不銹鋼基帶6移 動速率=0.4 mm/秒。待束流、蒸發(fā)速率和不銹鋼基帶6移動速率穩(wěn)定后,移開 樣品擋板,膜料開始往Ni合金基片5上沉積,得到Y(jié)2Cb緩沖層。結(jié)束沉積時,關(guān)樣品擋板、停纏帶輪7、束流調(diào)回零、關(guān)閉高壓、掃描坐標 X、 Y調(diào)為零并關(guān)掃描,燈絲預(yù)熱調(diào)回零、關(guān)電子槍電源,然后關(guān)氣體、降溫、 停分子泵、關(guān)機械泵,整個制備過程結(jié)束。Y2Ch緩沖層的x射線e-2e掃描見圖5,結(jié)果表明薄膜具有強C軸取向。 Y2Cb緩沖層的掃描電鏡照片見圖6,可見薄膜致密均勻,沒有微裂紋。 具體實施例3:用電子束蒸發(fā)制備Y203緩沖層,99.9%的塊狀純釔金屬做蒸發(fā)源。 把具有強立方織構(gòu)的純Ni帶材,裁剪成大小為5X10mm的基片,(必要時 需對Ni合金基片進行清洗,具體過程是先放入酒精中進行超聲波清洗2分鐘, 除去表面的水分;然后放入丙酮中進行超聲波清洗3分鐘,除去表面的油污。)如圖1所示,把準備好的純Ni基片5粘在不銹鋼基帶6上,抽腔體l真空 至2X10"Pa,隨后升溫至700'C,平衡30分鐘左右,通入水氣(保持其分壓約 為5X10^Pa),并將總氣壓調(diào)至7X10^Pa。平衡5分鐘,打丌電子槍燈絲預(yù)置 電流,使燈絲預(yù)熱數(shù)分鐘。開電子束10的掃描按鈕,調(diào)節(jié)掃描X、 Y坐標,使電 子束10的束斑的掃描位置處于坩堝2內(nèi)。啟動電子槍高壓按鈕,電子束10產(chǎn)生
并在坩堝2內(nèi)純釔3表面形成束斑,進行轟擊。調(diào)整束流大小,直至坩堝2內(nèi)材 料開始蒸發(fā)。調(diào)整時應(yīng)兼顧束流、功率和膜料蒸發(fā)速率, 一般追求高的功率密度 而又不使膜料飛濺最為理想。穩(wěn)定束流,使膜料蒸發(fā)速率約為0.5nm/秒,啟動纏帶輪7,使不銹鋼基帶6 移動速率-lmm/秒。待束流、蒸發(fā)速率和不銹鋼基帶6移動速率穩(wěn)定后,移開 樣品擋板,開始往純Ni基片上沉積。純Ni基片5在移動過程中沉積得到Y(jié)203 緩沖層。結(jié)束沉積時,關(guān)樣品擋板、停纏帶輪7、束流調(diào)回零、關(guān)閉高壓、掃描坐標 X、 Y調(diào)為零并關(guān)掃描,燈絲預(yù)熱調(diào)回零、關(guān)電子槍電源,然后關(guān)氣體、降溫、 停分子泵、關(guān)機械泵,整個制備過程結(jié)束。Y2Ch緩沖層的x射線d)掃描見圖7,半高寬約8.5。,表明薄膜具有高度立 方織構(gòu)。Y2Ch緩沖層的掃描電鏡照片見圖8,可見薄膜致密均勻,沒有微裂紋。
權(quán)利要求
1、一種電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)Y2O3薄膜的方法,其特征在于該方法包括以下步驟(1)在Ni或Ni合金帶材上裁取所需基片;或直接選取(100)單晶基片;(2)在腔體內(nèi),將基片粘貼或焊接在不銹鋼基帶上,然后抽腔體真空至小于3×10-4Pa,隨后在10~40分鐘內(nèi)使基片溫度升至500℃~700℃,平衡10~30分鐘,通入O2或水氣,將腔體的氣壓調(diào)至4~7×10-3Pa,平衡5-15分鐘;(3)在腔體內(nèi),采用電子束蒸發(fā)法,用電子槍電源,轟擊坩堝內(nèi)純釔金屬表面;(4)將工藝參數(shù)穩(wěn)定在以下范圍工作氣壓5.0~9.0×10-3Pa,O2或水氣的分壓2~5×10-3Pa,膜料蒸發(fā)速率0.1~0.5nm/秒,并沿與膜料蒸發(fā)的垂直的方向移動不銹鋼基帶,不銹鋼基帶移動速率0.2~2mm/秒。(5)待氣壓、束流、膜料蒸發(fā)速率及基帶移動速率穩(wěn)定后,移開設(shè)在基帶前面的樣品擋板,開始沉積Y2O3緩沖層;(6)在基帶上得到Y(jié)2O3緩沖層,結(jié)束沉積。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)YA薄膜 的方法,其特征在于所述的Ni或Ni合金帶材是經(jīng)過軋制和再結(jié)晶退火處理的, 使其具有強立方織構(gòu)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)YA薄膜的方法,其特征在于在所述的步驟(1)中,將基片先進行清洗,具體過程是: 將基片放入酒精中進行超聲波清洗,除去表面的水分;然后放入丙酮中進行超聲 波清洗,除去表面的油污。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)丫20:,薄膜 的方法,其特征在于在所述的歩驟(2)的通入02或水氣至腔體內(nèi)的過程中, 是采用管路直接將02或水氣通向基片的沉積面。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電子束蒸發(fā)在移動基片上制備立方織構(gòu)Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜的方法。將單晶基片、Ni或Ni合金基片粘貼或焊接在可以移動的不銹鋼基帶上,然后抽腔體真空至小于3×10<sup>-4</sup>Pa,隨后將加熱器溫度升至500℃~700℃,通入O<sub>2</sub>或水氣,將腔體氣壓調(diào)至4~7×10<sup>-3</sup>Pa,開電子槍電源,使電子束轟擊坩堝內(nèi)純釔金屬表面,調(diào)整好工藝參數(shù),同時待氣壓、束流、膜料蒸發(fā)速率及基帶移動速率穩(wěn)定后,移開樣品擋板,開始沉積Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜。最后得到具有強立方織構(gòu)的Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>薄膜,該薄膜平整致密。
文檔編號C23C14/08GK101117701SQ20061008904
公開日2008年2月6日 申請日期2006年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月31日
發(fā)明者劉慧舟, 飛 屈, 堅 楊 申請人:北京有色金屬研究總院
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