一種陣列基板及其制作方法、測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種陣列基板及其制作方法、測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示裝置因具有功耗低、無輻射等優(yōu)點，現(xiàn)已占據(jù)了平面顯示領(lǐng)域的主導(dǎo)地位。液晶顯示裝置通常包括液晶面板，液晶面板由陣列基板、彩膜基板以及夾持在兩者之間的液晶層組成。
[0003]在液晶顯示裝置的開發(fā)技術(shù)反饋、產(chǎn)品評價分析等情況下，經(jīng)常需要對裝配完畢的陣列基板中顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件進行測試。因此，現(xiàn)有的陣列基板中通常在外圍區(qū)域預(yù)設(shè)信號測試走線，信號測試走線的一端與顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件電連接，另一端設(shè)有測試電極，在需要對待測元件進行測試時，將測試電極與檢測設(shè)備電連接，即可通過檢測設(shè)備對顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件進行測試。
[0004]然而，為了能夠在不破壞陣列基板的前提下將檢測設(shè)備連接至測試電極，信號測試走線上的測試電極需暴露在陣列基板外，而信號測試走線又與顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件電連接。因此，在現(xiàn)有的陣列基板中，信號測試走線極易將陣列基板外的靜電引入顯示區(qū)域內(nèi)，對顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件及其他元件造成危害。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種陣列基板及其制作方法、測試方法，用于避免信號測試走線將陣列基板外的靜電引入顯示區(qū)域內(nèi)，從而避免對顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件及其他元件造成危害。
[0006]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
[0007]第一方面，本發(fā)明提供了一種陣列基板，包括顯示區(qū)域和外圍區(qū)域，在所述顯示區(qū)域設(shè)有待測元件，在所述外圍區(qū)域設(shè)有信號測試走線，所述信號測試走線包括異層設(shè)置且相互絕緣的本體部和檢測部；其中，
[0008]所述本體部的一端與所述待測元件電連接、另一端設(shè)有位于所述外圍區(qū)域內(nèi)的第一焊盤；所述檢測部的一端設(shè)有第二焊盤、另一端設(shè)有暴露在所述外圍區(qū)域外的測試電極；在同一所述信號測試走線中，所述第一焊盤與所述第二焊盤在同一平面上的投影具有交疊區(qū)域。
[0009]本發(fā)明提供的陣列基板中，信號測試走線包括異層設(shè)置且相互絕緣的本體部和檢測部，其中，與待測元件直接電連接的本體部埋設(shè)在陣列基板中外圍區(qū)域內(nèi)，該本體部與外界絕緣，以防止靜電從外界進入顯示區(qū)域內(nèi)，而檢測部與陣列基板中顯示區(qū)域內(nèi)的元件絕緣，即使外界的靜電通過檢測部上的測試電極進入檢測部，也能夠避免該靜電繼續(xù)傳導(dǎo)至顯示區(qū)域內(nèi)的元件，從而避免對顯示區(qū)域內(nèi)的元件造成危害。在需要對顯示區(qū)域內(nèi)的元件進行測試時，將用于測試待該測元件的信號測試走線中的本體部上的第一焊盤和檢測部上的第二焊盤熔接，使得該信號測試走線導(dǎo)通，此時只需將檢測設(shè)備連接至該信號測試走線中檢測部上的測試電極，即可通過該信號測試走線對待測元件進行測試。因此，與現(xiàn)有技術(shù)中信號測試走線上的測試電極長期暴露在陣列基板外相比，在本發(fā)明提供的陣列基板中，信號測試走線中與待測元件直接電連接的本體部埋設(shè)在外圍區(qū)域內(nèi)，從而避免信號測試走線將靜電引入顯示區(qū)域內(nèi)，進而避免對顯示區(qū)域內(nèi)的待測元件及其他元件造成危害。
[0010]第二方面，本發(fā)明還提供了一種上述技術(shù)方案所提供的陣列基板的制作方法，所述陣列基板包括顯示區(qū)域和外圍區(qū)域，在所述顯示區(qū)域設(shè)有待測元件，在所述外圍區(qū)域設(shè)有信號測試走線，所述信號測試走線包括本體部和檢測部；所述陣列基板的制作方法包括:
[0011]在所述外圍區(qū)域形成所述信號測試走線的所述本體部，所述本體部的一端與所述待測元件電連接，另一端設(shè)有位于所述外圍區(qū)域內(nèi)的第一焊盤；
[0012]在所述本體部的異層形成所述信號測試走線的所述檢測部，所述本體部與所述檢測部相互絕緣，所述檢測部的一端設(shè)有第二焊盤，另一端設(shè)有暴露在所述外圍區(qū)域外的測試電極；其中，在同一信號測試走線中，所述第一焊盤與所述第二焊盤在同一平面上的投影具有交疊區(qū)域。
[0013]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的陣列基板的制作方法具有的優(yōu)勢與上述陣列基板相對于現(xiàn)有技術(shù)所具有的優(yōu)勢相同，在此不再贅述。
[0014]第三方面，本發(fā)明還提供了一種上述技術(shù)方案所提供的陣列基板的測試方法，所述陣列基板的測試方法包括:
[0015]將用于測試待測元件的信號測試走線中的本體部上的第一焊盤和檢測部上的第二焊盤熔接；
[0016]將檢測設(shè)備連接至所述信號測試走線的檢測部上的測試電極，通過所述檢測設(shè)備對所述待測元件進行測試。
[0017]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的陣列基板的測試方法具有的優(yōu)勢與上述陣列基板相對于現(xiàn)有技術(shù)所具有的優(yōu)勢相同，在此不再贅述。
【附圖說明】
[0018]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0019]圖1為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的示意圖；
[0020]圖2為圖1中信號測試走線中本體部210和檢測部220連接部分的放大圖；
[0021]圖3為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的制作方法的流程圖；
[0022]圖4為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的測試方法的流程圖。
[0023]附圖標(biāo)記:
[0024]100-顯示區(qū)域，101-柵線，
[0025]102-數(shù)據(jù)線，103-像素電極，
[0026]200-外圍區(qū)域，210-信號測試走線的本體部，
[0027]211-第一焊盤，220-信號測試走線的檢測部，
[0028]221-第二焊盤，222-測試電極。
【具體實施方式】
[0029]為了進一步說明本發(fā)明提供的陣列基板及其制作方法、測試方法，下面結(jié)合說明書附圖進行詳細描述。
[0030]請參閱圖1和圖2，本發(fā)明實施例提供了一種陣列基板，包括顯示區(qū)域100和外圍區(qū)域200，在顯示區(qū)域100設(shè)有待測元件，在外圍區(qū)域200設(shè)有多條信號測試走線，信號測試走線包括異層設(shè)置且相互絕緣的本體部210和檢測部220 ;其中，本體部210的一端與待測元件電連接、另一端設(shè)有位于外圍區(qū)域200內(nèi)的第一焊盤211 ;檢測部220的一端設(shè)有第二焊盤221、另一端設(shè)有暴露在外圍區(qū)域200外的測試電極222;在同一信號測試走線中，第一焊盤211與第二焊盤221在同一平面上的投影具有交疊區(qū)域。
[0031]具體實施時，陣列基板包括襯底基板、以及在襯底基板上層疊設(shè)置的多個功能層，根據(jù)陣列基板的生產(chǎn)要求，顯示區(qū)域100和外圍區(qū)域200的功能層設(shè)置可相同也可不同，并且，在陣列基板中設(shè)有大量元件，這些元件位于顯示區(qū)域100和外圍區(qū)域200內(nèi)的各功能層中，這些元件包括:位于顯示區(qū)域100內(nèi)的待測元件，位于外圍區(qū)域200中的信號測試走線，以及除待測元件以及信號測試走線之外、位于顯示區(qū)域100或外圍區(qū)域200中的其他元件。通過上述設(shè)置，在信號測試走線中，與待測元件直接電連接的本體部210埋設(shè)在陣列基板中外圍區(qū)域200內(nèi)，該本體部210與外界絕緣，從而能夠防止外界的靜電傳導(dǎo)至該本體部210，因而既不會對與該本體部210直接電連接的待測元件造成危害，也不會對上述位于顯示區(qū)域100或外圍區(qū)域200中的其他元件造成危害；而檢測部220與本體部210異層設(shè)置且相互絕緣，即使陣列基板外的靜電通過該檢測部220上的測試電極222傳導(dǎo)至檢測部220，異層設(shè)置的檢測部220也能夠避免該靜電繼續(xù)傳導(dǎo)至顯示區(qū)域100內(nèi)的待測元件、或繼續(xù)傳導(dǎo)至上述位于顯示區(qū)域100或外圍區(qū)域200中的其他元件，從而避免該靜電對這些元件造成危害。
[0032]而在對本發(fā)明實施例提供的陣列基板進行測試時，在確認待測元件所對應(yīng)的信號測試走線后，只需通過激光焊接等手段，使該信號測試走線中本體部210上的第一焊盤211和檢測部220上的第二焊盤221熔接，也即使該信號測試走線導(dǎo)通，然后將檢測設(shè)備連接至該信號測試走線中檢測部220上的測試電極222，即可通過檢測設(shè)備對該待測元件進行測試。因此，與現(xiàn)有技術(shù)中信號測試走線上的測試電極222暴露在陣列基板外相比