專利名稱:Led靜態(tài)模組測試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種檢測設(shè)備,尤其涉及對LED行業(yè)中LED靜態(tài)顯示模組的檢測。
背景技術(shù):
目前LED產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于銀行、證券、稅務(wù)、電力、醫(yī)院、車站、港務(wù)、工廠等各行 各業(yè)。隨著LED行業(yè)的蓬勃發(fā)展,LED產(chǎn)品的生產(chǎn)已經(jīng)達(dá)到規(guī)?;?、批量化,對LED產(chǎn)品檢 測工作也隨之加劇。然而目前市場上針對大批量模組的測試、老化,卻很難找到一種操作簡單、測試功 能齊備的測試卡。如市場上大規(guī)模使用的靈心雨控制卡在進(jìn)行模組的測試的時候,對驅(qū)動 芯片為5039的模組手動調(diào)節(jié)電流增益調(diào)節(jié)很不方便,并且在進(jìn)行測試時,點(diǎn)亮的模組數(shù)很 有限,其他諸多控制卡也遇到同類似的問題。隨著單片機(jī)技術(shù)的發(fā)展和成熟,單片機(jī)已經(jīng)廣泛應(yīng)用到生產(chǎn)生活的各個領(lǐng)域,如 智能儀表、實(shí)時工控、通信設(shè)備、導(dǎo)航系統(tǒng)、家用電器、醫(yī)療器械等,單片機(jī)用于產(chǎn)品,使得產(chǎn) 品的性能大幅度提高。而AVR單片機(jī)作為單片機(jī)領(lǐng)域的佼佼者,具有資源豐富,性能優(yōu)異, 抗干擾性好,價格低廉,程序易于升級等諸多憂點(diǎn),用AVR單片機(jī)開發(fā)產(chǎn)品具有一定工程意 義。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于解決上述問題,提供了一種LED靜態(tài)模組測試卡,通過對 LED顯示模組的測試,檢查LED顯示模組是否滿足生產(chǎn)要求,并對不滿足生產(chǎn)要求的模組進(jìn) 行故障檢測,方便生產(chǎn)人員對模組的修復(fù)。本實(shí)用新型的技術(shù)方案為本實(shí)用新型揭示了一種LED靜態(tài)模組測試卡,該測試 卡包括微處理單元,控制對待測LED靜態(tài)模組的測試動作;輸入設(shè)備,連接該微處理單元,實(shí)現(xiàn)對待測LED靜態(tài)模組的測試操作;輸出端口,連接該微處理單元,且連接待測LED靜態(tài)模組,輸出測試信號至待測 LED靜態(tài)模組。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該微處理單元是AVR單片機(jī)。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該輸入設(shè)備是按鍵和/或撥 碼開關(guān)。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該輸出端口是Hub板連接端 口和/或模組連接端口,該Hub板連接端口通過一 Hub板連接待測LED靜態(tài)模組,該模組連 接端口通過接口線纜直接連接待測LED靜態(tài)模組。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該測試卡還包括一電源。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該測試卡還包括通信端口。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該通信端口是RS232通信端
3[0016]根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該微處理單元進(jìn)一步包括以 下的任意一種組合逐點(diǎn)測試單元,通過對待測LED靜態(tài)模組上的LED燈逐個點(diǎn)亮的方式對待測LED 燈的走線方式進(jìn)行檢測;走線方式配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的走線方式;顯示方式配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的顯示方式;顏色配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的顏色配置方式;亮度調(diào)節(jié)單元,通過調(diào)節(jié)待測LED靜態(tài)模組上驅(qū)動芯片的電流增益來調(diào)節(jié)LED燈 的亮度。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該顯示方式配置單元進(jìn)一步 包括以下的任意一種組合走斜線測試單元,讓待測LED靜態(tài)模組走動條紋狀的斜線以測試有無焊點(diǎn)相連的 情況發(fā)生;全亮測試單元,點(diǎn)亮待測LED靜態(tài)模組上的全部LED燈以測試有無暗點(diǎn);全暗測試單元,讓待測LED靜態(tài)模組上的LED燈在保持通電的情況下全部熄滅以 測試有無常亮點(diǎn)。根據(jù)本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的一實(shí)施例,該顯示方式配置單元還包 括自動測試單元,使待測LED靜態(tài)模組循環(huán)實(shí)行該走斜線測試單元、該全亮測試單 元以及該全暗測試單元的實(shí)現(xiàn)方式,以檢測該LED靜態(tài)模組是否發(fā)生老化。本實(shí)用新型對比現(xiàn)有技術(shù)有如下的有益效果本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡 以撥碼開關(guān)作為輸入設(shè)備,采用模組端口直連和HUB板轉(zhuǎn)接作為輸出,對所要測試的LED模 組進(jìn)行走線方式調(diào)節(jié)、顏色調(diào)節(jié)、8級亮度電流增益調(diào)節(jié)等,對模組的接入極為方便。端口可 以拖動200塊以上的模組,并且具備手動和自動切換的功能,從而使LED模組的測試、老化 變得簡單方便。測試卡基于AVR單片機(jī)Atmegaie設(shè)計開發(fā),具有操作簡單、性能優(yōu)越、價格 低廉的特點(diǎn),是對LED行業(yè)中靜態(tài)模組的檢測、老化的一次革命。對比現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新 型的測試卡的優(yōu)點(diǎn)包括(1)集多種調(diào)試手段于一體,既可走斜線、全亮,也可調(diào)整驅(qū)動芯片的電流增益。(2)支持多種LED模組大小、走線方式。(3)端口拖動模組總數(shù)彡200塊。(4)可對模組的LED燈進(jìn)行逐點(diǎn)測試,并可由此得知模組的走線方式。(5)兼具LED模組連接端口和Hub板接口,方便模組的連接,測試。(6)兼具手動、自動切換功能。
圖1是本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡和LED靜態(tài)模組連接關(guān)系的示意圖。圖2是本實(shí)用新型的LED靜態(tài)模組測試卡的實(shí)施例的框圖。圖3是本實(shí)用新型的微處理單元的內(nèi)部框圖。[0038]圖4是本實(shí)用新型的顯示方式配置單元的內(nèi)部框圖。圖5是本實(shí)用新型的顯示方式配置單元的運(yùn)行流程圖。圖6是本實(shí)用新型的逐點(diǎn)測試單元的運(yùn)行流程圖。圖7-9是本實(shí)用新型的撥碼開關(guān)的開關(guān)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。本實(shí)施例的LED靜態(tài)模組測試卡是一種相對獨(dú)立、可單獨(dú)工作的測試卡。測試卡 設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)HUB板轉(zhuǎn)接口和通用的模組接口。測試時,既可以如圖1所示的將LED靜態(tài)模組2 通過匹配的HUB板3與LED靜態(tài)模組測試卡1相連,又可以通過匹配的接口線纜直接與測 試卡1相連,使得測試變得十分方便。LED靜態(tài)模組測試卡的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)如圖2所示,本實(shí)施例的測試卡包括如下的幾個 基本組件微處理單元10、作為輸入設(shè)備的按鍵11和撥碼開關(guān)12、作為輸出端口的HUB板 連接端口 13和模組連接端口 14、電源15。而附加的組件可以是一個通信端口,例如圖2所 示的RS232通信端口 16。在本實(shí)施例中,作為主控單元的微處理單元10的具體實(shí)現(xiàn)例如是AVR單片機(jī) Atmegal6芯片。系統(tǒng)工作時,微處理單元10根據(jù)撥碼開關(guān)12和按鍵11的設(shè)置情況,選擇 適用于待測LED靜態(tài)模組2的走線方式的程序和相應(yīng)的測試方式,對LED靜態(tài)模組2進(jìn)行 測試,預(yù)留的RS232通信端口 16為升級擴(kuò)展之用。微處理單元10的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)如圖3所示,微處理單元10可以包括以下任一種單元 的任意組合逐點(diǎn)測試單元100、走線方式配置單元102、顯示方式配置單元104、顏色配置 單元106以及亮度調(diào)節(jié)單元108。在逐點(diǎn)測試單元100中,對LED靜態(tài)模組上的LED燈的走線進(jìn)行檢測,主要目的是 在于測試LED靜態(tài)模組的走線和壞點(diǎn)。系統(tǒng)上電后,按下LED靜態(tài)模組測試卡的按鍵11上 對應(yīng)的開關(guān),待測的LED靜態(tài)模組上的燈管就會被逐個點(diǎn)亮。根據(jù)逐點(diǎn)測試的結(jié)果不僅可 以測試LED靜態(tài)模組上燈管的走線方式,而且還可以排查模組的壞點(diǎn)和損壞的驅(qū)動芯片。 具體的實(shí)現(xiàn)方法可以是采取外部中斷方式,在中斷程序中對逐點(diǎn)測試標(biāo)志取反。在主程序 中查詢這個測試標(biāo)志,根據(jù)標(biāo)志調(diào)用逐點(diǎn)測試程序,其流程請參見圖6。在走線方式配置單元102中,主要完成不同LED靜態(tài)模組的走線配置。傳統(tǒng)的LED 靜態(tài)模組可以劃分為兩種走線方式,4個燈為一排走動的方式和8個燈為一排走動的方式, 不同的走線方式對應(yīng)不同的程序配置。撥動LED靜態(tài)模組測試卡上的撥碼開關(guān)S7(如圖8 所示)的K1,重新上電,即可配置對應(yīng)的走線方式。如圖4所示,顯示方式配置單元104進(jìn)一步包括以下的任意一種組合走斜線測試 單元1040、全亮測試單元1042、全暗測試單元1044以及自動測試單元1046。走斜線測試單元1040主要是讓待測LED靜態(tài)模組走動條紋狀的斜線,目的在于測 試有無連焊點(diǎn)。全亮測試單元1042讓待測LED靜態(tài)模組上的燈管全部點(diǎn)亮,目的在于測試 有無暗點(diǎn)。全暗測試單元1044讓待測LED靜態(tài)模組上的燈管在保持通電的情況下全部熄 滅,目的在于測試有無常亮點(diǎn)。自動測試單元1046使LED靜態(tài)模組循環(huán)走動前面的顯示方 式,主要目的是為進(jìn)行LED靜態(tài)模組的老化提供方便。只需要撥動LED靜態(tài)模組測試卡上的撥碼開關(guān)S6(如圖9所示)的Kl和K2,即可改變相應(yīng)的顯示方式。在顯示方式配置單元104的具體實(shí)現(xiàn)中,可設(shè)置顯示狀態(tài)標(biāo)志為走斜線、全亮、全 暗、自動四種顯示狀態(tài),通過撥碼開關(guān)改變顯示狀態(tài)標(biāo)志,程序輪回查詢顯示狀態(tài)標(biāo)志,根 據(jù)其改變值,切換不同的顯示方式,其實(shí)現(xiàn)的流程圖如圖5所示。首先,查詢顯示狀態(tài)標(biāo)志 是否為走斜線狀態(tài),如果是則顯示走斜線。再查詢顯示狀態(tài)標(biāo)志是否為全亮狀態(tài),如果是全 亮狀態(tài)則顯示全亮。然后,查詢顯示狀態(tài)標(biāo)志是否為全暗狀態(tài),如果是全暗狀態(tài)則進(jìn)行全暗 操作。最后查詢顯示狀態(tài)標(biāo)志是否為自動狀態(tài),如果是自動狀態(tài)則進(jìn)行自動輪回的處理。請參見圖7,撥動撥碼開關(guān)S7,當(dāng)LED靜態(tài)模組的走線方式為8個像素點(diǎn)為一行走 動時,如圖7所示的將撥碼開關(guān)的Kl K4撥為0000(撥上為1,撥下為0)。請參見圖8,撥動撥碼開關(guān)S7,當(dāng)LED靜態(tài)模組的走線方式為4個像素點(diǎn)為一行走 動時,如圖8所示的將撥碼開關(guān)的Kl K4撥為1000。請參見圖9,撥動撥碼開關(guān)S6可顯示不同的狀態(tài)、顏色和亮度,撥碼開關(guān)次序從左 至右依次為Kl K8 (撥上為1,撥下為0)。舉例來說,a 當(dāng)自動狀態(tài)下(即撥碼開關(guān)K1K2的 狀態(tài)為00),后面的K3-K8將不再起作用,系統(tǒng)將自動走完各種狀態(tài)。b:當(dāng)全暗狀態(tài)下(即 撥碼開關(guān)K1K2的狀態(tài)為10),后面的K3-K8將不再起作用,系統(tǒng)將熄滅所有燈管。c 當(dāng)走斜 線狀態(tài)下(即撥碼開關(guān)K1K2的狀態(tài)為01),用戶可按照測試過程中的不同需求配置K3-K8。 例如K1-K8的狀態(tài)為01110010,則此時模組將走紅綠斜線,亮度為3級亮度。d 當(dāng)全亮狀 態(tài)下(即撥碼開關(guān)K1K2的狀態(tài)為11),用戶可按照測試過程中的不同需求配置K3-K8。例 如K1-K8的狀態(tài)為11010110,則此時模組將顯示綠色全亮,亮度為7級亮度。顏色配置單元106主要完成不同顏色模組的顏色配置,常用的靜態(tài)屏有單色、雙 色和三色。不同顏色模組需要對其進(jìn)行配置,撥動LED靜態(tài)模組測試卡上的撥碼開關(guān)S6的 K3、K4和Κ5,即可配置不同的顏色。亮度調(diào)節(jié)單元108主要是用于測試LED靜態(tài)模組的亮度,其主要原理是調(diào)節(jié)模組 上驅(qū)動芯片的電流增益,電流增益越大,則亮度越高,反之則越低。亮度調(diào)節(jié)在本實(shí)施例中 例如分為8級,撥動LED靜態(tài)模組測試卡上的撥碼開關(guān)S6的K6、K7和K8即可調(diào)節(jié)模組亮 度。根據(jù)模組上燈管亮度的變化情況來排查模組上驅(qū)動芯片的好壞。具體實(shí)現(xiàn)是先對電流 增益標(biāo)志進(jìn)行查詢,如果電流增益標(biāo)志有所改變,則系統(tǒng)調(diào)用亮度設(shè)置程序,根據(jù)具體的改 變值設(shè)置具體的亮度,在設(shè)置完成后模組亮度會發(fā)生改變,系統(tǒng)繼續(xù)執(zhí)行之前所執(zhí)行的程 序。上述實(shí)施例是提供給本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來實(shí)現(xiàn)或使用本發(fā)明的,本領(lǐng)域普通技 術(shù)人員可在不脫離本發(fā)明的發(fā)明思想的情況下,對上述實(shí)施例做出種種修改或變化,因而 本發(fā)明的保護(hù)范圍并不被上述實(shí)施例所限,而應(yīng)該是符合權(quán)利要求書提到的創(chuàng)新性特征的 最大范圍。
權(quán)利要求1.一種LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該測試卡包括 微處理單元,控制對待測LED靜態(tài)模組的測試動作;輸入設(shè)備,連接該微處理單元,實(shí)現(xiàn)對待測LED靜態(tài)模組的測試操作; 輸出端口,連接該微處理單元,且連接待測LED靜態(tài)模組,輸出測試信號至待測LED靜 態(tài)模組。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該微處理單元是AVR單片機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該輸入設(shè)備是按鍵和/或 撥碼開關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該輸出端口是Hub板連接 端口和/或模組連接端口,該Hub板連接端口通過一 Hub板連接待測LED靜態(tài)模組,該模組 連接端口通過接口線纜直接連接待測LED靜態(tài)模組。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該測試卡還包括一電源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該測試卡還包括通信端□。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該通信端口是RS232通信端□。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該微處理單元進(jìn)一步包括 以下的任意一種組合逐點(diǎn)測試單元,通過對待測LED靜態(tài)模組上的LED燈逐個點(diǎn)亮的方式對待測LED燈的 走線方式進(jìn)行檢測;走線方式配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的走線方式; 顯示方式配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的顯示方式; 顏色配置單元,配置待測LED靜態(tài)模組的顏色配置方式;亮度調(diào)節(jié)單元,通過調(diào)節(jié)待測LED靜態(tài)模組上驅(qū)動芯片的電流增益來調(diào)節(jié)LED燈的亮度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該顯示方式配置單元進(jìn)一 步包括以下的任意一種組合走斜線測試單元,讓待測LED靜態(tài)模組走動條紋狀的斜線以測試有無焊點(diǎn)相連的情況 發(fā)生;全亮測試單元,點(diǎn)亮待測LED靜態(tài)模組上的全部LED燈以測試有無暗點(diǎn); 全暗測試單元,讓待測LED靜態(tài)模組上的LED燈在保持通電的情況下全部熄滅以測試有無常亮點(diǎn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的LED靜態(tài)模組測試卡,其特征在于,該顯示方式配置單元還 包括自動測試單元,使待測LED靜態(tài)模組循環(huán)實(shí)行該走斜線測試單元、該全亮測試單元以 及該全暗測試單元的實(shí)現(xiàn)方式,以檢測該LED靜態(tài)模組是否發(fā)生老化。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種LED靜態(tài)模組測試卡,通過對LED顯示模組的測試,檢查LED顯示模組是否滿足生產(chǎn)要求,并對不滿足生產(chǎn)要求的模組進(jìn)行故障檢測,方便生產(chǎn)人員對模組的修復(fù)。其技術(shù)方案為測試卡包括微處理單元,控制對待測LED靜態(tài)模組的測試動作;輸入設(shè)備,連接該微處理單元,實(shí)現(xiàn)對待測LED靜態(tài)模組的測試操作;輸出端口,連接該微處理單元,且連接待測LED靜態(tài)模組,輸出測試信號至待測LED靜態(tài)模組。
文檔編號G09G3/00GK201868067SQ201020593738
公開日2011年6月15日 申請日期2010年11月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月5日
發(fā)明者郝家旺 申請人:上海廣電通信技術(shù)有限公司